CN106442712A - 一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法，利用检测线圈从一个检测点提离被检工件到另一个检测点的过程间隙，采用交替触发含有模拟缺陷波形的激励信号和正常激励信号激励检测线圈的方式，自动校准修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化，无需再停止检测专门校准涡流检测仪，大大提高检测效率，稳定检测灵敏度。

Description

一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法
所属技术领域
本发明涉及一种无损检测装置及方法，特别是涉及一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法。
背景技术
涡流检测仪中的信号发生器激励检测线圈，检测线圈采集的涡流检测信号通过前置放大、相敏检波、滤波等处理后显示输出，由于前置放大器及后处理单元长时间工作将出现检测信号灵敏度误差，信号幅度出现偏差。GB/T 7735标准中规定，要求每2小时需要停机停止检测，对涡流检测仪器进行校准，以修正灵敏度误差。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术之不足，提供一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法，利用检测线圈从一个检测点提离被检工件到另一个检测点的过程间隙，采用交替触发含有模拟缺陷波形的激励信号和正常激励信号激励检测线圈的方式，自动校准修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种自动校准涡流检测灵敏度的装置，包括微处理器、信号发生器、检测线圈、前置放大器、后处理单元，其特征在于：
所述微处理器与信号发生器、前置放大器、后处理单元电连接；所述微处理器控制信号发生器交替触发含有模拟缺陷波形的激励信号和正常激励信号激励检测线圈；所述正常激励信号是指没有模拟缺陷波形的激励信号；所述微处理器控制前置放大器校准信号放大量，用以修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化；所述微处理器控制后处理单元将信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈产生的涡流检测信号的幅度值反馈给微处理器；
所述信号发生器与检测线圈电连接；
所述检测线圈与前置放大器电连接；
所述前置放大器与后处理单元电连接。
所述后处理单元包括相敏检波电路、滤波电路、数据采集器。
一种自动校准涡流检测灵敏度的方法，采用上述装置，其特征在于：包括如下步骤，
a. 开启装置，微处理器控制信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈；检测线圈将含有模拟缺陷波形的激励信号产生的涡流检测信号通过前置放大器、后处理单元处理后，后处理单元将信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈产生的涡流检测信号的幅度值反馈给微处理器；
b. 当检测线圈置于被检工件，微处理器控制信号发生器触发正常激励信号激励检测线圈，对被检工件进行检测；
c. 当完成步骤b后，检测线圈提离被检工件后，微处理器控制信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈；检测线圈将含有模拟缺陷波形的激励信号产生的涡流检测信号通过前置放大器、后处理单元处理后，后处理单元将信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈产生的涡流检测信号的幅度数据反馈给微处理器，微处理器将该幅度值与步骤a中的幅度值进行比较，如两个幅度值不同，微处理器根据比较得到的幅度值误差，控制前置放大器校准信号放大量，用以修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化。
本发明的有益效果是，一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法，利用检测线圈从一个检测点提离被检工件到另一个检测点的过程间隙，采用交替触发含有模拟缺陷波形的激励信号和正常激励信号激励检测线圈的方式，自动校准修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化，无需再停止检测专门校准涡流检测仪，大大提高检测效率，稳定检测灵敏度。
以下结合实施例对本发明作进一步详细说明，但本发明的一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法不局限于实施例。
附图说明
下面结合附图中实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明实施例的一种自动校准涡流检测灵敏度的装置结构框图。
图2是本发明实施例的交替触发含有模拟缺陷波形的激励信号和正常激励信号的示意图。
图中，1.微处理器，2.信号发生器，3.检测线圈，4.前置放大器，5.后处理单元，C. 含有模拟缺陷波形的激励信号，X.模拟缺陷波形，D.正常激励信号。
具体实施方式
实施例，如图1所示，一种自动校准涡流检测灵敏度的装置，包括微处理器1、信号发生器2、检测线圈3、前置放大器4、后处理单元5，其特征在于：
所述微处理器1与信号发生器2、前置放大器4、后处理单元5电连接；所述微处理器1控制信号发生器2交替触发含有模拟缺陷波形X的激励信号C和正常激励信号D激励检测线圈3；所述正常激励信号D是指没有模拟缺陷波形X的激励信号；所述微处理器1控制前置放大器4校准信号放大量，用以修正检测线圈3温度变化和前置放大器4及后处理单元5长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化；所述微处理器1控制后处理单元5将信号发生器2触发含有模拟缺陷波形X的激励信号C激励检测线圈3产生的涡流检测信号的幅度值反馈给微处理器1；
所述信号发生器2与检测线圈3电连接；
所述检测线圈3与前置放大器4电连接；
所述前置放大器4与后处理单元5电连接；
所述后处理单元5包括相敏检波电路、滤波电路、数据采集器。
一种自动校准涡流检测灵敏度的方法，采用上述装置，其特征在于：包括如下步骤，
a. 开启装置，微处理器1控制信号发生器2触发含有模拟缺陷波形X的激励信号C激励检测线圈3；检测线圈3将含有模拟缺陷波形X的激励信号C产生的涡流检测信号通过前置放大器4、后处理单元5处理后，后处理单元5将信号发生器2触发含有模拟缺陷波形X的激励信号C激励检测线圈3产生的涡流检测信号的幅度值反馈给微处理器1；
b. 当检测线圈3置于被检工件，微处理器1控制信号发生器2触发正常激励信号D激励检测线圈3，对被检工件进行检测；
c. 当完成步骤b后，检测线圈3提离被检工件后，微处理器1控制信号发生器2触发含有模拟缺陷波形X的激励信号C激励检测线圈3；检测线圈3将含有模拟缺陷波形X的激励信号C产生的涡流检测信号通过前置放大器4、后处理单元5处理后，后处理单元5将信号发生器2触发含有模拟缺陷波形X的激励信号C激励检测线圈3产生的涡流检测信号的幅度数据反馈给微处理器1，微处理器1将该幅度值与步骤a中的幅度值进行比较，如两个幅度值不同，微处理器1根据比较得到的幅度值误差，控制前置放大器4校准信号放大量，用以修正检测线圈3温度变化和前置放大器4及后处理单元5长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化。
上述实施例仅用来进一步说明本发明的一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法，但本发明并不局限于实施例，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均落入本发明技术方案的保护范围内。

Claims (3)

1.一种自动校准涡流检测灵敏度的装置，包括微处理器、信号发生器、检测线圈、前置放大器、后处理单元，其特征在于：
所述微处理器与信号发生器、前置放大器、后处理单元电连接；所述微处理器控制信号发生器交替触发含有模拟缺陷波形的激励信号和正常激励信号激励检测线圈；所述正常激励信号是指没有模拟缺陷波形的激励信号；所述微处理器控制前置放大器校准信号放大量，用以修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化；所述微处理器控制后处理单元将信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈产生的涡流检测信号的幅度值反馈给微处理器；
所述信号发生器与检测线圈电连接；
所述检测线圈与前置放大器电连接；
所述前置放大器与后处理单元电连接。
2.根据权利要求1所述的一种自动抑制绝对式涡流检测信号漂移的装置，其特征在于：所述后处理单元包括相敏检波电路、滤波电路、数据采集器。
3.一种自动校准涡流检测灵敏度的方法，采用权利要求1、2所述的装置，其特征在于：包括如下步骤，
a. 开启装置，微处理器控制信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈；检测线圈将含有模拟缺陷波形的激励信号产生的涡流检测信号通过前置放大器、后处理单元处理后，后处理单元将信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈产生的涡流检测信号的幅度值反馈给微处理器；
b. 当检测线圈置于被检工件，微处理器控制信号发生器触发正常激励信号激励检测线圈，对被检工件进行检测；
c. 当完成步骤b后，检测线圈提离被检工件后，微处理器控制信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈；检测线圈将含有模拟缺陷波形的激励信号产生的涡流检测信号通过前置放大器、后处理单元处理后，后处理单元将信号发生器触发含有模拟缺陷波形的激励信号激励检测线圈产生的涡流检测信号的幅度数据反馈给微处理器，微处理器将该幅度值与步骤a中的幅度值进行比较，如两个幅度值不同，微处理器根据比较得到的幅度值误差，控制前置放大器校准信号放大量，用以修正检测线圈温度变化和前置放大器及后处理单元长时间工作导致的涡流检测信号的幅度变化。
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