CN105335177A - 嵌入式系统的测试方法、测试装置和测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种嵌入式系统的测试方法，包括：获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置以使故障发生模拟程序生成测试实例；嵌入式系统执行驱动程序以运行待测设备；通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。本发明的嵌入式系统的测试方法能够对嵌入式系统中待测设备的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，并满足不同嵌入式系统的测试需求，可移植性高，实施成本低，效率高。本发明还公开了一种嵌入式系统的测试装置和一种包括该嵌入式系统的测试装置的嵌入式系统的测试系统。

Description

嵌入式系统的测试方法、测试装置和测试系统

技术领域

本发明涉及嵌入式技术领域，特别涉及一种嵌入式系统的测试方法、一种嵌入式系统的测试装置和一种嵌入式系统的测试系统。

背景技术

当前嵌入式领域发展迅速，嵌入式设备和主控芯片的复杂度越来越高，相应的针对嵌入式系统的测试过程越来越复杂。当前针对嵌入式系统的测试主要分为前端设计的功能测试和后端设计的性能测试。其测试出发点均立足于验证嵌入式系统和内部设备的功能与性能的正确性和可靠性，即以测试系统是否能正确实现功能和是否具有正常的性能指标为目的，制定测试方案进行测试。

对于嵌入式系统来说，由于系统功能繁多，设计复杂度增加，导致嵌入式系统本身的故障发生率也随之增高。但是，相关技术基于一般的测试思路和测试方法，未能有效的针对嵌入式系统内部故障或者具有以嵌入式系统出现故障为目的测试，即没有特定的针对嵌入式系统出现故障或错误的容错能力与纠错能力进行测试。这种情况下，虽然保证了嵌入式系统或内部设备功能的正确性，但对于嵌入式系统与内部设备的故障和容错和纠错性能缺少整体的评估检验，使嵌入式系统本身承担了一定风险性，嵌入式产品的可靠性降低，或者相关技术中即使有上述测试内容，但缺少特定的测试逻辑与测试方法的支持，使得测试方案制定繁琐，测试花费时间较长，影响效率，人力物力成本高。因此，需要对相关技术进行改进。

发明内容

本发明的目的旨在至少从一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种嵌入式系统的测试方法，该嵌入式系统的测试方法能够对嵌入式系统中内部设备的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。

本发明的另一个目的在于提出一种嵌入式系统的测试装置。

本发明的再一个目的在于提出一种嵌入式系统的测试系统。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出了一种嵌入式系统的测试方法，该嵌入式系统的测试方法包括以下步骤：获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据所述测试程序对所述故障发生模拟程序进行配置以使所述故障发生模拟程序生成测试实例；所述嵌入式系统执行所述驱动程序以运行所述待测设备；以及通过所述故障发生模拟程序根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对所述待测设备进行测试。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试方法，在将获取的待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序写入嵌入式系统，以及在根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置，使得故障发生模拟程序生成测试实例后，在嵌入式系统执行驱动程序运行待测设备时，通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试方法针对嵌入式系统中待测设备的故障进行测试，能够对嵌入式系统的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。

为达到上述目的，本发明另一方面实施例还提出了一种嵌入式系统的测试装置，该嵌入式系统的测试装置包括：故障发生模拟程序模块，用于根据测试程序生成测试实例，并在所述嵌入式系统运行待测设备时，根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改；测试模块，用于对所述待测设备进行测试。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试装置，通过故障发生模拟程序模块根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，故障发生模拟程序模块根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，进而通过测试模块对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试装置针对嵌入式系统中待测设备的故障进行测试，能够对嵌入式系统的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。

为达到上述目的，本发明再一方面实施例还提出了一种嵌入式系统的测试系统，该嵌入式系统的测试系统包括所述的嵌入式系统的测试装置。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试系统，通过嵌入式系统的测试装置根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，最后对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试系统能够针对嵌入式系统中待测设备的故障进行测试，从而实现对嵌入式系统的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据本发明实施例的嵌入式系统的测试装置的方框示意图；

图2为根据本发明一个实施例的嵌入式系统的测试装置的故障发生模拟程序模块的方框示意图；

图3为根据本发明一个具体实施例的嵌入式系统的测试系统的结构示意图；

图4为根据本发明实施例的嵌入式系统的测试方法的流程图；以及

图5为根据本发明一个具体实施例的嵌入式系统的测试方法的流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。

下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的结构可以包括第一和第二特征形成为直接接触的实施例，也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之间的实施例，这样第一和第二特征可能不是直接接触。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的嵌入式系统的测试方法、嵌入式系统的测试装置和嵌入式系统的测试系统。

首先参照附图来描述根据本发明实施例提出的嵌入式系统的测试装置。

如图1所示，本发明实施例提出的嵌入式系统的测试装置1包括故障发生模拟程序模块10和测试模块20。其中，故障发生模拟程序模块10用于根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改。测试模块20用于对待测设备进行测试。

具体地，在本发明的一个实施例中，测试模块20具体用于采集待测设备的错误通知，并对错误通知进行分析，以及结合测试方案生成测试结果。

进一步地，在本发明的一个实施例中，如图2所示，故障发生模拟程序模块10可以包括使能子模块11和功能配置子模块12。其中，使能子模块11用于对故障发生模拟程序模块10进行开启或关闭控制。功能配置子模块12用于根据测试程序进行功能配置或设置以生成测试实例。进一步地，在本发明的一个实施例中，测试实例可以为多个。需要说明的是，在嵌入式系统处于测试状态时，使能子模块11控制故障发生模拟程序模块10启动以进行工作，在嵌入式系统处于工作状态时，使能子模块11控制故障发生模拟程序模块10关闭以禁用故障发生模拟程序。

进一步地，在本发明的另一个实施例中，如图2所示，故障发生模拟程序模块10还可以包括测试类型选择子模块13，测试类型选择子模块13用于根据测试程序中的测试方案选择测试类型例如设备故障、系统故障、组合故障等，进而根据测试类型发出相应的模拟故障类型例如寄存器修改、内存修改等给嵌入式系统或者待测设备进行测试。进一步地，在本发明的再一个实施例中，如图2所示，故障发生模拟程序模块10还可以包括二级保护控制子模块14，二级保护控制子模块14用于在故障发生模拟程序模块10关闭后，锁定故障发生模拟程序模块10，以及接收上位机或其它设备发出的解锁指令，并在判断解锁指令正确之后，解锁故障发生模拟程序模块10。需要说明的是，二级保护控制子模块14能够确保在测试状态以外的工作状态下禁用故障发生模拟程序模块10，且解锁故障发生模拟程序模块10只能由特殊操作解锁，从而可以在测试状态以外的工作状态下防止误操作启动故障发生模拟程序模块10，避免导致嵌入式系统功能紊乱。

进一步地，在本发明的一个具体实施例中，待测设备为一普通计时器，嵌入式系统的测试装置1测试计时器在计数过程中受到干扰导致产生跳跃计数故障时，嵌入式系统对该设备故障的容错和纠错性能的可靠性。测试方案为规定计时器从0进行循环计数为工作状态，计时器在计数过程中受到嵌入式系统的测试装置1干扰导致产生跳跃计数故障为测试状态。首先将待测设备工作状态的驱动程序、故障发生模拟程序和用于容错纠错的测试程序整体载入嵌入式系统，嵌入式系统运行整体程序代码，并对故障发生模拟程序模块10进行功能配置为：使能子模块11控制故障发生模拟程序模块10开启，功能配置子模块12配置测试类型为设备故障和配置不使用单片机复位，二级保护控制子模块14配置解锁故障发生模拟程序模块10，测试类型选择子模块13配置模拟故障类型为寄存器修改。继而故障发生模拟程序模块10强制修改计时器的计时寄存器以模拟破坏计时器循环计数的工作状态，计时器的计时监控功能发出错误通知(记为信号E1)。测试模块20采集信号E1，并依据预设故障严重级别和预设故障优先级别，判断计时器的错误状态并收容该错误，测试程序对信号E1进行分析和处理，如果计时寄存器恢复，则容错和纠错性能测试通过，否则容错和纠错性能测试未通过，生成测试结果并输出。

进一步地，在本发明的另一个具体实施例中，待测设备为一普通计时器，嵌入式系统的测试装置1测试计时器在计数过程中受到干扰导致产生跳跃计数故障时，嵌入式系统对该设备故障的容错和纠错性能的可靠性，和/或测试在嵌入式系统运行时，系统总线受到干扰导致读取程序数据校验出错时，嵌入式系统对该系统故障的容错和纠错性能的可靠性。测试方案为规定计时器从0进行循环计数、系统总线读取程序数据校验正确为工作状态，计时器在计数过程中受到嵌入式系统的测试装置1干扰导致产生跳跃计数故障、系统总线受到干扰导致读取程序数据校验出错为测试状态。首先在系统编程控制界面将待测设备工作状态的驱动程序、故障发生模拟程序和用于容错纠错的测试程序整体载入嵌入式系统，嵌入式系统运行整体程序代码，并对故障发生模拟程序模块10进行功能配置为：使能子模块11控制故障发生模拟程序模块10开启，功能配置子模块12配置测试类型为设备故障、系统故障和配置不使用单片机复位，二级保护控制子模块14配置解锁故障发生模拟程序模块10，测试类型选择子模块13配置模拟故障类型为寄存器修改、内存修改。继而故障发生模拟程序模块10强制修改计时器的计时寄存器以模拟破坏计时器循环计数的工作状态，计时器的计时监控功能发出错误通知(记为信号E1)，和/或强制修改内存中的数据，导致该数据被系统总线读出后的数据校验不正确，系统总线的总线数据校验功能发出错误通知(记为信号E2)。测试模块20采集信号E1和/或信号E2，并依据预设故障严重级别例如信号E2的故障严重级别高于信号E1的故障严重级别，和预设故障优先级别例如信号E2的故障优先级别高于信号E1的故障优先级别，判断计时器和/或系统总线的错误状态并收容该错误，测试程序优先对信号E2进行分析和处理，再对信号E1进行分析和处理，生成测试结果并输出。

另外，需要说明的是，当配置二级保护控制子模块14锁定故障发生模拟程序模块10，则嵌入式系统并无任何故障产生，故障发生模拟程序模块10被完全屏蔽，无法对计时器和/或系统总线进行故障发生模拟测试。因此，二级保护控制子模块14确保嵌入式系统在测试状态以外的工作状态下的安全性。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试装置，通过故障发生模拟程序模块根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，故障发生模拟程序模块根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，进而通过测试模块对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试装置针对嵌入式系统中待测设备的故障进行故障发生模拟测试，能够对嵌入式系统的硬件容错和软件纠错性能进行全面的检测和验证，提高了嵌入式系统的可靠性，实施成本低，效率高，且适用于不同的嵌入式系统进行测试，应用范围广。

下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的嵌入式系统的测试系统。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试系统，包括上述的嵌入式系统的测试装置1。

进一步地，在本发明的一个具体实施例中，如图3所示，嵌入式系统的测试系统包括：上述的嵌入式系统的测试装置1、嵌入式系统、系统编程控制装置3和测试结果观测分析显示装置4。其中，嵌入式系统与嵌入式系统的测试装置1相连，嵌入式系统具有多个待测设备例如设备A、设备B、……设备H以及系统总线，多个待测设备例如设备A、设备B、……设备H以及系统总线分别与嵌入式系统的测试装置1中的故障发生模拟程序模块10和测试模块20相连。系统编程控制装置3与嵌入式系统相连，系统编程控制装置3获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统。测试结果观测分析显示装置4与嵌入式系统的测试装置1中的测试模块20相连。在本发明的一个实施例中，如图3所示，嵌入式系统的测试装置1可以与嵌入式系统设置在一个电路板5上。

具体地，如图3所示，嵌入式系统的测试系统的工作原理具体为：系统编程控制装置3将嵌入式系统中待测设备工作状态的驱动程序、用于控制嵌入式系统的测试装置1的故障发生模拟程序和测试程序进行修改并集合成同一形式编码程序，载入到嵌入式系统中，以待测试使用。当嵌入式系统的测试系统开始对嵌入式系统的容错和纠错性能进行测试时，嵌入式系统的测试系统通过运行嵌入式系统中先前准备的完整编码程序，使嵌入式系统和嵌入式系统的测试装置1开始工作。在嵌入式系统处于工作状态时，故障发生模拟程序模块10根据测试类型发出相应的模拟故障类型例如寄存器修改、内存修改等给嵌入式系统或者待测设备，使嵌入式系统出现系统故障或设备故障等。另外，当处于工作状态的嵌入式系统突然受到嵌入式系统的测试装置1有意的干扰例如对嵌入式系统中的待测设备进行修改时，嵌入式系统将从工作状态转变为测试状态，并报告相应的故障和错误通知给测试模块20。测试模块20采集待测设备出现的故障和错误通知，并在进行故障优先级别排序后，报告嵌入式系统的当前故障数量、严重性以及优先级排序，并等待测试程序进行处理，在测试程序处理完毕后，测试模块20根据处理结果生成测试结果并输出至测试结果观测分析显示装置4，由测试结果观测分析显示装置4进行外部观测并分析，从而完成一轮嵌入式系统容错和纠错性能的测试循环。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试系统，通过嵌入式系统的测试装置根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，最后对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试系统能够针对嵌入式系统中待测设备的故障进行故障发生模拟测试，从而实现对嵌入式系统的硬件容错和软件纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，可靠性和效率高。

下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的嵌入式系统的测试方法。

如图4所示，本发明实施例的嵌入式系统的测试方法包括以下步骤：

S1，获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统。

在获取嵌入式系统中待测设备的故障发生模拟程序和测试程序后，进入步骤S2。

S2，根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置以使故障发生模拟程序生成测试实例。

在本发明的一个实施例中，测试实例可以为多个。进一步地，在本发明的一个实施例中，对故障发生模拟程序进行配置以使故障发生模拟程序生成测试实例具体可以包括：根据测试方案和测试类型对故障发生模拟程序进行功能配置或设置以生成测试实例。具体地，测试类型可以为设备故障、系统故障、组合故障等。

S3，嵌入式系统执行驱动程序以运行待测设备。

S4，通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。

其中，对嵌入式系统中的待测设备进行修改可以为发出模拟故障类型例如寄存器修改、内存修改等给嵌入式系统或者待测设备。具体地，在本发明的一个实施例中，对待测设备进行测试具体可以包括：采集待测设备的错误通知，以及对错误通知进行分析，并结合测试方案生成测试结果。

需要说明的是，在嵌入式系统处于测试状态时，控制故障发生模拟程序启动以进行工作，在嵌入式系统处于工作状态时，控制故障发生模拟程序关闭并锁定以禁用故障发生模拟程序。进一步地，在本发明的一个实施例中，故障发生模拟程序可以接收上位机或其它设备发出的解锁指令，并在判断解锁指令正确之后，解锁故障发生模拟程序。需要进一步说明的是，在测试状态以外的工作状态下禁用故障发生模拟程序，且解锁故障发生模拟程序只能由特殊操作解锁，从而可以在测试状态以外的工作状态下防止误操作启动故障发生模拟程序，避免导致嵌入式系统功能紊乱。

进一步地，在本发明的一个具体实施例中，如图5所示，嵌入式系统的测试方法包括以下步骤：

S51，进入系统编程控制界面。

具体地，在进入系统编程控制界面后，进入步骤S52和步骤S53。

S52，添加需验证的测试程序。

S53，调入控制故障发生模拟程序模块的故障发生模拟程序。

具体地，可以在系统编程控制界面对待测设备工作状态的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序进行修改并集合成同一形式编码程序。进入步骤S54。

S54，载入嵌入式系统。

在将编码程序载入嵌入式系统后，进入步骤S55。

S55，嵌入式系统运行并对故障发生模拟程序模块进行使能配置。

具体地，对故障发生模拟程序模块进行使能配置可以包括步骤S56和步骤S57。

S56，测试类型选择子模块配置模拟故障类型。

S57，使能子模块使能故障发生模拟程序模块开启。

在对故障发生模拟程序模块进行使能配置后，进入步骤S58。

S58，判断故障发生模拟程序模块是否使能。

如果故障发生模拟程序模块没有使能，则进入步骤S59。如果故障发生模拟程序模块使能，则进入步骤S510。

S59，故障发生模拟程序模块使能禁止，无法进行故障发生模拟测试。

S510，发出模拟故障类型。

在发出模拟故障类型后，嵌入式系统出现故障，进入步骤S511。

S511，判断故障类型。

如果故障类型为系统故障，则进入步骤S512。如果故障类型为设备故障，则进入步骤S516。

S512，采集系统故障的错误通知。

S513，执行测试程序。

在步骤S513中，执行测试程序具体包括步骤S514和步骤S515。

S514，对系统故障的错误通知进行分析和处理。

S515，生成测试结果。

S516，采集设备故障的错误通知。

S517，执行测试程序。

在步骤S517中，执行测试程序具体包括步骤S518和步骤S519。

S518，对设备故障的错误通知进行分析和处理。

S519，生成测试结果。

本发明实施例提出的嵌入式系统的测试方法，在将获取的待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序写入嵌入式系统，以及在根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置，使得故障发生模拟程序生成测试实例后，在嵌入式系统执行驱动程序运行待测设备时，通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试方法针对嵌入式系统中待测设备的故障进行故障发生模拟测试，弥补了嵌入式系统的测试方法和测试方向上存在的不足，能够对嵌入式系统的硬件容错和软件纠错性能进行全面的检测和验证，提高了嵌入式系统的可靠性，实施成本低，效率高，且适用于不同的嵌入式系统进行测试，可移植性高。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims (10)

1.一种嵌入式系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；

根据所述测试程序对所述故障发生模拟程序进行配置以使所述故障发生模拟程序生成测试实例；

所述嵌入式系统执行所述驱动程序以运行所述待测设备；以及

通过所述故障发生模拟程序根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对所述待测设备进行测试。

2.如权利要求1所述的嵌入式系统的测试方法，其特征在于，在所述嵌入式系统处于测试状态时，控制所述故障发生模拟程序启动，在所述嵌入式系统处于工作状态时，控制所述故障发生模拟程序关闭并锁定。

3.如权利要求1所述的嵌入式系统的测试方法，其特征在于，所述对所述故障发生模拟程序进行配置以使所述故障发生模拟程序生成测试实例具体包括：

根据测试方案和测试类型对所述故障发生模拟程序进行配置以生成所述测试实例。

4.如权利要求3所述的嵌入式系统的测试方法，其特征在于，所述对所述待测设备进行测试具体包括：

采集所述待测设备的错误通知；

对所述错误通知进行分析，并结合所述测试方案生成测试结果。

5.一种嵌入式系统的测试装置，其特征在于，包括：

故障发生模拟程序模块，用于根据测试程序生成测试实例，并在所述嵌入式系统运行待测设备时，根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改；

测试模块，用于对所述待测设备进行测试。

6.如权利要求5所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述故障发生模拟程序模块包括：

使能子模块，用于对所述故障发生模拟程序模块进行开启或关闭控制；

功能配置子模块，用于根据所述测试程序生成测试实例。

7.如权利要求6所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述故障发生模拟程序模块还包括：

测试类型选择子模块，用于根据所述测试程序中的测试方案选择测试类型。

8.如权利要求6所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，在所述嵌入式系统处于测试状态时，所述使能子模块控制所述故障发生模拟程序模块启动，在所述嵌入式系统处于工作状态时，所述使能子模块控制所述故障发生模拟程序模块关闭。

9.如权利要求7所述的嵌入式系统的测试装置，其特征在于，所述测试模块采集所述待测设备的错误通知，并对所述错误通知进行分析，以及结合所述测试方案生成测试结果。

10.一种嵌入式系统的测试系统，其特征在于，包括如权利要求5-9中任一项所述的嵌入式系统的测试装置。