CN106129224B - 一种水平电极倒装红光led芯片及其制备方法 - Google Patents
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Abstract
一种水平电极倒装红光LED芯片及其制备方法,涉及LED芯片的生产技术领域。本发明方法无需在ODR介质层内开孔,而是利用整面ODR介质层与键合层形成ODR全方位反射镜,使P面保证较高的反射水平;通过湿法腐蚀从N面刻蚀至P‑GaP层,在P‑GaP电流扩展层上淀积金属,光刻实现P‑Pad中心电极的制作,最后形成水平电极结构的AlGaInP倒装红光芯片。本发明工艺简单、合理,可使RGB混合应用端封装成本较低。
Description
技术领域
本发明涉及LED芯片的生产技术领域。
背景技术
目前提高AlGaInP四元系红光芯片光效的最有效方式为采用晶圆键合(Waferbonding)的衬底转移技术,并结合制作P面全方位反射镜(ODR)及N面粗化工艺,结合这三种工艺可使得制备的AlGaInP红光LED芯片光效为传统正装结构芯片的3~4倍;但是,在制作高反射率的ODR时,常采用SiO2或MgF2作为介质层,这两种材质均不导电,为使P极载流子顺利通过介质层并到达有源区,需要在介质层中刻蚀出一定大小和数量的孔洞,并填充金属导电欧姆接触材料,介质孔的存在会大幅降低ODR对从有源区射向P面的光的反射率,此外工艺上由于ODR介质孔内导电金属与P面GaP欧姆接触难以控制,容易造成芯片局部电流集中,顺向电压Vf偏高,抗静电等可靠性差的问题;而且其N、P电极在芯片的上下两侧,为垂直结构,与蓝绿光芯片电极结构上的差异,使RGB混合应用端封装成本提高。
发明内容
本发明目的是提出一种N、P电极在芯片的同侧,芯片顺向电压Vf较低、抗静电性能较好的水平电极倒装红光LED芯片。
本发明在衬底的同一侧依次设置有键合层、ODR介质层、P-GaP电流扩展层,在一小部分P-GaP电流扩展层上设置P面P-Finger扩展电极和P-Pad 中心电极,在大部分P-GaP电流扩展层上依次设置P-Space限制层、MQW有源区、N-Space限制层和N-AlGaInP粗化层。在部分N-AlGaInP粗化层上设置N-GaAs欧姆接触层,在N-GaAs欧姆接触层上设置N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极。
与含介质孔的倒装红光垂直结构芯片相比,本发明采用水平电极结构设计,可使P面电流得到很好的扩展,可使18mil尺寸的芯片顺向电压Vf降低至2.02V,发光强度4800mcd,芯片的抗静电能力达到5kV;使AlGaInP倒装红光芯片实现同蓝绿光相似的电极结构,降低RGB混合应用端封装成本。
本发明的另一目的是提出以上产品的制备方法。
发明方法包括以下步骤:
1)采用MOCVD方法,在一临时衬底的同一侧依次生长N-Ga0.5In0.5P腐蚀停层、N-GaAs欧姆接触层、N-AlGaInP粗化层、N-Space限制层、MQW有源区、P-Space限制层和P-GaP电流扩展层,取得外延片;
2)在外延片的P-GaP电流扩展层上依次淀积ODR介质层和键合层;
3)在转移衬底的一侧蒸镀键合层,通过键合层,将外延片的P-GaP电流扩展层和转移衬底键合在一起,取得键合后的半制品;
4)去除键合后的半制品的临时衬底后,再去除N-Ga0.5In0.5P腐蚀停止层,直至暴露出N-GaAs欧姆接触层;
5)在N-GaAs欧姆接触层上制作金属层,经剥离形成N面N-Finger扩展电极和N-Pad中心电极;
6)去除N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极区域以外的N-GaAs欧姆接触层,直至暴露出N-AlGaInP粗化层;光刻后,自暴露的N-AlGaInP粗化层表面向下湿法腐蚀,直至暴露出P-GaP电流扩展层;
7)在P-GaP电流扩展层上制作金属层,经剥离形成P面P-Finger扩展电极和P-Pad中心电极;
8)在P面蚀刻沟道内沉积SiN层,对PN结侧壁钝化处理;
9)对暴露的N-AlGaInP粗化层进行粗化处理;
10)退火、激光划片、劈裂。
本制备方法无需在ODR介质层内开孔,而是利用整面ODR介质层与键合层形成ODR全方位反射镜,使P面保证较高的反射水平;通过湿法腐蚀从N面刻蚀至P-GaP层,在P-GaP电流扩展层上淀积金属,光刻实现P-Pad 中心电极的制作,最后形成水平电极结构的AlGaInP倒装红光芯片。
本发明工艺简单、合理,可使RGB混合应用端封装成本较低。
附图说明
图1为本发明的外延片结构示意图。
图2为本发明的一种结构示意图。
具体实施方式
一、生产工艺步骤:
1、采用MOCVD技术在厚度为200μm的GaAs衬底1的同一侧生长如图1所示结构的外延片,依次包括:厚度为200nm的N-Ga0.5In0.5P腐蚀停层2、厚度为50nm的N-GaAs欧姆接触层3、厚度为2μm的N-AlGaInP粗化层4、N-Space限制层5、MQW有源区6、P-Space限制层7和厚度为0.6μm的P-GaP电流扩展层8。
2、将外延片经丙酮有机清洗后,采用PECVD技术,在P-GaP电流扩展层8上淀积厚度为107nm的SiO2作为ODR介质层9,接着沉积厚度为0.3μm的Au用于键合。
3、采用厚度为200μm的Si片作为转移衬底11,经丙酮有机清洗后,在转移衬底11的一侧蒸镀厚度为0.3μm的Au键合层10。
利用键合机在温度为260℃,压力3MPa,作用时间为1h的条件下,通过Au键合层10,将GaAs外延片的P-GaP电流扩展层8与转移衬底11键合在一起,取得键合后的半制品。
4、采用氨水、双氧水混合溶液去除键合后的半制品的GaAs衬底1,再利用盐酸、磷酸混合溶液去除N-Ga0.5In0.5P腐蚀停止层2,腐蚀均匀地停在N-GaAs欧姆接触层3上。
5、在N-GaAs欧姆接触层3上溅射Au/AuGeNi/Au金属层,再利用负胶剥离方法制作N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极12。
6、以氨水和双氧水的混合溶液去除N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极12区域以外的N-GaAs欧姆接触层,直至暴露出N-AlGaInP粗化层4。
然后在暴露出N-AlGaInP粗化层4表面制出P-Pad 中心电极13区域图案,利用盐酸从N-AlGaInP粗化层4向下腐蚀,直至暴露出P-GaP电流扩展层8。
7、在P-GaP电流扩展层8上溅射Au/AuBe/Au/Ti/Au金属层,制作P面P-Finger扩展电极和P-Pad 中心电极13。
再利用PECVD在P面蚀刻沟道内沉积厚度为0.54μm的SiN层,对PN结侧壁钝化处理。
8、采用盐酸和磷酸的混合溶液对暴露的N-AlGaInP粗化层4进行表面湿法粗化处理;然后研磨减薄转移衬底11,再经250℃快速退火,激光划片、劈裂,最后制作成功的水平电极倒装红光芯片,如图2所示。
二、产品结构特点:
如图2所示,在Si衬底11的同一侧依次设置有键合层10、ODR介质层9、P-GaP电流扩展层8,在一小部分P-GaP电流扩展层8上设置P面P-Finger扩展电极和P-Pad 中心电极13,在大部分P-GaP电流扩展层8上依次设置P-Space限制层7、MQW有源区6、N-Space限制层5和N-AlGaInP粗化层4。
在部分N-AlGaInP粗化层4上设置N-GaAs欧姆接触层3,在N-GaAs欧姆接触层3上设置N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极12。
三、产品性能特点:
该型18mil芯片厚度190μm,在150mA驱动电流下,顺向电压Vf为2.02V,主波长621.7nm,单颗芯片发光强度4800mcd,抗静电能力达到5kV。
Claims (1)
1.一种水平电极倒装红光LED芯片的制备方法,所述水平电极倒装红光LED芯片包括衬底、键合层,在键合层上依次设置ODR介质层和P-GaP电流扩展层,在一小部分P-GaP电流扩展层上设置P面P-Finger扩展电极和P-Pad 中心电极,在大部分P-GaP电流扩展层上依次设置P-Space限制层、MQW有源区、N-Space限制层和N-AlGaInP粗化层;在部分N-AlGaInP粗化层上设置N-GaAs欧姆接触层,在N-GaAs欧姆接触层上设置N面N-Finger扩展电极和N-Pad中心电极;
其特征在于包括以下步骤:
1)采用MOCVD方法,在一临时衬底的同一侧依次生长N-Ga0.5In0.5P腐蚀停层、N-GaAs欧姆接触层、N-AlGaInP粗化层、N-Space限制层、MQW有源区、P-Space限制层和P-GaP电流扩展层,取得外延片;
2)在外延片的P-GaP电流扩展层上依次淀积ODR介质层和键合层;
3)在转移衬底的一侧蒸镀键合层,通过键合层,将外延片的P-GaP电流扩展层和转移衬底键合在一起,取得键合后的半制品;
4)去除键合后的半制品的临时衬底后,再去除N-Ga0.5In0.5P腐蚀停止层,直至暴露出N-GaAs欧姆接触层;
5)在N-GaAs欧姆接触层上制作金属层,经光刻、剥离形成N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极;
6)去除N面N-Finger扩展电极和N-Pad 中心电极区域以外的N-GaAs欧姆接触层,直至暴露出N-AlGaInP粗化层;光刻后,自暴露的N-AlGaInP粗化层表面向下湿法腐蚀,直至暴露出P-GaP电流扩展层;
7)在P-GaP电流扩展层上制作金属层,光刻后,经剥离形成P面P-Finger扩展电极和P-Pad 中心电极;
8)在P面蚀刻沟道内沉积SiN层,对PN结侧壁钝化处理;
9)对N-AlGaInP粗化层进行粗化处理;
10)退火、激光划片、劈裂。
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