CN106452613A - 一种发射机内部pcm信号测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供的一种发射机内部PCM信号测试系统；包括外部开关控制单元、发射机单元，本发明电路简单，在发射机内部只需要额外增加4个电阻，外部测试电缆只需要2个二选一开关即可实现本发明。发射机采用内部自身提供PCM测试信号形式，测试时省去函数信号发生器，免去函数信号发生器复杂的设置，能有效避免试验人员加错信号导致测试数据错误或对产品带来的风险，不仅降低仪器使用费用，同时采用该方法后，采取该方案的发射机在外场试验时测试非常方便。

Description

一种发射机内部PCM信号测试系统
技术领域
本发明涉及一种发射机内部PCM信号测试系统。
背景技术
发射机指标测试时需要外部供电和施加PCM信号，PCM信号常使用函数信号发生器模拟，输出规则的“01010101……”码和长“0”、长“1”信号，才能测试发射机调制指数这一重要指标。而发射机所有试验均需要函数信号发生器为其模拟PCM码，使产品正常工作。这样一来发射机试验占用函数信号发生器时间非常长，尤其是温度循环和老练试验，使函数信号发生器磨损较大。发射机在外场测试或排查问题时，函数信号发生器短缺，导致工作不易开展。同时每种型号发射机需要施加的PCM信号码率和信号幅度基本不相同，码率范围在409.6kbps至10Mbps，信号幅度有0～3.3V、0～5V、±2.5V、RS422电平等，对于试验人员要求较高，若函数信号发生器模拟的PCM信号设置错误，会使产品工作不正常，严重时还会损坏产品。
在该背景下，需要采取有效措施解决发射机指标测试依赖函数信号发生器问题，使产品测试方便，降低试验人员信号加错几率，尽可能少占用函数信号发生器测试时间，甚至不依赖函数信号发生器。产品在不影响原有功能和接口的条件下，通过测试口引出控制线，使发射机内部自供产品需要的PCM信号供测试使用。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种发射机内部PCM信号测试系统。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的一种发射机内部PCM信号测试系统；包括外部开关控制单元、发射机单元，所述发射单元包括依次连接的上拉保护电阻网络、控制扫描单元、PCM选通单元、信号输出单元，所述PCM选通单元上还连接有PCM同步接收单元和模拟PCM信号产生单元，所述开关控制单元通过测试口与上拉保护电阻网络连接，所述PCM同步接收单元还设置有外部PCM输入接口。
所速开关控制单元设置有KZ1和KZ2两路开关信号，测试口和扫描控制单元之间连接有两路信号。两路信号上均设置有保护电阻R3、R4并通过上拉电阻R1和R2连接至电源VCC。
所述PCM同步接收单元、控制扫描单元、模拟PCM信号产生单元、PCM选通单元组成FPGA。
本发明的有益效果在于：电路简单，在发射机内部只需要额外增加4个电阻，外部测试电缆只需要2个二选一开关即可实现本发明。发射机采用内部自身提供PCM测试信号形式，测试时省去函数信号发生器，免去函数信号发生器复杂的设置，能有效避免试验人员加错信号导致测试数据错误或对产品带来的风险，不仅降低仪器使用费用，同时采用该方法后，采取该方案的发射机在外场试验时测试非常方便。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图2为本发明自供PCM测试信号设计原理框图；
具体实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
一种发射机内部PCM信号测试系统；包括外部开关控制单元、发射机单元，所述发射单元包括依次连接的上拉保护电阻网络、控制扫描单元、PCM选通单元、信号输出单元，所述PCM选通单元上还连接有PCM同步接收单元和模拟PCM信号产生单元，所述开关控制单元通过测试口与上拉保护电阻网络连接，所述PCM同步接收单元还设置有外部PCM输入接口。
所速开关控制单元设置有KZ1和KZ2两路开关信号，测试口和扫描控制单元之间连接有两路信号。两路信号上均设置有保护电阻R3、R4并通过上拉电阻R1和R2连接至电源VCC。
所述PCM同步接收单元、控制扫描单元、模拟PCM信号产生单元、PCM选通单元组成FPGA。
如图1，一种发射机自供PCM测试信号的设计，包括开关控制单元1、测试口2、上拉及保护电阻网络3、外部PCM输入接口4、PCM同步接收单元5、控制扫描单元6、模拟PCM信号产生单元7、PCM选通单元8、调制变频滤波放大部分9等。其中，开关控制单元1、测试口2、上拉及保护电阻网络3依次相连，PCM同步接收单元5、控制扫描单元6、模拟PCM信号产生单元7、PCM选通单元8属于FPGA软件部分，调制变频滤波放大部分9属于发射机信号处理硬件部分。
所述的产品测试口2对外引出3根导线，其中1根为地，另外2根为控制信号线接至FPGA，并通过上拉电阻R1和R2上拉至VCC，为保护FPGA，控制线对外输出端加保护电阻R3和R4。
通过对FPGA编程，FPGA将参考时钟分频得到模拟PCM信号，控制扫描单元6时刻在扫描开关控制单元1的控制信号电平，根据2根控制信号电平状态，由PCM选通单元8输出不同PCM信号，控制信号电平状态选通PCM信号状态表如表一所示。
表一控制开关选通PCM信号状态表
如表一所示，当发射机的测试电缆未连接发射机任务时正常工作状态或测试电缆连接后2个开关均未闭合时，KZ1和KZ2控制信号均为高电平，FPGA选通外部PCM信号进入后级调制单元；当KZ1和KZ2开关均闭合时，KZ1和KZ2控制信号均为低电平，FPGA内部的PCM产生单元输出“0101010101……”码率为fΩ的PCM信号进入后级调制单元，此时发射机输出为中心频率f0；当KZ1开关闭合而KZ2开关打开时，KZ1控制信号为低电平，KZ2控制信号为高电平，FPGA内部的PCM产生单元输出长“0”信号进入后级调制单元，此时发射机输出为频率fL；当KZ1开关打开而KZ2开关闭合时，KZ1控制信号为高电平，KZ2控制信号为低电平，FPGA内部的PCM产生单元输出长“1”信号进入后级调制单元，此时发射机输出为频率fH。发射机的调制指数mf可通过以下公式计算得到：
下调制指数mfL：
上调制指数mfH：
如图2，所述的电阻网络为发射机内部上拉和保护电阻，将外部开关控制信号连接到FPGA中。
本发明使发射机能够通过外部开关控制，发射机自身提供模拟PCM信号进行测试，当拆下发射机的测试电缆时，发射机接收外部PCM信号，执行正常任务。

Claims (3)

1.一种发射机内部PCM信号测试系统，其特征在于：包括外部开关控制单元、发射机单元，所述发射单元包括依次连接的上拉保护电阻网络、控制扫描单元、PCM选通单元、信号输出单元，所述PCM选通单元上还连接有PCM同步接收单元和模拟PCM信号产生单元，所述开关控制单元通过测试口与上拉保护电阻网络连接，所述PCM同步接收单元还设置有外部PCM输入接口。
2.如权利要求1所述的发射机内部PCM信号测试系统，其特征在于：所速开关控制单元设置有KZ1和KZ2两路开关信号，测试口和扫描控制单元之间连接有两路信号。两路信号上均设置有保护电阻R3、R4并通过上拉电阻R1和R2连接至电源VCC。
3.如权利要求1所述的发射机内部PCM信号测试系统，其特征在于：所述PCM同步接收单元、控制扫描单元、模拟PCM信号产生单元、PCM选通单元组成FPGA。
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