CN105892220B - 广角镜头模组的测试设备及其应用 - Google Patents

Abstract

一广角镜头模组的测试设备及其应用，该设备选取1200x900mm的大均匀光源,适用于94°‑165°范围的模组测试,并且通过反畸变标板,补偿大视场角引起的畸变,对于较大对焦距离的模组,通过增距镜减小实测距离。

Description

广角镜头模组的测试设备及其应用

技术领域

本发明涉及一摄像模组的测试设备，尤其涉及一广角镜头模组的测试设备及其应用。

背景技术

科技的日新月异、各种电子产品的发展，并且随着移动互联网的发展，以及多媒体信息设备的与日俱增，越来越多的产品或设备对于电子和光学性产品以及零件品质规格需求不断的增加，因此对于各种制程的生产效率和品质要求也逐渐增高。特别地是，在各种产品的运用中搭配使用镜头设计的产品也因应各种的需求而产生。因此，对于镜头的开发也是一门重要的课题。基本上对于镜头的使用方式有大概的分类：标准镜头、广角镜头、远程镜头以及鱼眼镜头等。而这些的镜头已经不是单纯搭配相机使用，它们更进一步地，可以被制成各种的模组，以用于其它的相关产品，像是便携式或穿载式的电子产品如手机、医疗电子用品如内窥镜以及工业检测用的产品。

本发明是针对广角镜头模组的制程程序中进行改善。因为随着运动相机、航拍相机等大视场角相机的诞生和推广，广角镜头模组的需求越来越大；然而，常规镜头模组的调焦工艺无法满足广角镜头模组的调焦，因此针对广角镜头模组的制程，需要制定一种新的调焦工艺，以满足其解像力调试及评定。另外，目前广角镜头模组项目使用在暗箱与普通光源环境下检测，出现亮度过曝现象，导致检测图像模糊不良严重，而且检测时的大光源上下升降范围会受限并且只能透过手动加垫高块进行垫高，调节非常不方便，而小均匀光源则不可滑动，需移动检测工装(PCIE)，操作效率低。因此，透过本发明以改善上述问题点。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一广角镜头模组测试设备，其适用于广角镜头模组的检测和调焦的测试，以解决检测时亮度过曝和不均匀等问题和调焦不便利性等问题。换言之，所述广角镜头模组测试设备提供大均匀光源以便检测时避免检测图像模糊不清，以及透过高度调节可适用于各种不同大小视场角的所述广角镜头模组。

本发明的另一目的在于提供一广角镜头模组测试设备，其适用于各种不同视场角的所述广角镜头模组检测和调焦，其中视场角为94°至165°(DFOV)。另外，所述广角镜头模组测试设备亦适用于各种不同AT距离(对焦距离)的所述广角镜头模组检测和调焦。

本发明的另一目的在于提供一广角镜头模组测试设备，其提供合适光源以满足了所述广角镜头模组的测试环境。

本发明的另一目的在于提供一广角镜头模组测试设备，其定制反畸变标版，以解决所述广角镜头模组在测试解像力时大畸变引起的常规CTF标版四角解像力无法测试问题。

本发明的另一目的在于提供一广角镜头模组测试设备，其对于AT距离较大的所述广角镜头模组，定制专用增距镜，以缩短实际测试距离，实现了所述广角镜头模组的调焦。

本发明的另一目的在于提供一广角镜头模组测试设备，其能够适合于不同光如可见光或红外光广角镜头模组的测试。

为了达到以上目的，本发明提供一广角镜头模组的测试设备，其包括：

一工作台；

一测试工装，其设置于所述工作台，且待测试的所述广角镜头模组被放置于所述测试工装上；以及

一均匀光源组件，其设置于所述工作台上并位于所述测试工装上方，以提供均匀光源。

在一些实施例中，其还包括一机架，用于支撑所述工作台，所述机架包括一机架本体，和分别设置于机架本体下方的一移动单元和一调整单元，以便于移动和调节所述广角镜头模组测试设备的水平度。

在一些实施例中，其还包括一污坏点测试工装，其可移动地设置于所述工作台上并位于所述测试工装上方。

在一些实施例中，其包括一控制箱，其被放置于所述机架上或所述工作台上，以用于控制所述广角镜头模组的测试设备。

在一些实施例中，其包括设置于所述均匀光源组件上的一防护罩。

在一些实施例中，其包括被整平放置于所述均匀光源组件下方的一反畸变标版。

在一些实施例中，其包括架设于所述广角镜头模组上方的一增距镜。

在一些实施例中，其所述工作台包括一台面本体和设置于所述台面本体上的一滑轨，其中所述污坏点测试工装透过所述滑轨与所述测试工装相连。

在一些实施例中，其所述测试工装包括一出图工装，一第一滑块以及一第二滑块，其中所述出图工装位于所述第一滑块和所述第二滑块之间，这样当所述广角镜头模组被设置于所述出图工装上时，通过调节所述第一滑块的相对位置，以满足不同长度的所述广角镜头模组的固定需求，通过调节所述第二滑块的相对位置，以调整所述广角镜头模组中心与所述污坏点测试工装的相对位置和调整所述广角镜头模组的镜片中心与所述增距镜中心使保持一致。

在一些实施例中，其所述污坏点测试工装包括一光源装置以提供一污坏点测试均匀光源，装置于所述光源装置上的一轴承，安装于所述轴承上的一丝杆螺母，连接于所述丝杆螺母的一丝杆，锁固于所述工作台的一固定板，分别锁固于所述固定板上的三固定块，位于所述光源装置和所述固定块之间的两导柱，分别装置于所述两导柱上的两滚珠导套，以及位于所述光源装置上的一定位板，这样所述广角镜头模组在进行检测时，所述污坏点测试工装根据需求进行与所述广角镜头模组的相对高度调整。

在一些实施例中，其所述均匀光源组件包括一电机，二电机同步轮，一电机同步带，二滚珠丝杆，三丝杆同步轮，一丝杆同步带，一涨紧轮，一均匀光源装置，以及四导向轴，其中所述二电机同步轮分别被安装于所述电机和所述二滚珠丝杆其一的底端，所述二电机同步轮通过所述电机同步带相连，所述三丝杆同步轮和所述涨紧轮通过所述丝杆同步带相连，所述均匀光源装置于所述滚珠丝杆，并由所述四导向轴协同支撑，这样当所述电机带动所述二滚珠丝杆转动时，通过控制所述电机的正反转实现所述均匀光源装置的升降。

在一些实施例中，其所述均匀光源装置提供1200x900mm的大均匀光源。

在一些实施例中，其所述广角镜头模组视场角为94°-165°。

为了达到以上目的，本发明还提供一广角镜头模组调焦测试方法，包括如下步骤：所述广角镜头模组拍摄一反畸变标版得到至少一测试图像并基于所述测试图像进行调焦。

在一些实施例中，所述反畸变标版设置在一大均匀光源下方，其尺寸为1200x900mm。

在一些实施例中，所述广角镜头模组视场角范围是94°-165°。

在一些实施例中，还包括步骤：通过至少一增距镜以缩短实际测试距离。更具体地，可以是对焦距离大于750mm的所述广角镜头模组，则利用定制专用的所述增距镜。

在一些实施例中，还包括步骤：通过至少一电机的正反转，实现组装有所述大均匀光源的光源架的升降。更具体地，所述电机杆通过一同步带带动两侧的至少一丝杆转动，所述丝杆的转动驱动所述光源架的升降。

附图说明

图1是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的透视图。

图2是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一测试工装的透视图。

图3和图4是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一测试工装的部份零件拆解透视图。

图5是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一污坏点测试工装的爆炸视图。

图6是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一测试工装和一污坏点测试工装以及一工作台的相对应关系透视图。

图7是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一均匀光源组件的透视图。

图8是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一反畸变标版的示意图。

图9是根据本发明的一个优选实施例的一广角镜头模组测试设备的一增距镜的示意图，说明一个1.2m的所述广角镜头模组与所述增距镜的架设关系。

具体实施方式

以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。

本领域技术人员应理解的是，在本发明的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本发明的限制。

可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。

如图1至图9所示，是根据本发明的一优选实施例的一广角镜头模组测试设备，以用于对一广角镜头模组100的制程工序中进行调焦和检测。所述广角镜头模组测试设备可提供大均匀光源为1200x900mm，且大面积光源以及所述设备的可调高度适用于视场角94°～165°(DFOV)范围的广角镜头模组。另外，所述广角镜头模组测试设备可以补偿所述广角镜头模组100的大视场角所引起的大畸变，同时亦可适用于AT距离最大的所述广角镜头模组100。可以理解的是，所述广角镜头模组的整个测试过程可以在一暗箱中进行。

根据本发明的实施例，所述广角镜头模组测试设备包括一机架10，一工作台20，一测试工装30，一污坏点测试工装40，一控制箱50，一均匀光源组件60，以及一防护罩70。所述工作台20位于所述机架10上方，由所述机架10所支撑，其中所述工作台20用于置放所述测试工装30和所以污坏点测试工装40，故所述工作台20被制成一平面。所述测试工装30设置于所述工作台20上，其中待测试的所述广角镜头模组100被放置于所述测试工装30上。所述污坏点测试工装40可移动地设置于所述工作台20上并位于所述测试工装30上方。所述控制箱50放置于所述机架10上，亦可置放于所述工作台20上。所述均匀光源组件60设置于所述工作台20上并位于所述测试工装30和所述污坏点测试工装40上方，以提供大均匀光源。所述防护罩70设置于所述均匀光源组件60上。换言之，所述工作台20、所述测试工装30、所述污坏点测试工装40、所述控制箱50、所述均匀光源组件60、以及所述防护罩70全部由所述机架10所支撑。

根据本发明的实施例，所述广角镜头模组测试设备还包括一或多个反畸变标版80和一或多个增距镜90，以用于对所述广角镜头模组进行调焦。也就是说，透过定制所述反畸变标版80，可以解决所述广角镜头模组在测试解像力时大畸变引起的常规CTF标版四角解像力无法测试问题。而利用定制专用的所述增距镜90，可以缩短实际测试距离以实现所述广角镜头模组的调焦。

本领域的技术人员应理解，所述机架10可由各种支撑柱结构、板材、型钢、铝挤型、复合材料以及轻钢架所制成。值得一提的是，所述机架10包括一机架本体，一移动单元和一调整单元，其中所述移动单元和所述调整单元，分别设置于机架本体下方，以便于搬移所述广角镜头模组测试设备并调节所述广角镜头模组测试设备的水平度。

根据本发明的实施例，所述工作台20包括一台面本体21和一滑轨22。所述滑轨22设置于所述台面本体21上并连接于所述控制箱50。另外，所述污坏点测试工装40被设置于所述滑轨22上，这样透过所述滑轨22和所述控制箱50可移动所述污坏点测试工装40。特别地，所述污坏点测试工装40透过所述滑轨22与所述测试工装30相连，这样透过本发明的所述广角镜头模组测试设备可分别进行一广角镜头模组正常测试和一广角镜头模组的污坏点测试。当进行所述广角镜头模组正常测试时，可透过所述滑轨22将所述污坏点测试工装40移开，亦即所述污坏点测试工装40透过所述滑轨22移动并使其不在所述测试工装30上方，故所述污坏点测试工装40不会影响所述广角镜头模组正常测试。另外，当进行所述广角镜头模组的污坏点测试时，可透过所述滑轨22将所述污坏点测试工装40移至所述广角镜头模组正上方，亦即将所述污坏点测试工装40移至所述测试工装上方，以进行所述污坏点测试。

根据本发明的实施例，如图2至图4所示，所述测试工装30包括一出图(PCIE)工装31，一第一滑块32以及一第二滑块33。所述第一滑块32位于所述出图(PCIE)工装31上。所述出图(PCIE)工装31位于所述第二滑块33上。也就是说，所述出图(PCIE)工装31位于所述第一滑块32和所述第二滑块33之间。更进一步地说，所述广角镜头模组设置于所述出图(PCIE)工装31上，通过调节所述第一滑块32的相对位置，以满足不同长度的所述广角镜头模组的固定需求。所述出图(PCIE)工装31固定于所述第二滑块33上，通过调节所述第二滑块33的相对位置，以调整所述广角镜头模组中心与所述污坏点测试工装40的相对位置和调整所述广角镜头模组的镜片中心与所述增距镜90中心使保持一致。另外，如图4所示，所述第二滑块33还包括一前后滑块331和一左右滑块332，其中所述前后滑块331位于所述左右滑块332上，这样所述第二滑块33可以提供X轴和Y轴的方向移动，也就是说，所述出图(PCIE)工装31透过所述第二滑块33可以进行XY轴的调整。

根据本发明的实施例，所述污坏点测试工装40包括一光源装置41，一轴承42，一丝杆螺母43，一丝杆44，一固定板45，三固定块46，两导柱47，两滚珠导套48，以及一定位板49。所述轴承42装置于所述光源装置41上。所述丝杆螺母43安装于所述轴承42上，也就是说所述丝杆螺母43透过所述轴承42安于所述光源装置41上。所述丝杆44被连接于所述丝杆螺母43。所述三固定块46分别锁固于所述固定板45上。所述两滚珠导套48分别装置于所述两导柱47上。所述两导柱47和所述丝杆44分别位于所述三固定块46上。所述两导柱47亦位于所述光源装置41和所述固定块46之间。所述定位板49位于所述光源装置41上，以用于锁固所述两导柱47、所述轴承42、所述丝杆螺母43，以及所述丝杆44。这样通过旋转所述丝杆螺母43可调整所述光源装置41的升降。值得一提的是，所述污坏点测试工装40透过所述固定板45被设置于所述滑轨22上，因此当进行所述污坏点测试时，可透过所述滑轨将所述光源装置41移至所述测试工装30的上方，亦即是所述广角镜头模组的上方，这样所述光源装置41即可提供一小均匀光源以便进行所述广角镜头模组的所述污坏点测试。特别地，所述污坏点测试工装40与所述测试工装30的相对位置，透过所述滑轨22则进行左右移动，透过所述轴承42、所述丝杆螺母43，以及所述丝杆44则进行上下的移动。也就是说，在进行不同所述广角镜头模组的测试时，由于不同的所述广角镜头模组视场角的差异性，所述污坏点测试工装40的所述光源装置41被制成可调升降机构，即将所述轴承42安于所述光源装置41上，并将所述丝杆螺母43安装于所述轴承42上，这样通过旋转所述丝杆螺母43得以实现所述光源装置41的升降。

值得一提的是，所述光源装置41包括一光源架和一光源元件，其中所述光源元件被装置于所述光源架上以用于提供所述小均匀光源。所述光源架还用于安装所述所述丝杆螺母43和所述轴承42。也就是说，所述丝杆螺母43透过所述轴承42安于所述光源装置41的所述光源架上，并且所述丝杆44被连接于所述丝杆螺母43。另外，所述两导柱47分别位于所述光源装置41的光源架和所述固定块46之间以用于支撑所述光源架。所述三固定块46则分别位于所述丝杆44和所述两导柱47的底部，并且所述三固定块46位于所述固定板45上方。也就是说所述三固定块46是位于所述固定板45和所述丝杆44跟所述两导柱47之间。这样的结构，当进行所述污坏点测试可根据所述广角镜头模组的视场角调整相对应光源的距离。换言之，所述污坏点测试工装40是一可调升降机构，以用于配合不同所述广角镜头模组的视场角的差异性进行所述污坏点测试。

根据本发明的实施例，所述均匀光源组件60包括一电机61，二电机同步轮62，一电机同步带63，二滚珠丝杆64，三丝杆同步轮65，一丝杆同步带66，一涨紧轮67，一均匀光源装置68，四导向轴69以及四支撑板。所述均匀光源组件60置于所述工作台20上。所述二电机同步轮62分别被安装于所述电机61和所述二滚珠丝杆64之一。也就是说，二个所述电机同步轮62其一耦合于所述电机61，另一耦合于二个所述滚珠丝杆64中的一个的底端，并且透过所述电机同步带63连接二个所述电机同步轮62。换言之，所述电机61透过所述二电机同步轮62和所述电机同步带63可带动所述滚珠丝杆64转动。所述四导向轴69位于所述工作台20上用于支撑所述均匀光源架68。所述四支撑板其二位于所述滚珠丝杆64底端，另位于所述二滚珠丝杆64的顶端以用于支撑所述二滚珠丝杆64。所述三丝杆同步轮65中的二个分别位于所述二滚珠丝杆64的顶端，更进一步地说，所述丝杆同步轮65中的二个分别位于所述二滚珠丝杆64顶端的所述二支撑板上并安装于所述二滚珠丝杆64上。另外，所述丝杆同步轮65中的第三个则位于所述二滚珠丝杆64顶端的所述支撑板上，亦即有二个所述丝杆同步轮65相同位于所述滚珠丝杆64顶端的二个所述支撑板中的一个，最后一个所述丝杆同步轮65则单独位于所述滚珠丝杆64顶端的二个所述支撑板中的另一个，最后由所述丝杆同步带66连接。换言之，透过所述丝杆同步带66将所述三丝杆同步轮65连接，并且在同一个所述支撑板上的二个所述丝杆同步轮65之间，装置所述涨紧轮67，其用于将所述丝杆同步带66拉紧。所述均匀光源装置68装置于所述滚珠丝杆64，并由所述四导向轴69协同支撑。值得一提的，所述二电机同步轮62通过所述电机同步带63相连，三丝杆同步轮65通过所述丝杆同步带66相连，并且所述二滚珠丝杆64通过所述丝杆同步带66相连，其中所述涨紧轮67亦通过所述丝杆同步带66与所述三丝杆同步轮65相连，这样当所述电机61带动所述二滚珠丝杆64转动时，可通过控制所述电机61的正反转实现所述均匀光源装置68的升降，以此调节所述广角镜头模组的对焦距离。

另外，所述均匀光源装置68包括一均匀光源架和一均匀光源元件。所述均匀光源元件设置于所述均匀光源架上，其中所述均匀光源装置68可提供1200x900mm的大均匀光源，因此当进行所述广角镜头模组正常测试时，将所述广角镜头模组设置于所述测试工装30的所述出图(PCIE)工装31上，由所述均匀光源组件60的所述电机61调整所述均匀光源装置68的高度，以进行所述广角镜头模组的点亮拍摄大均匀光源标版测试，同时亦可满足所述广角镜头模组的对焦距离。值得一提的是，本发明的所述广角镜头模组测试设备的最大对焦距离为750mm。另外，当进行所述广角镜头模组的污坏点测试，所述广角镜头模组亦设置于所述测试工装30的所述出图(PCIE)工装31上，在将所述污坏点测试工装40滑动至所述广角镜头模组上方，以进行所述广角镜头模组的污坏点测试。

根据本发明的实施例，所述广角镜头模组测试设备的所述反畸变标版80，其示例如图8所表示，其从中心往边缘方向地，对应地设置有拉伸畸变图案，而待测试的所述广角镜头模组拍摄以后，能够得到规则的测试图案。由于一图像在透过所述广角镜头模组的所述透镜时，所述图像会产生畸变，为了抵消这个畸变，就需要对所述图像进行拉伸扭曲，正常透过所述透镜后所述图片呈现出的所述图像和使用反畸变后透过所述透镜的图像对比。因此，所述反畸变标版80是根据所述广角镜头模组的畸变和视场角解像力要求以及对焦距离进行制作而产生的。值得一提的，所述反畸变标版80被整平地放置于所述均匀光源组件60之下，也就是说其被放置于大均匀光源下。

根据本发明的实施例。本发明的所述广角镜头模组测试设备的最大对焦距离为750mm。因此，对于对焦距离大于750mm的所述广角镜头模组，则利用定制专用的所述增距镜90，以缩短实际测试距离，实现在所述广角镜头模组测试设备的测试距离范围内调焦。值得一提的是，可由镜头供应商提供专用增距镜图纸以用于制作所述增距镜。

另外，如图9所示，为说明一个1.2m的所述广角镜头模组与所述增距镜的架设。其中所述增距镜90具有一承靠面91和一镜筒接触面92，其分别用于和所述广角镜头模组耦合，并且透过所述增距镜90使得对焦实际拍摄距离缩小至550mm，以实现在所述广角镜头模组测试设备的架设环境下进行调焦。

另外，值得一提的是，本发明还提供一广角镜头模组调焦测试流程，其包括如下步骤：

(S01)一光源选取及架设；

(S02)一反畸变标版80制作；

(S03)一增距镜90使用评估及架设；

(S04)模组出图；以及

(S05)调焦测试。

根据步骤(S01)，透过一广角镜头模组测试设备的一均匀光源组件60选取合适之光源。并且将一广角镜头模组架设于所述广角镜头模组测试设备的一测试工装30上。所述均匀光源组件60位于所述测试工装30的上方，并且所述均匀光源组件60具有一光源升降机构以用于调整所述均匀光源组件60与所述测试工装30的相对位置。

根据步骤(S02)，依据所述广角镜头模组的畸变和视场角解像力要求以及对焦距离进行制作所述反畸变标版80。值得一提的，所述反畸变标版80被整平地放置于所述均匀光源组件60之下。

根据步骤(S03)，本发明的所述广角镜头模组测试设备的最大对焦距离为750mm。因此，在进行调焦测试前需先评估待测试的所述广角镜头模组是否需使用所述增距镜90，若需使用所述增距镜90则将其架设于所述广角镜头模组的上方。

根据步骤(S05)，在所述模组出图，所述反畸变标版80、所述均匀光源组件60的光源、以及所述增距镜90都架设成功之后，可通过一测试软件实现对所述广角镜头模组进行调焦测试。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整并有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本发明的实施方式可以有任何变形或修改。

Claims (19)

1.一广角镜头模组的测试设备，其特征在于，包括：

一工作台；

一测试工装，其设置于所述工作台，且待测试的所述广角镜头模组被放置于所述测试工装上；

一均匀光源组件，其设置于所述工作台上并位于所述测试工装上方，以提供均匀光源；

被整平放置于所述均匀光源组件下方的一反畸变标版；

一污坏点测试工装；以及

架设于所述广角镜头模组上方的一增距镜；

其中所述测试工装包括一出图工装，一第一滑块以及一第二滑块，其中所述第一滑块位于所述出图工装上，其中所述出图工装位于所述第二滑块上，这样当所述广角镜头模组被设置于所述出图工装上时，通过调节所述第一滑块的相对位置，以满足不同长度的所述广角镜头模组的固定需求，通过调节所述第二滑块的相对位置，以调整所述广角镜头模组中心与所述污坏点测试工装的相对位置和调整所述广角镜头模组的镜片中心与所述增距镜中心使保持一致。

2.根据权利要求1所述的广角镜头模组的测试设备，还包括一机架，用于支撑所述工作台，所述机架包括一机架本体，和分别设置于机架本体下方的一移动单元和一调整单元，以便于移动和调节所述广角镜头模组测试设备的水平度。

3.根据权利要求2所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述污坏点测试工装被可移动地设置于所述工作台上并位于所述测试工装上方。

4.根据权利要求2所述的广角镜头模组的测试设备，其中包括一控制箱，其被放置于所述机架上或所述工作台上，以用于控制所述广角镜头模组的测试设备。

5.根据权利要求1所述的广角镜头模组的测试设备，其中包括设置于所述均匀光源组件上的一防护罩。

6.根据权利要求3所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述工作台包括一台面本体和设置于所述台面本体上的一滑轨，其中所述污坏点测试工装透过所述滑轨与所述测试工装相连。

7.根据权利要求3所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述污坏点测试工装包括一光源装置以提供一污坏点测试均匀光源，装置于所述光源装置上的一轴承，安装于所述轴承上的一丝杆螺母，连接于所述丝杆螺母的一丝杆，锁固于所述工作台的一固定板，分别锁固于所述固定板上的三固定块，位于所述光源装置和所述固定块之间的两导柱，分别装置于所述两导柱上的两滚珠导套，以及位于所述光源装置上的一定位板，这样所述广角镜头模组在进行检测时，所述污坏点测试工装根据需求进行与所述广角镜头模组的相对高度调整，其中所述两导柱和所述丝杆分别位于所述三固定块上,其中所述两导柱和所述丝杆位于所述固定块之间。

8.根据权利要求6所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述污坏点测试工装包括一光源装置以提供一污坏点测试均匀光源，装置于所述光源装置上的一轴承，安装于所述轴承上的一丝杆螺母，连接于所述丝杆螺母的一丝杆，锁固于所述工作台的所述滑轨的一固定板，分别锁固于所述固定板上的三固定块，位于所述光源装置和所述固定块之间的两导柱，分别装置于所述两导柱上的两滚珠导套，以及位于所述光源装置上的一定位板，这样所述广角镜头模组在进行检测时，所述污坏点测试工装根据需求进行与所述广角镜头模组的相对高度调整，其中所述两导柱和所述丝杆分别位于所述三固定块上,其中所述两导柱和所述丝杆位于所述固定块之间。

9.根据权利要求1至5中任一所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述均匀光源组件包括一电机，二电机同步轮，一电机同步带，二滚珠丝杆，三丝杆同步轮，一丝杆同步带，一涨紧轮，一均匀光源装置，以及四导向轴，其中二所述电机同步轮分别被安装于所述电机和二所述滚珠丝杆其一的底端，二所述电机同步轮通过所述电机同步带相连，其中所述均匀光源组件还包括四支撑板，其中二所述支撑板位于所述滚珠丝杆底端，其中另二所述支撑板位于二所述滚珠丝杆的顶端，以用于支撑二所述滚珠丝杆，其中所述丝杆同步轮中的二个分别位于二所述滚珠丝杆顶端的二二所述支撑板上并安装于二所述滚珠丝杆上，其中所述丝杆同步轮中的第三个位于二所述滚珠丝杆顶端的所述支撑板上，其中所述三丝杆同步轮通过所述丝杆同步带连接，并且在同一个所述支撑板上的二个所述丝杆同步轮之间装置所述涨紧轮，以用于将所述丝杆同步带拉紧，所述均匀光源装置被安装于所述滚珠丝杆，并由四所述导向轴协同支撑，这样当所述电机带动二所述滚珠丝杆转动时，通过控制所述电机的正反转实现所述均匀光源装置的升降。

10.根据权利要求1至5中任一所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述均匀光源组件包括一电机，二电机同步轮，一电机同步带，二滚珠丝杆，三丝杆同步轮，一丝杆同步带，一涨紧轮，一均匀光源装置，以及四导向轴，其中二所述电机同步轮分别被安装于所述电机和二所述滚珠丝杆其一的底端，二所述电机同步轮通过所述电机同步带相连，其中所述均匀光源组件还包括四支撑板，其中四所述支撑板其二位于所述滚珠丝杆底端，其中另二所述支撑板位于二所述滚珠丝杆的顶端，以用于支撑二所述滚珠丝杆，其中所述丝杆同步轮中的二个分别位于二所述滚珠丝杆顶端的二所述支撑板上并安装于二所述滚珠丝杆上，其中所述丝杆同步轮中的第三个位于二所述滚珠丝杆顶端的所述支撑板上，其中所述三丝杆同步轮通过所述丝杆同步带连接，并且在同一个所述支撑板上的二个所述丝杆同步轮之间装置所述涨紧轮，以用于将所述丝杆同步带拉紧，所述均匀光源装置被安装于所述滚珠丝杆，并由四所述导向轴协同支撑，这样当所述电机带动二所述滚珠丝杆转动时，通过控制所述电机的正反转实现所述均匀光源装置的升降。

11.根据权利要求1-5中任一所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述均匀光源组件提供1200x900mm的大均匀光源。

12.根据权利要求9所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述均匀光源装置提供1200x900mm的大均匀光源。

13.根据权利要求1至5中任一所述的广角镜头模组的测试设备，其中所述广角镜头模组视场角为94°-165°。

14.一广角镜头模组调焦测试方法，包括如下步骤：选取并架设一光源；制作一反畸变标板；使用评估并架设一增距镜；模组出图；以及调焦测试，其中所述广角镜头模组拍摄所述反畸变标版得到至少一测试图像并基于所述测试图像进行调焦，其中所述广角镜头模组调焦测试方法借助一测试工装进行测试，其中所述测试工装包括一出图工装，一第一滑块以及一第二滑块，其中所述第一滑块位于所述出图工装上，其中所述出图工装位于所述第二滑块上，这样当所述广角镜头模组被设置于所述出图工装上时，通过调节所述第一滑块的相对位置，以满足不同长度的所述广角镜头模组的固定需求，通过调节所述第二滑块的相对位置，以调整所述广角镜头模组中心与一污坏点测试工装的相对位置和调整所述广角镜头模组的镜片中心与一增距镜中心使保持一致。

15.根据权利要求14所述的方法，其中所述反畸变标版设置在一大均匀光源下方，其尺寸为1200x900mm。

16.根据权利要求14所述的方法，所述广角镜头模组视场角范围是94°-165°。

17.根据权利要求14所述的方法，其中通过所述增距镜缩短实际测试距离。

18.根据权利要求14所述的方法，还包括步骤：通过至少一电机的正反转，实现组装有一大均匀光源的光源架的升降。

19.根据权利要求18所述的方法，其中一电机杆通过一同步带带动两侧的至少一丝杆转动，所述丝杆的转动驱动所述光源架的升降。