CN105891638A - 一种芯片系统的显示接口测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种芯片系统的显示接口测试方法，包括控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。本发明优点如下：可以通过小规模的可编程逻辑器件(或通过搭建组合逻辑电路)做数据的合并，并辅助测试，不仅可以省去数据分时采集的时间，提高显示接口的测试速率，且可以降低芯片显示接口的测试成本。

Description

一种芯片系统的显示接口测试方法及装置

技术领域

本发明涉及芯片系统中显示接口的测试，特别涉及一种芯片系统的显示接口测试方法及装置。

背景技术

目前，芯片系统级测试(SLT)显示接口的方法主要有以下三种：第一种是直接通过对应协议的接收接口直接接收(如HDMI RX直接接收HDMI数据并分析)；第二种是通过串(并)、协议转换等方式将待测信号转换成另一种目标格式的数据，再通过一定的方式去采集；第三种是直接在IC设计中实现Loopback方式的测试。其中，最简单通用的是第二种方法，通过将复杂的协议或者串行数据转成并行格式的RGB数据，再采用并行视频数据输入接口或者可编程逻辑器件直接采集，但是这两种采集方式分别存在以下缺陷：

采用视频数据输入接口采集，由于通常支持RGB的视频输入接口支持的数据位数是8位或者12位模式，而转换后的RGB数据是24位并行数据，所以在直接采集时，需要分时采集2次或者3次，这无形中增加了测试的时间，同时由于每次采集都必须在不同帧的情况下进行，这导致采集帧等待的时间也增加了。

采用可编程逻辑器件直接采集24位的RGB数据，虽然可以做到24位一次采集，且无需分时采集，但是为了适应不同显示接口高分辨率的clk要求，在采集时需要使用高性能的可编程逻辑器件，这会增加测试平台的成本。

发明内容

本发明要解决的技术问题之一，在于提供一种芯片系统的显示接口测试方法，通过该方法来提高芯片系统的显示接口的测试速率，并降低显示接口的测试成本。

本发明是这样实现技术问题之一的：一种芯片系统的显示接口测试方法，所述方法包括如下步骤：

步骤1、控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；

步骤2、将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；

步骤3、将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；

步骤4、采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。

进一步地，所述步骤3包括：

步骤31、将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；

步骤32、将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；

步骤33、将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

进一步地，所述步骤4具体为：

直接采集输出的一组8bit或12bit数据或者一组错误数据，从控制器获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit或12bit数据进行比对；

若比对后结果一致，则判定该待测试接口正常；

若比对后结果不一致，则判定该待测试接口异常。

进一步地，所述待测显示接口包括：HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。

本发明要解决的技术问题之二，在于提供一种芯片系统的显示接口测试装置，通过该装置来提高芯片系统的显示接口的测试速率，并降低显示接口的测试成本。

本发明是这样实现技术问题之二的：一种芯片系统的显示接口测试装置，所述装置包括：

待测显示接口模块，用于控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；

信号转换模块，用于将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；

并行信号处理模块，用于将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；

视频采集比对模块，用于采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。

进一步地，所述并行信号处理模块包括：

并行信号拆分单元，用于将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；

信号比对单元，用于将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；

信号输出控制单元，用于将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

进一步地，所述视频采集比对模块具体为：

直接采集输出的一组8bit或12bit数据或者一组错误数据，从控制器获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit或12bit数据进行比对；

若比对后结果一致，则判定该待测试接口正常；

若比对后结果不一致，则判定该待测试接口异常。

进一步地，所述待测显示接口包括：HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。

本发明具有如下优点：1、将显示接口的24bit并行数据转换成一组8bit或12bit数据，使得可以通过小规模的可编程逻辑器件(或通过搭建组合逻辑电路)做数据的合并，并辅助测试，不仅可以省去数据分时采集的时间，提高显示接口的测试速率，且可以降低芯片显示接口的测试成本；2、在测试待测显示接口的同时，也可以批量测试视频采集接口，可以取到一举两得的效果。

附图说明

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。

图1为本发明芯片系统的显示接口测试装置的结构框图。

图2为本发明中并行信号处理模块的结构框图。

图3为本发明芯片系统的显示接口测试方法的流程框图。

具体实施方式

请参照图3所示，一种芯片系统的显示接口测试方法，所述方法包括如下步骤：

步骤31、控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；

步骤32、将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；

步骤33、将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；

步骤34、采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。

其中，所述步骤33包括：

步骤331、将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；

步骤332、将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；

步骤333、将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

所述步骤34具体为：

直接采集输出的一组8bit或12bit数据或者一组错误数据，从控制器获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit或12bit数据进行比对；

若比对后结果一致，则判定该待测试接口正常；

若比对后结果不一致，则判定该待测试接口异常。

所述待测显示接口包括：HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。

请参照图1所示，一种芯片系统的显示接口测试装置，所述装置包括：

待测显示接口模块12，用于控制器11发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；

信号转换模块13，用于将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；

并行信号处理模块14，用于将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；

视频采集比对模块15，用于采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。

其中，请参照图2所示，所述并行信号处理模块21包括：

并行信号拆分单元211，用于将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；

信号比对单元212，用于将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；

信号输出控制单元213，用于将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

所述视频采集比对模块15具体为：

直接采集输出的一组8bit或12bit数据或者一组错误数据，从控制器11获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit或12bit数据进行比对；

若比对后结果一致，则判定该待测试接口正常；

若比对后结果不一致，则判定该待测试接口异常。

所述待测显示接口包括：HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。

下面以将本发明应用到SOC芯片的EDP接口的测试为具体实施例对本发明做进一步说明：

请参照图1所示，所述测试装置包括：

待测显示接口模块12，通过控制器11发送预设的输出数据给待测EDP接口，待测EDP接口输出测试信号；在实施时，可以利用控制器11对该待测EDP接口模块12进行配置，以保证最终输出的RGB格式数据的R、G、B三组8bit数据一一对应相同，如：R->0x5a G->0x5a B:->0x5a，且为了使测试的覆盖率更全面，可以对固定输出的数据帧进行分割，如将屏幕输出6条不同值的彩色条以RGB或者YUV模式输出。

信号转换模块13，通过控制器11控制该信号转换模块13将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；本实施例采用的信号转换方式为先将EDP转成HDMI信号，再把HDMI信号转成24bit并行的RGB数据信号，上述转换可以分别采用PS171和ADV7611两颗转换芯片来实现，这两颗芯片都需要控制器11通过I2C并根据实际的测试规格需求进行软件配置。

并行信号处理模块14，通过控制器11控制该并行信号处理模块14将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；本实施例可以采用MAX V型号的CPLD(也可以直接用多路选择器和比较器)来实现将24bit的RGB数据信号合并成1组8bit的数据输出。请重点参照图2所示，该并行信号处理模块21包括：

并行信号拆分单元211，通过控制器11控制该并行信号拆分单元211将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据并输入CPLD，如：

第一组:

data0\data1\data2\data3\data4\data5\data6\data7；

第二组：

data8\data9\data10\data11\data12\data13\data14\data15；

第三组：

Data16\data17\data18\data19\data20\data21\data22\data23；

拆分的时候需要根据输出的测试数据和采集时所支持的数据线位数来决定，本实施例采用的是8bit的视频采集接口，因此需要拆分成3组8bit数据，并且要保证三组数据值时刻都保持一致。

信号比对单元212，通过控制器11控制该信号比对单元212将平分的三组8bit的数据进行两两比对，若三组8bit的数据相同(即data0＝data8＝data16，data1＝data9＝data17……)，则任意选择一组8bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据。预设的错误数据是一组测试数据中没有的数值，这在视频采集接口采集数据时，若出现某些时刻或者整帧都等于预设的错误数据时，则说明三根信号线中肯定有出错的。

信号输出控制单元213，通过控制器11控制该信号输出控制单元213将选择的一组8bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

视频采集比对模块15，通过控制器11控制该视频采集比对模块15直接采集输出的一组8bit或者一组错误数据，并从控制器11获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit进行比对；

若比对后结果不一致，且有出现预设的错误数据，则说明三组数据中定有部分数据出错了，此时判定该待测EDP接口异常；

若比对后结果不一致，且没有出现预设的错误数据，则说明三组数据同时出错，此时判定该待测EDP接口异常；

若比对后结果完全相同，此时判定该待测EDP接口正常。

综上所述，本发明具有如下优点：1、将显示接口的24bit并行数据转换成一组8bit或12bit数据，使得可以通过小规模的可编程逻辑器件(或通过搭建组合逻辑电路)做数据的合并，并辅助测试，不仅可以省去数据分时采集的时间，提高显示接口的测试速率，且可以降低芯片显示接口的测试成本；2、在测试待测显示接口的同时，也可以批量测试视频采集接口，可以取到一举两得的效果。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解，我们所描述的具体的实施例只是说明性的，而不是用于对本发明的范围的限定，熟悉本领域的技术人员在依照本发明的精神所作的等效的修饰以及变化，都应当涵盖在本发明的权利要求所保护的范围内。

Claims (8)

1.一种芯片系统的显示接口测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1、控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；

步骤2、将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；

步骤3、将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；

步骤4、采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种芯片系统的显示接口测试方法，其特征在于：所述步骤3包括：

步骤31、将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；

步骤32、将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；

步骤33、将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

3.根据权利要求2所述的一种芯片系统的显示接口测试方法，其特征在于：所述步骤4具体为：

直接采集输出的一组8bit或12bit数据或者一组错误数据，从控制器获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit或12bit数据进行比对；

若比对后结果一致，则判定该待测试接口正常；

若比对后结果不一致，则判定该待测试接口异常。

4.根据权利要求1所述的一种芯片系统的显示接口测试方法，其特征在于：所述待测显示接口包括：HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。

5.一种片系统的显示接口测试装置，其特征在于：所述装置包括：

待测显示接口模块，用于控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；

信号转换模块，用于将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；

并行信号处理模块，用于将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；

视频采集比对模块，用于采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。

6.根据权利要求5所述的一种芯片系统的显示接口测试装置，其特征在于：所述并行信号处理模块包括：

并行信号拆分单元，用于将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；

信号比对单元，用于将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；

信号输出控制单元，用于将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。

7.根据权利要求6所述的一种芯片系统的显示接口测试装置，其特征在于：所述视频采集比对模块具体为：

直接采集输出的一组8bit或12bit数据或者一组错误数据，从控制器获取预设的输出数据，将采集到的数据与预设的输出数据中的8bit或12bit数据进行比对；

若比对后结果一致，则判定该待测试接口正常；

若比对后结果不一致，则判定该待测试接口异常。

8.根据权利要求5所述的一种芯片系统的显示接口测试装置，其特征在于：所述待测显示接口包括：HDMI接口、MIPI接口、LVDS接口、EDP接口或者DP接口。