CN106445716A - 一种故障功能测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种故障功能测试方法及装置,涉及故障测试领域,解决现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。该方法包括:在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。本发明的方案排除了偶发事件带来的风险,使软件质量得到了保障,提高了安全性和可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及故障测试领域,特别涉及一种故障功能测试方法及装置。
背景技术
一般现有的嵌入式软件的功能测试中都会包含对于故障功能的测试,但针对故障类型不同,简单的触发式测试在实际应用中被证明不能有效的排除偶发事件带来的风险。而针对故障功能测试如不能保证较高的准确度,则有可能导致严重的质量问题。
如现有的故障功能的测试通常只进行一次故障触发和故障恢复的测试操作,但这种测试方法并不能完全保证测试结果是由测试操作所引起的,即并不能排除由其他因素导致故障偶发的情况。这就直接使得软件故障功能存在不可控的潜在风险,软件质量难以得到保障。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种故障功能测试方法及装置,解决现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。
为解决上述技术问题,本发明的实施例提供一种故障功能测试方法,包括:
在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;
在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;
根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;
根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。
进一步来说,所述根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作的步骤包括:
若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,且所述初始化测试结果为已恢复测试环境初始化,则执行故障触发和故障恢复的操作;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,且所述初始化测试结果为未恢复测试环境初始化、故障被触发,则执行故障恢复的操作。
进一步来说,执行故障触发的操作后,经过预设触发时间后获取故障触发测试结果;
执行故障恢复的操作后,经过预设恢复时间后获取故障恢复测试结果。
进一步来说,若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设触发时间后,获取初始化测试结果;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设恢复时间后,获取初始化测试结果。
进一步来说,所述根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证的步骤包括:
根据所述第二故障测试结果,判断所述第一故障测试结果是否为偶发事件;
若所述第二故障测试结果与所述第一故障测试结果相同,则确定所述第一故障测试结果不是偶发事件,否则,确定所述第一故障测试结果为偶发事件。
为解决上述技术问题,本发明的实施例还提供一种故障功能测试装置,包括:
第一测试模块,用于在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;
初始化模块,用于在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;
第二测试模块,用于根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;
验证模块,用于根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。
进一步来说,所述第二测试模块包括:
第一测试单元,用于若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,且所述初始化测试结果为已恢复测试环境初始化,则执行故障触发和故障恢复的操作;
第二测试单元,用于若所触发故障为永久性不可恢复故障,且所述初始化测试结果为未恢复测试环境初始化、故障被触发,则执行故障恢复的操作。
进一步来说,所述第一测试模块和/或所述第二测试模块用于:
执行故障触发的操作后,经过预设触发时间后获取故障触发测试结果;
执行故障恢复的操作后,经过预设恢复时间后获取故障恢复测试结果。
进一步来说,所述初始化模块用于:
若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设触发时间后,获取初始化测试结果;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设恢复时间后,获取初始化测试结果。
进一步来说,所述验证模块包括:
判断单元,用于根据所述第二故障测试结果,判断所述第一故障测试结果是否为偶发事件;
确定单元,用于若所述第二故障测试结果与所述第一故障测试结果相同,则确定所述第一故障测试结果不是偶发事件,否则,确定所述第一故障测试结果为偶发事件。
本发明的上述技术方案的有益效果如下:
本发明实施例的故障功能测试方法,首先在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;然后在获取第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;再根据所触发故障的类型和初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;最后根据第一故障测试结果、初始化测试结果和第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。这样,在一次故障触发和故障恢复的操作后,又进行了初始化以及第二次故障触发和/或故障恢复的操作,从而结合第一次故障测试结果、初始化测试结果和第二次故障测试结果,能够对所触发故障功能进行有效验证,排除了偶发事件带来的风险,使软件质量得到了保障,提高了安全性和可靠性。解决了现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。
附图说明
图1为本发明故障功能测试方法的流程图;
图2为本发明故障功能测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
结合图1所示,本发明实施例的故障功能测试方法,包括:
步骤101,在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果。
这里,在预设多种测试环境下,例如N种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,能够得到每种测试环境下的第一故障测试结果。第一故障测试结果包括故障触发测试结果和故障恢复测试结果。
其中,N为大于或等于1的整数。这N种测试环境可分别为:X0:测试初始环境;X1:测试环境1;X2:测试环境2;……Xn:测试环境n。
步骤102,在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果。
这里,在每种测试环境下,获取第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,以检测初始化对所触发功能的影响。
步骤103,根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果。
这里,完成初始化之后,根据所触发故障的类型和初始化测试结果,再次执行故障触发和/或故障恢复的操作,以对第一故障测试结果进行验证。第二故障测试结果包括故障触发测试结果和/或故障恢复测试结果。
步骤104,根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。
这里,结合第一次故障测试结果、初始化测试结果和第二次故障测试结果,能够对所触发故障功能进行有效验证。
本发明实施例的故障功能测试方法,在一次故障触发和故障恢复的操作后,又进行了初始化以及第二次故障触发和/或故障恢复的操作,从而结合第一次故障测试结果、初始化测试结果和第二次故障测试结果,能够对所触发故障功能进行有效验证,排除了偶发事件带来的风险,使软件质量得到了保障,提高了安全性和可靠性。解决了现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。
其中,上述步骤103的步骤包括:
步骤1031,若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,且所述初始化测试结果为已恢复测试环境初始化,则执行故障触发和故障恢复的操作。
这里,对于一次初始化周期中可以被恢复的故障,或者一次初始化周期中不可以被恢复,但重新初始化之后可以被恢复的故障,在重新初始化之后故障被恢复后,再次执行故障触发和故障恢复的操作。
步骤1032,若所触发故障为永久性不可恢复故障,且所述初始化测试结果为未恢复测试环境初始化、故障被触发,则执行故障恢复的操作。
这里,对于永久性不可恢复的故障,在重新初始化之后故障仍然被触发,则再次执行故障恢复的操作。
此时,对于一次初始化周期中可以被恢复的故障、重新初始化之后可以被恢复的故障以及永久性不可恢复故障,采用不同策略进行了有效检测,提高了准确性和可靠性。
进一步的,上述步骤101和103中,执行故障触发的操作后,经过预设触发时间后获取故障触发测试结果;执行故障恢复的操作后,经过预设恢复时间后获取故障恢复测试结果。
此时,在执行故障触发的操作后,等待故障触发所需要的时间,即预设触发时间T1之后,再获取故障触发测试结果,保证了测试的准确性和有效性;在执行故障恢复的操作后,等待故障恢复所需要的时间,即预设恢复时间T2之后,再获取故障恢复测试结果,同样保证了测试的准确性和有效性。
其中,故障触发和故障恢复测试结果均包括故障被触发和故障被恢复这两种情况。为便于描述和理解,本文将故障触发的操作用P1表示,故障被恢复的操作用P2表示,故障被触发的结果用S1表示,故障被恢复的结果用S2表示。
进一步的,上述步骤102中,若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设触发时间后,获取初始化测试结果。
这里,对于一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,需要验证故障触发是否会对初始化功能产生影响,即验证在初始化过程中故障是否会被触发。因此等待初始化过程所需要的时间和故障触发所需要的时间,即等待预设初始化时间T0加预设触发时间T1之后,再获取初始化测试结果。
进一步的,上述步骤102中,若所触发故障为永久性不可恢复故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设恢复时间后,获取初始化测试结果。
这里,对于永久性不可恢复故障,需要验证初始化过程是否会对故障恢复产生影响,即验证在初始化过程中故障是否会被恢复。因此等待初始化过程所需要的时间和故障恢复所需要的时间,即等待预设初始化时间T0加预设恢复时间T2之后,再获取初始化测试结果。
其中,初始化测试结果包括已恢复测试环境初始化和未恢复测试环境初始化、故障被触发这两种情况。为便于描述和理解,本文将测试环境初始化的操作用P0表示,已恢复测试环境初始化的结果用S0表示,未恢复测试环境初始化、故障被触发的结果仍用S1表示。
具体的,上述步骤104的步骤包括:根据所述第二故障测试结果,判断所述第一故障测试结果是否为偶发事件;若所述第二故障测试结果与所述第一故障测试结果相同,则确定所述第一故障测试结果不是偶发事件,否则,确定所述第一故障测试结果为偶发事件。
此时,通过第二故障测试结果能够对第一故障测试结果进行有效验证,从而排除了偶发事件带来的影响,提高了安全性和可靠性。
当然,上述步骤104的测试内容并不限于根据第二故障测试结果判断第一故障测试结果的偶发性,还可以包括所触发故障对初始化功能的影响,初始化过程对故障恢复功能的影响等,在此不一一说明。
下面以一次初始化周期中可以被恢复的故障、重新初始化之后可以被恢复的故障以及永久性不可恢复故障这三种故障类型为例,对本发明故障功能测试方法的具体测试过程举例说明如下。
对于一次初始化周期中可以被恢复的故障,参照如下表1所示:
表1
对于测试环境X0、X1、X2……Xn,分别按照序号①、②、③、④、⑤的顺序执行故障触发P1、故障恢复P2、测试环境初始化P0、故障触发P1和故障恢复P2的操作,并在每次操作后经过相应的等待时间后获取测试结果。
然后根据①、②、③、④、⑤的操作的测试结果,对所触发故障功能进行验证。具体说明如下:
对于①的操作,等待T1后的结果为S1,说明在当前测试环境中该故障可以被触发。
对于②的操作,等待T2后的结果为S2,说明在当前一次初始化周期内,该故障可以被恢复。
对于③的操作,等待T0加T1后的结果为S0,说明该故障不影响初始化,恢复测试环境初始化后故障为未触发。
对于④的操作,等待T1后的结果为S1,与①的测试结果相同,说明在下一个初始化周期内该故障依然可以被触发,①的测试结果不是偶发事件。
对于⑤的操作,等待T2后的结果为S2,与②的测试结果相同,说明在下一个初始化周期内该故障依然可以被恢复,初始化对于该故障的恢复功能并没有产生影响,②的测试结果不是偶发事件。
至此,完成了对于一次初始化周期中可以被恢复的故障的测试功能。
对于一次初始化周期中不可以被恢复,但重新初始化之后可以被恢复的故障,参照如下表2所示:
表2
对于测试环境X0、X1、X2……Xn,分别按照序号①、②、③、④、⑤的顺序执行故障触发P1、故障恢复P2、测试环境初始化P0、故障触发P1和故障恢复P2的操作,并在每次操作后经过相应的等待时间后获取测试结果。
然后根据①、②、③、④、⑤的操作的测试结果,对所触发故障功能进行验证。具体说明如下:
对于①的操作,等待T1后的结果为S1,说明在当前测试环境中该故障可以被触发。
对于②的操作,等待T2后的结果为S1,说明在当前一次初始化周期内,该故障不可以被恢复。
对于③的操作,等待T0加T1后的结果为S0,说明该故障在重新初始化之后可以被恢复,并证明该故障的发生不影响初始化。
对于④的操作,等待T1后的结果为S1,与①的测试结果相同,说明在下一个初始化周期内该故障依然可以被触发,①的测试结果不是偶发事件。
对于⑤的操作,等待T2后的结果为S1,与②的测试结果相同,说明在下一个初始化周期内该故障依然不可以被恢复,初始化对于该故障在一次初始化周期内不可恢复功能没有产生影响,②的测试结果不是偶发事件。
至此,完成了对于重新初始化之后可以被恢复的故障的测试功能。
对于永久性不可恢复故障,参照如下表3所示:
表3
对于测试环境X0、X1、X2……Xn,分别按照序号①、②、③、④的顺序执行故障触发P1、故障恢复P2、测试环境初始化P0和故障恢复P2的操作,并在每次操作后经过相应的等待时间后获取测试结果。
然后根据①、②、③、④的操作的测试结果,对所触发故障功能进行验证。具体说明如下:
对于①的操作,等待T1后的结果为S1,说明在当前测试环境中该故障可以被触发。
对于②的操作,等待T2后的结果为S1,说明在当前一次初始化周期内,该故障不可以被恢复。
对于③的操作,等待T0加预设恢复时间T2后的结果为S1,说明该故障在重新初始化依然不可以被恢复。
对于④的操作,等待预设恢复时间T2后的结果为S1,与②的测试结果相同,说明在下一个初始化周期内该故障依然不可以被恢复,初始化对于该故障永久性不可恢复功能没有产生影响,②的测试结果不是偶发事件。
至此,完成了对于永久性不可恢复故障的测试功能。
综上,本发明实施例的故障功能测试方法,在一次故障触发和故障恢复的操作后,又进行了初始化以及第二次故障触发和/或故障恢复的操作,从而结合第一次故障测试结果、初始化测试结果和第二次故障测试结果,能够对所触发故障功能进行有效验证,排除了偶发事件带来的风险,使软件质量得到了保障,提高了安全性和可靠性。解决了现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。
第二实施例
结合图2所示,本发明实施例的故障功能测试装置,包括:
第一测试模块201,用于在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;
初始化模块202,用于在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;
第二测试模块203,用于根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;
验证模块204,用于根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。
本发明实施例的故障功能测试装置,在一次故障触发和故障恢复的操作后,又进行了初始化以及第二次故障触发和/或故障恢复的操作,从而结合第一次故障测试结果、初始化测试结果和第二次故障测试结果,能够对所触发故障功能进行有效验证,排除了偶发事件带来的风险,使软件质量得到了保障,提高了安全性和可靠性。解决了现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。
其中,所述第二测试模块203包括:
第一测试单元,用于若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,且所述初始化测试结果为已恢复测试环境初始化,则执行故障触发和故障恢复的操作;
第二测试单元,用于若所触发故障为永久性不可恢复故障,且所述初始化测试结果为未恢复测试环境初始化、故障被触发,则执行故障恢复的操作。
进一步的,所述第一测试模块201和/或所述第二测试模块203用于:
执行故障触发的操作后,经过预设触发时间后获取故障触发测试结果;
执行故障恢复的操作后,经过预设恢复时间后获取故障恢复测试结果。
进一步的,所述初始化模块202用于:
若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设触发时间后,获取初始化测试结果;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设恢复时间后,获取初始化测试结果。
具体的,所述验证模块204包括:
判断单元,用于根据所述第二故障测试结果,判断所述第一故障测试结果是否为偶发事件;
确定单元,用于若所述第二故障测试结果与所述第一故障测试结果相同,则确定所述第一故障测试结果不是偶发事件,否则,确定所述第一故障测试结果为偶发事件。
本发明实施例的故障功能测试装置,在一次故障触发和故障恢复的操作后,又进行了初始化以及第二次故障触发和/或故障恢复的操作,从而结合第一次故障测试结果、初始化测试结果和第二次故障测试结果,能够对所触发故障功能进行有效验证,排除了偶发事件带来的风险,使软件质量得到了保障,提高了安全性和可靠性。解决了现有故障功能测试方法不能排除偶发事件带来的风险,软件质量难以得到保障的问题。
需要说明的是,该故障功能测试装置是与上述故障功能测试方法相对应的装置,其中上述方法实施例中所有实现方式均适用于该装置的实施例中,也能达到同样的技术效果。
在本发明的各种实施例中,应理解,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
本发明实施例中,模块可以用软件实现,以便由各种类型的处理器执行。举例来说,一个标识的可执行代码模块可以包括计算机指令的一个或多个物理或者逻辑块,举例来说,其可以被构建为对象、过程或函数。尽管如此,所标识模块的可执行代码无需物理地位于一起,而是可以包括存储在不同位里上的不同的指令,当这些指令逻辑上结合在一起时,其构成模块并且实现该模块的规定目的。
实际上,可执行代码模块可以是单条指令或者是许多条指令,并且甚至可以分布在多个不同的代码段上,分布在不同程序当中,以及跨越多个存储器设备分布。同样地,操作数据可以在模块内被识别,并且可以依照任何适当的形式实现并且被组织在任何适当类型的数据结构内。所述操作数据可以作为单个数据集被收集,或者可以分布在不同位置上(包括在不同存储设备上),并且至少部分地可以仅作为电子信号存在于系统或网络上。
在模块可以利用软件实现时,考虑到现有硬件工艺的水平,所以可以以软件实现的模块,在不考虑成本的情况下,本领域技术人员都可以搭建对应的硬件电路来实现对应的功能,所述硬件电路包括常规的超大规模集成(VLSI)电路或者门阵列以及诸如逻辑芯片、晶体管之类的现有半导体或者是其它分立的元件。模块还可以用可编程硬件设备,诸如现场可编程门阵列、可编程阵列逻辑、可编程逻辑设备等实现。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种故障功能测试方法,其特征在于,包括:
在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;
在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;
根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;
根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。
2.根据权利要求1所述的故障功能测试方法,其特征在于,所述根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作的步骤包括:
若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,且所述初始化测试结果为已恢复测试环境初始化,则执行故障触发和故障恢复的操作;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,且所述初始化测试结果为未恢复测试环境初始化、故障被触发,则执行故障恢复的操作。
3.根据权利要求1或2所述的故障功能测试方法,其特征在于,执行故障触发的操作后,经过预设触发时间后获取故障触发测试结果;
执行故障恢复的操作后,经过预设恢复时间后获取故障恢复测试结果。
4.根据权利要求1或2所述的故障功能测试方法,其特征在于,若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设触发时间后,获取初始化测试结果;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设恢复时间后,获取初始化测试结果。
5.根据权利要求1所述的故障功能测试方法,其特征在于,所述根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证的步骤包括:
根据所述第二故障测试结果,判断所述第一故障测试结果是否为偶发事件;
若所述第二故障测试结果与所述第一故障测试结果相同,则确定所述第一故障测试结果不是偶发事件,否则,确定所述第一故障测试结果为偶发事件。
6.一种故障功能测试装置,其特征在于,包括:
第一测试模块,用于在预设多种测试环境下,分别执行故障触发和故障恢复的操作,并获取第一故障测试结果;
初始化模块,用于在获取所述第一故障测试结果后,执行测试环境初始化的操作,并获取初始化测试结果;
第二测试模块,用于根据所触发故障的类型和所述初始化测试结果,执行故障触发和/或故障恢复的操作,并获取第二故障测试结果;
验证模块,用于根据所述第一故障测试结果、所述初始化测试结果和所述第二故障测试结果,对所触发故障功能进行验证。
7.根据权利要求6所述的故障功能测试装置,其特征在于,所述第二测试模块包括:
第一测试单元,用于若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,且所述初始化测试结果为已恢复测试环境初始化,则执行故障触发和故障恢复的操作;
第二测试单元,用于若所触发故障为永久性不可恢复故障,且所述初始化测试结果为未恢复测试环境初始化、故障被触发,则执行故障恢复的操作。
8.根据权利要求6或7所述的故障功能测试装置,其特征在于,所述第一测试模块和/或所述第二测试模块用于:
执行故障触发的操作后,经过预设触发时间后获取故障触发测试结果;
执行故障恢复的操作后,经过预设恢复时间后获取故障恢复测试结果。
9.根据权利要求6或7所述的故障功能测试装置,其特征在于,所述初始化模块用于:
若所触发故障为一次初始化周期中或重新初始化之后可以被恢复的故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设触发时间后,获取初始化测试结果;
若所触发故障为永久性不可恢复故障,则执行测试环境初始化的操作后,经过预设初始化时间和预设恢复时间后,获取初始化测试结果。
10.根据权利要求6所述的故障功能测试装置,其特征在于,所述验证模块包括:
判断单元,用于根据所述第二故障测试结果,判断所述第一故障测试结果是否为偶发事件;
确定单元,用于若所述第二故障测试结果与所述第一故障测试结果相同,则确定所述第一故障测试结果不是偶发事件,否则,确定所述第一故障测试结果为偶发事件。
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CN101243417A (zh) * | 2005-07-15 | 2008-08-13 | 松下电器产业株式会社 | 非易失性存储装置、存储控制器以及不良区域检测方法 |
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2016
- 2016-09-19 CN CN201610832292.4A patent/CN106445716A/zh active Pending
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
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