CN105954213A - 一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置，包括：泵浦单元，用于发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；探测单元，用于发射宽谱探测光束，对待测样品被泵浦激发的区域进行照射；分析单元，用于分析待测样品受到泵浦激发前后对宽谱探测光束的吸收光谱和吸光度的变化；其中，所述探测单元包括光强或位相调制器，所述分析单元包括滤光片和锁相放大器。
Description
技术领域
本发明涉及检测时间分辨光谱的装置及方法。更具体地，涉及一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置及方法。
背景技术
检测时间分辨瞬态吸收光谱的常见技术为闪光光解(Flash Photolysis)技术，其原理在20世纪50年代已被提出，随着激光的出现和进一步发展，使得探测吸光度信号的强度有了显著提升，并且时间分辨尺度也达到纳秒甚至飞秒量级，由此为研究光化学、光物理等超快过程提供了实验研究方法。当分子受光激发后，电子由基态(稳态)跃迁到激发态(非稳态)，伴随着激发态的衰减，会产生一系列的变化和反应，包括双光子吸收、受激发射、激发态吸收、基态耗尽、三重态间跃迁等，相应的，激光闪光光解仪就是用来捕捉这些过程中瞬态光谱变化的一种检测装置。
利用强脉冲快速入射到待研究样品体系中，在被反应物吸收的瞬间，会引起电子激发及生成其他短寿命自由基，如果自由基的浓度足量，就可以利用光谱技术(吸收光谱)进行测定，从而通过适时跟踪浓度随时间的衰变来研究反应的动力学过程。因此该技术可以用于研究低浓度反应的瞬态中间体，如果中间体具有吸收光谱特征，就可以根据其吸收光谱的特征峰来鉴定中间体的成分。通过研究受激瞬态中间体的时间分辨吸收和发射光谱和相应的动力学信息，能够进一步研究激发态瞬态中间体自身特性以及它们同微环境之间的相互作用，从而为研究材料分子结构的电子转移和能量传递等重要微观过程提供时间分辨的瞬态光谱实验数据。当前诸如激光闪光光解仪类的检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置已成为定性或定量研究光化学反应过程中分子激发态和瞬态反应中间体的强有力工具之一，并被广泛应用于诸多交叉领域，比如：有机化学、无机化学和生物学中的中间体研究；光致变色和光敏材料的研究；光聚合的研究；大气污染的研究；光治疗的研究等。
在原理上，此类装置通过脉冲激光激发样品，在另一方向利用探测器观测样品受激后随时间变化过程中产生的瞬态中间体对探测光的吸收或者本身发射光谱的变化情况。此类装置原则上可分为泵浦和探测两部分：泵浦光部分的作用是通过强脉冲(一般为纳秒量级的高能量脉冲激光)使处于基态的样品受激激发，从而提供大量的瞬态中间体(激发态原子/分子)作为研究受体；探测光部分与吸收谱仪类似，主要是使探测光经过受激样品，同时保证泵浦脉冲光与探测光在样品区域交叠，经过样品后的探测光可由单色仪被点探测器(示波器)接收从而实现对于特定波长的动力学分析；或者经由光谱仪被阵列探测器(CCD)接收从而用于特定时间的谱分析研究。从本质上讲，探测光对于样品受激前后透过率即光学密度(吸光度)的差异反映了受激瞬态的特性，换言之，通过比较样品受激前后对探测光吸收率(光学密度)的改变即可推断激发态的性质。
然而待测样品(尤其是近年来研究的纳米薄膜固体材料)的瞬态吸收光谱信号通常很微弱，并且非常容易淹没在高能量泵浦光或探测光的散射背景中，这样使得对诸如钙钛矿太阳能电池中电子转移和能量传递过程的研究十分困难，无法从收集的瞬态吸光度信号中分离出有效的相关信息。另外，复杂的溶液环境也会产生相当多的散射光信号，这对分离有效的瞬态中间体的时间分辨吸收光谱也会产生严重的干扰。利用现有商用的诸如激光闪光光解仪之类的检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置，当吸光度较弱时，对于在强的散射光背景中提取有效光谱信息的能力有限，无法在频域上进一步抑制背景噪声。
综上所述，目前在时间分辨瞬态吸收光谱检测领域中广泛使用的诸如激光闪光光解仪之类的装置，对具有微弱吸光度的瞬态吸收光谱信号的检测能力有限，无法从强的散射光背景中有效提取信号，在频域进一步抑制噪声。
因此为了更加直观、有效地探测具有微弱吸光度样品的时间分辨瞬态吸收光谱信息，有必要设计、发展一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置及方法，以解决现有装置和方法无法进行微弱时间分辨瞬态吸收光谱表征的技术瓶颈。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置，用于解决现有设备中无法获取具有微弱吸光度的瞬态吸收光谱信号，即在强的散射光背景中有效提取瞬态吸收光谱信号，在频域进一步抑制噪声的技术问题。
为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：
一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置，包括：
泵浦单元，用于发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；
探测单元，用于发射宽谱探测光束，对待测样品被泵浦激发的区域进行照射；
分析单元，用于分析待测样品受到泵浦激发前后对宽谱探测光束的吸收光谱和吸光度的变化；
其特征在于，所述探测单元包括调制器，所述分析单元包括滤光片和锁相放大器；其中，所述调制器对所述宽谱探测光束进行频域调制，得到宽谱调制探测光束，所述滤光片接收经待测样品的宽谱调制探测光束，用于抑制所述泵浦单元中脉冲激光产生的散射光，所述锁相放大器接收经所述滤光片的探测光束，并根据所述调制器的频域调制频率提取相应吸光度信号并将其放大。
优选的，所述泵浦单元进一步包括：
高能量脉冲激光源，用于产生脉冲激光；
倍频放大器，其接收所述脉冲激光；
反射镜，其接收经倍频放大器的脉冲激光；
遮光器，其控制经所述反射镜的脉冲激光的通过，避免待测样品长时间受到所述泵浦单元中的脉冲激光照射而损坏；
其中，脉冲激光通过所述遮光器后对待测样品泵浦激发。
优选的，所述探测单元进一步包括：
探测光源，用于产生宽谱探测光束；
限光光阑，其接收所述宽谱探测光束并调节所述宽谱探测光束光斑直径；
会聚透镜，其聚焦经所述限光光阑的宽谱探测光束；
遮光器，其控制经所述会聚透镜聚焦的宽谱探测光束的通过，避免待测样品长时间受到探测光束照射而损坏；
其中，所述调制器接收通过所述遮光器的宽谱探测光束，最终实现对待测样品被泵浦激发的区域的照射。
优选的，所述分析单元进一步包括：
会聚透镜，其收集经所述滤光片的宽谱调制探测光束；
遮光器，其控制经所述会聚透镜的宽谱调制探测光束的通过；
单色仪，其接收通过所述遮光器的宽谱调制探测光束，用于根据波长筛选所述宽谱调制探测光束，得到调制探测光束；
光电探测器，其接收经所述单色仪筛选后的调制探测光束，并对其进行光电转换，其中，所述锁相放大器接收所述光电探测器处理后的信号；
数字示波器，其接收所述锁相放大器处理后的信号；
计算机，其接收所述数字示波器信号，用于数据采集和分析；
其中，所述遮光器用于保护所述光电探测器。
优选的，所述滤光片为带通滤光片或高通滤光片。
优选的，所述调制器为光强调制器或位相调制器。
优选的，所述泵浦激光和所述宽谱探测光束正交。
本发明的另一个目的在于提供一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的方法。
为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：
一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的方法，包括以下步骤：
S1、泵浦单元发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；
S2、探测单元发射宽谱探测光束，其经光强或位相频域调制后对待测样品泵浦激发区照射；
其中，所述宽谱探测光束经光强或位相频域调制后得到宽谱调制探测光束；
S3、分析单元接收经待测样品的宽谱调制探测光束，对其滤光和锁相放大处理后进行分析；
其中，锁相放大处理的参考频率为所述光强或位相频域调制频率。
优选的，所述步骤S2进一步包括以下子步骤：
S2.1、探测光源产生宽谱探测光束；
S2.2、限光光阑调节所述宽谱探测光束的光斑直径；
S2.3、会聚透镜聚焦所述宽谱探测光束；
S2.4、调制器对所述宽谱探测光束进行光强或位相的频域调制，最终实现对待测样品泵浦激发区的照射。
优选的，步骤S3进一步包括以下子步骤：
S3.1、单色仪根据波长筛选经过待测样品的宽谱调制探测光束，得到调制探测光束；
S3.2、光电探测器将筛选出的调制探测光束转化为电信号；
S3.3、锁相放大器根据所述频域调制的调制频率提取所述电信号中吸光度信号并进行放大；
S3.4、数字示波器和计算机分析所述吸光度信号。
本发明的有益效果如下：
1.实现了对于宽谱探测光束的光强或位相频域调制，将连续宽谱探测光束转变为具有特定调制频率的宽谱调制探测光束；结合锁相放大技术，提取调制频率处有效吸光度信号，抑制非调制频率处的噪声，从而降低背景散射光信号，实现对微弱瞬态吸收光谱信号的放大检测。
2.通过滤光片的引入，实现了对于散射光信号强度的抑制，有利于进一步提高检测信噪比。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1示出一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置原理图。
图2示出一种检测有机共轭体系化合物溶液样品的时间分辨瞬态吸收光谱的装置结构图。
图3示出一种检测固体样品的时间分辨瞬态吸收光谱的装置结构图。
图4示出一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的方法流程图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。
在一个实施例中，如图1所示，一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置，包括：
泵浦单元，用于发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；
探测单元，用于发射宽谱探测光束，对待测样品被泵浦激发的区域进行照射；
分析单元，用于分析待测样品受到泵浦激发前后对宽谱探测光束吸光度和吸收光谱的变化，从而得到时间分辨瞬态吸收光谱；
其中，所述脉冲激光和宽谱探测光束在待测样品中交叠，以保证宽谱探测光束对待测样品泵浦激发区进行照射；所述探测单元包括光强调制器或位相调制器，用于对探测光束的光强或位相进行频率调制，得到宽谱调制探测光束；所述接收分析单元包括滤光片和锁相放大器，其中，所述滤光片用于抑制所述泵浦单元中脉冲激光产生的散射光；所述锁相放大器接收经所述滤光片的探测光束，以所述调制器的频域调制频率作为参考输入频率，提取所述特定调制频率处的吸光度信号。
需要进一步说明的是，在待测样品为液体时，所述装置采用脉冲激光和宽谱探测光束正交的方式完成测量，采用正交方式的优点如下：
·易于脉冲激光和宽谱探测光束在待测液体中的交叠；
·易于设备的安装和操作；
·减少散射光的干扰，增加测量结果准确性。
此外，在待测样品为固体时，采用宽谱探测光束的反射光路设计。
在又一个实施例中，如图2所示，一种检测有机共轭体系化合物溶液样品的时间分辨瞬态吸收光谱装置，采用宽谱探测光束和脉冲激光正交的测量方式，其包括：
泵浦单元，其中：
纳秒固态激光泵浦源201作为高能量脉冲激光源，用于发射脉冲激光，其功率为450mJ，脉冲激光波长为1064nm；
所述倍频放大器202接收该脉冲激光，并用于实现纳秒固态激光泵浦源201的二倍频532nm(200mJ)或三倍频355nm(100mJ)的输出；
所述泵浦激光经过倍频放大器202后再依次经过反射镜203和遮光器204，最终到达待测有机共轭体系化合物溶液样品210，对其泵浦激发以产生足量的瞬态中间体或自由基，所述反射镜203用于对泵浦激光整形校准，所述遮光器204用于防止泵浦脉冲激光对待测有机共轭体系化合物溶液样品210长时间辐照而导致变性；
探测单元，其中：
450W高功率氙灯205作为探测光源，以产生宽谱探测光束，其光谱范围为200-900nm；
宽谱探测光束首先依次经过限光光阑206和会聚透镜207进行光束准直，其中，限光光阑206调整所述宽谱探测光束的光斑直径，会聚透镜207再将其聚焦处理；
遮光器208控制经所述限光光阑206和会聚透镜207的宽谱探测光束的通过，以防止待测样品长时间受探测光束辐照而变性；
调制器209接收通过所述遮光器208的宽谱探测光束，所述调制器可以为光强调制器(4102NF，Newport)或位相调制器(4002，Newport或PEM100，Hinds Instruments)，以实现对宽谱探测光束的光强或位相的频域调制，得到宽谱调制探测光束，最终该宽谱调制探测光束到达待测有机共轭体系化合物溶液样品210，对其被泵浦激发的区域照射；
分析单元，其中：
宽谱调制探测光束通过有机共轭体系化合物溶液样品210后，经过滤光片211，去除泵浦激光的散射光，避免对测量结果的影响，所述滤光片211截止波长需要同泵浦激光的波长相吻合，可以为高通滤光片或带通滤光片；
所述宽谱调制探测光束通过滤光片211后依次经过会聚透镜212和遮光器213；会聚透镜212用于收集宽谱调制探测光束，遮光器213用于保护其后设置的部件，如光电探测器等；
所述宽谱调制探测光束再经过单色仪214；单色仪214用于按波长筛选所述宽谱调制探测光，得到单一波长的调制探测光束，其也可用光谱仪代替，通过单色仪对不同波长的扫描，重构出吸收光谱，从而测量待测有机共轭体系化合物溶液样品210受到泵浦激发前后对宽谱探测光束吸收光谱的变化。
所述光电探测器215接受经所述单色仪214的单一波长的调制探测光束，其具体为光电倍增管PMT，用于将光信号转化为电信号。
上述电信号依次经过锁相放大器216(SR830,Stanford Research Systems)、示波器217和计算机218；锁相放大器216用于提取调制器209的频域调制频率处吸光度信号并将其进一步放大；数字示波器217对吸光度信号进行时间量化，其最终输出由计算机218进行数据采集和分析，从而实现对待测有机共轭体系化合物溶液样品210进行时间分辨瞬态吸收光谱的测量。
需要指出的是，其中区别于常规测量时间分辨瞬态吸收光谱装置的结构设计是探测单元中的调制器209、分析单元中的滤光片211和配合所述调制器209的锁相放大器216。
简述之，对于待测有机共轭体系化合物溶液样品210采用泵浦激光和探测光束相互垂直的正交光路，在泵浦激光的作用下，使其原子/分子由单重基态跃迁到单重激发态，然后实时监测通过待测有机共轭体系化合物溶液样品210的宽谱调制探测光束。最终处理的信号包括：宽谱调制探测光束在待测有机共轭体系化合物溶液样品210受到泵浦光激发前后指定波长处随时间变化的吸光度(光学密度)动力学信息和瞬态光谱信息，在指定探测波长处对光学密度动力学曲线的e指数拟合，并由此得到时间分辨瞬态吸收光谱。
在又一个实施例中，如图3所示，一种检测固体样品的时间分辨瞬态吸收光谱的装置。由于固体样品310对于光的透过率较小，所以一般采用探测光束的反射光路设计，除此之外，所述的检测固体样品310的时间分辨瞬态吸收光谱的装置中各具体元件以及光路的设置与上一实施例中相同。本领域的技术人员应当理解，该装置能够探测固体薄膜材料(如钙钛矿薄膜材料)的时间分辨瞬态吸收光谱。
在另一个实施例中，如图4所示，一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的方法，包括如下步骤：
S1、泵浦单元发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；
S2、探测单元发射宽谱探测光束，其经光强或位相频域调制后对待测样品泵浦激发区照射；
其中，所述宽谱探测光束经光强或位相频域调制后得到宽谱调制探测光束；
S3、分析单元接收经待测样品的宽谱调制探测光束，对其滤光和锁相放大处理后进行分析；
其中，锁相放大处理的参考频率为所述光强或位相频域调制频率。
显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上，本发明还可以用于检测糖类、蛋白等有机物薄膜样品的瞬态吸收光谱及吸光度(光学密度)动力学信息，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。
Claims (10)
1.一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的装置，包括：
泵浦单元，用于发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；
探测单元，用于发射宽谱探测光束，对待测样品被泵浦激发的区域进行照射；
分析单元，用于分析待测样品受到泵浦激发前后对宽谱探测光束的吸收光谱和吸光度的变化；
其特征在于，所述探测单元包括调制器，所述分析单元包括滤光片和锁相放大器；其中，所述调制器对所述宽谱探测光束进行频域调制，得到宽谱调制探测光束，所述滤光片接收经待测样品的宽谱调制探测光束，用于抑制所述泵浦单元中脉冲激光产生的散射光，所述锁相放大器接收经所述滤光片的探测光束，并根据所述调制器的频域调制频率提取相应吸光度信号并将其放大。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述泵浦单元进一步包括：
高能量脉冲激光源，用于产生脉冲激光；
倍频放大器，其接收所述脉冲激光；
反射镜，其接收经倍频放大器的脉冲激光；
遮光器，其控制经所述反射镜的脉冲激光的通过，避免待测样品长时间受到所述泵浦单元中的脉冲激光照射而损坏；
其中，脉冲激光通过所述遮光器后对待测样品泵浦激发。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探测单元进一步包括：
探测光源，用于产生宽谱探测光束；
限光光阑，其接收所述宽谱探测光束并调节所述宽谱探测光束光斑直径；
会聚透镜，其聚焦经所述限光光阑的宽谱探测光束；
遮光器，其控制经所述会聚透镜聚焦的宽谱探测光束的通过，避免待测样品长时间受到探测光束照射而损坏；
其中，所述调制器接收通过所述遮光器的宽谱探测光束，最终实现对待测样品被泵浦激发的区域的照射。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述分析单元进一步包括：
会聚透镜，其收集经所述滤光片的宽谱调制探测光束；
遮光器，其控制经所述会聚透镜的宽谱调制探测光束的通过；
单色仪，其接收通过所述遮光器的宽谱调制探测光束，用于根据波长筛选所述宽谱调制探测光束，得到调制探测光束；
光电探测器，其接收经所述单色仪筛选后的调制探测光束，并对其进行光电转换，其中，所述锁相放大器接收所述光电探测器处理后的信号；
数字示波器，其接收所述锁相放大器处理后的信号；
计算机，其接收所述数字示波器信号，用于数据采集和分析；
其中，所述遮光器用于保护所述光电探测器。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滤光片为带通滤光片或高通滤光片。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述调制器为光强调制器或位相调制器。
7.根据权利要求1-6中任意一项所述的装置，其特征在于，所述泵浦激光和所述宽谱探测光束正交。
8.一种检测时间分辨瞬态吸收光谱的方法，其特征在于包括以下步骤：
S1、泵浦单元发射脉冲激光，对待测样品泵浦激发；
S2、探测单元发射宽谱探测光束，其经光强或位相频域调制后对待测样品泵浦激发区照射；
其中，所述宽谱探测光束经光强或位相频域调制后得到宽谱调制探测光束；
S3、分析单元接收经待测样品的宽谱调制探测光束，对其滤光和锁相放大处理后进行分析；
其中，锁相放大处理的参考频率为所述光强或位相频域调制频率。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述步骤S2进一步包括以下子步骤：
S2.1、探测光源产生宽谱探测光束；
S2.2、限光光阑调节所述宽谱探测光束的光斑直径；
S2.3、会聚透镜聚焦所述宽谱探测光束；
S2.4、调制器对所述宽谱探测光束进行光强或位相的频域调制，最终实现对待测样品泵浦激发区的照射。
10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，步骤S3进一步包括以下子步骤：
S3.1、单色仪根据波长筛选经过待测样品的宽谱调制探测光束，得到调制探测光束；
S3.2、光电探测器将筛选出的调制探测光束转化为电信号；
S3.3、锁相放大器根据所述频域调制的调制频率提取所述电信号中吸光度信号并进行放大；
S3.4、数字示波器和计算机分析所述吸光度信号。
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