CN106323144B - 一种发射装置偏移检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种发射装置偏移检测方法，它包括水平偏移检测和俯仰偏移检测，水平偏移检测包括以下步骤，S11：制作水平检测工装；S12：选取基准面，将水平检测工装放置在待检测导轨上，调整水平检测工装位置，使得水平检测工装的底部与待检测导轨完全贴合，然后用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并以该测量值作为基准；S13：多点检测；S14：数据处理；俯仰偏移检测包括以下步骤，S21：组装俯仰偏移检测装置；S22：选取基准点；S23：多角度测量；S24：数据处理。本发明的有益效果是：它具有检测方法简单、操作方便和保证检测精度的优点。

Description

一种发射装置偏移检测方法
技术领域
本发明涉及发射装置偏移精度检测，特别是一种发射装置偏移检测方法。
背景技术
导弹装填是导弹发射过程的必要步骤。导弹装填指的是在导弹发射之前将导弹装填到发射筒内的过程。导弹装填是筒式冷发射系统的重要过程，其涉及导弹、发射筒、装填车、适配器、适配器箍带以及吊装和支撑设备等。
导弹装在发射装置内，发射装置的直线度和俯仰偏移度均会对发射装置的准度、精确度照成影响，并且发射装置多在隐蔽的无人区发射，因此一些高精度的设备无法运输和工作，因此需要一种全新的检测方法。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种操作方便、检测精度高的发射装置偏移检测方法。
本发明的目的通过以下技术方案来实现：一种发射装置偏移检测方法，它包括水平偏移检测和俯仰偏移检测，
所述的水平偏移检测包括以下步骤，
S11：制作水平检测工装，根据带检测导轨所在圆弧的大小制作水平检测工装；
S12：选取基准面，将水平检测工装放置在待检测导轨上，调整水平检测工装位置，使得水平检测工装的底部与待检测导轨完全贴合，然后用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并以该测量值作为基准；
S13：多点检测，将水平检测工装在待检测导轨上滑动，滑动一段距离，用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并对数据进行记录；
S14：数据处理，将S13中记录的尺寸，与基准尺寸进行对比，从而计算出待测导轨的直线度；
所述的俯仰偏移检测包括以下步骤，
S21：组装俯仰偏移检测装置，将俯仰偏移检测装置组装好，并将其固定安装在俯仰装置上；
S22：选取基准点，在俯仰装置上选取一正对刻度线的点为基准点，并记录该基准点正对的刻度线，且以该刻度线作为基准刻度线；
S23：多角度测量，驱动俯仰装置的俯仰，并对多个角度进行检测，记录S12中基准点正对的刻度线的变化；
S24：数据处理，将S23上记录的刻度线与基准刻度线进行比对、计算，得到俯仰装置的俯仰偏移量和偏移精度；
所述的水平检测工装包括大小相同的第一圆盘（11）和第二圆盘（12），所述的第一圆盘（11）和第二圆盘（12）通过多块连接件（13）连接，所述的第一圆盘（11）和第二圆盘（12）上均对称开设有弧形检测板（14），所述的弧形检测板（14）所在的圆周直径大于第一圆盘（11）的圆周直径，且在一弧形检测板（14）上设置有限位板（15）。
所述的S13步骤中，每间隔200mm测量一次。
所述的俯仰偏移检测装置包括定向器基座（21）、定位座（22）和检测杆（23），所述的定位座（22）固定安装在定位器基座（21）上，所述的定位座（22）的一侧开设有安装孔（24），所述的检测杆（23）的一端设置有连接杆（25），所以的检测杆（23）的另一端设置有刻度线（26），所述的检测杆（23）通过连接杆（25）安装在定位座（22）的安装孔（24）内。
所述的S23步骤中每间隔10°夹角，进行一次基准点所在刻度线的读数。
所述的S22中的基准点正对刻度线的中部。
本发明具有以下优点：本发明的发射装置偏移检测方法，能够对发射装置的水平偏移和俯仰偏移进行检测，通过检测并加以修正，从而提高发射装置的精准度，并且整个检测方法简单易学，便于操作。
附图说明
图1 为水平检测工装的结构示意图；
图2 为俯仰偏移检测装置的结构示意图；
图3 为定位座的结构示意图；
图4 为检测杆的结构示意图；
图中，11-第一圆盘，12-第二圆盘，13-连接件，14-弧形检测板，15-限位板，21-定向器基座，22-定位座，23-检测杆，24-安装孔，25-连接杆，26-刻度线。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的描述，本发明的保护范围不局限于以下所述：
如图1所示，一种发射装置偏移检测方法，它包括水平偏移检测和俯仰偏移检测，
所述的水平偏移检测包括以下步骤，
S11：制作水平检测工装，根据带检测导轨所在圆弧的大小制作水平检测工装；
S12：选取基准面，将水平检测工装放置在待检测导轨上，调整水平检测工装位置，使得水平检测工装的底部与待检测导轨完全贴合，然后用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并以该测量值作为基准；
S13：多点检测，将水平检测工装在待检测导轨上滑动，滑动一段距离，用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并对数据进行记录，在本实施例中，每间隔200mm测量一次，从而保证了测试精度。
S14：数据处理，将S13中记录的尺寸，与基准尺寸进行对比，从而计算出待测导轨的直线度；
在本实施例中，如图1所示，所述的水平检测工装包括大小相同的第一圆盘11和第二圆盘12，所述的第一圆盘11和第二圆盘12通过多块连接件13连接，所述的第一圆盘11和第二圆盘12上均对称开设有弧形检测板14，所述的弧形检测板14所在的圆周直径大于第一圆盘11的圆周直径，且在一弧形检测板14上设置有限位板15，在检测时，第一圆盘11和第二圆盘12底部的弧形检测板14均与待检测导轨的底部紧贴。
所述的俯仰偏移检测包括以下步骤，
S21：组装俯仰偏移检测装置，将俯仰偏移检测装置组装好，并将其固定安装在俯仰装置上；
S22：选取基准点，在俯仰装置上选取一正对刻度线的点为基准点，并记录该基准点正对的刻度线，且以该刻度线作为基准刻度线，优选的，所述的基准点正对刻度线的中部；
S23：多角度测量，驱动俯仰装置的俯仰，并对多个角度进行检测，记录S12中基准点正对的刻度线的变化，在本步骤中，每间隔10°夹角，进行一次基准点所在刻度线的读数，从而保证测量精度；
S24：数据处理，将S23上记录的刻度线与基准刻度线进行比对、计算，得到俯仰装置的俯仰偏移量和偏移精度；
在本实施例中，如图2~图4所示，所述的俯仰偏移检测装置包括定向器基座21、定位座22和检测杆23，所述的定位座22固定安装在定位器基座21上，所述的定位座22的一侧开设有安装孔24，所述的检测杆23的一端设置有连接杆25，所以的检测杆23的另一端设置有刻度线26，所述的检测杆23通过连接杆25安装在定位座22的安装孔24内。

Claims (5)

1.一种发射装置偏移检测方法，其特征在于：它包括水平偏移检测和俯仰偏移检测，
所述的水平偏移检测包括以下步骤，
S11：制作水平检测工装，根据带检测导轨所在圆弧的大小制作水平检测工装；
S12：选取基准面，将水平检测工装放置在待检测导轨上，调整水平检测工装位置，使得水平检测工装的底部与待检测导轨完全贴合，然后用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并以该测量值作为基准；
S13：多点检测，将水平检测工装在待检测导轨上滑动，滑动一段距离，用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并对数据进行记录；
S14：数据处理，将S13中记录的尺寸，与基准尺寸进行对比，从而计算出待测导轨的直线度；
所述的俯仰偏移检测包括以下步骤，
S21：组装俯仰偏移检测装置，将俯仰偏移检测装置组装好，并将其固定安装在俯仰装置上；
S22：选取基准点，在俯仰装置上选取一正对刻度线的点为基准点，并记录该基准点正对的刻度线，且以该刻度线作为基准刻度线；
S23：多角度测量，驱动俯仰装置的俯仰，并对多个角度进行检测，记录S12中基准点正对的刻度线的变化；
S24：数据处理，将S23上记录的刻度线与基准刻度线进行比对、计算，得到俯仰装置的俯仰偏移量和偏移精度；
所述的水平检测工装包括大小相同的第一圆盘（11）和第二圆盘（12），所述的第一圆盘（11）和第二圆盘（12）通过多块连接件（13）连接，所述的第一圆盘（11）和第二圆盘（12）上均对称开设有弧形检测板（14），所述的弧形检测板（14）所在的圆周直径大于第一圆盘（11）的圆周直径，且在一弧形检测板（14）上设置有限位板（15）。
2.根据权利要求1所述的一种发射装置偏移检测方法，其特征在于：所述的S13步骤中，每间隔200mm测量一次。
3.根据权利要求1所述的一种发射装置偏移检测方法，其特征在于：所述的俯仰偏移检测装置包括定向器基座（21）、定位座（22）和检测杆（23），所述的定位座（22）固定安装在定位器基座（21）上，所述的定位座（22）的一侧开设有安装孔（24），所述的检测杆（23）的一端设置有连接杆（25），所以的检测杆（23）的另一端设置有刻度线（26），所述的检测杆（23）通过连接杆（25）安装在定位座（22）的安装孔（24）内。
4.根据权利要求1所述的一种发射装置偏移检测方法，其特征在于：所述的S23步骤中每间隔10°夹角，进行一次基准点所在刻度线的读数。
5.根据权利要求1所述的一种发射装置偏移检测方法，其特征在于：所述的S22中的基准点正对刻度线的中部。
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