CN105981130B - 质谱分析装置及质谱分析方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种质谱分析装置，其特征在于，包括：电离源，其包括ESI探针(201)、ESI电源(24)、电晕针(202)及APCI电源(24)；电离条件存储部(41)，其存储与含有一种至多种成分的液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；质谱分析执行部(43)，其使用所述多个电离条件中的每一条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及质谱分析结果选出部(44)，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。

Description

质谱分析装置及质谱分析方法
技术领域
本发明涉及一种同时使用电喷雾电离(ESI)源和大气压化学电离(APCI)源将液体试样中的成分电离并进行质谱分析的质谱分析装置及质谱分析方法。
背景技术
为了进行试样中所含的各种成分的定性、定量，液相色谱质谱分析装置(LC/MS)被广泛使用，其包括：液相色谱部(LC)，其将这些成分在时间上加以分离；以及质谱分析部(MS)，其将分离后的成分电离并进行质谱分析。作为质谱分析部的电离源，大多数情况下使用电喷雾电离(ESI)源、大气压化学电离(APCI)源。在分析对象成分为高极性化合物的情况下使用ESI源，在分析对象成分为低极性化合物的情况下使用APCI源。
在试样中含有多种成分的情况下，大多混存有高极性成分和低极性成分。作为用以对这种试样进行质谱分析的装置，提出有配备有包括ESI源和APCI源两方的、被称为双电离源的电离源的质谱分析装置(例如专利文献1)。双电离源包括：ESI探针，其被导入液体试样；ESI电源，其对该ESI探针供给高电压(ESI电压)；针(电晕针)，其位于ESI探针的出口附近，用以供给高电压而产生电晕放电；以及APCI电源，其对该针供给高电压(APCI电压)。
在液相色谱中经成分分离并被导入至ESI探针的液体试样及流动相因施加至ESI探针的ESI电压而成为带电的液滴并喷出，试样中所含的成分中的高极性成分得以电离。另一方面，试样中所含的低极性成分在该阶段不会被电离，而是通过与因电晕针的电晕放电而被电离的流动相之间交换电荷而得以电离。
以往技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利特表2005-539358号公报
发明内容
发明要解决的问题
试样中所含的各成分的极性、最适于将它们电离的ESI电压的值、APCI电压的值各不相同。因此，在双电离源中，将ESI电压、APCI电压设定为平均的值来使用。但存在如下问题：对于某些成分而言，施加平均的ESI电压、APCI电压的情况下的电离效率较低，有时无法生成能以足以对该成分进行定量的强度检测到的量的离子。
本发明要解决的问题在于提供一种质谱分析装置及方法，不论试样中所含的成分的极性等如何，该质谱分析装置及方法均针对各成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高灵敏度、高精度的质谱分析结果。
解决问题的技术手段
为了解决上述问题而成的本发明的质谱分析装置的特征在于，包括：
a)电离源，其具有被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针、配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针、对所述ESI探针供给ESI电压的ESI电压供给部、以及对所述电晕针供给APCI电压的APCI电压供给部；
b)电离条件存储部，其存储由分析人员设定的、与所述液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；
c)质谱分析执行部，其使用所述多个电离条件中的每一条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及
d)质谱分析结果选出部，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。
上述所谓“以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果”，典型而言是指离子的检测强度为最大的质谱分析结果，但并不一定限于此。例如，质谱分析结果选出部也能以如下方式构成：选出离子的检测强度与噪声强度的比(S/N比)的值为最大的质谱分析结果，或者去掉离子的检测强度超过检测器的动态范围的最大值的质谱分析结果并选择离子的检测强度为最大的质谱分析结果。
在本发明的质谱分析装置中，从在ESI电压或者/以及APCI电压的值不同的多个电离条件下将液体试样电离并进行质谱分析而得的结果中，选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。因此，即便在试样中含有极性不同的多种成分的情况下，也针对各成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高精度的质谱分析结果。
本发明的质谱分析装置可在LC/MS中较佳地使用。在LC/MS中，在LC的色谱柱中被分离的成分洗脱的时间受到限制，并且在该时间内，洗脱量会发生变化。在这种情况下，较理想为所述质谱分析执行部反复使用所述多个电离条件来进行质谱分析。
本发明的质谱分析装置可用于进行预备测定，所述预备测定用以确定对液体试样中所含的成分进行定性或定量的质谱分析中的电离条件。试样中的成分的定性、定量例如通过选择离子监测(SIM:selected ion monitoring)法、多反应监测(MRM:MultipleReaction Monitoring)法来进行。
因此，本发明的质谱分析装置可设为如下构成，即，还包括：e)电离条件确定部，所述电离条件确定部针对所述一种至多种成分中的每一成分而将与所述所选出的质谱分析结果相对应的电离条件确定为最佳电离条件。
此外，为了解决上述问题而成的本发明的质谱分析方法为如下质谱分析方法，即，使用配备有电离源的质谱分析装置，对利用该电离源而生成的离子进行质谱分析，所述电离源具有：ESI源，其对被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针施加ESI电压而将该液体试样电离；以及APCI源，其对配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针施加APCI电压而将从所述ESI探针中喷出的所述液体试样电离，该质谱分析方法的特征在于，
a)让分析人员设定用以将所述液体试样电离的、所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件，
b)在所述多个电离条件中的每一条件下对由试样生成的离子进行质谱分析，
c)从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。
发明的效果
通过使用本发明的质谱分析装置、质谱分析方法，不论试样中所含的成分的极性等如何，均针对各成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高灵敏度、高精度的质谱分析结果。
附图说明
图1为本发明的质谱分析装置的一实施例的要部构成图。
图2为对实施例1的质谱分析方法进行说明的流程图。
图3为说明在实施例1的质谱分析方法中使用的分析条件的表。
图4为说明实施例1的质谱分析方法中的分析的流程的图。
图5为对实施例1中所获取的总离子流色谱图(TIC)进行说明的图。
图6为对实施例1中所制作的质谱进行说明的图。
图7为对实施例2的质谱分析方法进行说明的流程图。
图8为对通过使用实施例2的质谱分析方法的MRM测定而获取的质谱色谱图进行说明的图。
图9为说明在实施例3的质谱分析方法中使用的分析条件的表。
图10为说明实施例3的质谱分析方法中的分析的流程的图。
图11为说明实施例3的质谱分析方法中的S/N比的值与电离条件的关系的图。
图12为对实施例3的质谱分析方法中离子的检测强度成为最大的电离条件下所获取的质谱色谱图、与S/N比的值成为最大的电离条件下所获取的质谱色谱图进行比较的图。
具体实施方式
下面，参考附图，对作为本发明的质谱分析装置的一实施例的、具有串联四极杆构成的质谱分析装置进行说明。本实施例的质谱分析装置像图1所示那样与液相色谱部1组合而构成，作为液相色谱质谱分析装置而进行动作。
在本实施例的液相色谱质谱分析装置中，液相色谱部1包括：流动相容器10，其储留有流动相；泵11，其抽吸流动相并以一定流量进行输送；注射器12，其对流动相中注入预先准备的规定量的试样；以及色谱柱13，其将试样中所含的各种化合物在时间方向上加以分离。泵11从流动相容器10中抽吸流动相并以一定流量进行输送。从注射器12导入一定量的液体试样，随着流动相的流动而将液体试样导入至色谱柱13。液体试样中的各成分在色谱柱13内在时间上被分离，并与流动相一起被导入至质谱分析部2。另外，在对液体试样进行流动注射分析的情况下，不使用色谱柱13，而是将从注射器12导入的液体试样直接导入至质谱分析部2。
质谱分析部2具有如下多级差动排气系统的构成：在为大致大气压的电离室20与通过真空泵(未图示)来进行真空排气的高真空的分析室23之间，配备有真空度阶段性地提高的第1、第2中间真空室21、22。
本实施例的质谱分析装置的电离源为具有在电离室20内对液体试样进行电喷雾电离(ESI)的探针(ESI探针)201和对液体试样进行大气压化学电离(APCI)的针(电晕针)两方的双电离源。液体试样中所含的高极性成分主要通过ESI加以电离，低极性成分主要通过APCI加以电离。
电离室20与后级的第1中间真空室21之间通过细径的加热毛细管203而连通。第1中间真空室21与第2中间真空室22之间被顶部具有小孔的锥孔体212隔开，在第1中间真空室21和第2中间真空室22内，分别设置有用以使离子一边汇聚一边朝后级输送的离子导向器211、221。在分析室23内，隔着在内部设置有多极离子导向器(q2)233的碰撞池232而设置有根据质荷比来分离离子的前级四极杆滤质器(Q1)231和同样根据质荷比来分离离子的后级四极杆滤质器(Q3)234，进而设置有离子检测器235。
电源部24对ESI探针201、电晕针202、离子导向器211、221、233以及四极杆滤质器231、234等分别施加规定的电压。再者，四极杆滤质器231、234分别在主杆电极的前级具有用以修正入口端处的电场的紊乱的前杆电极，可对前杆电极施加不同于主杆电极的电压。
在质谱分析部2中，到达至从电源部24被施加有高电压(ESI电压)的ESI探针201的液体试样和流动相成为被赋予了电荷的液滴(带电液滴)并从ESI探针201的顶端喷出。该带电液滴因所赋予的电荷的静电力的作用而一边分裂一边微细化，液体试样中的高极性成分得以电离。另一方面，试样中所含的低极性成分在该阶段不会被电离，而是与因高电压(APCI电压)的施加而产生的电晕针202的电晕放电而被电离的流动相之间交换电荷来加以电离。
如此生成的离子通过毛细管203而被送至第1中间真空室21，经离子导向器211加以汇聚之后，经过锥孔体212的顶部的小孔而被送至第2中间真空室22。继而，经第2中间真空室22内的离子导向器221再次加以汇聚而被送至分析室23，被导入至前级四极杆滤质器231的长轴方向的空间内。
在本实施例的质谱分析部2中，可进行MS分析和MS/MS分析两方。
在MS分析中，以在前级四极杆滤质器231和后级四极杆滤质器234中的任一方中使具有特定质荷比的离子通过、在另一方中使所有质荷比的离子通过的方式，从电源部24分别施加规定的电压(将高频电压与直流电压重叠而成的电压)。继而，利用离子检测器235检测通过了后级四极杆滤质器234的离子。离子检测器235例如为脉冲计数检测器，将与所入射的离子的数量相应的个数的脉冲信号作为检测信号输出至数据处理部4。
另一方面，在MS/MS分析中，以在前级四极杆滤质器231及后级四极杆滤质器234两方中使具有特定质荷比的离子通过的方式，从电源部24分别施加规定的电压(将高频电压与直流电压重叠而成的电压)。此外，对碰撞池232内连续地或间歇性地供给CID气体。在电离室20内生成且被送入至前级四极杆滤质器231的各种离子中，仅具有与施加至前级四极杆滤质器231的各杆电极的电压相应的特定质荷比的离子通过该滤质器231，并作为前体离子被导入至碰撞池232。前体离子在碰撞池232内碰撞至CID气体而解离，生成各种产物离子。这些产物离子被导入至后级四极杆滤质器234，仅具有与施加至四极杆滤质器234的各杆电极的电压相应的特定质荷比的产物离子通过该滤质器234而被离子检测器235检测出。
数据处理部4包括存储部41，并且包括电离条件设定部42、质谱分析执行部43、质谱分析结果选出部44、电离条件确定部45及质谱分析结果显示部46作为功能块。此外，数据处理部4以如下方式构成：与对液相色谱部1的泵11、注射器12、质谱分析部2的电源部24、CID气体供给部(未图示)等的动作进行控制的控制部5之间酌情进行信号的收发。数据处理部4的实体为个人电脑，通过执行预先安装在该电脑中的数据处理用软件，可使其发挥作为数据处理部4的功能。进而，在数据处理部4上连接有输入部6、显示部7。
下面，对使用本实施例的液相色谱质谱分析装置的质谱分析方法的实施例1～3进行说明。
实施例1
本实施例为在液相色谱部1中通过不使用色谱柱13的流动注射来导入含有成分A、成分B及成分C的液体试样并在质谱分析部2中进行MS扫描分析的质谱分析方法的例子。本实施例中的成分A、成分B及成分C分别为高极性成分、低极性成分及中极性成分。参考图2的流程图，对该质谱分析方法进行说明。
首先，电离条件设定部42将液体试样的质谱分析条件的设定画面显示在显示部7上(步骤S11)，提醒分析人员进行设定。让分析人员设定的质谱分析条件的项目包括质谱分析的模式(Q1scan、Q3scan、SIM、MRM等)、质荷比的范围、扫描速度(扫描测定的情况下)、以及液体试样的电离条件(ESI电压及APCI电压的值)，让分析人员设定ESI电压及/或APCI电压的值不同的多个电离条件。
当由分析人员设定好质谱分析条件时，电离条件设定部42将设定好的质谱分析条件保存至存储部41(步骤S12)。在本实施例中，如图3所示，设定APCI电压各不相同的事件1～3这3种质谱分析条件。在事件1～3中，为了将液体试样电离而施加的APCI电压的大小不一样。以在事件1中高效地生成适于ESI的高极性成分、在事件3中高效地生成适于APCI的低极性成分的方式设定了ESI电压与APCI电压的相对关系各不相同的电离条件。此外，事件2被设定为事件1与事件3的中间性电离条件。
然后，质谱分析执行部43按照设定并保存好的条件执行质谱分析。具体而言，反复执行以事件1～3为1组的质谱分析(图4，步骤S13)，获取针对各事件而获取到的总离子流色谱图(TIC)和质谱(步骤S14)。质谱分析结果显示部46将这些TIC和质谱显示在显示部7上。
将通过上述测定而获得的TIC示于图5、质谱示于图6的(a)～(c)。在事件1中，高极性成分A以最大强度被检测到离子，在事件3中，低极性成分B以最大强度被检测到离子，在事件2中，中极性成分C被以最大强度检测到离子。离子的检测强度反映出生成离子的量。即，可知，对于高极性成分A的电离，事件1的条件最佳，对于低极性成分B的电离，事件3的条件最佳，进而，对于中极性成分C的电离，事件2的条件最佳。
最后，质谱分析结果选出部44针对各成分而分别比较事件1～3中的离子的检测强度，提取检测强度最大的质谱分析结果来再构成质谱(图6的(d))，并使质谱分析结果显示部46将再构成的质谱显示在显示部7上。如此，针对试样中所含的极性不同的多种成分中的每一成分而生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而可获得高灵敏度且高精度的质谱分析结果。
实施例2
在实施例2的质谱分析方法中，将用以对未知的液体试样进行MRM分析的条件(MRM方法)最佳化。在本实施例中，说明将用以对未知的液体试样进行以高极性成分A、低极性成分B及中极性成分C为目标成分的MRM分析的分析条件(MRM方法)最佳化的方法。
在MRM分析中，针对各目标成分，在前级四极杆滤质器231中选择性地使具有特定质荷比的离子作为前体离子而通过，并在碰撞池232内使该前体离子与CID气体进行碰撞，由此使其裂解而生成各种产物离子。继而，在后级四极杆滤质器234中选择性地使具有特定质荷比的产物离子通过，并利用离子检测器235进行检测。因而，要进行MRM分析，必须针对各目标成分预先规定好由前级四极杆滤质器231加以选择的前体离子的质荷比、以及由后级四极杆滤质器234加以选择的产物离子的质荷比。再者，在以下的说明中，将MRM测定中的前体离子和产物离子的组称为MRM转变。
进行MRM分析的主要目的在于目标成分的定性、定量，产物离子的检测强度越大，越能提高分析的精度。因而，通常而言，与MRM转变同样，在碰撞池232内使前体离子与CID气体进行碰撞时所赋予的碰撞能量(CE：Collision Energy)也以使产物离子的生成效率达到最高的方式被最佳化。在本实施例中，进而也以电离室20内的前体离子的生成效率达到最高的方式将电离条件最佳化。
下面，参考图7的流程图，对MRM方法的最佳化的程序进行说明。
首先，电离条件设定部42将确定液体试样的电离条件以及前体离子用的质谱分析条件的设定画面显示在显示部7上(步骤S21)，提醒分析人员进行设定。让分析人员设定的质谱分析条件的项目也与实施例1相同。电离条件设定部42将设定好的质谱分析条件作为分析(事件)的条件而保存至存储部41(步骤S22)。在本实施例中，使用图3所示的事件1～3。
接着，质谱分析执行部43按照设定好的条件执行质谱分析(Q1scan)(步骤S23)，针对各事件而获取前体离子的质谱(步骤S24)。质谱分析结果显示部46将这些质谱显示在显示部7上。继而，质谱分析结果选出部44对针对各事件而获取到的质谱进行比较，并针对各成分而提取强度最大的质谱峰(步骤S25)。继而，电离条件确定部45将出现该质谱峰的事件的电离条件确定为该成分的电离条件，此外，将对应于该质谱峰的离子设定为前体离子(步骤S26)。在该阶段，分别规定事件1、事件3及事件2的电离条件作为高极性成分A、低极性成分B及中极性成分C的电离条件。虽然此处提取的是1个强度最大的质谱峰，但也可按照强度从大到小的顺序提取多个质谱峰来设定多个前体离子。例如，在MRM分析中分别使用定量用MRM转变和确认用MRM转变的情况下，设定多个前体离子。
以下的程序因与以往为了将MRM方法最佳化而使用的程序一样，所以简单地进行说明。
当针对各目标成分而确定好电离条件和前体离子时，质谱分析执行部43再次使用确定好的电离条件并设定CE不同的多个条件来进行产物离子扫描测定(步骤S27)。也就是说，在前级四极杆滤质器231中选择性地使先前确定好的前体离子通过，在碰撞池232内使前体离子裂解而生成产物离子，并使通过后级四极杆滤质器234的离子的质荷比连续改变，从而获取产物离子扫描谱。质谱分析结果显示部46将在CE值不同的多个条件下分别获取到的产物离子扫描谱显示在显示部7上。继而，质谱分析结果选出部44对针对各成分而分别获得的多个产物离子扫描谱进行比较，提取强度最大的质谱峰(步骤S28)，并确定对应于该质谱峰的产物离子和CE值(步骤S29)。制作包含如此确定的电离条件、MRM转变(前体离子的质荷比以及产物离子的质荷比)以及CE值的MRM方法并保存至存储部41(步骤S30)。不过，在产物离子扫描测定的扫描速度较快的情况下，产物离子扫描测定时的质荷比与MRM分析时的质荷比有时会产生质量偏差。在该情况下，较理想为在进行了基于针对该质谱分析装置而预先制作的校正表的质量修正之后制作MRM方法。
在以往的MRM方法制作中，未进行电离室20内的电离条件的最佳化，因此存在由于某些成分极性使离子的生成效率较差，而使在MRM测定中无法获得足够的检测强度的情况(图8的(a))，而通过在将MRM方法最佳化时也将各成分的电离条件最佳化，不论成分的极性如何，均生成能以足够的强度检测到的量的离子，从而能以高灵敏度进行MRM测定(图8的(b))。
实施例3
在实施例3中，对在使用LC/MS的MRM分析中获取最佳质谱色谱图的例子进行说明。本实施例中的目标成分为中极性成分C。参考化合物数据库等而预先规定好对应于该成分C的MRM转变和CE值。
在本实施例中，在由电离条件设定部42显示在显示部7上的质谱分析设定画面中，分析人员设定APCI电压不同的多个MRM分析条件(事件11～15，图9)。继而，质谱分析执行部43反复执行事件11～15，针对各事件而获取质谱色谱图(图10)。然后，质谱分析结果选出部44计算各事件的质谱色谱图的S/N比的值，提取S/N比的值最大的质谱色谱图。关于质谱色谱图的S/N比的值，例如可通过计算色谱中的波峰的强度与除波峰以外的区域的强度的RMS值的比来求出。
如图11所示，存在S/N比的值达到最大的电离条件(APCI电压：1kV)与强度达到最大的电离条件(APCI电压：2kV)不一样的情况。在这种情况下，若选择强度达到最大的条件，则即便波峰强度本身较大，与噪声强度的差也较小，从而存在难以判别波峰的情况(图12)。在这种情况下，优选像本实施例那样选择S/N比的值达到最大的电离条件。
上述各实施例均为一例，可遵循本发明的宗旨而酌情进行变更。在上述实施例中，设定的是ESI电压固定而仅APCI电压不同的多个电离条件，但也可设定ESI电压和APCI电压两方各不相同的多个电离条件，或者设定仅ESI电压不同的多个电离条件。
在上述实施例中，以具有串联四极杆构成的质谱分析装置为例进行了列举，但并不限于四极杆质谱分析装置，可使用飞行时间质谱分析装置等。此外，在上述实施例中，对MS或MS/MS中的测定的一例进行了说明，但也可在其他测定方法(SIM测定等)、配备有离子阱的质谱分析装置中的MSn分析中加以使用。
符号说明
1 液相色谱部
10 流动相容器
11 泵
12 注射器
13 色谱柱
2 质谱分析部
20 电离室
201 ESI探针
202 电晕针
203 加热毛细管
21 第1中间真空室
211 离子导向器
212 锥孔体
22 第2中间真空室
221 离子导向器
23 分析室
231 前级四极杆滤质器
232 碰撞池
233 离子导向器
234 后级四极杆滤质器
235 离子检测器
24 电源部
4 数据处理部
41 存储部
42 电离条件设定部
43质谱分析执行部
44 质谱分析结果选出部
45 电离条件确定部
46 质谱分析结果显示部
5 控制部
6 输入部
7 显示部。

Claims (7)

1.一种质谱分析装置，其特征在于，包括：
a)电离源，其具有被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针、配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针、对所述ESI探针供给ESI电压的ESI电压供给部、以及对所述电晕针供给APCI电压的APCI电压供给部；
b)电离条件存储部，其存储由分析人员设定的、与所述液体试样有关的所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件；
c)质谱分析执行部，其反复使用所述多个电离条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析；以及
d)质谱分析结果选出部，其从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析的结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。
2.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，
所述质谱分析结果选出部选出离子的检测强度为最大的质谱分析结果。
3.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，
所述质谱分析结果选出部选出离子的检测强度与噪声强度的比为最大的质谱分析结果。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的质谱分析装置，其特征在于，包括：
e)电离条件确定部，所述电离条件确定部针对所述一种至多种成分中的每一成分而将与所述所选出的质谱分析结果相对应的电离条件确定为最佳电离条件。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的质谱分析装置，其特征在于，包括：
f)显示部；以及
g)质谱分析结果显示部，其将由所述质谱分析结果选出部选出的质谱分析结果显示在所述显示部上。
6.根据权利要求4所述的质谱分析装置，其特征在于，包括：
f)显示部；以及
g)质谱分析结果显示部，其将由所述质谱分析结果选出部选出的质谱分析结果显示在所述显示部上。
7.一种质谱分析方法，其使用配备有电离源的质谱分析装置，对利用该电离源而生成的离子进行质谱分析，所述电离源具有：ESI源，其对被导入含有一种至多种成分的液体试样的ESI探针施加ESI电压而将该液体试样电离；以及APCI源，其对配置在所述ESI探针的出口附近的电晕针施加APCI电压而将从所述ESI探针中喷出的所述液体试样电离，该质谱分析方法的特征在于，
a)让分析人员设定用以将所述液体试样电离的、所述ESI电压的值或者/以及所述APCI电压的值不同的多个电离条件，
b)反复使用所述多个电离条件来对由所述液体试样生成的离子进行质谱分析，
c)从所述多个电离条件中的每一条件下所获得的质谱分析结果中，针对所述一种至多种成分中的每一成分而选出以适于分析的强度检测到离子的质谱分析结果。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10473634B2 (en) * 2014-06-12 2019-11-12 Shimadzu Corporation Data processing device for mass spectrometry and program for said device
WO2017154062A1 (ja) * 2016-03-07 2017-09-14 株式会社島津製作所 ガスクロマトグラフ質量分析装置
WO2019155836A1 (ja) * 2018-02-09 2019-08-15 浜松ホトニクス株式会社 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法
CN112243496A (zh) * 2018-05-31 2021-01-19 株式会社岛津制作所 探针电喷雾离子化质谱分析装置
CN111954917B (zh) 2018-09-11 2023-11-07 株式会社 Lg新能源 接口单元
US20220208539A1 (en) * 2019-04-29 2022-06-30 Ohio State Innovation Foundation Method and apparatus for mass spectrometry
US11942313B2 (en) * 2019-05-08 2024-03-26 Shimadzu Corporation Mass spectrometer and mass spectrometry method
CN110289203B (zh) * 2019-06-03 2021-03-09 清华大学深圳研究生院 一种电晕放电电离源结构及离子迁移谱仪
CN113155944B (zh) * 2020-01-07 2023-07-21 岛津企业管理（中国）有限公司 吡咯里西啶类生物碱的分析方法
JP2022076610A (ja) * 2020-11-10 2022-05-20 株式会社島津製作所 自動試料注入装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1681579A (zh) * 2002-09-18 2005-10-12 安捷伦科技有限公司 多模式电离源

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4977320A (en) * 1990-01-22 1990-12-11 The Rockefeller University Electrospray ionization mass spectrometer with new features
US6649907B2 (en) 2001-03-08 2003-11-18 Wisconsin Alumni Research Foundation Charge reduction electrospray ionization ion source
JP4080893B2 (ja) * 2001-05-24 2008-04-23 ニューオブジェクティブ，インク． エレクトロスプレーをフィードバック制御するための方法と装置
JP4556645B2 (ja) * 2004-12-02 2010-10-06 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP4752676B2 (ja) * 2006-08-24 2011-08-17 株式会社島津製作所 質量分析装置
GB2456131B (en) * 2007-12-27 2010-04-28 Thermo Fisher Scient Sample excitation apparatus and method for spectroscopic analysis
JP5206005B2 (ja) * 2008-02-15 2013-06-12 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP2011210714A (ja) * 2010-03-12 2011-10-20 Nissin Electric Co Ltd プラズマ電位計測方法、プラズマ電位計測装置及びプラズマ処理装置並びに記録媒体及びプログラム
CN104641450B (zh) * 2012-09-20 2016-10-19 株式会社岛津制作所 质量分析装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1681579A (zh) * 2002-09-18 2005-10-12 安捷伦科技有限公司 多模式电离源

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