CN106199619A - 测距系统及校准测距系统的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种测距系统，包括基座、承载板、发射器、发射镜组、接收镜组和接收传感器，所述发射器发出激光束，依次经过发射镜组和发射透镜，形成发射光路，发射光路发射到待测物体上被反射形成接收光路，接收光路被接收传感器接收，通过调节装置对发射光路的调节，实现接收光路的校准，达到精确测量目的，本发明还提供了一种校准测距系统的方法，本方法操作简单，检测精度高。

Description

测距系统及校准测距系统的方法
技术领域
本发明涉及一种激光测距装置，特别涉及一种测距系统及校准测距系统的方法。
背景技术
手持式激光测距仪在工程、建筑、勘测等领域得到广泛应用，激光测距仪一般包括发射单元、准直透镜和接收单元，发射单元发射激光束到被测物体上，再通过反射被接收单元所接收，依据经调制的光线相对发射单元的相位，得到被测物的距离。
在激光测距过程中，发射光和接收光的光轴需要与镜组平行或基本平行，但实际中，由于接收单元测光面存在直径误差，且受镜组焦距等因素制约，现有测距仪的测距精度往往达不到理想高精度要求。
发明内容
一种测距系统，所述测距系统包括：
基座；
承载板，所述承载板固定在所述基座的一端；
发射器，所述发射器用于光束发射；
发射透镜，所述发射器发射的光束通过所述发射透镜发射到被测物体上，并形成发射光路；
接收镜组，所述接收镜组设置在所述基座上,所述接收镜组接收被测物反射回来的光，形成接收光路，所述接收镜组可以在至少一个方向上移动；
接收传感器，所述接收传感器固定在所述承载板上，用来识别所述接收镜组接收到的带有测距信息的反射光；以及，
发射镜组，所述发射镜组设置在所述基座上，所述发射透镜设置在所述发射镜组上，所述发射镜组可以在至少一个方向上移动，所述发射镜组的移动可以调节发射光路和焦距，进而校准接收光路。
优选地，所述发射镜组可以在至少两个方向上移动，所述接收镜组可以在接收光路所在的轴向上移动。
优选地，所述发射镜组可以在发射光路所在的轴向方向上移动，所述接收镜组可以在至少两个方向上移动。
优选地，所述发射镜组可以在至少两个方向上移动，所述接收镜组可以在至少两个方向上移动。
优选地，所述发射镜组可以在三个方向上移动。
优选地，所述接收镜组可以在三个方向上移动。
优选地，所述发射器嵌设在所述基座上。
优选地，所述发射器嵌设在所述承载板上。
优选地，所述发射光路穿过所述发射镜组，并通过所述发射镜组位置移动调节发射光路和接收光路，使光路可以被接收传感器精确接收。
本发明还提供了一种校准测距系统的方法，所述测距系统包括：
基座；
承载板，所述承载板固定在所述基座的一端；
发射器，所述发射器用于光束发射；
发射透镜，所述发射器发射的光束通过所述发射透镜发射到被测物体上，并形成发射光路；
接收镜组，所述接收镜组设置在所述基座上,所述接收镜组接收被测物反射回来的光，形成接收光路，所述接收镜组可以在至少一个方向上移动；
接收传感器，所述接收传感器固定在所述承载板上；用来识别所述接收镜组接收到的带有测距信息的反射光；以及，
发射镜组，所述发射镜组设置在所述基座上，所述发射透镜设置在发射镜组上，所述发射镜组可以在至少一个方向上移动；
该方法为：通过所述发射镜组的移动调节发射光路和焦距，进而校准接收光路。
本发明通过在发射光路上设置调节装置来调节发射光路，从而实现接收光路的校准，本发明结构简单、方法合理，大大提高了测距精度。
附图说明
图1是本发明结构示意图；
图2是本发明实施例一示意图；
图3是本发明实施例二示意图；
图4是本发明实施例三示意图。
具体实施方式
以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本发明的目的、特征和效果。
参照图1至图4，本发明提供一种测距系统，包括基座1、承载板4、发射器3、接收器4、发射镜组5和接收镜组6，所述发射镜组5上设置有发射透镜，所述承载板固定在所述基座4的一端，所述发射器3和接收器4固定在所述承载板4上，所述发射镜组5和接收镜组6固定在所述基座1上，所述发射器3通过发射镜组5发出激光束，形成发射光路，发射光路发射到待测物体上，然后从待测物体反射到接收镜组6，并形成接收光路，接收光路被接收传感器2接收，所述发射镜组5和接收镜组6都可以在至少一个方向上移动，通过所述发射镜组5位置移动来调节发射光路和接收光路，使光路可以被接收传感器精确接收，达到校准的目的。
图1、图2是本发明实施例一，下面对本实施例作详细阐述。
本实施例中，所述发射镜组5可以在两个方向上移动，所述接收镜组6可以在接收光路所在的轴向上移动。
具体地说，所述基座1上形成有发射孔7和接收孔8，所述发射镜组5设置在所述发射孔7内，所述接收镜组6设置在所述接收孔8内，所述发射器3、发射孔7和发射镜组5同轴设置，发射镜组5可以在接收孔内两个方向（X、Y方向上）移动；同理，接收孔8、接收镜组6和接收传感器2也同轴设置，接收镜组6可以在接收孔所在的轴向上（Y方向上）移动。
本实施例中，所述发射镜组5还可以在三个方向上（X、Y、Z方向上）移动。
图3是本发明实施例二，与实施例一相似，其区别在于，所述发射镜组5仅可以在发射光路所在的轴向上移动，所述接收镜组6可以在两个方向上（X、Y方向上）移动；作为可选地，本实施例中接收镜组6还可以在三个方向上（X、Y、Z方向上）移动。
图4是本发明实施例三，与实施例一相似，其区别在于，所述发射镜组5和接收镜组6都可以在两个方向上（X、Y方向上）移动；作为可选地，本实施例中发射镜组5和/或接收镜组6可以在三个方向上（X、Y、Z方向上）移动。
需要说明的是，上述各实施例中，基座的结构不是限定的，可以没有发射孔和接收孔，不影响光路发射和调节即可；
另外，作为可选的，发射器也可以嵌设在所述基座上，节省测距装置的布置空间。
使用时，可以根据设定，通过改变发射镜组和/或接收镜组移动位置来调节校准光路，本发明通过在发射光路上设置发射镜组来调节发射光路，从而实现接收光路的校准。
本发明还提供了一种校准测距系统的方法；
参照图1至图4，本发明提供一种测距系统，包括基座1、承载板4、发射器3、接收器4、发射镜组5和接收镜组6，所述发射镜组5上设置有发射透镜，所述承载板固定在所述基座4的一端，所述发射器3和接收器4固定在所述承载板4上，所述发射镜组5和接收镜组6固定在所述基座1上，所述发射器3通过发射镜组5发出激光束，形成发射光路，发射光路发射到待测物体上，然后从待测物体反射到接收镜组6，并形成接收光路，接收光路被接收传感器2接收，所述发射镜组5和接收镜组6都可以在至少一个方向上移动，通过所述发射镜组5位置移动来调节发射光路和接收光路，使光路可以被接收传感器精确接收，达到校准的目的。
图1、图2是本发明实施例一，下面对本实施例作详细阐述。
本实施例中，所述发射镜组5可以在两个方向上移动，所述接收镜组6可以在接收光路所在的轴向上移动。
具体地说，所述基座1上形成有发射孔7和接收孔8，所述发射镜组5设置在所述发射孔7内，所述接收镜组6设置在所述接收孔8内，所述发射器3、发射孔7和发射镜组5同轴设置，发射镜组5可以在接收孔内两个方向（X、Y方向上）移动；同理，接收孔8、接收镜组6和接收传感器2也同轴设置，接收镜组6可以在接收孔所在的轴向上（Y方向上）移动。
本实施例中，所述发射镜组5还可以在三个方向上（X、Y、Z方向上）移动。
图3是本发明实施例二，与实施例一相似，其区别在于，所述发射镜组5仅可以在发射光路所在的轴向上移动，所述接收镜组6可以在两个方向上（X、Y方向上）移动；作为可选地，本实施例中接收镜组6还可以在三个方向上（X、Y、Z方向上）移动。
图4是本发明实施例三，与实施例一相似，其区别在于，所述发射镜组5和接收镜组6都可以在两个方向上（X、Y方向上）移动；作为可选地，本实施例中发射镜组5和/或接收镜组6可以在三个方向上（X、Y、Z方向上）移动。
使用时，可以根据设定，通过改变发射镜组和/或接收镜组移动位置来调节校准光路，本发明通过在发射光路上设置发射镜组来调节发射光路，从而实现接收光路的校准。
以上所述实施例仅表达了本发明的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (11)

1.本发明提供一种测距系统，包括基座、承载板、发射器、发射镜组、接收镜组和接收传感器，所述发射器发出激光束，依次经过发射镜组和发射透镜，形成发射光路，发射光路发射到待测物体上被反射形成接收光路，接收光路被接收传感器接收，通过调节装置对发射光路的调节，实现接收光路的校准，达到精确测量目的，本发明还提供了一种校准测距系统的方法，本方法操作简单，检测精度高。
2.一种测距系统，其特征在于，所述测距系统包括：
基座；
承载板，所述承载板固定在所述基座的一端；
发射器，所述发射器用于光束发射；
发射透镜，所述发射器发射的光束通过所述发射透镜发射到被测物体上，并形成发射光路；
接收镜组，所述接收镜组设置在所述基座上,所述接收镜组接收被测物反射回来的光，形成接收光路，所述接收镜组可以在至少一个方向上移动；
接收传感器，所述接收传感器固定在所述承载板上，用来识别所述接收镜组接收到的带有测距信息的反射光；以及，
发射镜组，所述发射镜组设置在所述基座上，所述发射透镜设置在所述发射镜组上，所述发射镜组可以在至少一个方向上移动，所述发射镜组的移动可以调节发射光路和焦距，进而校准接收光路。
3.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述发射镜组可以在至少两个方向上移动，所述接收镜组可以在接收光路所在的轴向上移动。
4.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述发射镜组可以在发射光路所在的轴向方向上移动，所述接收镜组可以在至少两个方向上移动。
5.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述发射镜组可以在至少两个方向上移动，所述接收镜组可以在至少两个方向上移动。
6.根据权利要求1、2或4所述的测距系统，其特征在于，所述发射镜组可以在三个方向上移动。
7.根据权利要求1、3或4所述的测距系统，其特征在于，所述接收镜组可以在三个方向上移动。
8.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述发射器嵌设在所述基座上。
9.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述发射器嵌设在所述承载板上。
10.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述发射光路穿过所述发射镜组，并通过所述发射镜组位置移动调节发射光路和接收光路，使光路可以被接收传感器精确接收。
11.一种校准测距系统的方法，其特征在于，所述测距系统包括：
基座；
承载板，所述承载板固定在所述基座的一端；
发射器，所述发射器用于光束发射；
发射透镜，所述发射器发射的光束通过所述发射透镜发射到被测物体上，并形成发射光路；
接收镜组，所述接收镜组设置在所述基座上,所述接收镜组接收被测物反射回来的光，形成接收光路，所述接收镜组可以在至少一个方向上移动；
接收传感器，所述接收传感器固定在所述承载板上；用来识别所述接收镜组接收到的带有测距信息的反射光；以及，
发射镜组，所述发射镜组设置在所述基座上，所述发射透镜设置在发射镜组上，所述发射镜组可以在至少一个方向上移动；
该方法为：通过所述发射镜组的移动调节发射光路和焦距，进而校准接收光路。
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