CN106468723B - 用来测试至少一个电缆的性能的无焊测试夹具 - Google Patents

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Abstract

用来测试被修剪的电缆和/或天线部件的性能的测试夹具。该测试夹具可以在不使用焊料的情况下被连接，允许一个或更多个天线部件的精确的测试或调试。

Description

用来测试至少一个电缆的性能的无焊测试夹具
技术领域
本发明涉及一种测试夹具，具体地涉及用来测试电缆和/或天线部件的性能的无焊测试夹具。
背景技术
许多因素影响天线的性能。这些因素的一些直接与天线的各个部件有关，该各个部件包括但不限于天线共用器、滤波器和修剪的电缆(例如，至少外部部分被修剪掉的同轴电缆)。因此，经常测试这些部件的性能参数。例如，可以测试天线部件不连续性，该不连续性可能导致无源互调(PIM)。被测试的其它性能参数可以包括但不限于回程损耗和绝缘性能。此外，有利的是，部件要在它们并入天线之前被测试。
一些电流技术是昂贵的且不可靠的，至少因为测试夹具的部件和测试所需的其它部件，诸如Deutsches Institut für Normung(或“DIN”)连接器，可以被焊上并且随后在每一次测试之后被切掉且丢弃。偶然地，连接器或任何测试夹具部件的焊接可能是有缺陷的，需要另外的时间和费用来重做焊接连接。
因此，可能有利的是，具有用来测试电缆和/或其它装置的无焊测试夹具，该无焊测试夹具可以允许快速的组装和拆卸，该快速的组装和拆卸可以节省劳动力、时间和成本。
发明内容
本公开的各个方面可以涉及用来测试至少一个电缆和/或至少一个天线部件的性能的无焊测试夹具。在一个方面中，无焊测试夹具可以包括基座和安装在基座上的至少一个框架。该至少一个框架的每一个可以包括：扼流器覆盖件，该扼流器覆盖件包括限定第一耦合部分的第一腔；和连接到扼流器覆盖件的测试本体。该测试本体可以包括限定第二耦合部分的第二腔，所述第二腔与所述第一腔相邻，并且所述第二腔与所述第一腔共线并与所述第一腔沿轴向分离。第一腔的至少一部分和第二腔的至少一部分可以限定用于至少一个电缆的无线电频率(RF)扼流器。
附图说明
当结合附图阅读时，将更好地理解本公开的以下详细描述。为了说明本公开，在附图中示出当前优选的实施例。然而，应当理解，本公开不限于示出的精确布置和仪器。
在附图中：
图1是根据本公开的一方面的无焊测试夹具的图示；
图2是根据本公开的一方面的无焊测试夹具的主框架的放大视图；
图3A-3C是根据本公开的一方面的主框架的测试本体的横截面视图；
图4是根据本公开的一方面的主框架的测试本体的放大视图；
图5是根据本公开的一方面的扼流器覆盖件被移除的测试本体的一个的放大局部内部视图；并且
图6是根据本公开的一方面的测试本体被移除的扼流器覆盖件的放大局部内部视图。
具体实施方式
某些术语在以下描述中仅仅为了方便被使用并且不是限制性的。词“下”、“底”、“上”和“顶”指定所参考的图中的方向。除非在这里特别阐明，术语“一”、“一个”和“该”不限于一个元件，而是应当被解读为意指“至少一个”。该术语包括上述词、其派生词和类似含义的词。也应当理解，当涉及本公开的部件的尺寸或特性时，在这里使用的术语“大约”、“近似地”、“基本上”、“大体上”和类似术语表示描述的尺寸/特性不是严格的边界或参数并且不排除功能上类似的相对该尺寸/特性的较小变化。至少，包括数值参数的这种参考将包括变化，使用在该技术领域中被接受的数学和工业原理(例如，凑整、测量或其它系统误差、制造公差等等)，该变化将不改变最低有效数位。
图1是根据本公开的一方面的无焊测试夹具100的图示。测试夹具100可以用于更精确地实现诸如天线共用器、滤波器等等的电缆和/或部件的测试和/或调试。测试可以包括性能测试，该性能诸如回程损耗性能、绝缘、PIM水平等等。如这里讨论的，回程损耗可以指的是由反射信号引起的入射信号的退化的量。反射信号的增加可以增加入射信号的退化，因此引起入射信号的品质的损失。较高的回程损耗等于增加的下游信号反射。因此，最小化回程损耗将使下游信号的品质和保真度最大化。
通常，测试夹具100可以包括基座102、装置支撑件104、电缆支撑件106和主框架108。装置支撑件104可以支撑要被测试的装置110，诸如天线共用器、滤波器、或任何其它天线部件。装置支撑件104优选地可以由刚性塑料制成；然而，根据本公开的精神，可以构想其它材料。一个或更多个夹钳112可以安装在装置支撑件104上以将该装置110保持在适当位置中。电缆支撑件106可以包括一个或更多个开口114，该一个或更多个开口114的尺寸被设计用来接合要被测试的一个或更多个相应的电缆116(例如，连接到该装置110)。电缆支撑件106优选地可以由刚性塑料制成；然而，根据本公开的精神，可以构想其它材料。而且，端板118可以附接到基座102的端部。端板118可以包括一个或更多个间隙120，该一个或更多个间隙被构造用来当测试夹具100用于测试具有单个连接器的一个或更多个电缆时保持电缆(例如，被修剪的电缆)的一个或更多个相应连接器。
图2是测试夹具100的主框架108的放大视图。在主框架108的一个端部上，一个或更多个塑料电缆引导件202可以将相应的电缆116引导过由相应的扼流器覆盖件204封闭的相应的扼流器302(在图3A中被示出)。一个或更多个夹钳206可以被安装在电缆支撑件106上以在测试期间保证电缆116被紧紧地保持。扼流器覆盖件204可以附接到相应的测试本体208，而该测试本体可以连接到相应的DIN连接器210，该DIN连接器可以是7/16DIN连接器。虽然示出7/16DIN连接器，但应当注意，根据本公开可以使用其它连接器类型。
夹钳212(该夹钳可以是与夹钳206相同类型的夹钳)可以被安装在测试本体208上。夹钳212可以包括：夹钳基座214；杠杆臂216；夹钳臂218；附接到夹钳臂218并且布置成基本上垂直于夹钳臂218的夹紧构件220；压螺栓222；和附接到压螺栓222的弹簧224。当夹钳212被举起时(例如，当测试完成以切换电缆等等时)，弹簧224可以用于从压螺栓222释放任何压力在电缆116的内部连接器上。应当注意，图2中示出的构造仅是通过非限制性例子的方式。因此，根据本公开的精神，测试夹具100可以包括例如多于或少于三个测试本体208、附接到其上的DIN连接器210、扼流器和扼流器覆盖件204。
现在参考图3A和3B，主框架108的测试本体208的横截面被示出。扼流器302可以由扼流器覆盖件204的腔和测试本体208的腔的一部分形成。优选地，扼流器302在长度上是大约1/4波长；然而，根据本公开的精神，可以构想其它长度。扼流器覆盖件204和测试本体208的相应的腔可以限定两个耦合部分302a、302b。如示出的，耦合部分302a可以促进电缆116的外部导体上的反向电流的产生。这种反向电流可以抵消或另外取消可能从耦合部分302b泄漏的电流。如在图3A中最佳地见到的，间隙303可以存在于耦合部分302b和302a之间。
耦合部分302b可以形成在测试本体208内，并且可以使用如在该技术领域中已知的四分之一波长原理来使电缆116的外部导体上的电流接地并且优化测试夹具的回程损耗性能。图3C提供使用四分之一波长原理的更详细的图示。如示出的，通过使用四分之一波长扼流器腔，电流ia和ib在间隙区域沿基本上相反的方向传播。因此，电缆116的外部导体上的耦合的电流(例如，ix和iy)也可以彼此抵消使得在部位C的泄漏电流可以显著最小化。此外，可以使用电缆116的护套404来绝缘电缆116的外部导体以便防止与测试本体208的金属到金属接触以便避免PIM的产生。
图4是测试夹具100的测试本体208的一个的放大剖视图。更具体地，图4示出塑料压螺栓222，示出电缆116的内部导体402和护套404的电缆116，在测试下与电缆116接触的塑料绝缘体406，和DIN连接器210的内部导体408。塑料压螺栓222可以附接到安装在测试本体208上的夹钳(未示出)的弹簧(未示出)。压螺栓222可以通过夹钳的杠杆臂的激活被向下压。通过向下前进，压螺栓222可以在电缆116的内部导体402上施加向下的力到DIN连接器210的内部导体408上，保证其间的可靠接触。塑料绝缘体406可以充当电缆116上的位置限制器。
图5是测试本体208的一个的放大局部内部视图，其中扼流器覆盖件204被移除且示出测试本体208的耦合部分302b，而图6是扼流器覆盖件204的一个的放大局部内部视图，其中测试本体208被移除并且示出扼流器覆盖件204的耦合部分302a。
在使用中，通过剥去电缆的外部部分(例如，护套404，外部导体，和内部导体和外部导体之间的电介质)的一部分以暴露内部导体402，可以测试电缆116的长度。在测试下，电缆116的一个端部可以附接到装置110。电缆116的其它端部(例如，相对的端部)可以穿过塑料支撑件106和塑料引导件202插入到测试本体208中使得电缆116的内部导体402的一部分可以接触DIN连接器210的内部导体408。一旦插入，电缆116就可以被夹紧在适当位置中(诸如通过夹钳212、206的一个或更多个)。载荷或测试设备(例如，分析仪，示波器等等)可以连接到DIN连接器210的一个或更多个以便测试电缆116和/或装置110。如上面讨论的，该测试可以包括该装置110和/或电缆116的PIM测试、回程损耗测试和/或一般调试。当完成该测试时，可以释放夹钳212、206，并且移除电缆116。不需要焊接在连接器上，或丢弃已使用的连接器。
如这里描述的，无焊测试夹具可以促进修剪的电缆和/或与电缆连接的其它天线部件的测试。无焊测试夹具可以使用耦合技术来避免电缆的外部导体和测试夹具的主框架之间的直接金属到金属接触。这种设计不仅可以帮助提高测试夹具的PIM性能，而且可以保持在宽的频率范围中从电缆匹配到测试夹具的充分的阻抗。这里讨论的扼流和电流反向技术可以显著地抑制通过附接到测试夹具的电缆的任何电流泄漏，这可以大大提高PIM性能。此外，测试夹具的主框架可以被使用多次，而可能容易磨损的一些其它部件(诸如压螺栓)被设计成被方便地且快速地更换。
现在已经详细地讨论了本公开的各种实施例；然而，本公开不应当被理解为限于这些实施例。也应当理解，在本公开的范围和精神内可以实现其各种修改、改变和替代实施例。

Claims (8)

1.用来测试至少一个电缆的性能的无焊测试夹具，所述无焊测试夹具包括：
基座；和
安装在所述基座上的至少一个框架，其中所述至少一个框架中的相应框架包括：
扼流器覆盖件，所述扼流器覆盖件包括限定第一耦合部分的第一腔；和
测试本体，所述测试本体连接到所述扼流器覆盖件，所述测试本体包括限定第二耦合部分的第二腔，所述第二腔与所述第一腔相邻，并且所述第二腔与所述第一腔共线并与所述第一腔沿轴向分离，其中所述第一腔的至少一部分和所述第二腔的至少一部分限定用于所述至少一个电缆的射频扼流器。
2.根据权利要求1所述的无焊测试夹具，还包括：
连接到所述至少一个框架的至少一个连接器，所述至少一个连接器包括无焊中心端子，所述无焊中心端子被构造用来电连接到所述至少一个电缆。
3.根据权利要求2所述的无焊测试夹具，还包括：
安装在所述测试本体上的至少一个夹钳，其中，所述至少一个夹钳被构造用来将所述至少一个电缆的内部导体固定到所述无焊中心端子。
4.根据权利要求1所述的无焊测试夹具，还包括：
至少一个电缆引导件，所述至少一个电缆引导件的尺寸被设计用来将所述至少一个电缆引导通过所述射频扼流器。
5.根据权利要求4所述的无焊测试夹具，其中，至少一个天线部件连接到所述至少一个电缆。
6.根据权利要求5所述的无焊测试夹具，还包括：
安装在所述基座上的装置支撑件；和
至少一个夹钳，所述至少一个夹钳被构造用来将所述至少一个天线部件固定到所述装置支撑件。
7.根据权利要求1所述的无焊测试夹具，其中，所述射频扼流器是四分之一波长扼流器。
8.根据权利要求2所述的无焊测试夹具，其中，所述至少一个连接器连接到载荷和/或连接到测试设备。
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