CN105938048A - 一种高低温按键寿命测试装置及测试方法 - Google Patents

一种高低温按键寿命测试装置及测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种高低温按键寿命测试装置及测试方法，包括高低温试验箱(1)，其特征在于：所述高低温试验箱(1)内设有可摆动敲击待测按键(6)的测试杆(3)，在所述高低温试验箱(1)外部设有可驱动所述测试杆(3)转动的驱动装置。此高低温按键寿命测试装置及测试方法，高效的实现了在不打开箱门的前提下完成高低温环境下的按键寿命测试，结构简单，适用范围广，操作方便快捷。

Description

一种高低温按键寿命测试装置及测试方法
技术领域
本发明属于汽车领域，更具体地说，涉及一种高低温按键寿命测试装置及测试方法。
背景技术
在高低温下做按键的寿命试验，高低温环境是通过高低温箱来实现的，整个实验过程中高低温箱不能开箱门，而市场上的寿命测试机大都无法在高低温箱内工作，因为高低温(如低温负45度高温60度等)会使寿命测试机的电机工作异常，螺纹热胀冷缩发生形变等，影响测试过程。现有的按键寿命测试装置结构复杂，按键行程小，使用局限性大。
发明内容
本发明的目的是解决现有技术存在的问题，提供一种结构简单，适用范围广，操作方便快捷的高低温按键寿命测试装置及测试方法。
为了实现上述目的，本发明采取的技术方案为：所提供的这种高低温按键寿命测试装置，包括高低温试验箱，所述高低温试验箱内设有可摆动敲击待测按键的测试杆，在所述高低温试验箱外部设有可驱动所述测试杆转动的驱动装置。
为使上述技术方案更加详尽和具体，本发明还提供以下更进一步的优选技术方案，以获得满意的实用效果：
所述驱动装置包括水平布置的移动滑轨及可沿所述移动滑轨移动的移动滑杆，所述移动滑杆连接推动杆，所述测试杆通过连动杆连接所述推动杆，以通过所述推动杆运动带动所述测试杆来回摆动。
所述移动滑杆的上设有速度传感器，所述速度传感器输出信号至控制器，通过所述控制器控制所述移动滑杆移动方向及移动频率。
所述推动杆为Z字形结构，包括第一横推杆、纵推杆及第二横推杆，且第一横推杆与所述移动滑杆连接的一端置于外部，另一端穿过设在所述高低温试验箱壁面上的通孔至箱体内，所述纵推杆及第二横推杆置于所述箱体内。
所述测试杆为弧形结构，中部设有转轴，所述测试杆的一端连接有与按键相对应的敲击锤。
所述连动杆包括成角度连接的连杆及压块，所述连杆端连接在所述第二横推杆上，所述第二横推杆通过连杆带动所述压块压接在与所述敲击锤相对的一端。
高低温按键寿命测试装置的测试方法，包括如下步骤：
1)布置好测试装置及待测按键；
2)设定高低温试验箱内的测试温度；
3)设置移动平台控制器，调试好二维移动平台移动滑杆沿着移动滑轨来回运动的时间以及次数；
4)启动控制器，在高温或者低温测试按键的使用寿命。
本发明与现有技术相比，具有以下优点：该高低温按键寿命测试装置及测试方法避免了凸轮行程小的限制，高效的实现了在不打开箱门的前提下完成高低温环境下的按键寿命测试，结构简单，适用范围广，操作方便快捷。
附图说明
下面对本说明书的附图所表达的内容及图中的标记作简要说明：
图1为本发明结构示意图；
图中标记为：1、高低温试验箱，2、推动杆，21、第一横推杆，22、纵推杆，23、第二横推杆，3、测试杆，4、连动杆，5、敲击锤，6、按键，7、移动滑杆，8、移动滑轨，9、控制器。
具体实施方式
下面对照附图，通过对实施例的描述，对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
本发明高低温按键寿命测试装置，如图1所示，包括高低温试验箱1，高低温试验箱1内设有可摆动以敲击待测按键6的测试杆3，在高低温试验箱1外部设有可驱动测试杆3转动的驱动装置。
如图1所示，本发明中的驱动装置包括水平布置的移动滑轨8及可沿移动滑轨8移动的移动滑杆7，相当于一个二维平台，即移动滑杆7位于Y轴方向沿着移动滑轨8的X轴朝向或是背离高低温箱方向运动。移动滑杆7连接推动杆2，测试杆3通过连动杆4连接推动杆2，以通过推动杆2运动带动测试杆3来回摆动，从而实现对待测按键6的按压及松开。
本发明中，通过控制器9来调控移动滑杆7的移动频率和速度，在移动滑杆7的上设有速度传感器，速度传感器输出信号至控制器9，通过控制器9控制移动滑杆7移动方向及移动频率。以便于实现在相应温度下，通过模拟按键6使用频率，以测试按键的使用寿命。
如图1中所示，推动杆2为Z字形结构，包括第一横推杆21、纵推杆22及第二横推杆23，且第一横推杆21与移动滑杆7连接的一端置于外部，另一端穿过设在高低温试验箱1壁面上的通孔至箱体内，纵推杆22及第二横推杆23置于箱体内。
本发明中，测试杆3为弧形结构，中部设有转轴，测试杆3的一端连接有与按键2相对应的敲击锤5。敲击锤5在自然状态下将按键6按压，当敲击锤5抬起时，按键自然回位，即按键6按下去闭合，松开，会自动弹上来，断开。转轴固定高低温试验箱1中的水平支架上，测试杆3两端可绕转轴转动。
连动杆4包括成角度连接的连杆及压块，连杆端连接在第二横推杆23上，第二横推杆23通过连杆带动压块压接在与敲击锤5相对的一端。
作业过程中，推动杆2朝向高低温试验箱1方向运动，通过连动杆4挤压测试杆3，致使测试杆3与按键6接触一端的敲击锤5抬起，离开待测按键6；推动杆2朝向远离高低温试验箱1方向快速运动，连动杆4的连杆带动压块释放对测试杆3一端的挤压，测试杆3设有敲击锤5的一端较重，在重力作用下绕转轴转动，致使测试杆3的敲击锤5重重的砸在待测的按键6上，使按键闭合。然后再次朝向高低温试验箱1方向运动，推动杆2挤压着测试杆3运行，致使敲击锤5端抬起，离开待测按键，使按键断开。如此周而复始，完成设定次数的按键寿命测试。
高低温按键寿命测试装置的测试方法，包括如下步骤：
1)布置好测试装置及待测按键；
2)设定高低温试验箱1内的测试温度；
3)设置移动平台控制器，调试好二维移动平台移动滑杆7沿着移动滑轨8来回运动的时间以及次数；
4)启动控制器，完成设定次数的测试，在高温或者低温测试按键的使用寿命。
实施例：布置好测试装置及待测按键；设定高低温试验箱(1)内的测试温度-45℃；设置移动平台控制器，调试好二维移动平台移动滑杆7沿着移动滑轨8来回运动的时间以及次数；启动控制器，在高温或者低温测试按键的使用寿命，该装置会每3S完成一次按键按下和松开的实验，直到完成第1000次，停止实验，检测按键的状况。
如图1所示，本发明给出的一种实施方式为，可以同时完成两个按键的寿命测试，但是本发明并不局限于两个同时做，可以通过增减测试杆3个数，同时完成更多或者更少的按键测试。
本发明中，大部分电器设备都无法在高低温箱内(如低温负45度高温60度等)工作，采用本发明将易受高低温影响的电器部分和结构部分放在高低温箱的外部，而基本不受温度影响的部分设计在高低箱内的思路，可以完成许多能够在高低温箱内工作的电器的开发。本发明高低温按键寿命测试装置及测试方法，避免了凸轮行程小的限制，高效的实现了在不打开箱门的前提下完成高低温环境下的按键寿命测试，结构简单，适用范围广，操作方便快捷。
上面结合附图对本发明进行了示例性描述，但是本发明并不受限于上述方式，只要采用本发明的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进或直接应用于其它场合的，均落在本发明的保护范围内。

Claims (7)

1.一种高低温按键寿命测试装置，包括高低温试验箱(1)，其特征在于：所述高低温试验箱(1)内设有可摆动敲击待测按键(6)的测试杆(3)，在所述高低温试验箱(1)外部设有可驱动所述测试杆(3)转动的驱动装置。
2.按照权利要求1所述的高低温按键寿命测试装置，其特征在于：所述驱动装置包括水平布置的移动滑轨(8)及可沿所述移动滑轨(8)移动的移动滑杆(7)，所述移动滑杆(7)连接推动杆(2)，所述测试杆(3)通过连动杆(4)连接所述推动杆(2)，以通过所述推动杆(2)运动带动所述测试杆(3)来回摆动。
3.按照权利要求2所述的高低温按键寿命测试装置，其特征在于：所述移动滑杆(7)的上设有速度传感器，所述速度传感器输出信号至控制器(9)，通过所述控制器(9)控制所述移动滑杆(7)移动方向及移动频率。
4.按照权利要求2所述的高低温按键寿命测试装置，其特征在于：所述推动杆(2)为Z字形结构，包括第一横推杆(21)、纵推杆(22)及第二横推杆(23)，且第一横推杆(21)与所述移动滑杆(7)连接的一端置于外部，另一端穿过设在所述高低温试验箱(1)壁面上的通孔至箱体内，所述纵推杆(22)及第二横推杆(23)置于所述箱体内。
5.按照权利要求1至4任一项所述的高低温按键寿命测试装置，其特征在于：所述测试杆(3)为弧形结构，中部设有转轴，所述测试杆(3)的一端连接有与按键(2)相对应的敲击锤(5)。
6.按照权利要求5所述的高低温按键寿命测试装置，其特征在于：所述连动杆(4)包括成角度连接的连杆及压块，所述连杆端连接在所述第二横推杆(23)上，所述第二横推杆(23)通过连杆带动所述压块压接在与所述敲击锤(5)相对的一端。
7.按照权利要求1至6任一项所述的高低温按键寿命测试装置的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
1)布置好测试装置及待测按键；
2)设定高低温试验箱(1)内的测试温度；
3)设置移动平台控制器，调试好二维移动平台移动滑杆(7)沿着移动滑轨(8)来回运动的时间以及次数；
4)启动控制器，在高温或者低温测试按键的使用寿命。
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