CN106461631B - 用于测试元件完好性的电极布置 - Google Patents

Abstract

提供了一种用于验证测试元件完好性的方法，该方法包括提供具有电极支撑基板的生物传感器。第一电极被提供在该基板上，该第一电极包括第一体和从该第一体延伸出的颈部。第二电极被提供在该基板上，该第二电极包括第二体和相对的颈部对。每个颈部都从第二体的相应的端部延伸出。间隔物被定位在该基板上，并且具有限定毛细通道的边界的边缘，该毛细通道被形成在盖和该基板之间。该方法还包括跨该第二电极的颈部来施加信号，以验证沿着该第二电极的连续性。连接颈部对和该第二电极的第二体围绕该毛细通道中的第一电极，从而在该第一电极周围形成环路。

Description

用于测试元件完好性的电极布置

相关申请的交叉引用

本专利申请要求（2014年6月5日提交的）美国第62/008,160号临时专利申请的优先权和利益，该临时专利申请通过引用结合于此，如同其全文被阐述那样。

技术领域

这个专利申请大体上涉及工程和医学诊断，并且更特别地，这个专利申请涉及用于诸如生物传感器测试条之类的测试元件的电极布置（electrode arrangement），这些测试元件具有用于验证测试元件完好性的电极/电极安排（arrange）。

背景技术

用于化验生物体液的系统、设备和方式以及在其中使用的测试元件是众所周知的。例如，如下基于电化学的测试方法是公知的：典型地连同在与感兴趣的被分析物组合时产生带电载流子的试剂一起，所述基于电化学的测试方法大体上依靠在电流（电流分析）、电位（电位分析）或者累积电荷（电量分析）与被分析物浓度之间的相互关系。用于进行这样的电化学测试的已知的测试元件典型的是具有如下检测试剂的一次性使用的生物传感器测试条：该检测试剂与生物体液样本中的感兴趣的被分析物发生化学反应。该测试元件大体上被附接/被插入到测试仪中，该测试仪能够测量在被分析物和检测试剂之间的反应，以确定被分析物浓度。

一般而言，测试元件具有反应区，该反应区包含与生物体液样本直接接触的测量电极。在一些电流分析的和电量分析的电化学测量系统中，这些测量电极被附接到测试仪中的电子电路，该电子电路向这些测量电极供给电位并测量电化学传感器对该电位的响应（例如，电流、阻抗、电荷等）。这个响应与被分析物浓度成比例。

对于其中电极、迹线和接触垫由导电薄膜（例如，贵金属、碳墨、银膏等）制成的测试元件，将测试元件的反应区连接到测试仪中的电子电路的导通迹线（conductive trace）的电阻率可以有几百欧姆或者更大。该电阻引起沿着这些迹线的长度的电位降，以致给予反应区中的测量电极的电位低于由测试仪施加给测试条的接触区中的测试条接触垫的电位。在制造、运输、贮藏或者用户处理不当期间可能发生对测试元件的物理损伤、诸如磨损、破裂、刮擦、化学降解等。这样一些缺陷可能损伤测试元件，使得这些测试元件可能呈现极其高的电阻或者甚至对测试仪的断路。迹线电阻方面的这样的改变可能阻止该测试仪执行准确的测试。因此，存在针对改进的测试元件的需求，所述改进的测试元件能够在其单独使用之前证实、检查或验证测试元件完好性。

发明内容

简要地，在本文描述的发明概念包括在测试元件上提供至少一个完好性电极布置。该发明概念可以或者通过提供截然不同的完好性电极或者通过例如提供独特的对电极设计来实现，通过该截然不同的完好性电极可以施加信号来验证测试元件完好性，通过该独特的对电极设计可以施加信号来验证测试元件完好性。当该完好性电极布置未被损伤时，该完好性电极布置允许用户检查沿着（多个）电极、基板和/或检测试剂存在连续性。因此，该发明概念被体现在如在本文所描述的示例性的系统、设备、装置、测试元件和方法中。

例如，提供了用于验证具有完好性电极布置的测试元件的完好性的方法。这些方法包括提供具有电极支撑基板的测试元件，在该电极支撑基板上设置第一电极。该第一电极包括第一体部分和从该第一体部分延伸出的连接颈部（connective neck）。该电极支撑基板还具有设置在其上的第二电极，其中第二电极包括第二体部分和相对的连接颈部对。所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部延伸出。另外，间隔物被设置在该电极支撑基板上，其中该间隔物包括限定毛细通道的边界的至少一个边缘，该毛细通道被形成在盖和该电极支撑基板之间。而且，这些方法包括跨该第二电极的连接颈部对来施加信号，以验证沿着该第二电极的连续性。所述相对的连接颈部对和该第二电极的第二体部分围绕该毛细通道中的第一电极，从而在该第一电极周围形成环路。

提供了用于验证具有完好性电极布置的测试元件的完好性的替代性方法。这些方法可包括提供如在本文所描述的测试元件，该测试元件包括被限定在其上的毛细通道。在此，第一电极被提供在该电极支撑基板上，其中该第一电极的至少一部分被形成在该毛细通道中。另外，至少两个样本充足性电极（sample sufficiency electrode）被提供在该电极支撑基板上，其中所述样本充足性电极中的每个样本充足性电极都沿着该电极支撑基板的相应的侧边缘被定位，所述样本充足性电极限定其间的间隙。而且，完好性电极被提供在该毛细通道中的该电极支撑基板上，其中该完好性电极被耦合到所述至少两个样本充足性电极并且在所述至少两个样本充足性电极之间延伸。另外，这些方法包括跨所述至少两个样本充足性电极来施加信号，以验证跨该完好性电极的连续性。该完好性电极和所述至少两个样本充足性电极围绕该毛细通道中的第一电极，从而在该第一电极周围形成环路。

鉴于以上的方法，还提供了测试元件。这些测试元件包括电极支撑基板，在该电极支撑基板的第一端部处，该电极支撑基板具有被限定在其上的毛细通道。这些测试元件还包括设置在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极具有第一体部分和从该第一体部分延伸出的连接颈部。这些测试元件还包括设置在该电极支撑基板上的第二电极，该第二电极具有第二体部分和至少两个连接颈部。所述至少两个连接颈部中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部延伸出。此外，这些测试元件包括被定位在该电极支撑基板上的间隔物，该间隔物具有限定了该毛细通道的边界的至少一个边缘。而且，这些测试元件包括耦合到该间隔物的盖。所述至少两个连接颈部和该第二电极的第二体部分形成围绕该第一电极的U形环路，其中第二电极被配置成提供连续性指示，以验证测试元件完好性。

提供了包括电极支撑基板的替代性的测试元件，在该电极支撑基板的第一端部处，该电极支撑基板具有被限定在其上的毛细通道。这些测试元件还包括设置在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极具有第一体部分和从该第一体部分延伸出的连接颈部。这些测试元件还包括设置在该电极支撑基板上的第二电极，该第二电极具有第二体部分和至少两个连接颈部。所述至少两个连接颈部中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部延伸出。此外，这些测试元件包括被定位在该电极支撑基板上的间隔物，该间隔物具有限定了该毛细通道的边界的至少一个边缘。另外，这些测试元件包括被耦合到该间隔物的盖。而且，这些测试元件包括设置在该电极支撑基板上的至少两个样本充足性电极。这些样本充足性电极中的每个样本充足性电极都沿着该电极支撑基板的相应的侧边缘被定位。同样地，这些测试元件包括设置在该电极支撑基板上的完好性电极，该完好性电极被耦合到所述至少两个样本充足性电极并且在所述至少两个样本充足性电极之间延伸。该完好性电极被配置成提供连续性指示，以验证测试元件完好性。

附图说明

当考虑下面的详细描述时，除了以上阐述的那些之外的优点、效果、特征和目的将变得更显而易见。这样的详细描述参照下面的附图，其中：

图1是示例性的测试元件的透视图。

图2是在图1中示出的测试元件的平面图。

图3是在图1中示出的测试元件的如下部分的平面图：该部分示出了包括完好性电极的示例性的电极布置。

图4是用于与在图1中示出的测试元件一起使用的电极布置的另一实施例的平面图。

图5是用于与在图1中示出的测试元件一起使用的电极布置的另一实施例的平面图。

图6是用于与在图1中示出的测试元件一起使用的电极布置的另一实施例的平面图。

遍及附图中的若干视图，相对应的参考字符指示相对应的零部件。

虽然该发明概念易受各种修改和替代性的形式影响，但是该发明概念的示例性实施例通过实例方式在附图中被示出并且在本文被详细描述。然而，应当理解到的是，接下来的对示例性实施例的描述并不意图将该发明概念限制到所公开的特定形式，而是相反，意图在于覆盖所有的优点、效果、特征和目的，这些优点、效果、特征和目的落入如通过在本文描述的实施例和下面的权利要求所限定的其精神和范围之内。因此，为了解释该发明概念的范围，应当参考在本文描述的实施例和下面的权利要求。像这样地，应当注意，在本文描述的实施例可具有在解决其它问题方面是有用的优点、效果、特征和目的。

具体实施方式

概述

现在，将参照附图在下文中更充分地描述这些系统、设备、装置、测试元件和方法，在这些附图中示出了该发明概念的一些实施例、而不是全部实施例。实际上，这些系统、设备、装置、测试元件和方法可以许多不同的形式来体现，并且不应被解析为被限于在本文阐述的实施例；更确切地说，这些实施例被提供以使得本公开将满足可适用的法律要求。

同样地，对于得益于在之前的描述和相关联的附图中呈现的教导的在本公开与其有关的领域中的技术人员而言，将想到在本文描述的这些系统、设备、装置、测试元件和方法的许多修改和其它实施例。因此，要理解的是，这些系统、设备、装置、测试元件和方法并不限于所公开的具体实施例，并且修改或其它的实施例意图被包括在所附的权利要求的范围之内。尽管在本文利用了特定的术语，但是这些术语只是在通用的和描述性的意义上被使用，而不是用于限制的目的。

除非被另外地定义，在本文使用的所有的技术术语和科学术语具有与在本公开与其有关的领域中的技术人员所通常理解的含义相同的含义。尽管在这些系统、设备、装置、测试元件和方法的实践或测试中可以使用与在本文所描述的那些类似或等同的任何方法和材料，但是在本文描述优选的方法和材料。

而且，不定冠词“一”或“一个”对元件的引用并不排除存在一个以上的元件的可能性，除非上下文清楚地要求存在一个且只有一个元件。因而，不定冠词“一”或“一个”惯常意味着“至少一个”。同样地，术语“具有”、“包括”或“包含”或其任何的任意语法变型以非排他的方式被使用。因而，这些术语既可以指的是如下情况：在所述情况下，除了通过这些术语所引入的特征之外，在该上下文中所描述的实体中没有另外的特征，这些术语又可以指的是如下情况：在所述情况下，存在一个或多个另外的特征。例如，表达“A具有B”、“A包括B”以及“A包含B”都可以指的是如下情况：在所述情况下，除了B之外，A中不存在其它元件（即，其中A单独地且排他地由B组成的情况）；或者指的是如下情况：在所述情况下，除了B之外，A中存在一个或多个另外的元件、诸如元件C、元件C和D或者甚至另外的元件。

此外，如在本文和在权利要求中使用的近似语言可以被应用来修饰可允许地变化而不会导致与其相关的基本功能方面的改变的定量表示。因此，由诸如“大约”、“大概”和“基本上”之类的一个或多个术语修饰的值并不限于所规定的精确值。在至少一些情形中，近似语言可对应于用于测量该值的仪器的精确度。同样地，范围限定可以被组合或者被互换；除非上下文或语言另外地指示，这样的范围被标识并且包括其中包含的所有的子范围。

例如，如在本文所使用的，“大约”意味着在一个或多个值的统计学上有意义的范围之内，所述值诸如例如是声明的浓度、长度、宽度、高度、重量、pH、时间帧、温度或体积。这样的值或范围可以在数量级之内，典型地在给定值或范围的20％之内，更典型地在给定值或范围的10％之内，以及甚至更典型地在给定值或范围的5％之内。由“大约”所涵盖的可容许的变化将取决于在研究中的特定系统，并且可以容易地被本领域技术人员所领会。

这些系统、设备、装置、测试元件和方法在各种应用中是有用的。例如，这些测试元件可被用于针对诸如例如葡萄糖之类的感兴趣的被分析物的存在和/或浓度而化验体液样本。因为这些测试元件包括完好性电极布置，所以用户可以具有如下增加的信心：错误的测试结果或者有瑕疵的测试元件将被故障保护（failsafed），而将分别不被报告或不被使用。

测试元件

图1是示例性的测试元件10的透视图。图2是图1中示出的该测试元件10的平面图。图3是图1中示出的该测试元件10的如下部分的平面图，该部分示出了包括完好性电极40的示例性的电极布置。在该示例性的实施例中，该测试元件10包括：电极支撑基板12；形成在该电极支撑基板12上的电导体14，该电导体14限定了多个电极迹线16、18、19、20、21和22；被定位在该电极支撑基板12上的间隔物23；以及被定位在该间隔物23上的盖24。在一些情形中，电导体14可形成任何数目的电极迹线，所述电极迹线能够使得该测试元件10如在本文所描述的那样起作用。在图2和3中，然而，为了清楚起见，未示出间隔物23。

如在图1和图2中所示，该测试元件10可以具有基本上矩形的形状；然而，也预期到能够使得该测试元件10如在本文所描述的那样起作用的多种形式中的任何一种。另外，该测试元件10可以是依照本公开的原理用卷材、片材或者任何其它存料生产的多种测试元件中的任何一种。一般而言，用于制作该测试元件10的材料选择包括如下任何材料：所述材料对于轧辊加工足够柔韧、但是坚硬到足以给完工的测试元件10有用的刚度。

在该示例性的实施例中，该测试元件10的电极支撑基板12包括面向间隔物23的第一表面42和与该第一表面42相对的第二表面44。而且，该电极支撑基板12具有相对的第一和第二端部46、48，以及具有在所述第一和第二端部46、48之间延伸的相对的侧边缘50、52。在一些情形中，该电极支撑基板12的第一和第二端部46、48以及相对的侧边缘50、52形成大体上为矩形的形状。替代性地，所述第一和第二端部46、48以及相对的侧边缘50、52可被布置成形成能够使得该测试元件10如在本文所描述的那样起作用的各种形状和尺寸中的任何一种形状和尺寸。在一些情形中，该电极支撑基板12可以由柔性聚合物制成，该柔性聚合物包括但不限于聚酯或者聚酰亚胺、诸如聚萘二甲酸乙二醇酯（PEN）。替代性地，该电极支撑基板12可以用能够使得该电极支撑基板12如在本文所描述的那样起作用的任何其它的适当材料制成。

在该示例性的实施例中，形成所述电极迹线16、18、19、20、21和22的电导体14被提供在该电极支撑基板12的第一表面42上。该电导体14可以用如下材料制成：所述材料包括但不限于铝、碳（例如，石墨）、钴、铜、镓、金、铟、铱、铁、铅、镁、汞（作为汞合金）、镍、铌、锇、钯、铂、铼、铑、硒、硅（例如，高度掺杂的多晶硅）、银、钽、锡、钛、钨、铀、钒、锌、锆以及它们的组合。在一些情形中，所述电极迹线16、18、19、20、21和22通过激光烧蚀或者激光划片而与该电导体14的余下部分隔离，所述激光烧蚀或者激光划片这二者在本领域中是公知的。以这种方式，通过从围绕这些电极延伸的区域或者（诸如通过宽域烧蚀（broad fieldablation））广阔地去除该电导体14或者（诸如通过线划片）最低程度地去除该电导体14，可以制作所述电极迹线16、18、19、20、21和22。替代性地，可通过诸如例如层压、丝网印刷、光刻等的其它技术来制作所述电极迹线16、18、19、20、21和22。

在该示例性的实施例中，测试元件10是全宽端部剂量（"FWED"；其具有被定界在一个侧面上的毛细通道）测试元件，该全宽端部剂量测试元件在该电极支撑基板的第一端部46处具有毛细通道26或者入口。然而，预期到的是，该毛细通道也可以是常规的毛细通道（即，被定界在多于一个的侧面上）。在FWED测试元件中，该间隔物23在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间延伸，以与盖部分地一起形成该毛细通道。预期到的是，间隔物23可以由单个组件或者甚至多个组件制成。无论如何，该间隔物23应当包括端部边缘28，该端部边缘28与该电极支撑基板12的第一端部46基本上平行并且面向所述第一端部46，由此通过横跨该电极支撑基板12的整个宽度而限定毛细通道26的边界。替代性地，并且如上面所看到的那样，该端部边缘28可包括位于该电极支撑基板12的第一和第二端部46、48以及相对的侧边缘50、52之间的多个部分，以形成大体上为U形的图案，从而限定该毛细通道26的边界，该毛细通道26在该测试元件10的第一端部46处具有样本入口（未示出）。其它的适当的实施例预期到形成半卵形的、半圆形的或者其它形状的毛细通道的端部边缘28，并且端部边缘28的部分中的一个或多个可包括沿着其整个长度或其长度的部分的线性边缘或非线性边缘（未示出）。

间隔物23用如下绝缘材料制成：所述绝缘材料诸如例如是包括涂覆有粘合剂的聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）聚酯的柔性聚合物。适当材料的一个特定的非限制性实例包括白色PET膜，该白色PET膜的两侧都涂覆有压敏粘合剂。该间隔物23可由各种材料构造，并包括内表面25，使用各种各样的市场上可买到的粘合剂中的任何一种或组合，该内表面25可以被耦合到该电极支撑基板12的第一表面42。附加地，当支撑基板12的第一表面42被暴露并且未被该电导体14覆盖时，盖24可通过诸如热焊接或者超声焊接之类的焊接被耦合以支撑该电极基板12。还预期到的是，该电极支撑基板12的第一表面42可以印刷有例如产品标签或者供该测试元件10使用的用法说明（未示出）。

进一步地，在该示例性的实施例中，盖24在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间延伸，并且延伸至该电极支撑基板12的第一端部46。替代性地，盖24可延伸超出该第一端部46如下预定义的距离：所述预定义的距离能够使得该测试元件10如在本文所描述的那样起作用。在该示例性的实施例中，该毛细通道26因此被限定为在盖24和该电极支撑基板12之间的空间，该空间通过该电极支撑基板12的第一端部46和相对的侧边缘50、52以及通过该间隔物23的端部边缘28来定界。

盖24可以用如下绝缘材料制成：所述绝缘材料诸如例如是包括涂覆有粘合剂的聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）聚酯的柔性聚合物。适当材料的一个特定的非限制性实例包括透明的或半透明的PET膜。盖24可以由各种材料构造并且包括下表面27，使用各种各样的市场上可买到的粘合剂中的任何一种或组合，该下表面27可以被耦合到该间隔物23。附加地，盖24可通过诸如热焊接或者超声焊接之类的焊接而被耦合到该间隔物23。

在该示例性的实施例中，该测试元件10包括外部对电极30和内部对电极32，所述外部对电极30和内部对电极32横跨毛细通道26并且被耦合到电极迹线18和19。另外，该测试元件10包括被定位在对电极30、32之间的毛细通道26中的工作电极34。该工作电极34被耦合到迹线20和21。而且，该测试元件10还包括样本充足性工作电极（SSWE）36和样本充足性对电极（SSCE）38，该样本充足性工作电极（SSWE）36被耦合到电极迹线22，该样本充足性对电极（SSCE）38被耦合到定位在该毛细通道26中的电极迹线16。SSWE 36和SSCE 38被定位成邻近该电极支撑基板12的边缘。在SSWE 36和SSCE 38之间延伸的是完好性电极40。

在该示例性的实施例中，SSCE 36通过电极迹线22被耦合到接触垫SSE1，并且SSCE38通过电极迹线16被耦合到接触垫SSE2。同样地，外部对电极30和内部对电极32被耦合到电极迹线18、19。如在图2中所示，电极迹线18被耦合到接触垫CE，并且电极迹线19被耦合到接触垫CS、B和A。而且，工作电极34被耦合到电极迹线20和21，其中电极迹线20被耦合到接触垫WE，并且电极迹线21被耦合到接触垫WS。这些接触垫提供了在测试元件10上的导通区域，一旦该测试元件10被插入到测试仪（未示出）中时，该导通区域就要被该测试仪的连接器接触部接触。进一步预期到的是，电极的配置、电极的数目以及电极之间的间隔可以根据本公开而变化。所以，测试元件10可包括比在本文所图示的电极数目更多或更少的电极。

在该示例性的实施例中，工作电极34在毛细通道26中限定了有效工作电极区域。该有效工作电极区域是工作电极的如下区域：当该毛细通道26包括足够体积的流体样本以发起测量序列时，该区域与该毛细通道26中的流体样本接触。如在图3中看出的那样，该工作电极34包括：主体部分60，该主体部分60在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面（laterally）延伸；以及连接颈部62，该连接颈部62跨毛细通道26的边缘28地从该主体部分60（即，横向地从主体部分60朝向测试10的与毛细通道26相对的端部48）延伸出。连接颈部62被耦合到沿着该电极支撑基板12的一个侧面延伸的电极迹线20、21。该间隔物23被定位成使得边缘28横跨该连接颈部62，并且使得该主体部分60完全位于该毛细通道62之内。电化学检测试剂可以被定位在工作电极34上，所述电化学检测试剂为具体的被分析物提供电化学探查。具体的试剂的选择取决于要被测量的（多种）被分析物，这些具体的试剂在本领域中是众所周知的。可以在测试元件10中使用的检测试剂的实例是用于测量来自诸如全血样本之类的体液样本的葡萄糖的试剂。

在该示例性的实施例中，内部对电极32和外部对电极30被连接到电极迹线18、19，所述电极迹线18、19沿着该电极支撑基板12的一个侧面延伸。外部电极30在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面延伸，并且包括延伸迹线68和连接颈部66，所述延伸迹线68和连接颈部66每个都跨毛细通道26的边缘28地从该主体部分70（即，横向地从主体部分70朝向测试元件10的与毛细通道26相对的端部48）延伸出。而且，毛细通道26的边缘28沿着内部对电极32延伸并且与该内部对电极32部分地重叠。在一些情形中，电化学检测试剂可以被定位在该内部对电极32和该外部对电极30上。如在上面所看到的那样，检测试剂为具体的被分析物提供电化学探查，并且在本领域中是众所周知的，尤其是用于测量葡萄糖。

在该发明概念的一种形式中，完好性电极40贴近该电极支撑基板12的端部46地在SSWE 36和SSCE 38之间延伸。如在图3中看出的那样，所述内部和外部对电极30、32这二者以及该工作电极34被定位在该电极支撑基板12的如下区中：该区由完好性电极40、SSWE 36和SSCE 38围绕。该完好性电极40可以被形成为高电阻迹线、诸如例如用高电阻材料（例如，碳）制成的高电阻迹线，或者被形成为低电阻材料（例如，金）的薄迹线。在一些情形中，该完好性电极40具有如下电阻：该电阻在为SSWE 36和SSCE 38之间的样本电阻的大约1/10到大约1兆欧姆（Mohm）之间变化。如果该完好性电极40的电阻过小，则测试仪可能不能用相同的电极（即，SSWE 36和SSCE 38）来检测样本充足性。然而，如果该完好性电极40的电阻过大，则在潮湿的条件下使用的并且具有损坏的完好性电极40的测试元件可能在该测试仪看来似乎与未受损伤的完好性电极具有相同的传导性。

在操作中，该完好性电极40被配置成提供测试元件完好性的指示。例如，该测试元件10的端部46可能承受诸如磨损、破裂、刮擦、化学降解等之类的物理损伤，该物理损伤导致沿着该完好性电极40和沿着电极30、32和34中的一个或多个电极的不连续性。被配置成使用测试元件10的测试仪或其他装置被配置成向该测试元件10施加诸如例如AC信号的信号，以在使用该测试元件10来分析生物体液之前检查在SSWE 36和SSCE 38之间的沿着该完好性电极40的电连续性。沿着该完好性电极40的不连续性导致如下指示：该测试元件10很可能已承受物理损伤。因而，该测试仪可以向用户发出如下警报：该测试元件10的完好性检查失败，并且因此应当被丢弃。在一些情形中，该仪表提供了故障保护并且并不应用所使用的测试序列来确定感兴趣的被分析物的存在和/或浓度。如果该测试元件10通过了该完好性检查（即，该测试仪证实了沿着该完好性电极40的连续性），则该仪表可向用户发出如下警报：该测试元件10使用安全。

在一些情形中，在证实了沿着完好性电极40的连续性之后，该测试仪可以向该完好性电极40施加过电压。如在本文所使用的那样，“过电压”意味着在接收该过电压的电路的设计上限之上的电压。在该过电压状况期间，该完好性电极40充当熔断器，从而烧坏并断开在SSWE 36和SSCE 38之间的完好性电极40，因而当该样本在毛细通道26中已经达到充足的程度时，能够使得该测试仪基于在SSWE 36和SSCE 38之间的电气响应来检测样本体积的充足性。替代性地，该完好性电极40可以不受干扰，并且该仪表可以被配置成利用位于适当位置的完好性电极40来获得在SSWE 36和SSCE 38之间的样本充足性指示。

图4是用于与图1中示出的测试元件10一起使用的电极布置的另一实施例的平面图。在这里，该测试元件10包括横跨电极支撑基板12的整个宽度的毛细通道26（即，FWED）。该毛细通道26的边缘28由间隔物23形成。对电极80横跨该毛细通道26，并且工作电极84被定位在该毛细通道26中，由对电极80围绕，以致在工作电极80周围形成环路。SSWE 36和SSCE 38在毛细通道26中被定位成邻近该电极支撑基板12的边缘50、52。该测试元件10的未描述的部分可包括在本文以上描述的测试元件的特征中的任何特征。

工作电极84包括：主体部分86，该主体部分86在该电极支撑基板12的侧边缘50、52之间在侧面延伸；以及连接颈部88，该连接颈部88跨毛细通道26的边缘28地从该主体部分86（即，横向地从该主体部分86朝向该测试元件10的与该毛细通道26相对的端部48）延伸出。间隔物23被定位成使得该边缘28横跨该连接颈部88，并且使得该主体部分86完全位于该毛细通道26之内。

对电极80包括外体部分81并包括相对的连接颈部90，从而形成大体上为U形的电极，邻近该电极支撑基板12的端部46地，该外体部分81在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面延伸，所述相对的连接颈90跨毛细通道26的边缘28地从该外体部分81（即，横向地从该外体部分81朝向测试元件10的与毛细通道26相对的端部48）延伸出。而且，对电极80包括内体部分82，该内体部分82在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面延伸并连接到相对的连接颈部90中的一个。对电极80的外体部分81和内体部分82完全位于该毛细通道26之内。

在该发明概念的另一形式中，对电极80被配置成提供测试元件完好性的指示。例如，测试元件10的端部46可能承受诸如磨损、破裂、刮擦、化学降解等之类的物理损伤，该物理损伤导致沿着对电极80的外体部分81的不连续性。被配置成使用测试元件10的测试仪或其他装置被配置成向该测试元件10施加诸如例如AC信号的信号，以在使用该测试元件10来分析生物体液之前检查沿着对电极80的电连续性。沿着对电极80的不连续性导致如下指示：该测试元件10很可能已承受物理损伤。因而，该测试仪可向用户发出如下警报：测试元件10完好性检查失败，并且因此应当被丢弃（即，测试结果被故障保护）。如果该测试元件10通过了该完好性检查（即，该测试仪证实了沿着对电极80的连续性），则该仪表可向用户发出如下警报：该测试元件10使用安全。

图5是用于与图1中示出的测试元件10一起使用的电极布置的另一实施例的平面图。再次，该测试元件10包括横跨电极支撑基板12的整个宽度的毛细通道26（即，FWED）。该毛细通道26的边缘28由间隔物23形成。对电极100横跨该毛细通道26，并且工作电极102被定位在该毛细通道26中，由该对电极100围绕，以致在该工作电极102周围形成环路。邻近该电极支撑基板12的边缘50、52地，SSWE 36和SSCE 38被定位在毛细通道26中。该测试元件10的未描述的部分可包括在本文以上描述的测试元件的特征中的任何特征。

工作电极102包括主体部分104和连接颈部106，该主体部分104在该电极支撑基板12的侧边缘50、52之间在侧面延伸，该连接颈部106跨毛细通道26的边缘28地从该主体部分104（即，横向地从该主体部分104朝向测试元件10的与该毛细通道26相对的端部48）延伸出。间隔物23被定位成使得该边缘28横跨该连接颈部106，并且使得该主体部分104完全位于该毛细通道26之内。

对电极100包括外体部分108并包括相对的连接颈部112，从而形成大体上为U形的电极，邻近该电极支撑基板12的端部46地，该外体部分108在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面延伸，所述相对的连接颈部112跨毛细通道26的边缘28地从该外体部分108（即，横向地从该外体部分108朝向测试元件10的与毛细通道26相对的端部48）延伸出。而且，对电极100包括内体部分110，该内体部分110在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面延伸并且连接到相对的连接颈部112中的一个。在这个实施例中，毛细通道26的边缘28沿着该内体部分110延伸，并且与该内体部分110部分地重叠。相反地，该外体部分108完全位于该毛细通道26之内。

如上，该发明概念包括将对电极100配置成提供测试元件完好性的指示。例如，测试元件10的端部46可能承受诸如磨损、破裂、刮擦、化学降解等之类的物理损伤，该物理损伤导致沿着对电极100的外体部分108的不连续性。被配置成使用测试元件10的测试仪或其他装置被配置成向该测试元件10施加诸如例如AC信号的信号，以在使用该测试元件10来分析生物体液之前检查沿着对电极100的电连续性。沿着对电极100的不连续性导致如下指示：该测试元件10很可能已承受物理损伤。因而，该测试仪可以向用户发出如下警报：该测试元件10的完好性检查失败，并且因此应当被丢弃（即，测试结果被故障保护）。如果该测试元件10通过了该完好性检查（即，该测试仪证实了沿着对电极100的连续性），则该仪表可向用户发出如下警报：该测试元件10使用安全。

图6是用于与图1中所示的测试元件10一起使用的电极布置的另一实施例的平面图。再次，该测试元件10包括横跨电极支撑基板12的整个宽度的毛细通道26（即，FWED）。该毛细通道26的边缘28由间隔物23形成。对电极120横跨该毛细通道26，并且工作电极122被定位在该毛细通道26中，由对电极120围绕，使得在该工作电极122周围形成环路。邻近该电极支撑基板12的边缘50、52地，SSWE 36和SSCE 38被定位在毛细通道26中。该测试元件10的未描述的部分可包括在本文以上描述的测试元件的特征中的任何特征。

工作电极122包括主体部分124和连接颈部126，该主体部分124在该电极支撑基板12的侧边缘50、52之间在侧面延伸，该连接颈部126跨毛细通道26的边缘28地从该主体部分124（即，横向地从该主体部分124朝向该测试元件10的与该毛细通道26相对的端部48）延伸出。盖24被定位成使得该边缘28横跨该连接颈部126，并且使得该主体部分124完全位于该毛细通道26之内。

对电极100包括主体部分128并包括相对的连接颈部130，从而形成大体上为U形的电极，邻近该电极支撑基板12的端部46地，该主体部分128在该电极支撑基板12的相对的侧边缘50、52之间在侧面延伸，所述相对的连接颈部130跨毛细通道26的边缘28地从该主体部分128（即，横向地从该主体部分128朝向测试元件10的与毛细通道26相对的端部48）延伸出。间隔物23被定位成以致该边缘28横跨所述相对的连接颈部130，并且使得该主体部分128完全位于该毛细通道26之内。

对电极120被配置成提供测试元件10的完好性的指示。例如，该测试元件10的端部46可能承受诸如磨损、破裂、刮擦、化学降解等之类的物理损伤，该物理损伤导致沿着对电极120的主体部分128的不连续性。被配置成使用测试元件10的测试仪或其他装置被配置成向该测试元件10施加信号（例如，在没有限制的情况下为AC信号），以在使用该测试元件10来测试生物体液的成分之前检查沿着对电极120的电连续性。沿着对电极120的不连续性导致如下指示：该测试元件10很可能已承受物理损伤。因而，该测试仪可以向用户发出如下警报：该测试元件10的完好性检查失败，并且因此应当被丢弃。如果该测试元件10通过了该完好性检查（即，该测试仪证实了沿着对电极120的连续性），则该仪表可向用户发出如下警报：该测试元件10使用安全。

方法

一种验证具有完好性电极布置的测试元件的测试元件完好性的适当方法包括提供电极支撑基板，该电极支撑基板在支撑基板上具有至少一个工作电极，其中该工作电极包括主体部分和从该主体部分的端部延伸出的连接颈部。进一步地，对电极被提供在该支撑基板上。该对电极包括主体部分和相对的连接颈部对，其中每个连接颈部都从该主体部分的相对端部延伸出。该对电极和所述相对的连接颈部对围绕或者建造在该测试元件的毛细通道中的工作电极，从而在该工作电极周围形成环路。此外，间隔物被定位在该支撑基板上。该间隔物包括如下边缘：该边缘限定了在盖和该电极支撑基板之间的毛细通道的后边界。该边缘横跨该工作电极的连接颈部，使得该主体部分完全位于该毛细通道之内。另外，该边缘横跨该对电极的相对的连接颈部对，使得该主体部分完全位于该毛细通道之内。

另一验证具有完好性电极布置的测试元件的测试元件完好性的适当方法包括提供电极支撑基板。该方法还包括在该电极支撑基板上提供工作电极。该工作电极包括主体部分和从该主体部分的端部延伸出的连接颈部。进一步地，至少两个样本充足性电极被提供在支撑基板上，其中每个样本充足性电极都沿着该电极支撑基板的相应的侧边缘被定位在该工作电极外部。另外，完好性电极被提供在该电极支撑基板上，并且被耦合到样本充足性电极对中的每个样本充足性电极。所述样本充足性电极对和完好性电极围绕或者建造在该测试元件的毛细通道中的工作电极，从而在该工作电极周围形成环路。而且，间隔物被定位在该支撑基板上，该间隔物包括如下边缘：该边缘限定了在盖和该电极支撑基板之间的毛细通道的后边界。该边缘横跨该工作电极的连接颈部，使得该主体部分完全位于该毛细通道之内。

在这些方法中，诸如AC信号的信号被施加到该完好性电极布置，以测试或验证沿着该完好性电极布置的连续性。在一些情形中，在被分析物测量信号或者被分析物测试序列之前，施加完好性信号。然而，预期到的是，可以在测量信号或测试序列之后施加该完好性信号。有利地，完好性测试信号可以与用来测量样本充足性的已知的AC信号相同。如果该完好性信号指示了不连续性，则仪表可向用户发出如下警报：该测试元件不能被使用和/或测量应当被丢弃。

这些方法还可包括跨至少两个样本充足性电极来施加过电压，当包括施加过电压时，用以烧坏和断开完好性电极。本领域技术人员可以容易地确定过电压的持续时间和信号强度。

以上详细描述了用于测试元件的电极布置的示例性实施例。这些设备和方法并不限于在本文所描述的具体实施例，而是相反，这些方法的操作和这些系统的组件可以与在本文描述的其他操作或组件独立地并且分开地被利用。例如，在本文描述的方法和设备可具有其他的产业或消费应用，并且并不限于与如在本文描述的生物传感器组件一起实践。更确切地说，可以关于其他产业实施和利用一个或多个实施例。

由于可以在以上构造中做出各种改变，而不脱离本公开的范围，所以意图在于包含在以上描述中以及在附图中示出的所有事物都应当被解释为说明性的并且不是限制意义上的。

在本文叙述的所有的专利、专利申请、专利申请公开文献以及其它的公开文献通过引用被结合于此，如同其全文被阐述那样。

已经关于目前被认为是最实用的和优选的实施例描述了本发明概念。然而，已经通过说明的方式呈现了该发明概念，并且该发明概念并不意图被限制于所公开的实施例。因此，本领域技术人员将意识到，该发明概念意图涵盖所有的修改和替代性布置，所述所有的修改和替代性布置在如所附权利要求中阐述的发明概念的精神和范围之内。以下呈现被编号的实施例。

1. 一种验证具有完好性电极布置的测试元件的完好性测试元件的方法，该方法包括：

提供测试元件，该测试元件包括：（a）电极支撑基板；（b）被提供在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极包括第一体部分和从该第一体部分延伸出的连接颈部；（c）被提供在该电极支撑基板上的第二电极，该第二电极包括第二体部分和相对的连接颈部对，所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部延伸出；（d）盖；以及（e）被耦合到该电极支撑基板的间隔物，该间隔物包括限定了毛细通道的边界的边缘，该毛细通道被形成在该盖和该电极支撑基板之间，其中所述相对的连接颈部对和该第二电极的第二体部分围绕该毛细通道中的第一电极，从而在第一电极周围形成环路；以及

跨该第二电极的所述连接颈部对来施加信号，以验证沿着该第二电极的连续性。

2. 实施例1的方法，其中所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第一电极的所述连接颈部，以致所述第一体部分完全位于所述毛细通道之内。

3. 实施例1的方法，其中所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第二电极的所述相对的连接颈部对，以致所述第二体部分完全位于所述毛细通道之内。

4. 实施例1至3的方法，其中所述第二电极还包括第三体部分，邻近所述第一电极的所述第一体部分地，该第三体部分被定位成与所述第二电极的所述第二体部分相对，并且其中该第三体部分被耦合到所述相对的连接颈部对中的一个连接颈部。

5. 实施例4的方法，其中所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第二电极的所述相对的连接颈部对，以致所述第二电极的所述第二和第三体部分完全位于所述毛细通道之内。

6. 实施例4的方法，其中所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第二电极的所述相对的连接颈部对并且部分地与所述第二电极的所述第三体部分重叠。

7. 实施例1至6的方法，其中所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都从所述第二体部分延伸到所述电极支撑基板上的电极引线，使得所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都在所述第二电极和如下至少一个接触部之间提供电连接：所述至少一个接触部被配置成将所述测试元件连接到仪表。

8. 一种验证具有完好性电极的测试元件的测试元件完好性的方法，该方法包括：

提供测试元件，该测试元件包括：（a）盖；（b）电极支撑基板，该电极支撑基板包括毛细通道，该毛细通道被限定在该电极支撑基板上并且与所述盖部分地一起被形成；（c）被提供在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极的至少一部分被形成在该毛细通道中；（d）被提供在该电极支撑基板上的至少两个样本充足性电极，所述样本充足性电极中的每个都沿着该电极支撑基板的相应侧边缘被定位，其中所述样本充足性电极限定其间的间隙；和（e）该毛细通道中的在该电极支撑基板上的完好性电极，其中该完好性电极被耦合到所述至少两个样本充足性电极，并且在所述至少两个样本充足性电极之间延伸，其中该完好性电极和所述至少两个样本充足性电极围绕该毛细通道中的该第一电极，从而在该第一电极周围形成环路；以及

跨所述至少两个样本充足性电极来施加信号，以验证跨该完好性电极的连续性。

9. 实施例8的方法，其中该测试元件进一步包括被定位在所述电极支撑基板上的间隔物，该间隔物包括限定了在所述电极支撑基板上的毛细通道的边界的边缘。

10. 实施例8或9的方法，其中所述毛细通道位于所述电极支撑基板的第一端部处，所述毛细通道包括在所述电极支撑基板和所述盖之间的在所述第一端部处的入口。

11. 实施例8至10的方法，还包括跨所述至少两个样本充足性电极来施加过电压，以烧坏和断开所述完好性电极。

12. 实施例8至11的方法，其中所述测试元件还包括在所述电极支撑基板上提供至少一个第二电极。

13. 实施例12的方法，其中所述至少一个第二电极被定位在所述第一电极和所述完好性电极之间。

14. 一种测试元件，其包括：

盖；

电极支撑基板，在该电极支撑基板的第一端部处，该电极支撑基板包括毛细通道，该毛细通道被限定在该电极支撑基板上并且与所述盖部分地一起被形成；

设置在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极包括第一体部分和从该第一体部分延伸出的连接颈部；

设置在该电极支撑基板上的第二电极，该第二电极包括第二体部分和至少两个连接颈部，所述至少两个连接颈部中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部延伸出；和

被定位在该电极支撑基板上的间隔物，该间隔物包括限定了该毛细通道的边界的边缘，其中所述盖被耦合到该间隔物，

其中所述至少两个连接颈部和该第二电极的该第二体部分形成围绕该第一电极的U形环路，该第二电极被配置成提供连续性指示，以验证测试元件完好性。

15. 实施例14的测试元件，其中所述毛细通道包括在所述电极支撑基板的所述第一端部处的入口，所述间隔物的边缘在所述电极支撑基板的相对的侧边缘之间延伸。

16. 实施例14或15的测试元件，其中所述第二电极还包括第三体部分，邻近所述第一电极的所述第一体部分地，该第三体部分被定位成与所述第二电极的所述第二体部分相对，该第三体部分被耦合到所述至少两个连接颈部中的一个连接颈部。

17. 实施例16的测试元件，其中所述盖的所述边缘横跨所述第二电极的所述至少两个连接颈部，以致所述第二电极的所述第二和第三体部分完全位于所述毛细通道之内。

18. 实施例16的测试元件，其中所述间隔物的所述边缘横跨所述第二电极的所述至少两个连接颈部，并且部分地与所述第二电极的所述第三体部分重叠。

19. 实施例16至18中的任何一个实施例的测试元件，其还包括设置在所述电极支撑基板上的至少两个样本充足性电极，所述样本充足性电极中的每个样本充足性电极都沿着所述电极支撑基板的相应的侧边缘被定位。

20. 实施例16至19中的任何一个实施例的测试元件，其还包括设置在所述电极支撑基板上的完好性电极，该完好性电极被耦合到所述至少两个样本充足性电极，并且在所述至少两个样本充足性电极之间延伸，该完好性电极被配置成提供连续性指示，以验证测试元件完好性。

21. 一种基本上如在本文描述和示出的验证测试元件完好性的方法。

22. 一种基本上如在本文所描述和示出的具有完好性电极布置的测试元件。

Claims (20)

1.一种验证测试元件的完好性的方法，所述测试元件具有完好性电极布置，该方法包括：

提供测试元件，该测试元件包括：（a）电极支撑基板；（b）被提供在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极包括第一体部分和从该第一体部分横向延伸出的连接颈部，（c）被提供在该电极支撑基板上的第二电极，该第二电极包括第二体部分和相对的连接颈部对，所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部横向延伸出；（d）盖；以及（e）耦合到该电极支撑基板的间隔物，该间隔物包括限定了毛细通道的边界的边缘，该毛细通道被形成在该盖和该电极支撑基板之间，其中所述相对的连接颈部对和该第二电极的该第二体部分围绕该毛细通道中的该第一电极，从而在该第一电极周围形成环路；以及

跨该第二电极的所述连接颈部对来施加信号，以验证沿着该第二电极的连续性。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第一电极的所述连接颈部，以致所述第一体部分完全位于所述毛细通道之内。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第二电极的所述相对的连接颈部对，以致所述第二体部分完全位于所述毛细通道之内。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述第二电极还包括第三体部分，邻近所述第一电极的所述第一体部分，该第三体部分被定位成与所述第二电极的所述第二体部分相对，并且其中该第三体部分被耦合到所述相对的连接颈部对中的一个连接颈部。

5.如权利要求4所述的方法，其中，所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第二电极的所述相对的连接颈部对，以致所述第二电极的所述第二和第三体部分完全位于所述毛细通道之内。

6.如权利要求4所述的方法，其中，所述间隔物被定位成使得所述边缘横跨所述第二电极的所述相对的连接颈部对，并且部分地与所述第二电极的所述第三体部分重叠。

7.如权利要求1所述的方法，其中，所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都从所述第二体部分延伸到所述电极支撑基板上的电极引线，使得所述相对的连接颈部对中的每个连接颈部都提供在所述第二电极和如下至少一个接触部之间的电连接：所述至少一个接触部被配置成将所述测试元件连接到仪表。

8.一种验证测试元件的完好性的方法，该方法包括：

提供测试元件，该测试元件包括：（a）盖；（b）电极支撑基板，该电极支撑基板包括毛细通道，该毛细通道被限定在该电极支撑基板上并且与所述盖部分地一起被形成；（c）被提供在该电极支撑基板上的第一电极，所述第一电极的至少一部分被形成在所述毛细通道中；（d）被提供在该电极支撑基板上的至少两个样本充足性电极，所述样本充足性电极中的每个样本充足性电极都沿着该电极支撑基板的相应侧边缘被定位，其中所述样本充足性电极限定其间的间隙；和（e）该毛细通道中的该电极支撑基板上的完好性电极，其中该完好性电极被耦合到所述至少两个样本充足性电极，并且在所述至少两个样本充足性电极之间延伸，其中该完好性电极和所述至少两个样本充足性电极围绕该毛细通道中的所述第一电极，从而在所述第一电极周围形成环路；以及

跨所述至少两个样本充足性电极来施加信号，以验证跨该完好性电极的连续性。

9.如权利要求8所述的方法，其中，所述测试元件进一步包括被定位在所述电极支撑基板上的间隔物，该间隔物包括限定了所述电极支撑基板上的所述毛细通道的边界的边缘。

10.如权利要求9所述的方法，其中，所述毛细通道位于所述电极支撑基板的第一端部处，所述毛细通道包括在所述电极支撑基板和所述盖之间的在所述第一端部处的入口。

11.如权利要求8所述的方法，其还包括跨所述至少两个样本充足性电极来施加过电压，以烧坏和断开所述完好性电极。

12.如权利要求8所述的方法，其中，所述测试元件还包括在所述电极支撑基板上提供至少一个第二电极。

13.如权利要求12所述的方法，其中，所述至少一个第二电极被定位在所述第一电极和所述完好性电极之间。

14.一种测试元件，其包括：

盖；

电极支撑基板，在所述电极支撑基板的第一端部处，该电极支撑基板包括毛细通道，该毛细通道被限定在该电极支撑基板上并且与所述盖部分地一起被形成；

设置在该电极支撑基板上的第一电极，该第一电极包括第一体部分和从该第一体部分横向延伸出的连接颈部；

设置在该电极支撑基板上的第二电极，该第二电极包括第二体部分和至少两个连接颈部，所述至少两个连接颈部中的每个连接颈部都从该第二体部分的相应的端部横向延伸出；和

定位在该电极支撑基板上的间隔物，该间隔物包括限定了该毛细通道的边界的边缘，其中所述盖被耦合到所述间隔物，

其中所述至少两个连接颈部和该第二电极的该第二体部分形成围绕该第一电极的U形环路，该第二电极被配置成提供连续性指示，以验证测试元件完好性。

15.如权利要求14所述的测试元件，其中，所述毛细通道包括在所述电极支撑基板的所述第一端部处的入口，所述间隔物的边缘在所述电极支撑基板的相对的侧边缘之间延伸。

16.如权利要求14所述的测试元件，其中，所述第二电极还包括第三体部分，邻近所述第一电极的所述第一体部分，该第三体部分被定位成与所述第二电极的所述第二体部分相对，该第三体部分被耦合到所述至少两个连接颈部中的一个连接颈部。

17.如权利要求16所述的测试元件，其中，所述盖的所述边缘横跨所述第二电极的所述至少两个连接颈部，以致所述第二电极的所述第二和第三体部分完全位于所述毛细通道之内。

18.如权利要求16所述的测试元件，其中，所述间隔物的所述边缘横跨所述第二电极的所述至少两个连接颈部，并且部分地与所述第二电极的所述第三体部分重叠。

19.如权利要求14所述的测试元件，其还包括设置在所述电极支撑基板上的所述至少两个样本充足性电极，所述样本充足性电极中的每个样本充足性电极都沿着所述电极支撑基板的相应侧边缘被定位。

20.如权利要求19所述的测试元件，其还包括设置在所述电极支撑基板上的完好性电极，该完好性电极被耦合到所述至少两个样本充足性电极，并且在所述至少两个样本充足性电极之间延伸，该完好性电极被配置成提供连续性指示，以验证测试元件完好性。