CN105841862A - 一种超声波残余应力测试方法及设备 - Google Patents
一种超声波残余应力测试方法及设备 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提出一种超声波残余应力测试方法及设备,属于焊接残余应力的无损检测领域。所述测试方法是首先建立晶粒度和析出相量与纵波信号衰减度、与临界折射纵波在零应力样中传播时间、与声弹性系数的关系数据库;在进行残余应力测试时,先确定测试区域的纵波信号衰减度,再根据衰减度确定晶粒度和析出相量计算值,进一步计算测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间和声弹性系数,最终可得到修正后残余应力。所述测试方法可修正由于焊接不同区域晶粒度与析出相量对声弹性系数,超声波在零应力样中传播时间产生的误差,可显著提高超声波测残余应力的精度。所述设备可实现所述测试方法,达到对超声波残余应力测试结果影响无损修正的效果。
Description
技术领域
本发明涉及一种可修正微观组织差异影响的超声波残余应力测试方法及实现该方法的测试设备,属于焊接残余应力的无损检测领域。
背景技术
焊接是工业生产中最重要的一种连接方式,焊接质量决定着焊接产品质量,由于焊接残余应力过大引起的焊接接头破坏是最主要的焊接破坏。焊接接头的残余应力无损检测对生产实践中优化焊接工艺具有非常重要的指导作用。残余应力的无损检测方法主要有中子衍射法、同步辐射法、磁粉法、X射线衍射法和超声波检测法。其中,中子衍射法、同步辐射法设备昂贵,测试成本高,难以用于生产实践中在线检测焊接残余应力;磁粉法残余应力测试只能用于磁性测量的测试,重复性较差;X射线对残余应力的测试只能测试几十个微米厚度,对待测样的表面质量要求较高,受到表面的质量状态影响较大。超声波法是近几年来发展最快的残余应力无损检测方法,具有可以测试深度方向的二维焊接残余应力、测试速度快、无辐射、设备轻便、成本较低等优点。
超声波法测量残余应力属于间接性测量,超声波在待测样中的传播速度与待测样中的残余应力存在着声弹性关系,即超声波的在待测样中的传播速度和待测样中的残余应力基本呈现线性关系。依据声弹性原理,若超声波收发换能器距离固定,测得超声波在零应力样(应力记为σ0)中的传播时间t0和超声波在待测样中的超声传播时间t,根据声时差可求出待测样的残余应力值σ,即:σ-σ0=A(t-t0),A与材料的自身性质以及收发探头距离决定,通过单向拉伸标定。
但是,不仅待测样中的残余应力会对影响超声波的传播速度,待测样中的微观组织也会对超声波的传播速度产生影响。由于焊接温度场不同,焊件上会形成焊缝区域(FZ)、热影响区域(HAZ)和母材区域(BM),这些区域的微观组织存在较大差异。有些较大的微观组织差异对超声波传播速度的影响甚至与焊接残余应力对超声波传播速度的影响在同一个数量级,严重影响超声波残余应力测试方法的测试精度,限制了超声波残余应力测试法的发展。因此,如何在超声波残余应力测试法中将微观组织对超声波传播速度的影响和残余应力对超声波传播速度的影响分开,是一个亟需解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种可修正微观组织差异影响的超声波残余应力测试方法及实现该方法的测试设备,其可修正由于待测焊件焊缝区域、热影响区域以及母材区域晶粒度与析出相量对声弹性系数k,超声波在零应力样中传播时间t0所产生的巨大误差,可显著提高超声波对焊接接头残余应力的测试精度。
本发明一方面提供了一种超声波残余应力测试方法,其步骤如下:
A1、准备晶粒度测试样
A11、平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,记为N1组,N2组…Nn-1组,Nn组,每组拉伸样包括相同拉伸样ra根;
A12、对N1组拉伸样不做任何处理,对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理、同一组中的拉伸样热处理条件相同,具体的热处理条件是:N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时,N3组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha小时……Nn-1组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha(n-1-2)小时,Nn组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha(n-2)小时,即得到N1-Nn组晶粒度测试样,其中Δha为相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数;N2-Nn组晶粒度测试样经过热处理,可认为是零应力状态;
A13、对N1-Nn组晶粒度测试样进行金相处理,通过显微镜或电子背散射衍射计算出经过金相处理的N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的晶粒度,并分别取N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的晶粒度平均值,分别记为U1,U2,U3……Un-1,Un;
A2、建立晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库
A21、使用纵波平探头对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样分别进行衰减度测试,计算出N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的纵波信号衰减度平均值,分别记为M1,M2,M3……Mn-1,Mn;
A22、根据N2-Nn组各组晶粒度测试样的纵波信号的衰减度平均值(M2,M3……Mn-1,Mn),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库,U=f(M);将N1组所有晶粒度测试样的纵波信号衰减度平均值M1带入U=f(M),算出N1组晶粒度测试样的晶粒度计算值U1’;将N1组晶粒度测试样的晶粒度计算值U1’与A13得到的N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1进行对比,如果误差在δ1%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)有效;如果误差大于δ1%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A21-A22建立晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库,直到满足误差要求;
A3、建立晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库
A31、分别对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样进行临界折射纵波速度采集,得到临界折射纵波在N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播速度,记为V10,V20,V30……V(n-1)0,Vn0,并根据超声波收发换能器间的距离L,计算出临界折射纵波在N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播时间,即为临界折射纵波在不同晶粒尺寸的零应力晶粒度测试样中的平均传播时间,记为T10,T20,T30……T(n-1)0,Tn0;
A32、根据临界折射纵波在N2-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播时间(T20,T30……T(n-1)0,Tn0),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,(U);将N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1带入(U),算出临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的传播时间计算值T10’;将临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的传播时间计算值T10’与临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的实际平均传播时间T10进行对比,如果误差在δ2%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)有效;如果误差大于δ2%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A31-A32建立晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,直到满足误差要求;
A4、建立晶粒度与声弹性系数的关系数据库
A41、分别对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样进行声弹性系数拉伸标定,得到N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均声弹性系数,记为K1,K2,K3……Kn-1,Kn;
A42、根据N2-Nn组各组晶粒度测试样的平均声弹性系数(K2,K3……Kn-1,Kn),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库,k=α(U),将N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1带入k=α(U),算出N1组晶粒度测试样的声弹性系数计算值K1’,将N1组晶粒度测试样的声弹性系数计算值K1’与N1组晶粒度测试样的实际平均声弹性系数K1进行对比,如果误差在δ3%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)有效;如果误差大于δ3%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A41-A42建立晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库,直到满足误差要求;
B1、准备析出相测试样
B11、平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,记为W1组,W2组…Ww-1组,Ww组,每组拉伸样包括相同拉伸样rb根;
B12、对W1组拉伸样不做任何处理,对W2-Ww组拉伸样进行不同条件热处理、同一组中的拉伸样热处理条件相同,具体的热处理条件是:W2组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb小时,W3组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb小时……Ww-1组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb(w-1-2)小时,Ww组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb(w-2)小时,即得到W1-Ww组析出相测试样,其中Δhb为相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数;其中W2-Ww组析出相测试样经过热处理,可认为是零应力状态;
B13、对W1-Ww组析出相测试样进行金相处理,通过显微镜或电子背散射衍射计算出经过金相处理的W1-Ww组各组中所有析出相测试样的析出相量,并分别取W1-Ww组各组中所有析出相测试样的析出相量平均值,分别记为P1,P2,P3……Pw-1,Pw;
B2、建立析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库
B21、使用纵波平探头对W1-Ww组各组中所有析出相测试样分别进行衰减度测试,计算出W1-Ww组各组中所有析出相测试样的纵波信号衰减度平均值,分别记为m1,m2,m3……mw-1,mw;
B22、根据W2-Ww组各组析出相测试样的纵波信号的衰减度平均值(m2,m3……mw-1,mw),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库,P=g(M);将W1组所有析出相测试样的纵波信号衰减度平均值m1带入P=g(M),算出W1组析出相测试样的析出相量计算值P1’;将W1组析出相测试样的析出相量计算值P1’与B13得到的W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1进行对比,如果误差在γ1%以内,符合要求,所建立的析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)有效;如果误差大于γ1%,重新按照B11-B13准备析出相测试样品,并按照B21-B22建立析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库,直到满足误差要求;
B3、建立析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库
B31、分别对W1-Ww组各组中所有析出相测试样进行临界折射纵波速度采集,得到临界折射纵波在W1-Ww组各组析出相测试样的平均传播速度,记为v10,v20,v30……v(w-1)0,vw0,,并根据超声波收发换能器间的距离L,计算出临界折射纵波在W1-Ww组各组析出相测试样的平均传播时间,即为临界折射纵波在不同析出相量的零应力析出相测试样中的平均传播时间,记为t10,t20,t30……t(w-1)0,tw0;
B32、根据临界折射纵波在W2-Ww组各组析出相测试样的平均传播时间(t20,t30……t(w-1)0,tw0),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,t0=χ(P);将W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1带入t0=χ(P),算出临界折射纵波在W1组析出相测试样的传播时间计算值t10’;将临界折射纵波在W1组析出相测试样的传播时间计算值t10’与临界折射纵波在W1组析出相测试样的实际平均传播时间t10进行对比,如果误差在γ2%以内,符合要求,所建立的析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)有效;如果误差大于γ2%,重新按照B11-B13准备晶粒度测试样品,并按照B31-B32建立析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,直到满足误差要求;
B4、建立析出相量与声弹性系数的关系数据库
B41、分别对W1-Ww组各组中所有析出相测试样进行声弹性系数拉伸标定,得到W1-Ww组各组析出相测试样的平均声弹性系数,记为k1,k2,k3……kw-1,kw;
B42、根据W2-Ww组各组析出相测试样的平均声弹性系数(k2,k3……kw-1,kw),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与声弹性系数k的关系数据库,k=β(P),将W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1带入k=β(P),算出W1组析出相测试样的声弹性系数计算值k1’,将W1组析出相测试样的声弹性系数计算值k1’与W1组析出相测试样的实际平均声弹性系数k1进行对比,如果误差在γ3%以内,符合要求,所建立的析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)有效;如果误差大于γ3%,重新按照B11-B13准备析出相测试样品,并按照B41-B42建立析出相量P与声弹性系数k的关系数据库,直到满足误差要求;
C、建立复合数据库
C1、根据A3步建立的晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)和B3步建立的析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P),建立临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P);
C2、根据A4步建立的晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)和B4步建立的析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P),建立声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P);
D、测试待测焊件焊接接头的焊接残余应力
D1、布置待测焊件的超声波残余应力测试区域,所述测试区域包括焊缝区域、热影响区域和母材区域;
D2、使用纵波平探头对待测焊件的测试区域进行衰减度测试,计算出测试区域的纵波信号衰减度,记为Mc;
D3、调用A2步建立的晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M),计算出测试区域的晶粒度计算值Uc,Uc=f(Mc);
D4、调用B2步建立的析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M),计算出测试区域的析出相量计算值Pc,Pc=g(Mc);
D5、调用C1步建立的临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P),计算出测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间tc0,tc0=ψ(Uc,Pc);
D6、调用C2步建立的声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P),计算出测试区域的声弹性系数kc,kc=ω(Uc,Pc)
D7、采集待测焊件的测试区域的临界折射纵波速度vc,并根据超声波收发换能器间的距离L,得到临界折射纵波在测试区域的传播时间tc=L/vc;
D8、根据D5步得到的测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间tc0、D6步得到的测试区域的声弹性系数kc和D7步得到的临界折射纵波在测试区域的传播时间tc,计算待测焊件测试区域的焊接残余应力σc:
与现有技术相比,本发明方法的有益效果是:
(1)通过建立晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库U=f(M)、晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库(U)和晶粒度与声弹性系数的关系数据库k=α(U),消除晶粒度对声弹性系数k和临界折射纵波初始传播时间t0影响;
(2)通过建立析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库P=g(M)、析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库t0=χ(P)和析出相量与声弹性系数的关系数据库k=β(P),消除析出相量对声弹性系数k和临界折射纵波初始传播时间t0影响;
(3)通过建立临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P)、声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P),同时消除在实际测量中待测焊件的析出相量和晶粒度对声弹性系数k和临界折射纵波初始传播时间t0影响,显著提高了超声波对焊接接头残余应力的测试精度。
进一步,本发明所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组的组数n不小于4。拉伸试样组数小于4,数据量较小,容易受到偶然误差的影响,拉伸样组数n越高,越容易降低偶然误差影响。
进一步,本发明所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,每组拉伸样包括拉伸样根的根数ra不小于3。每组拉伸样的实验结果最终会被计算成平均值,小于3的数据量同样容易受到偶然误差影响,大于3的拉伸样可以去掉离散性较大的样,同时保证剩余数据量相对充足。
进一步,本发明所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温温度Ta℃为所测试拉伸样材料的晶粒长大温度,如铝合金为350-550℃,45号钢大于1200°。稍高于或等于晶粒长大温度进行保温,可以相对较快时间保证晶粒长大,提高实验效率。
进一步,本发明所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温时间ha小时的保温小时数ha为能够保证N2组拉伸样得到均匀晶粒度所需的时间,如铝合金为0.2-0.5h。拉伸样具有一定厚度,保温时间太短容易造成拉伸样内外部晶粒度差异较大,足够的保温时间ha使拉伸样内外部晶粒度相对一致。
进一步,本发明所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为能够保证相邻两组拉伸样间存在10-30%的晶粒度差异的时间,如铝合金为0.2-0.3h。相邻拉伸样之间的晶粒度太小,实验的测试的结果有可能会被偶然因素覆盖,10-30%的较高晶粒度差异足以避免偶然因素对实验结果影响。
进一步,本发明所述步骤A22中验证晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)是否有效设置的误差值δ1%为5-10%。U=f(M)关系数据库将用于后期对超声波应力测试的修正,如果关系数据库存在较大误差,会降低修正效果的可靠性,5-10%的误差为目前通过衰减度表征晶粒度较低的表征误差。
进一步,本发明所述步骤A32中验证晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)是否有效设置的误差值δ2%为5-10%。(U)关系数据库将用于后期对超声波应力测试的修正,如果关系数据库存在较大误差,会降低修正效果的可靠性,5-10%的误差相对较小不会降低修正结果的可靠性。
进一步,本发明所述步骤A42中验证晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)是否有效设置的误差值δ3%为5-15%。k=α(U)关系数据库将用于后期对超声波应力测试的修正,如果关系数据库存在较大误差,会降低修正效果的可靠性,5-15%的误差相对较小不会降低修正结果的可靠性。
进一步,本发明所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组的组数w不小于4。拉伸试样组数小于4,数据量较小,容易受到偶然误差的影响,拉伸样组数n越高,越容易降低偶然误差影响。
进一步,本发明所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,每组拉伸样包括的拉伸样根数rb不小于3。每组拉伸样的实验结果最终会被计算成平均值,小于3的数据量同样容易受到偶然误差影响,大于3的拉伸样可以去掉离散性较大的样,同时保证剩余数据量相对充足。
进一步,本发明所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温温度Tb℃为所测试拉伸样的析出相量改变温度,如铝合金析出相量改变温度为120-250℃。稍高于或等于析出相量变化温度进行保温,可以保证析出相量快速变化,提高实验效率。
进一步,本发明所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温时间hb小时的保温小时数hb为能够保证N2组拉伸样与未进行热处理的拉伸样之间存在5-15%的析出相量差异的时间,如铝合金为2h左右。析出相量对超声波应力测试结果的影响相对较小,较高的5-15%析出相量差异可以降低后期数据库误差。
进一步,本发明所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为只要能够保证相邻两组拉伸样间存在具有10-30%的析出相量差异的时间,如铝合金为2h左右。相邻拉伸样之间的析出相量差距太小,实验的测试的结果有可能会被偶然因素覆盖,10-30%的较高析出相量差异足以避免偶然因素对实验结果影响。
进一步,本发明所述步骤B22中验证析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)是否有效设置的误差值γ1%为5-10%。P=g(M)关系数据库将用于后期对超声波应力测试的修正,如果关系数据库存在较大误差,会降低修正效果的可靠性,5-10%的误差相对较小不会降低修正结果的可靠性。
进一步,本发明所述步骤B32中验证析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)是否有效设置的误差值γ2%为5-10%。t0=χ(P)关系数据库将用于后期对超声波应力测试的修正,如果关系数据库存在较大误差,会降低修正效果的可靠性,5-10%的误差相对较小不会降低修正结果的可靠性。
进一步,本发明所述步骤B42中验证析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)是否有效设置的误差值γ3%为5-15%。k=β(P)关系数据库将用于后期对超声波应力测试的修正,如果关系数据库存在较大误差,会降低修正效果的可靠性,5-15%的误差相对较小不会降低修正结果的可靠性。
本发明另一方面提供了一种超声波残余应力测试设备,包括超声换能器组、超声波集成板卡和控制模块,所述超声换能器组包括用于向待测焊件的测试区域发射临界折射纵波的临界折射纵波激发探头和用于接收临界折射波的临界折射纵波接收探头,其结构特点是:所述超声换能器组还包括纵波平探头,用于对待测焊件的测试区域进行衰减度测试,即向待测焊件的测试区域发射超声波纵波信号并接收纵波回波信号;
所述超声波集成板卡的具体结构是:
超声波信号激发模块,与临界折射纵波激发探头和纵波平探头连接,用于激发临界折射纵波激发探头发射临界折射纵波,激发纵波平探头发射超声波纵波信号;
超声波信号采集模块,与临界折射纵波接收探头和纵波平探头连接,用于采集临界折射纵波接收探头接收的临界折射纵波和纵波平探头接收的超声波纵波信号;
数据库模块,包括晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库、晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、晶粒度与声弹性系数的关系数据库、析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库、析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、析出相量与声弹性系数的关系数据库、析出相量和晶粒度与声弹性系数复合的关系数据库、析出相量和晶粒度与超声波零应力样中传播时间的复合关系数据库;
超声波信号处理模块,用于处理纵波平探头发射和接收的超声波纵波信号和临界折射纵波接收探头接收的临界折射纵波信号,根据纵波平探头发射和接收的超声波纵波信号计算出测试区域的纵波衰减度值;然后调用数据库模块中的关系数据库,计算测试区域的残余应力值;
所述控制模块用于指令控制超声波集成板卡中每一个模块。
本发明设备的操作方法是:
首先,通过控制模块依次控制超声波集成板卡的超声波信号激发模块激发纵波平探头发射超声波纵波信号,超声波信号采集模块采集纵波平探头接收的纵波回波信号,并将所述纵波平探头发射的超声波纵波信号和接收的纵波回拨信号传给超声波信号处理模块。然后,通过控制模块依次控制多通道超声卡的超声波信号激发模块激发临界折射纵波激发探头发射临界折射纵波,超声波信号采集模块采集临界折射纵波接收探头接收的临界折射纵波,并将所述临界折射纵波激发探头发射的临界折射纵波信号和临界折射纵波接收探头接收的临界折射纵波信号传给超声波信号处理模块。控制模块控制超声波信号处理模块根据接收的纵波平探头发射的超声波纵波信号和接收的纵波回拨信号计算测试区域的纵波衰减度值,并根据临界折射纵波激发探头发射的临界折射纵波信号和临界折射纵波接收探头接收的临界折射纵波信号,调用数据库模块中的关系数据库,计算测试区域的残余应力值。
与现有技术相比,本发明设备的有益效果是:本发明设备只需在现有的超声波残余应力测试设备的基础上,增加纵波平探头,再对软件操作部分进行扩展编程,即可达到修正由于待测焊件的焊缝区域、热影响区域以及母材区域微观组织差异对超声波残余应力测试的影响的目的,实现了对超声波残余应力测试结果的无损修正,便于测试现场使用。
附图说明
图1为本发明实施例一超声波残余应力测试设备的整体结构示意图。
图2为本发明实施例一验证试验中测试区域的分布示意图
图3为本发明实施例一验证试验的测试结果对比图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
本发明的一种具体实施方式是:一种超声波残余应力测试方法,其步骤如下:
A1、准备晶粒度测试样
A11、平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,记为N1组,N2组…Nn-1组,Nn组,每组拉伸样包括相同拉伸样ra根;
A12、对N1组拉伸样不做任何处理,对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理、同一组中的拉伸样热处理条件相同,具体的热处理条件是:N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时,N3组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha小时……Nn-1组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha(n-1-2)小时,Nn组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha(n-2)小时,即得到N1-Nn组晶粒度测试样,其中Δha为相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数;N2-Nn组晶粒度测试样经过热处理,可认为是零应力状态;
A13、对N1-Nn组晶粒度测试样进行金相处理,通过显微镜或电子背散射衍射计算出经过金相处理的N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的晶粒度,并分别取N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的晶粒度平均值,分别记为U1,U2,U3……Un-1,Un;
A2、建立晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库
A21、使用纵波平探头对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样分别进行衰减度测试,计算出N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的纵波信号衰减度平均值,分别记为M1,M2,M3……Mn-1,Mn;
A22、根据N2-Nn组各组晶粒度测试样的纵波信号的衰减度平均值(M2,M3……Mn-1,Mn),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库,U=f(M);将N1组所有晶粒度测试样的纵波信号衰减度平均值M1带入U=f(M),算出N1组晶粒度测试样的晶粒度计算值U1’;将N1组晶粒度测试样的晶粒度计算值U1’与A13得到的N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1进行对比,如果误差在δ1%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)有效;如果误差大于δ1%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A21-A22建立晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库,直到满足误差要求;
A3、建立晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库
A31、分别对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样进行临界折射纵波速度采集,得到临界折射纵波在N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播速度,记为V10,V20,V30……V(n-1)0,Vn0,并根据超声波收发换能器间的距离L,计算出临界折射纵波在N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播时间,即为临界折射纵波在不同晶粒尺寸的零应力晶粒度测试样中的平均传播时间,记为T10,T20,T30……T(n-1)0,Tn0;
A32、根据临界折射纵波在N2-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播时间(T20,T30……T(n-1)0,Tn0),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,(U);将N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1带入(U),算出临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的传播时间计算值T10’;将临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的传播时间计算值T10’与临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的实际平均传播时间T10进行对比,如果误差在δ2%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)有效;如果误差大于δ2%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A31-A32建立晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,直到满足误差要求;
A4、建立晶粒度与声弹性系数的关系数据库
A41、分别对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样进行声弹性系数拉伸标定,得到N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均声弹性系数,记为K1,K2,K3……Kn-1,Kn;
A42、根据N2-Nn组各组晶粒度测试样的平均声弹性系数(K2,K3……Kn-1,Kn),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库,k=α(U),将N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1带入k=α(U),算出N1组晶粒度测试样的声弹性系数计算值K1’,将N1组晶粒度测试样的声弹性系数计算值K1’与N1组晶粒度测试样的实际平均声弹性系数K1进行对比,如果误差在δ3%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)有效;如果误差大于δ3%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A41-A42建立晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库,直到满足误差要求;
B1、准备析出相测试样
B11、平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,记为W1组,W2组…Ww-1组,Ww组,每组拉伸样包括相同拉伸样rb根;
B12、对W1组拉伸样不做任何处理,对W2-Ww组拉伸样进行不同条件热处理、同一组中的拉伸样热处理条件相同,具体的热处理条件是:W2组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb小时,W3组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb小时……Ww-1组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb(w-1-2)小时,Ww组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb(w-2)小时,即得到W1-Ww组析出相测试样,其中Δhb为相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数;其中W2-Ww组析出相测试样经过热处理,可认为是零应力状态;
B13、对W1-Ww组析出相测试样进行金相处理,通过显微镜或电子背散射衍射计算出经过金相处理的W1-Ww组各组中所有析出相测试样的析出相量,并分别取W1-Ww组各组中所有析出相测试样的析出相量平均值,分别记为P1,P2,P3……Pw-1,Pw;
B2、建立析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库
B21、使用纵波平探头对W1-Ww组各组中所有析出相测试样分别进行衰减度测试,计算出W1-Ww组各组中所有析出相测试样的纵波信号衰减度平均值,分别记为m1,m2,m3……mw-1,mw;
B22、根据W2-Ww组各组析出相测试样的纵波信号的衰减度平均值(m2,m3……mw-1,mw),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库,P=g(M);将W1组所有析出相测试样的纵波信号衰减度平均值m1带入P=g(M),算出W1组析出相测试样的析出相量计算值P1’;将W1组析出相测试样的析出相量计算值P1’与B13得到的W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1进行对比,如果误差在γ1%以内,符合要求,所建立的析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)有效;如果误差大于γ1%,重新按照B11-B13准备析出相测试样品,并按照B21-B22建立析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库,直到满足误差要求;
B3、建立析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库
B31、分别对W1-Ww组各组中所有析出相测试样进行临界折射纵波速度采集,得到临界折射纵波在W1-Ww组各组析出相测试样的平均传播速度,记为v10,v20,v30……v(w-1)0,vw0,,并根据超声波收发换能器间的距离L,计算出临界折射纵波在W1-Ww组各组析出相测试样的平均传播时间,即为临界折射纵波在不同析出相量的零应力析出相测试样中的平均传播时间,记为t10,t20,t30……t(w-1)0,tw0;
B32、根据临界折射纵波在W2-Ww组各组析出相测试样的平均传播时间(t20,t30……t(w-1)0,tw0),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,t0=χ(P);将W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1带入t0=χ(P),算出临界折射纵波在W1组析出相测试样的传播时间计算值t10’;将临界折射纵波在W1组析出相测试样的传播时间计算值t10’与临界折射纵波在W1组析出相测试样的实际平均传播时间t10进行对比,如果误差在γ2%以内,符合要求,所建立的析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)有效;如果误差大于γ2%,重新按照B11-B13准备晶粒度测试样品,并按照B31-B32建立析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,直到满足误差要求;
B4、建立析出相量与声弹性系数的关系数据库
B41、分别对W1-Ww组各组中所有析出相测试样进行声弹性系数拉伸标定,得到W1-Ww组各组析出相测试样的平均声弹性系数,记为k1,k2,k3……kw-1,kw;
B42、根据W2-Ww组各组析出相测试样的平均声弹性系数(k2,k3……kw-1,kw),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与声弹性系数k的关系数据库,k=β(P),将W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1带入k=β(P),算出W1组析出相测试样的声弹性系数计算值k1’,将W1组析出相测试样的声弹性系数计算值k1’与W1组析出相测试样的实际平均声弹性系数k1进行对比,如果误差在γ3%以内,符合要求,所建立的析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)有效;如果误差大于γ3%,重新按照B11-B13准备析出相测试样品,并按照B41-B42建立析出相量P与声弹性系数k的关系数据库,直到满足误差要求;
C、建立复合数据库
C1、根据A3步建立的晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)和B3步建立的析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P),建立临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P);
C2、根据A4步建立的晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)和B4步建立的析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P),建立声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P);
D、测试待测焊件焊接接头的焊接残余应力
D1、布置待测焊件的超声波残余应力测试区域,所述测试区域包括焊缝区域、热影响区域和母材区域。
D2、使用纵波平探头对待测焊件的测试区域进行衰减度测试,计算出测试区域的纵波信号衰减度,记为Mc;
D3、调用A2步建立的晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M),计算出测试区域的晶粒度计算值Uc,Uc=f(Mc);
D4、调用B2步建立的析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M),计算出测试区域的析出相量计算值Pc,Pc=g(Mc);
D5、调用C1步建立的临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P),计算出测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间tc0,tc0=ψ(Uc,Pc);
D6、调用C2步建立的声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P),计算出测试区域的声弹性系数kc,kc=ω(Uc,Pc)
D7、采集待测焊件的测试区域的临界折射纵波速度vc,并根据超声波收发换能器间的距离L,得到临界折射纵波在测试区域的传播时间tc=L/vc;
D8、根据D5步得到的测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间tc0、D6步得到的测试区域的声弹性系数kc和D7步得到的临界折射纵波在测试区域的传播时间tc,计算待测焊件测试区域的焊接残余应力σc:
本例中所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组的组数n为5。所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,每组拉伸样包括拉伸样根的根数ra为4。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温温度Ta℃为所测试拉伸样材料的晶粒长大温度。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温时间ha小时的保温小时数ha为能够保证N2组拉伸样得到均匀晶粒度所需的时间。所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为能够保证相邻两组拉伸样间存在25%的晶粒度差异的时间。所述步骤A22中验证晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)是否有效设置的误差值δ1%为8%。所述步骤A32中验证晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)是否有效设置的误差值δ2%为8%。所述步骤A42中验证晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)是否有效设置的误差值δ3%为12%。
本例中所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组的组数w为5。所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,每组拉伸样包括的拉伸样根数rb为4。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温温度Tb℃为所测试拉伸样的析出相量改变温度。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温时间hb小时的保温小时数hb为能够保证N2组拉伸样与未进行热处理的拉伸样之间存在12%的析出相量差异的时间。所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为只要能够保证相邻两组拉伸样间存在具有25%的析出相量差异的时间。所述步骤B22中验证析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)是否有效设置的误差值γ1%为8%。所述步骤B32中验证析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)是否有效设置的误差值γ2%为8%。所述步骤B42中验证析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)是否有效设置的误差值γ3%为12%。
图1示出,一种实现上述超声波残余应力测试方法的超声波残余应力测试设备,包括超声换能器组、超声波集成板卡2.0和控制模块3.0,所述超声换能器组包括用于向待测焊件的测试区域发射临界折射纵波的临界折射纵波激发探头1.1和用于接收临界折射波的临界折射纵波接收探头1.2,其结构特点是:所述超声换能器组还包括用于对待测焊件的测试区域进行衰减度测试的纵波平探头1.3;
所述超声波集成板卡2.0的具体结构是:
超声波信号激发模块2.1,与临界折射纵波激发探头1.1和纵波平探头1.3连接,用于激发临界折射纵波激发探头1.1发射临界折射纵波,激发纵波平探头1.3发射超声波纵波信号;
超声波信号采集模块2.2,与临界折射纵波接收探头1.2和纵波平探头1.3连接,用于采集临界折射纵波接收探头1.2接收的临界折射纵波和纵波平探头1.3接收的超声波纵波信号;
数据库模块2.3,包括晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库、晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、晶粒度与声弹性系数的关系数据库,析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库、析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、析出相量与声弹性系数的关系数据库,析出相量和晶粒度与声弹性系数复合的关系数据库,析出相量和晶粒度与超声波零应力样中传播时间的复合关系数据库;
超声波信号处理模块2.4,用于处理纵波平探头1.3发射和接收的超声波纵波信号和临界折射纵波接收探头1.2接收的临界折射纵波信号,根据纵波平探头1.3发射和接收的超声波纵波信号计算出测试区域的纵波衰减度值;然后调用数据库模块2.3中的关系数据库,计算测试区域的残余应力值;
所述控制模块3.0用于指令控制超声波集成板卡2.0中每一个模块。图中,阴影部分表示测试区域。
本发明的使用效果可以通过以下试验得到验证和说明:
选取材料为铝合金A7N01S-T5,按照本实施例步骤A-C建立晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库、晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、晶粒度与声弹性系数的关系数据库,析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库、析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、析出相量与声弹性系数的关系数据库,析出相量和晶粒度与声弹性系数复合的关系数据库,析出相量和晶粒度与超声波零应力样中传播时间的复合关系数据库。在所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度350℃保温0.25小时。所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为0.25小时。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度200℃保温2小时。所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为2h。
选取铝合金A7N01S-T5,尺寸为700*250mm的相同的两块焊接试板(所有的焊接参数均相同),按照图2在两块焊接试板上布置测试区域,所述测试区域包括焊缝区域A、热影响区域B和母材区域C。图中,黑点s1为超声波残余应力测试区域中心,圆圈s2表示盲孔法残余应力测试区域中心,图的右侧为局部放大部分。对其中一块焊接试板,先用传统的超声波残余应力测试法测试焊接试板上各个超声波残余应力测试区域中心s1的残余应力(图3中标识为单LCR波测试),再用本实施例的超声测试设备按照步骤D2-D8测试并计算各个超声波残余应力测试区域中心s1的残余应力(图3中标识为复合系统测试)。对另一块焊接试板,用盲孔法测试盲孔法残余应力测试区域中心s2的残余应力(图3中标识为盲孔法测试)。测试结果如图3所示,传统的超声波残余应力测试法得到的在焊缝区域、热影响区域的测试结果与盲孔法具有非常大的差异,在远离焊缝的母材区域测试结果差异性较小,这是由于传统的超声波残余应力测试法在计算残余应力时,采用母材的声弹性系数和超声波零应力样中传播时间,而焊缝区域和热影响区域与母材区域之间的微观组织存在非常大的差异性。而使用本实施例的测试方法,得到的焊缝区域、热影响区域以及母材区域的残余应力测试结果,均与盲孔法的差异性较小,这是由于本发明方法在计算残余应力时,采用的声弹性系数和超声波零应力样中传播时间是根据微观组织(晶粒度和析出相量)而定,有效修正了焊缝区域、热影响区域和母材区域的晶粒度与析出相量对声弹性系数,超声波在零应力样中传播时间所产生的巨大误差,可显著提高超声波对焊接接头残余应力的测试精度。
实施例二
本实施例的超声波残余应力测试方法与实施例一基本相同,仅仅是步骤中参数的选择不同,本实施例中各个步骤参数的选择如下:
本例中所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组的组数n为4。所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,每组拉伸样包括拉伸样根的根数ra为3。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温温度Ta℃为所测试拉伸样材料的晶粒长大温度。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温时间ha小时的保温小时数ha为能够保证N2组拉伸样得到均匀晶粒度所需的时间。所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为能够保证相邻两组拉伸样间存在15%的晶粒度差异的时间。所述步骤A22中验证晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)是否有效设置的误差值δ1%为7%。所述步骤A32中验证晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)是否有效设置的误差值δ2%为7%。所述步骤A42中验证晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)是否有效设置的误差值δ3%为8%。
本例中所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组的组数w为4。所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,每组拉伸样包括的拉伸样根数rb为3。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温温度Tb℃为所测试拉伸样的析出相量改变温度。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温时间hb小时的保温小时数hb为能够保证N2组拉伸样与未进行热处理的拉伸样之间存在8%的析出相量差异的时间。所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为只要能够保证相邻两组拉伸样间存在具有15%的析出相量差异的时间。所述步骤B22中验证析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)是否有效设置的误差值γ1%为7%。所述步骤B32中验证析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)是否有效设置的误差值γ2%为7%。所述步骤B42中验证析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)是否有效设置的误差值γ3%为8%。
本实施例中实现上述超声波残余应力测试方法的超声波残余应力测试设备与实施例一完全相同,此处不再重复。
实施例三
本实施例的超声波残余应力测试方法与实施例一基本相同,仅仅是步骤中参数的选择不同,本实施例中各个步骤参数的选择如下:
本例中所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组的组数n为6。所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,每组拉伸样包括拉伸样根的根数ra为5。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温温度Ta℃为所测试拉伸样材料的晶粒长大温度。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温时间ha小时的保温小时数ha为能够保证N2组拉伸样得到均匀晶粒度所需的时间。所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为能够保证相邻两组拉伸样间存在10%的晶粒度差异的时间。所述步骤A22中验证晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)是否有效设置的误差值δ1%为5%。所述步骤A32中验证晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)是否有效设置的误差值δ2%为5%。所述步骤A42中验证晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)是否有效设置的误差值δ3%为5%。
本例中所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组的组数w为6。所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,每组拉伸样包括的拉伸样根数rb为5。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温温度Tb℃为所测试拉伸样的析出相量改变温度。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温时间hb小时的保温小时数hb为能够保证N2组拉伸样与未进行热处理的拉伸样之间存在5%的析出相量差异的时间。所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为只要能够保证相邻两组拉伸样间存在具有10%的析出相量差异的时间。所述步骤B22中验证析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)是否有效设置的误差值γ1%为5%。所述步骤B32中验证析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)是否有效设置的误差值γ2%为5%。所述步骤B42中验证析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)是否有效设置的误差值γ3%为5%。
本实施例中实现上述超声波残余应力测试方法的超声波残余应力测试设备与实施例一完全相同,此处不再重复。
实施例四
本实施例的超声波残余应力测试方法与实施例一基本相同,仅仅是步骤中参数的选择不同,本实施例中各个步骤参数的选择如下:
本例中所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组的组数n为7。所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,每组拉伸样包括拉伸样根的根数ra为6。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温温度Ta℃为所测试拉伸样材料的晶粒长大温度。所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温时间ha小时的保温小时数ha为能够保证N2组拉伸样得到均匀晶粒度所需的时间。所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为能够保证相邻两组拉伸样间存在30%的晶粒度差异的时间。所述步骤A22中验证晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)是否有效设置的误差值δ1%为10%。所述步骤A32中验证晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库(U)是否有效设置的误差值δ2%为10%。所述步骤A42中验证晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)是否有效设置的误差值δ3%为15%。
本例中所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组的组数w为5。所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,每组拉伸样包括的拉伸样根数rb为4。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温温度Tb℃为所测试拉伸样的析出相量改变温度。所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温时间hb小时的保温小时数hb为能够保证N2组拉伸样与未进行热处理的拉伸样之间存在15%的析出相量差异的时间。所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为只要能够保证相邻两组拉伸样间存在具有30%的析出相量差异的时间。所述步骤B22中验证析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)是否有效设置的误差值γ1%为10%。所述步骤B32中验证析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)是否有效设置的误差值γ2%为10%。所述步骤B42中验证析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)是否有效设置的误差值γ3%为15%。
本实施例中实现上述超声波残余应力测试方法的超声波残余应力测试设备与实施例一完全相同,此处不再重复。
Claims (18)
1.一种超声波残余应力测试方法,其步骤如下:
A1、准备晶粒度测试样
A11、平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,记为N1组,N2组…Nn-1组,Nn组,每组拉伸样包括相同拉伸样ra根;
A12、对N1组拉伸样不做任何处理,对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理、同一组中的拉伸样热处理条件相同,具体的热处理条件是:N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时,N3组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha小时……Nn-1组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha(n-1-2)小时,Nn组拉伸样在温度Ta℃保温ha+Δha(n-2)小时,即得到N1-Nn组晶粒度测试样,其中Δha为相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数;N2-Nn组晶粒度测试样经过热处理,可认为是零应力状态;
A13、对N1-Nn组晶粒度测试样进行金相处理,通过显微镜或电子背散射衍射计算出经过金相处理的N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的晶粒度,并分别取N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的晶粒度平均值,分别记为U1,U2,U3……Un-1,Un;
A2、建立晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库
A21、使用纵波平探头对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样分别进行衰减度测试,计算出N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样的纵波信号衰减度平均值,分别记为M1,M2,M3……Mn-1,Mn;
A22、根据N2-Nn组各组晶粒度测试样的纵波信号的衰减度平均值(M2,M3……Mn-1,Mn),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库,U=f(M);将N1组所有晶粒度测试样的纵波信号衰减度平均值M1带入U=f(M),算出N1组晶粒度测试样的晶粒度计算值U1’;将N1组晶粒度测试样的晶粒度计算值U1’与A13得到的N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1进行对比,如果误差在δ1%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)有效;如果误差大于δ1%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A21-A22建立晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库,直到满足误差要求;
A3、建立晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库
A31、分别对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样进行临界折射纵波速度采集,得到临界折射纵波在N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播速度,记为V10,V20,V30……V(n-1)0,Vn0,并根据超声波收发换能器间的距离L,计算出临界折射纵波在N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播时间,即为临界折射纵波在不同晶粒尺寸的零应力晶粒度测试样中的平均传播时间,记为T10,T20,T30……T(n-1)0,Tn0;
A32、根据临界折射纵波在N2-Nn组各组晶粒度测试样的平均传播时间(T20,T30……T(n-1)0,Tn0),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,将N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1带入算出临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的传播时间计算值T10’;将临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的传播时间计算值T10’与临界折射纵波在N1组晶粒度测试样的实际平均传播时间T10进行对比,如果误差在δ2%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库有效;如果误差大于δ2%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A31-A32建立晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,直到满足误差要求;
A4、建立晶粒度与声弹性系数的关系数据库
A41、分别对N1-Nn组各组中所有晶粒度测试样进行声弹性系数拉伸标定,得到N1-Nn组各组晶粒度测试样的平均声弹性系数,记为K1,K2,K3……Kn-1,Kn;
A42、根据N2-Nn组各组晶粒度测试样的平均声弹性系数(K2,K3……Kn-1,Kn),与N2-Nn组各组晶粒度测试样的晶粒度平均值(U2,U3……Un-1,Un),利用最小二乘法建立晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库,k=α(U),将N1组所有晶粒度测试样的晶粒度平均值U1带入k=α(U),算出N1组晶粒度测试样的声弹性系数计算值K1’,将N1组晶粒度测试样的声弹性系数计算值K1’与N1组晶粒度测试样的实际平均声弹性系数K1进行对比,如果误差在δ3%以内,符合要求,所建立的晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)有效;如果误差大于δ3%,重新按照A11-A13准备晶粒度测试样品,并按照A41-A42建立晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库,直到满足误差要求;
B1、准备析出相测试样
B11、平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,记为W1组,W2组…Ww-1组,Ww组,每组拉伸样包括相同拉伸样rb根;
B12、对W1组拉伸样不做任何处理,对W2-Ww组拉伸样进行不同条件热处理、同一组中的拉伸样热处理条件相同,具体的热处理条件是:W2组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb小时,W3组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb小时……Ww-1组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb(w-1-2)小时,Ww组拉伸样在温度Tb℃保温时间hb+Δhb(w-2)小时,即得到W1-Ww组析出相测试样,其中Δhb为相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数;其中W2-Ww组析出相测试样经过热处理,可认为是零应力状态;
B13、对W1-Ww组析出相测试样进行金相处理,通过显微镜或电子背散射衍射计算出经过金相处理的W1-Ww组各组中所有析出相测试样的析出相量,并分别取W1-Ww组各组中所有析出相测试样的析出相量平均值,分别记为P1,P2,P3……Pw-1,Pw;
B2、建立析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库
B21、使用纵波平探头对W1-Ww组各组中所有析出相测试样分别进行衰减度测试,计算出W1-Ww组各组中所有析出相测试样的纵波信号衰减度平均值,分别记为m1,m2,m3……mw-1,mw;
B22、根据W2-Ww组各组析出相测试样的纵波信号的衰减度平均值(m2,m3……mw-1,mw),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库,P=g(M);将W1组所有析出相测试样的纵波信号衰减度平均值m1带入P=g(M),算出W1组析出相测试样的析出相量计算值P1’;将W1组析出相测试样的析出相量计算值P1’与B13得到的W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1进行对比,如果误差在γ1%以内,符合要求,所建立的析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)有效;如果误差大于γ1%,重新按照B11-B13准备析出相测试样品,并按照B21-B22建立析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库,直到满足误差要求;
B3、建立析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库
B31、分别对W1-Ww组各组中所有析出相测试样进行临界折射纵波速度采集,得到临界折射纵波在W1-Ww组各组析出相测试样的平均传播速度,记为v10,v20,v30……v(w-1)0,vw0,,并根据超声波收发换能器间的距离L,计算出临界折射纵波在W1-Ww组各组析出相测试样的平均传播时间,即为临界折射纵波在不同析出相量的零应力析出相测试样中的平均传播时间,记为t10,t20,t30……t(w-1)0,tw0;
B32、根据临界折射纵波在W2-Ww组各组析出相测试样的平均传播时间(t20,t30……t(w-1)0,tw0),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,t0=χ(P);将W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1带入t0=χ(P),算出临界折射纵波在W1组析出相测试样的传播时间计算值t10’;将临界折射纵波在W1组析出相测试样的传播时间计算值t10’与临界折射纵波在W1组析出相测试样的实际平均传播时间t10进行对比,如果误差在γ2%以内,符合要求,所建立的析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)有效;如果误差大于γ2%,重新按照B11-B13准备晶粒度测试样品,并按照B31-B32建立析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库,直到满足误差要求;
B4、建立析出相量与声弹性系数的关系数据库
B41、分别对W1-Ww组各组中所有析出相测试样进行声弹性系数拉伸标定,得到W1-Ww组各组析出相测试样的平均声弹性系数,记为k1,k2,k3……kw-1,kw;
B42、根据W2-Ww组各组析出相测试样的平均声弹性系数(k2,k3……kw-1,kw),与W2-Ww组各组析出相测试样的析出相量平均值(P2,P3……Pw-1,Pw),利用最小二乘法建立析出相量P与声弹性系数k的关系数据库,k=β(P),将W1组所有析出相测试样的析出相量平均值P1带入k=β(P),算出W1组析出相测试样的声弹性系数计算值k1’,将W1组析出相测试样的声弹性系数计算值k1’与W1组析出相测试样的实际平均声弹性系数k1进行对比,如果误差在γ3%以内,符合要求,所建立的析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)有效;如果误差大于γ3%,重新按照B11-B13准备析出相测试样品,并按照B41-B42建立析出相量P与声弹性系数k的关系数据库,直到满足误差要求;
C、建立复合数据库
C1、根据A3步建立的晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库和B3步建立的析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P),建立临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P);
C2、根据A4步建立的晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)和B4步建立的析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P),建立声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P);
D、测试待测焊件焊接接头的焊接残余应力
D1、布置待测焊件的超声波残余应力测试区域,所述测试区域包括焊缝区域、热影响区域和母材区域;
D2、使用纵波平探头对待测焊件的测试区域进行衰减度测试,计算出测试区域的纵波信号衰减度,记为Mc;
D3、调用A2步建立的晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M),计算出测试区域的晶粒度计算值Uc,Uc=f(Mc);
D4、调用B2步建立的析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M),计算出测试区域的析出相量计算值Pc,Pc=g(Mc);
D5、调用C1步建立的临界折射纵波在零应力样中传播时间t0与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,t0=ψ(U,P),计算出测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间tc0,tc0=ψ(Uc,Pc);
D6、调用C2步建立的声弹性系数k与晶粒度U和析出相量P的复合关系数据库,k=ω(U,P),计算出测试区域的声弹性系数kc,kc=ω(Uc,Pc)
D7、采集待测焊件的测试区域的临界折射纵波速度vc,并根据超声波收发换能器间的距离L,得到临界折射纵波在测试区域的传播时间tc=L/vc;
D8、根据D5步得到的测试区域的临界折射纵波在零应力拉伸样中传播时间tc0、D6步得到的测试区域的声弹性系数kc和D7步得到的临界折射纵波在测试区域的传播时间tc,计算待测焊件测试区域的焊接残余应力σc:
2.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组的组数n不小于4。
3.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样n组,每组拉伸样包括拉伸样根的根数ra不小于3。
4.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温温度Ta℃为所测试拉伸样材料的晶粒长大温度。
5.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Ta℃保温ha小时中的保温时间ha小时的保温小时数ha为能够保证N2组拉伸样得到均匀晶粒度所需的时间。
6.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δha为能够保证相邻两组拉伸样间存在10-30%的晶粒度差异的时间。
7.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A22中验证晶粒度U与纵波信号衰减度M的关系数据库U=f(M)是否有效设置的误差值δ1%为5-10%。
8.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A32中验证晶粒度U与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库是否有效设置的误差值δ2%为5-10%。
9.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤A42中验证晶粒度U与声弹性系数k的关系数据库k=α(U)是否有效设置的误差值δ3%为5-15%。
10.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组的组数w不小于4。
11.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B11中平行材料轧制或挤压方向切取拉伸样w组,每组拉伸样包括的拉伸样根数rb不小于3。
12.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温温度Tb℃为所测试拉伸样的析出相量改变温度。
13.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B12中对N2-Nn组拉伸样进行不同条件热处理,N2组拉伸样在温度Tb℃保温hb小时中的保温时间hb小时的保温小时数hb为能够保证N2组拉伸样与未进行热处理的拉伸样之间存在5-15%的析出相量差异的时间。
14.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B12中相邻两组拉伸样保温时间相差的小时数Δhb为只要能够保证相邻两组拉伸样间存在具有10-30%的析出相量差异的时间。
15.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B22中验证析出相量P与纵波信号衰减度M的关系数据库P=g(M)是否有效设置的误差值γ1%为5-10%。
16.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B32中验证析出相量P与临界折射纵波在零应力样中传播时间t0的关系数据库t0=χ(P)是否有效设置的误差值γ2%为5-10%。
17.根据权利要求1所述的一种超声波残余应力测试方法,其特征在于:所述步骤B42中验证析出相量P与声弹性系数k的关系数据库k=β(P)是否有效设置的误差值γ3%为5-15%。
18.一种实现权利要求1所述的超声波残余应力测试方法的超声波残余应力测试设备,包括超声换能器组、超声波集成板卡(2.0)和控制模块(3.0),所述超声换能器组包括用于向待测焊件的测试区域发射临界折射纵波的临界折射纵波激发探头(1.1)和用于接收临界折射波的临界折射纵波接收探头(1.2),其特征在于:所述超声换能器组还包括用于对待测焊件的测试区域进行衰减度测试的纵波平探头(1.3);
所述超声波集成板卡(2.0)的具体结构是:
超声波信号激发模块(2.1),与临界折射纵波激发探头(1.1)和纵波平探头(1.3)连接,用于激发临界折射纵波激发探头(1.1)发射临界折射纵波,激发纵波平探头(1.3)发射超声波纵波信号;
超声波信号采集模块(2.2),与临界折射纵波接收探头(1.2)和纵波平探头(1.3)连接,用于采集临界折射纵波接收探头(1.2)接收的临界折射纵波和纵波平探头(1.3)接收的超声波纵波信号;
数据库模块(2.3),包括晶粒度与纵波信号衰减度的关系数据库、晶粒度与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、晶粒度与声弹性系数的关系数据库,析出相量与纵波信号衰减度的关系数据库、析出相量与临界折射纵波在零应力样中传播时间的关系数据库、析出相量与声弹性系数的关系数据库,析出相量和晶粒度与声弹性系数复合的关系数据库,析出相量和晶粒度与超声波零应力样中传播时间的复合关系数据库;
超声波信号处理模块(2.4),用于处理纵波平探头(1.3)发射和接收的超声波纵波信号和临界折射纵波接收探头(1.2)接收的临界折射纵波信号,根据纵波平探头(1.3)发射和接收的超声波纵波信号计算出测试区域的纵波衰减度值;然后调用数据库模块(2.3)中的关系数据库,计算测试区域的残余应力值;
所述控制模块(3.0)用于指令控制超声波集成板卡(2.0)中每一个模块。
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