CN105866607B - 摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法。该方法用于校正摄像头测试卡具备的电流/开短路测试功能。该测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路。针对该电流检测回路，使用小于2mA的电流对被测试芯片进行测试。当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使用一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换。本发明保证开短路检测回路不影响图像测试回路。本发明提供了一种有效较正补偿因回路、芯片、电阻差异带来的电流/开短路较正方法。

Description

摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法
技术领域
本发明涉及一种误差校正方法，尤其涉及一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法。
背景技术
随着影像摄像头行业的蓬勃发展，涉及镜头解析力测试、车载摄像领域、手机摄像头、运动相机等多个领域。摄像头在出厂时均需要经过各项测试，如电流及开短路测试功能。摄像头测试卡具备电流及开短路测试功能，该二功能都为摄像头检测中常用功能。电流的测量除了跟整个系统电路设计相关，误差产生也跟采样电阻的精度相关，因此，如何简单、快捷的校正摄像头测试卡电流/开短路误差是本领域技术人员的研究重点。
发明内容
有鉴于此，本发明提出一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其能防止被测试芯片在测试过程中被烧坏，还能保证开短路检测回路不影响图像测试回路。
本发明的解决方案是：一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其用于校正摄像头测试卡具备的电流/开短路测试功能；该摄像头测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路；针对该电流检测回路，使用小于2mA的电流对被测试芯片进行测试；当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使用一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换；利用该FPGA主控电路的FPGA芯片ID号的唯一性，将每个摄像头测试卡的较正补偿数据存入一个自动补偿系统的数据库；当后续板卡测试时，该自动补偿系统将自动补偿相应摄像头测试卡的测试数据，保障与相同摄像头测试卡相对应的不同板卡之间的一致性。
作为上述方案的进一步改进，该电流检测回路包括双向电流/功率监控器、电源开关器、稳压器、AD数据采集器；稳压器电性连接AD数据采集器，双向电流/功率监控器、电源开关器、AD数据采集器分别电性连接该FPGA主控电路。
进一步地，双向电流/功率监控器采用INA220A芯片，电源开关器采用NCP45524IMNTWG-H芯片，稳压器采用LT3080EQ芯片，AD数据采集器采用AD5175BRMZ-10芯片。
作为上述方案的进一步改进，该图像测试回路采用传输器件。
进一步地，该传输器件设置有若干接口ESD保护器件。
再进一步地，该传输器件采用MC20901芯片，该接口ESD保护器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
作为上述方案的进一步改进，该开短路检测回路包括低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器；该视频处理器通过该模数转换器电性连接该FPGA主控电路，该低压CMOS器件电性连接该FPGA主控电路。
进一步地，该低压CMOS器件采用ADG734芯片，该视频处理器采用TS3DV520ERUAR芯片，该模数转换器采用AD5520芯片。
本发明的有益效果为：在IC测试的开短路检测中，本发明使用小于2mA的电流对芯片进行测试，从而杜绝烧坏被测IC的现象发生；当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多个高速差分信号时，为保证开短路测试不影响其图像回路，本发明使用高速开关将被测PIN在图像测试回路和开短路检测回路之间切换。
附图说明
图1是本发明摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法的构思示意图。
图2是本发明摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法的自动补偿方式图。
图3是本发明摄像头测试卡的电流检测回路的电路示意图。
图4是本发明摄像头测试卡的图像测试回路的电路示意图。
图5是本发明摄像头测试卡的开短路检测回路的电路示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请一并参阅图1至图5，本发明的摄像头测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路。
摄像头测试卡具备电流及开短路测试功能，该二功能都为摄像头检测中常用功能，电流的测量除了跟整个系统电路设计相关，误差产生也跟采样电阻的精度相关。但因当摄像头测试时待机精度要求达到1uA甚至需要0.1uA，测试卡本身回路中IC待机电流、漏电流都将影响摄像头本身的测量精度，如图3所示。该电流检测回路包括双向电流/功率监控器、电源开关器、稳压器、AD数据采集器。稳压器电性连接AD数据采集器，双向电流/功率监控器、电源开关器、AD数据采集器分别电性连接该FPGA主控电路。
在本实施例中，双向电流/功率监控器采用INA220A芯片，电源开关器采用NCP45524IMNTWG-H芯片，稳压器采用LT3080EQ芯片，AD数据采集器采用AD5175BRMZ-10芯片。
本发明的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，开短路检测中，IC测试中一般不能使用较大电流对IC的保护二级管/导通电压进行测试，否则将烧坏被测的IC，本发明使用小于2mA的电流对芯片进行测试。因被测试的管脚多达60个PIN脚，以及包含较多高速差分信号，为保证开短路测试不影响其图像回路，本发明使用高速开关将被测PIN在图像测试回路和开短路检测回路之间切换，如图1所示。
如图4所示，该图像测试回路采用传输器件。该传输器件设置有若干接口ESD保护器件。在本实施例中，该传输器件采用MC20901芯片，该接口ESD保护器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
如图5所示，该开短路检测回路包括低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器。该视频处理器通过该模数转换器电性连接该FPGA主控电路，该低压CMOS器件电性连接该FPGA主控电路。在本实施例中，该低压CMOS器件采用ADG734芯片，该视频处理器采用TS3DV520ERUAR芯片，该模数转换器采用AD5520芯片。
如图2所示，本发明利用该FPGA主控电路的FPGA芯片ID号的唯一性，将每个摄像头测试卡的较正补偿数据存入一个自动补偿系统的数据库；当后续板卡测试时，该自动补偿系统将自动补偿相应摄像头测试卡的测试数据，保障与相同摄像头测试卡相对应的不同板卡之间的一致性。
请参阅表1及表2，其中表1为电流校正数据，表2为开短路校正数据。表1为各个板卡的电流补偿数据，表2为各个板卡开短路数据的较正数据，电流补偿数据为当回路无负载时电流数据理论应归零。开短路补偿数据为各个PIN脚当其与地短路时理论值应归零。但实际状况因回路、芯片、电阻阻值不同所产生的误差值。
表1电流校正数据
表2开短路校正数据
综上所述，本发明能通过硬件、软件两个渠道分别对摄像头测试卡实现电流/开短路误差校正。另外，为了保证整个测试卡的散热，可在板卡外壳的设计上对于较大发热量的芯片做了散热处理，芯片与外壳之间可通过散热硅脂和散热硅胶片散热，如通过带粘性散热硅胶脂进行散热。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其用于校正摄像头测试卡具备的电流/开短路测试功能；该摄像头测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路；其特征在于：针对该电流检测回路，使用小于2mA的电流对被测试芯片进行测试；当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使用一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换；
利用该FPGA主控电路的FPGA芯片ID号的唯一性，将每个摄像头测试卡的较正补偿数据存入一个自动补偿系统的数据库；当后续板卡测试时，该自动补偿系统将自动补偿相应摄像头测试卡的测试数据，保障与相同摄像头测试卡相对应的不同板卡之间的一致性。
2.如权利要求1所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：该电流检测回路包括双向电流/功率监控器、电源开关器、稳压器、AD数据采集器；稳压器电性连接AD数据采集器，双向电流/功率监控器、电源开关器、AD数据采集器分别电性连接该FPGA主控电路。
3.如权利要求2所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：双向电流/功率/电压监控器采用INA220A芯片，电源开关器采用NCP45524IMNTWG-H芯片，稳压器采用LT3080EQ芯片，AD数据采集器采用AD5175BRMZ-10芯片。
4.如权利要求1所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：该图像测试回路采用传输器件。
5.如权利要求4所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：该传输器件设置有若干接口ESD保护器件。
6.如权利要求5所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：该传输器件采用MC20901芯片，该接口ESD保护器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
7.如权利要求1所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：该开短路检测回路包括低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器；该视频处理器通过该模数转换器电性连接该FPGA主控电路，该低压CMOS器件电性连接该FPGA主控电路。
8.如权利要求7所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：该低压CMOS器件采用ADG734芯片，该视频处理器采用TS3DV520ERUAR芯片，该模数转换器采用AD5520芯片。
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