CN106445264B - 一种触控操作的校准方法及移动终端 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种触控操作的校准方法及移动终端，其中移动终端包括电容式触控面板，该方法包括：检测电容式触控面板是否发生结构形变；若电容式触控面板发生结构形变，确定电容式触控面板发生结构形变的区域；校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。本发明实施例在确定电容式触控面板发生结构形变时，对电容式触控面板发生结构形变的区域进行电容阈值的校准，以恢复发生结构形变区域的触控灵敏度，保证用户的使用体验。

Description

一种触控操作的校准方法及移动终端

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种触控操作的校准方法及移动终端。

背景技术

3D触控技术是在原有平面触控的基础上增加了Z轴方向的检测，由平行板电容计算公式C＝ε*ε0*S/d可知，当两平行板间距离d减小时，C将变大，反之亦然，因此可以根据手指按压触摸屏导致模组与终端中框间的距离变化量来检测手指按压触摸屏的压力大小。但是目前市场上支持3D触控的终端很少，主要原因是3D触控存在一个致命的缺点，即受结构形变较大，一旦两平行板间距离d变化，灵敏度就会受到影响，进而造成3D触控在Z轴方向检测不准的问题。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种触控操作的校准方法及移动终端，以解决现有技术中3D触控容易发生结构形变，使得触控灵敏度受到影响，造成3D触控的Z轴方向检测不准的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种触控操作的校准方法，应用于移动终端，移动终端包括电容式触控面板，该方法包括：

检测电容式触控面板是否发生结构形变；

若电容式触控面板发生结构形变，确定电容式触控面板发生结构形变的区域；

校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；

检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

第二方面，本发明实施例还提供一种移动终端，移动终端包括电容式触控面板，移动终端还包括：

检测模块，用于检测电容式触控面板是否发生结构形变；

确定模块，用于若电容式触控面板发生结构形变，确定电容式触控面板发生结构形变的区域；

校准模块，用于校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；

触发模块，用于检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

本发明实施例上述技术方案的有益效果至少包括：

本发明技术方案，通过在确定电容式触控面板发生结构形变时，确定电容式触控面板发生结构形变的区域，并对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准，以恢复发生结构形变的区域内的触控灵敏度，当用户在发生结构形变的区域内一位置点的触控操作使得该位置点的电容达到校准后电容阈值时，对触控操作进行响应，保证用户的使用体验。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1表示本发明实施例一提供的触控操作的校准方法示意图；

图2表示本发明实施例二提供的触控操作的校准方法示意图；

图3表示本发明实施例三提供的移动终端示意图一；

图4表示本发明实施例三提供的移动终端示意图二；

图5表示本发明实施例三提供的移动终端示意图三；

图6表示本发明实施例三提供的移动终端示意图四；

图7表示本发明实施例四提供的移动终端框图；

图8表示本发明实施例五提供的移动终端框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

如图1所示，本发明实施例一提供的触控操作的校准方法，应用于移动终端，移动终端包括电容式触控面板，该方法包括：

步骤101、检测电容式触控面板是否发生结构形变。

电容式触控面板包括一平行板电容器，当电容式触控面板发生结构形变时，两个平行板之间的距离就会减少或者增加，根据平行板电容式的电容计算公式C＝ε*ε0*S/d，当两个平行板之间的距离d减少或者增加时，会引起平行板电容器电容的变化。电容发生变化后，电容式触控面板的触控灵敏度就会受到影响。

因此针对电容式触控面板，需要检测是否发生了结构性变。其中电容式触控面板的结构形变是不可恢复的，如果电容式触控面板没有发生结构形变，则可以直接接收用户的触控操作，在用户的触控操作满足条件时，对触控操作进行响应。当电容式触控面板发生结构形变时，由于该结构形变为不可恢复的形变，此时发生结构形变的区域的电容会变化，需要对发生结构形变的区域进行电容阈值的校准，以恢复发生结构形变的区域内的触控灵敏度。

步骤102、若电容式触控面板发生结构形变，确定电容式触控面板发生结构形变的区域。

在确定电容式触控面板发生结构形变时，需要在电容式触控面板上确定发生结构形变的区域。其中电容式触控面板的表面可以形成一个坐标系，在该坐标系中每一个坐标点对应相应的坐标值。在电容式触控面板发生结构形变时，需要统计发生结构形变的每一坐标点对应的坐标值，根据多个发生结构形变的坐标点对应的坐标值，确定发生结构形变的区域范围坐标，进而确定出发生结构形变的区域。

步骤103、校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值。

在电容式触控面板上确定出发生结构形变的区域之后，对于发生结构形变的区域内的触发触控操作的电容阈值进行校准。

其中当触控操作的电容值大于或者等于电容阈值时，移动终端会对触控操作进行响应。在响应触控操作的电容值大于电容阈值时，会将响应该触控操作的电容值进行上报，将该触控操作在电容式触控面板上的位置点称之为报点。例如，在电容式触控面板没有发生结构形变之前，电容式触控面板的电容阈值为30，当电容式触控面板一位置点处对应的电容值为32时，此时该位置点会被触发，该位置点可称之为报点。移动终端会对该位置点的触控操作进行响应。需要说明的是，当电容式触控面板的电容阈值越大，则对应的触控灵敏度会降低，当电容式触控面板的电容阈值越小，则对应的触控灵敏度会增加。

本步骤中，在电容式触控面板上确定发生结构形变的区域之后，需要对区域内的电容阈值进行校准，并在校准完成后获得校准后的电容阈值。

需要说明的是，当由于电容式触控面板发生结构形变导致发生结构形变的区域的电容值变大时，则需要增大发生结构形变的区域的电容阈值，当由于电容式触控面板发生结构形变导致发生结构形变的区域的电容值变小时，则需要减小发生结构形变的区域的电容阈值。

步骤104、检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

在对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准，获得校准后的电容阈值之后，检测发生结构形变的区域内是否有触控操作，当发生结构形变的区域内有触控操作时，且触控操作使得发生结构形变的区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，移动终端会触发位置点的触控操作。

例如：在检测到发生结构形变的区域内有触控操作时，且用户的触控操作使得发生结构形变的区域内的一位置点的电容值达到35，而此时校准后的电容阈值为33，此时移动终端需要对用户的触控操作进行响应。由于此时校准后的发生结构形变的区域内的电容阈值为33，大于电容式触控面板未发生形变之前的电容阈值30，因此可以判断出区域内的结构形变使得两个平行板之间的距离d减少了。

或者在检测到发生结构形变的区域内有触控操作时，且用户的触控操作使得发生结构形变的区域内的一位置点的电容值达到29，而此时校准后的电容阈值为27，此时移动终端需要对用户的触控操作进行响应。由于此时校准后的区域内的电容阈值为27，小于电容式触控面板未发生形变之前的电容阈值30，因此可以判断出区域内的结构形变使得两个平行板之间的距离d增大了。

本发明实施例一，通过在确定电容式触控面板发生结构形变时，确定电容式触控面板发生结构形变的区域，并对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准，以恢复发生结构形变的区域内的触控灵敏度，当用户在发生结构形变的区域内一位置点的触控操作使得该位置点的电容达到校准后电容阈值时，对触控操作进行响应，保证用户的使用体验。

实施例二

如图2所示，本发明实施例二提供的触控操作的校准方法，应用于移动终端，移动终端包括电容式触控面板，该方法包括：

步骤201、获取电容式触控面板上每一触控发射线上的检测信号和每一触控接收线上的检测信号，确定每一触控接收线与每一触控发射线交叉点处的电容值，其中触控接收线与触控发射线交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值。

其中电容式触控面板上包括多个触控发射线和与触控发射线对应的多个触控接收线，每一触控接收线相对于每一触控发射线可形成一电容值。例如当前电容式触控面板上包括N个触控发射线和N个触控接收线，每一触控接收线对应一触控发射线，每一触控接收线相对于触控发射线可形成一电容值，此时可以获得N*N个电容值。移动终端需要获取每一触控接收线相对于每一触控发射线的电容值。

步骤202、确定触控接收线相对于触控发射线的电容值大于电容阈值的第一交叉点。

由于触控接收线与触控发射线的交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值，在获取多个触控接收线相对于多个触控发射线的电容值之后，需要在多个交叉点处确定出电容值大于电容阈值的第一交叉点，然后执行步骤203。

步骤203、根据确定的多个第一交叉点的位置信息确定包括多个第一交叉点的第一区域，并确定第一区域的区域形状和区域面积。

在多个交叉点中确定电容值大于电容阈值的第一交叉点之后，根据第一交叉点的位置信息在电容式触控面板上确定出包括所有第一交叉点的第一区域，即第一区域中的每一触控接收线相对于触控发射线的电容值均大于电容阈值。例如：电容式触控面板的电容阈值为30，则第一区域里包括M个触控触控接收线和M个触控发射线，针对任一触控接收线而言，该触控接收线与任一触控发射线的交叉点处的电容值均大于30。

在确定出第一区域之后，需要获取第一区域的区域形状和区域面积，然后执行步骤204。

需要说明的是，在确定第一区域时，第一交叉点处的电容值可以在大于第一电容阈值的基础上，继续大于第二电容阈值，其中第一电容阈值大于第二电容阈值，此时可以增大第一区域的面积，保证第一区域的区域形状和区域面积。

步骤204、根据区域形状和区域面积，判断电容式触控面板是否发生结构形变。

其中，判断过程为：

将区域形状与预设形状进行比较、将区域面积与预设面积进行比较；

当区域形状与预设形状的相似度小于预设相似度阈值、区域面积与预设面积的差值大于预设差值时，确定电容式触控面板发生结构形变；

其中预设形状为预先根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，预设面积为预先根据用户通过手指进行多次触控操作确定的面积。

具体的，将获取的第一区域的区域形状与预设形状进行比较，其中预设形状为根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，该形状通常接近于圆形。确定区域形状与预设形状的相似度，然后将确定的相似度与预设相似度阈值进行比较，确定相似度是否大于或者等于预设相似度阈值。例如区域形状不规则，呈现偏小的点状，或者偏大的片状，或者呈现条状，此时证明区域形状与预设形状的相似度小于预设相似度阈值。

在将第一区域的区域形状与预设形状进行比较的同时，也需要将一区域的区域面积与预设面积进行比较，其中预设面积为根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的面积，该面积通常接近于9mm²。确定区域面积与预设面积的差值，然后将确定的差值与预设差值进行比较，确定差值与预设差值的关系。例如区域面积不规则，与9mm²相差较大，此时证明区域面积与预设面积的差值大于预设差值。

当区域形状与预设形状的相似度小于预设相似度阈值且区域面积与预设面积的差值大于预设差值时，确定电容式触控面板发生结构形变。在确定电容式触控面板发生结构形变时，需要执行步骤205。

步骤205、若电容式触控面板发生结构形变，确定第一区域为电容式触控面板发生结构形变的区域。

在确定电容式触控面板发生结构形变时，需要确定发生结构形变的区域，其中电容式触控面板的表面可以形成一个坐标系，在该坐标系中每一个坐标点对应相应的坐标值。在电容式触控面板发生结构形变时，需要统计发生结构形变的每一坐标点对应的坐标值，根据多个发生结构形变的坐标点对应的坐标值，确定发生结构形变的区域范围坐标，进而确定出发生结构形变的区域。也可以直接采用上述过程确定的第一区域为发生结构形变的区域。然后执行步骤206。

步骤206、判断移动终端是否处于使用状态。

在电容式触控面板上确定出发生结构形变的区域之后，需要判断移动终端是否处于使用状态，如果移动终端处于使用状态，则需要执行步骤214，如果移动终端处于未使用状态，则需要执行步骤207。

步骤207、若移动终端未处于使用状态，检测移动终端是否处于静止状态。

在移动终端处于未使用状态时，需要对移动终端是否处于静止状态进行检测，如果移动终端处于静止状态，则执行步骤208，否则执行步骤214。在对移动终端是否处于静止状态进行检测时，可以利用重力传感器来进行检测。

步骤208、若移动终端处于静止状态，检测移动终端的电容式触控面板是否被遮盖。

在移动终端处于静止状态时，需要继续检测移动终端的电容式触控面板是否被遮盖，若电容式触控面板未被遮盖，校准区域触发触控操作的电容阈值，即在移动终端的电容式触控面板未被遮盖时，需要对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准。此时需要执行步骤209，若电容式触控面板被遮盖时，需要执行步骤214。在检测移动终端的电容式触控面板是否被遮盖时，可以利用光距离传感器来检测。

需要说明的是，检测移动终端的使用状态、是否处于静止状态以及电容式触控面板是否被遮盖，都是对第一区域内的电容阈值进行校准之前的准备工作，需要保证在校准时，移动终端处于一个相对稳定的状态。这里所说的相对稳定的状态即为：移动终端处于未使用状态、移动终端处于静止状态，并且电容式触控面板未被遮盖，如果移动终端处于使用状态、移动终端处于未静止状态或者电容式触控面板被遮盖的情况出现一种，都会对校准产生影响。

步骤209、获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值，每一第一交叉点对应一标准电容值。

其中，获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值的过程为:

获取预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值的集合；

在标准电容值的集合中确定第一区域内的多个第一交叉点处的多个标准电容值。

具体的，在电容式触控面板中包括预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值，例如电容式触控面板中包括N个触控接收线和N个触控发射线，会形成N*N个标准电容值，这N*N个标准电容值形成标准电容值集合。

在标准电容值集合所包括的N*N个标准电容值中，确定第一区域内多个第一交叉点处的多个标准电容值。例如：第一区域内包括M个触控接收线和M个触控发射线，会形成M*M个第一交叉点，每一个第一交叉点对应一标准电容值，在第一区域中包括M*M个标准电容值。需要在标准电容值集合中确定M*M个第一交叉点对应的M*M个标准电容值，其中N大于等于M。

步骤210、计算第一交叉点处的电容值相对于标准电容值的变化量。

在得到第一交叉点对应的标准电容值之后，需要确定第一交叉点处的电容值相对于相应的第一交叉点处的标准电容值的变化量。其中第一交叉点的数量为多个，则相应的变化量的数值也为多个。例如：第一区域内包括M个触控接收线和M个触控发射线，可以形成M*M个第一交叉点，针对第一交叉点A，需要获取第一交叉点A的标准电容值和第一交叉点A的电容值，然后计算第一交叉点A的电容值相较于第一交叉点A的标准电容值的变化量。采用同样的方式计算第一区域中的其他第一交叉点的电容值相对于相应的标准电容值的变化量，得到M*M个变化量。

步骤211、根据多个变化量的平均值获得平均变化量。

在获得多个变化量之后，需要计算多个变化量之和，得到第一和值，然后计算第一和值与变化量数量的比值，得到平均变化量。在获取平均变化量之后，需要执行步骤212。

步骤212、根据平均变化量对第一区域内的电容阈值进行校准。

当平均变化量为正数时，为第一区域内的电容阈值增加平均变化量；当平均变化量为负数时，为第一区域内的电容阈值减少平均变化量的绝对值。

例如：当平均变化量为4时，则需要在第一区域内的电容阈值的基础上增加4，得到校准后的电容阈值，其中这里所说的第一区域内的电容阈值即为电容式触控面板的电容阈值；当平均变化量为-4时，则需要在第一区域内的电容阈值的基础上减少4，得到校准后的电容阈值。

在对第一区域内的电容阈值进行校准之后，需要获得校准后电容阈值，执行步骤213。

步骤213、检测第一区域内的触控操作，当触控操作使得第一区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

在对第一区域内的电容阈值进行校准，获得校准后的电容阈值之后，检测第一区域内是否有触控操作，当第一区域内有触控操作时，且触控操作使得第一区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，移动终端会触发位置点的触控操作。然后执行步骤214。

步骤214、结束流程。

本发明实施例二，通过在确定电容式触控面板发生结构形变时，确定发生结构形变的第一区域，并对发生结构形变的第一区域内的电容阈值进行校准，以恢复发生结构形变的第一区域内的触控灵敏度，当用户在发生结构形变的第一区域内一位置点的触控操作使得该位置点的电容达到校准后电容阈值时，对触控操作进行响应，保证用户的使用体验。

需要说明的是，本发明实施例一和实施例二中所涉及的电容值、电容阈值以及平均变化量对应的数值为与电容对应的经过处理后的参考值，该参考值无单位，不属于单位数值。

实施例三

以下为本发明实施例三提供的一种移动终端的实施例，移动终端的实施例中未详尽描述的细节内容，可以参考上述方法实施例。

其中，如图3所示，移动终端包括电容式触控面板，移动终端还包括：

检测模块10，用于检测电容式触控面板是否发生结构形变；

确定模块20，用于若电容式触控面板发生结构形变，确定电容式触控面板发生结构形变的区域；

校准模块30，用于校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；

触发模块40，用于检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

其中，如图4所示，检测模块10包括：

第一确定子模块11，用于获取电容式触控面板上每一触控发射线上的检测信号和每一触控接收线上的检测信号，确定每一触控接收线与每一触控发射线交叉点处的电容值，其中触控接收线与触控发射线交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值；

第二确定子模块12，用于确定触控接收线相对于触控发射线的电容值大于电容阈值的第一交叉点；

处理子模块13，用于根据确定的多个第一交叉点的位置信息确定包括多个第一交叉点的第一区域，并确定第一区域的区域形状和区域面积；

判断子模块14，用于根据区域形状和区域面积，判断电容式触控面板是否发生结构形变。

其中，判断子模块14包括：

比较单元141，用于将区域形状与预设形状进行比较、将区域面积与预设面积进行比较；

处理单元142，用于当区域形状与预设形状的相似度小于预设相似度阈值、区域面积与预设面积的差值大于预设差值时，确定电容式触控面板发生结构形变；

其中预设形状为预先根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，预设面积为预先根据用户通过手指进行多次触控操作确定的面积。

其中，如图5所示，校准模块30包括：

第一获取子模块31，用于获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值，每一第一交叉点对应一标准电容值；

计算子模块32，用于计算第一交叉点处的电容值相对于标准电容值的变化量；

第二获取子模块33，用于根据多个变化量的平均值获得平均变化量；

校准子模块34，用于根据平均变化量对第一区域内的电容阈值进行校准。

其中，第一获取子模块31包括：

获取单元311，用于获取预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值的集合；

确定单元312，用于在标准电容值的集合中确定第一区域内的多个第一交叉点处的多个标准电容值。

其中，如图6所示，移动终端还包括：

第一处理模块50，用于在确定模块20确定电容式触控面板发生结构形变的区域之后且在校准模块30校准区域触发触控操作的电容阈值之前，判断移动终端是否处于使用状态；

第二处理模块60，用于若移动终端未处于使用状态，检测移动终端是否处于静止状态；

第三处理模块70，用于若移动终端处于静止状态，检测移动终端的电容式触控面板是否被遮盖；

第四处理模块80，用于若电容式触控面板未被遮盖，校准区域触发触控操作的电容阈值。

本发明实施例三，通过上述模块在确定电容式触控面板发生结构形变时，确定发生结构形变的区域，并对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准，以恢复发生结构形变的区域内的触控灵敏度，当用户在发生结构形变的区域内一位置点的触控操作使得该位置点的电容达到校准后电容阈值时，对触控操作进行响应，保证用户的使用体验。

实施例四

图7是本发明实施例四的移动终端的框图。图7所示的移动终端700包括：至少一个处理器701、存储器702、至少一个网络接口704、其他用户接口703和电容式触控面板706。移动终端700中的各个组件通过总线系统705耦合在一起。可理解，总线系统705用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统705除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图7中将各种总线都标为总线系统705。

其中，用户接口703可以包括显示器、键盘或者点击设备(例如，鼠标，轨迹球(trackball)、触感板或者触摸屏等。

可以理解，本发明实施例中的存储器702可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、可编程只读存储器(ProgrammableROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(ErasablePROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(ElectricallyEPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(StaticRAM，SRAM)、动态随机存取存储器(DynamicRAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(SynchronousDRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DoubleDataRateSDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(SynchlinkDRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(DirectRambusRAM，DRRAM)。本文描述的系统和方法的存储器702旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。

在一些实施方式中，存储器702存储了如下的元素，可执行模块或者数据结构，或者他们的子集，或者他们的扩展集：操作系统7021和应用程序7022。

其中，操作系统7021，包含各种系统程序，例如框架层、核心库层、驱动层等，用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务。应用程序7022，包含各种应用程序，例如媒体播放器(MediaPlayer)、浏览器(Browser)等，用于实现各种应用业务。实现本发明实施例方法的程序可以包含在应用程序7022中。

在本发明实施例中，通过调用存储器702存储的程序或指令，具体的，可以是应用程序7022中存储的程序或指令，处理器701用于：检测电容式触控面板706是否发生结构形变；若电容式触控面板706发生结构形变，确定电容式触控面板706发生结构形变的区域；校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器701中，或者由处理器701实现。处理器701可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器701中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器701可以是通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecific IntegratedCircuit，ASIC)、现成可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器702，处理器701读取存储器702中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

可以理解的是，本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuits，ASIC)、数字信号处理器(DigitalSignalProcessing，DSP)、数字信号处理设备(DSPDevice，DSPD)、可编程逻辑设备(ProgrammableLogicDevice，PLD)、现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray，FPGA)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本申请所述功能的其它电子单元或其组合中。

对于软件实现，可通过执行本文所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现本文所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。

可选地，处理器701在检测电容式触控面板706否发生结构形变时，还用于：获取电容式触控面板706上每一触控发射线上的检测信号和每一触控接收线上的检测信号，确定每一触控接收线与每一触控发射线交叉点处的电容值，其中触控接收线与触控发射线交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值；确定触控接收线相对于触控发射线的电容值大于电容阈值的第一交叉点；根据确定的多个第一交叉点的位置信息确定包括多个第一交叉点的第一区域，并确定第一区域的区域形状和区域面积；根据区域形状和区域面积，判断电容式触控面板706是否发生结构形变。

可选地，处理器701在根据区域形状和区域面积，判断电容式触控面板706是否发生结构形变时，还用于：将区域形状与预设形状进行比较、将区域面积与预设面积进行比较；当区域形状与预设形状的相似度小于预设相似度阈值、区域面积与预设面积的差值大于预设差值时，确定电容式触控面板706发生结构形变；其中预设形状为预先根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，预设面积为预先根据用户通过手指进行多次触控操作确定的面积。

可选地，处理器701在校准区域触发触控操作的电容阈值时，还用于：获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值，每一第一交叉点对应一标准电容值；计算第一交叉点处的电容值相对于标准电容值的变化量；根据多个变化量的平均值获得平均变化量；根据平均变化量对第一区域内的电容阈值进行校准。

可选的，处理器701在获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值时，还用于：获取预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值的集合；在标准电容值的集合中确定第一区域内的多个第一交叉点处的多个标准电容值。

可选的，处理器701在确定电容式触控面板706发生结构形变的区域之后且在校准区域触发触控操作的电容阈值之前，还用于：判断移动终端是否处于使用状态；若移动终端未处于使用状态，检测移动终端是否处于静止状态；若移动终端处于静止状态，检测移动终端的电容式触控面板706是否被遮盖；若电容式触控面板706未被遮盖，校准区域触发触控操作的电容阈值。

移动终端700能够实现前述实施例中移动终端实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。

本发明实施例四，通过在确定电容式触控面板发生结构形变时，确定发生结构形变的区域，并对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准，以恢复发生结构形变的区域内的触控灵敏度，当用户在发生结构形变的区域内一位置点的触控操作使得该位置点的电容达到校准后电容阈值时，对触控操作进行响应，保证用户的使用体验。

实施例五

图8是本发明实施例五的移动终端的结构示意图。具体地，图8中的移动终端800可以为手机、平板电脑、个人数字助理(PersonalDigital Assistant，PDA)、或车载电脑等。

图8中的移动终端800包括射频(RadioFrequency，RF)电路810、存储器820、输入单元830、显示单元840、处理器860、音频电路870、WiFi(WirelessFidelity)模块880和电源890。

其中，输入单元830可用于接收用户输入的数字或字符信息，以及产生与移动终端800的用户设置以及功能控制有关的信号输入。具体地，本发明实施例中，该输入单元830可以包括电容式触控面板831。电容式触控面板831，也称为电容式触摸屏，可收集用户在其上或附近的触摸操作(比如用户使用手指、触笔等任何适合的物体或附件在电容式触控面板831上的操作)，并根据预先设定的程式驱动相应的连接装置。可选的，电容式触控面板831可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其中，触摸检测装置检测用户的触摸方位，并检测触摸操作带来的信号，将信号传送给触摸控制器；触摸控制器从触摸检测装置上接收触摸信息，并将它转换成触点坐标，再送给该处理器860，并能接收处理器860发来的命令并加以执行。此外，可以采用电阻式、电容式、红外线以及表面声波等多种类型实现电容式触控面板831。除了电容式触控面板831，输入单元830还可以包括其他输入设备832，其他输入设备832可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆等中的一种或多种。

其中，显示单元840可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及移动终端800的各种菜单界面。显示单元840可包括显示面板841，可选的，可以采用LCD或有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，OLED)等形式来配置显示面板841。

应注意，电容式触控面板831可以覆盖显示面板841，形成触摸显示屏，当该触摸显示屏检测到在其上或附近的触摸操作后，传送给处理器860以确定触摸事件的类型，随后处理器860根据触摸事件的类型在触摸显示屏上提供相应的视觉输出。

触摸显示屏包括应用程序界面显示区及常用控件显示区。该应用程序界面显示区及该常用控件显示区的排列方式并不限定，可以为上下排列、左右排列等可以区分两个显示区的排列方式。该应用程序界面显示区可以用于显示应用程序的界面。每一个界面可以包含至少一个应用程序的图标和/或widget桌面控件等界面元素。该应用程序界面显示区也可以为不包含任何内容的空界面。该常用控件显示区用于显示使用率较高的控件，例如，设置按钮、界面编号、滚动条、电话本图标等应用程序图标等。

其中处理器860是移动终端800的控制中心，利用各种接口和线路连接整个手机的各个部分，通过运行或执行存储在第一存储器821内的软件程序和/或模块，以及调用存储在第二存储器822内的数据，执行移动终端800的各种功能和处理数据，从而对移动终端800进行整体监控。可选的，处理器860可包括一个或多个处理单元。

在本发明实施例中，通过调用存储该第一存储器821内的软件程序和/或模块和/或该第二存储器822内的数据，处理器860用于：检测电容式触控面板831是否发生结构形变；若电容式触控面板831发生结构形变，确定电容式触控面板831发生结构形变的区域；校准区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；检测区域内的触控操作，当触控操作使得区域内一位置点的电容达到校准后电容阈值时，触发位置点的触控操作。

可选地，处理器860在检测电容式触控面板831否发生结构形变时，还用于：获取电容式触控面板831上每一触控发射线上的检测信号和每一触控接收线上的检测信号，确定每一触控接收线与每一触控发射线交叉点处的电容值，其中触控接收线与触控发射线交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值；确定触控接收线相对于触控发射线的电容值大于电容阈值的第一交叉点；根据确定的多个第一交叉点的位置信息确定包括多个第一交叉点的第一区域，并确定第一区域的区域形状和区域面积；根据区域形状和区域面积，判断电容式触控面板831是否发生结构形变。

可选地，处理器860在根据区域形状和区域面积，判断电容式触控面板831是否发生结构形变时，还用于：将区域形状与预设形状进行比较、将区域面积与预设面积进行比较；当区域形状与预设形状的相似度小于预设相似度阈值、区域面积与预设面积的差值大于预设差值时，确定电容式触控面板831发生结构形变；其中预设形状为预先根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，预设面积为预先根据用户通过手指进行多次触控操作确定的面积。

可选地，处理器860在校准区域触发触控操作的电容阈值时，还用于：获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值，每一第一交叉点对应一标准电容值；计算第一交叉点处的电容值相对于标准电容值的变化量；根据多个变化量的平均值获得平均变化量；根据平均变化量对第一区域内的电容阈值进行校准。

可选的，处理器860在获取第一区域内的多个第一交叉点的多个标准电容值时，还用于：获取预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值的集合；在标准电容值的集合中确定第一区域内的多个第一交叉点处的多个标准电容值。

可选的，处理器860在确定电容式触控面板831发生结构形变的区域之后且在校准区域触发触控操作的电容阈值之前，还用于：判断移动终端是否处于使用状态；若移动终端未处于使用状态，检测移动终端是否处于静止状态；若移动终端处于静止状态，检测移动终端的电容式触控面板831是否被遮盖；若电容式触控面板831未被遮盖，校准区域触发触控操作的电容阈值。

本发明实施例五，通过在确定电容式触控面板831发生结构形变时，确定发生结构形变的区域，并对发生结构形变的区域内的电容阈值进行校准，以恢复发生结构形变的区域内的触控灵敏度，当用户在发生结构形变的区域内一位置点的触控操作使得该位置点的电容达到校准后电容阈值时，对触控操作进行响应，保证用户的使用体验。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述的是本发明的优选实施方式，应当指出对于本技术领域的普通人员来说，在不脱离本发明所述的原理前提下还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种触控操作的校准方法，应用于移动终端，所述移动终端包括电容式触控面板，其特征在于，所述方法包括：

检测所述电容式触控面板是否发生结构形变；其中，所述电容式触控面板的结构形变是不可恢复的；

若所述电容式触控面板发生结构形变，确定所述电容式触控面板发生结构形变的区域；

校准所述区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；

检测所述区域内的触控操作，当所述触控操作使得所述区域内一位置点的电容达到所述校准后电容阈值时，触发所述位置点的所述触控操作；

所述检测所述电容式触控面板否发生结构形变的步骤包括：

获取所述电容式触控面板上每一触控发射线上的检测信号和每一触控接收线上的检测信号，确定每一触控接收线与每一触控发射线交叉点处的电容值，其中触控接收线与触控发射线交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值；

确定触控接收线相对于触控发射线的电容值大于电容阈值的第一交叉点；

根据确定的多个第一交叉点的位置信息确定包括多个第一交叉点的第一区域，并确定所述第一区域的区域形状和区域面积；

根据所述区域形状和所述区域面积，判断所述电容式触控面板是否发生结构形变；

所述根据所述区域形状和所述区域面积，判断所述电容式触控面板是否发生结构形变的步骤包括：

将所述区域形状与预设形状进行比较、将所述区域面积与预设面积进行比较；

当所述区域形状与所述预设形状的相似度小于预设相似度阈值、所述区域面积与所述预设面积的差值大于预设差值时，确定所述电容式触控面板发生结构形变；

其中所述预设形状为预先根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，所述预设面积为预先根据用户通过手指进行多次触控操作确定的面积。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校准所述区域触发触控操作的电容阈值的步骤包括：

获取所述第一区域内的多个所述第一交叉点的多个标准电容值，每一所述第一交叉点对应一标准电容值；

计算所述第一交叉点处的电容值相对于标准电容值的变化量；

根据多个变化量的平均值获得平均变化量；

根据所述平均变化量对所述第一区域内的电容阈值进行校准。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一区域内的多个所述第一交叉点的多个标准电容值的步骤包括：

获取预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值的集合；

在标准电容值的集合中确定所述第一区域内的多个所述第一交叉点处的多个标准电容值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述电容式触控面板发生结构形变的区域之后且在校准所述区域触发触控操作的电容阈值之前，所述方法还包括：

判断所述移动终端是否处于使用状态；

若所述移动终端未处于使用状态，检测所述移动终端是否处于静止状态；

若所述移动终端处于静止状态，检测所述移动终端的所述电容式触控面板是否被遮盖；

若所述电容式触控面板未被遮盖，校准所述区域触发触控操作的电容阈值。

5.一种移动终端，所述移动终端包括电容式触控面板，其特征在于，所述移动终端还包括：

检测模块，用于检测所述电容式触控面板是否发生结构形变；其中，所述电容式触控面板的结构形变是不可恢复的；

确定模块，用于若所述电容式触控面板发生结构形变，确定所述电容式触控面板发生结构形变的区域；

校准模块，用于校准所述区域触发触控操作的电容阈值，获得校准后电容阈值；

触发模块，用于检测所述区域内的触控操作，当所述触控操作使得所述区域内一位置点的电容达到所述校准后电容阈值时，触发所述位置点的所述触控操作；

所述检测模块包括：

第一确定子模块，用于获取所述电容式触控面板上每一触控发射线上的检测信号和每一触控接收线上的检测信号，确定每一触控接收线与每一触控发射线交叉点处的电容值，其中触控接收线与触控发射线交叉点处的电容值为触控接收线相对于触控发射线的电容值；

第二确定子模块，用于确定触控接收线相对于触控发射线的电容值大于电容阈值的第一交叉点；

处理子模块，用于根据确定的多个第一交叉点的位置信息确定包括多个第一交叉点的第一区域，并确定所述第一区域的区域形状和区域面积；

判断子模块，用于根据所述区域形状和所述区域面积，判断所述电容式触控面板是否发生结构形变；

所述判断子模块包括：

比较单元，用于将所述区域形状与预设形状进行比较、将所述区域面积与预设面积进行比较；

处理单元，用于当所述区域形状与所述预设形状的相似度小于预设相似度阈值、所述区域面积与所述预设面积的差值大于预设差值时，确定所述电容式触控面板发生结构形变；

其中所述预设形状为预先根据用户通过手指进行多次触摸操作确定的形状，所述预设面积为预先根据用户通过手指进行多次触控操作确定的面积。

6.根据权利要求5所述的移动终端，其特征在于，所述校准模块包括：

第一获取子模块，用于获取所述第一区域内的多个所述第一交叉点的多个标准电容值，每一所述第一交叉点对应一标准电容值；

计算子模块，用于计算所述第一交叉点处的电容值相对于标准电容值的变化量；

第二获取子模块，用于根据多个变化量的平均值获得平均变化量；

校准子模块，用于根据所述平均变化量对所述第一区域内的电容阈值进行校准。

7.根据权利要求6所述的移动终端，其特征在于，所述第一获取子模块包括：

获取单元，用于获取预先设置的每一触控接收线相对于每一触控发射线的标准电容值的集合；

确定单元，用于在标准电容值的集合中确定所述第一区域内的多个所述第一交叉点处的多个标准电容值。

8.根据权利要求5所述的移动终端，其特征在于，所述移动终端还包括：

第一处理模块，用于在所述确定模块确定所述电容式触控面板发生结构形变的区域之后且在所述校准模块校准所述区域触发触控操作的电容阈值之前，判断所述移动终端是否处于使用状态；

第二处理模块，用于若所述移动终端未处于使用状态，检测所述移动终端是否处于静止状态；

第三处理模块，用于若所述移动终端处于静止状态，检测所述移动终端的所述电容式触控面板是否被遮盖；

第四处理模块，用于若所述电容式触控面板未被遮盖，校准所述区域触发触控操作的电容阈值。

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