CN105788500B - 一种不良子像素的定位方法、装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种不良子像素的定位方法、装置,属于显示技术领域,其可解决现有的不良子像素的定位方法无法对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的不良子像素进行定位的问题。本发明的不良子像素的定位方法,包括:向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,以通过不良图形确定出不良子像素的颜色;向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合;根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。

Description

一种不良子像素的定位方法、装置
技术领域
本发明属于显示技术领域,具体涉及一种不良子像素的定位方法、装置。
背景技术
目前,对于不良子像素的定位方法通常为:由于通常情况下,一根数据线控制两个相邻的子像素,向显示面板输入显示信号,对于没有出现断路等问题的数据线来说,其控制的两个子像素可以显示其正常颜色,但对于有断路的数据线来说,在常黑模式下,其控制的两个子像素只能显示黑色(如图1所示)而无法显示其它颜色(以下称有断路的数据线控制的子像素为不良子像素),通过人眼只能看到两个相邻的蓝色,以此可判断出不良子像素的颜色为红色子像素和绿色子像素,此时,操作人员需要对该不良子像素进行定位,得到其位置坐标,从而获取有断路的数据线的位置。
具体地,以不良子像素为红色子像素和绿色子像素为例,如图2所示,向显示面板输入检测信号,使显示面板依次显示多个检测画面,每个所述检测画面包括不良图形1和检测图形2,此时,不良图形1中包括实际显示为黑色的红色子像素和绿色子像素、正常显示的蓝色子像素,检测图形2包括高亮显示的红色子像素和显示为黑色的蓝色子像素和绿色子像素,检测图形2在相邻两个检测画面中挪动一个位置,也就是说,在图2的基础上,经过两个检测画面后,检测图形2覆盖了图2中不良图形1的位置(如图3所示),即检测图形2中的高亮显示的红色子像素覆盖住不良图形1中的实际显示为黑色的红色子像素,检测图形2中的显示为黑色的绿色子像素覆盖住不良图形1中的实际显示为黑色的绿色子像素,检测图形2中的显示为黑色的蓝色子像素覆盖住不良图形1中的正常显示的蓝色子像素,此时,由于检测图形2的位置是已知的(可以通过检测装置显示出位置),因此,基于检测图形2与不良图形1的位置重合,操作人员根据检测图形2的位置就可以定位到不良图形1的位置,从而可以获取到有断路的数据线的位置。
但现有技术中至少存在如下问题:上述方法只能针对在显示信号下完全不显示其正常颜色(即显示黑色)的子像素,而对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的子像素,采用上述方法不能对不良子像素准确定位,其原因是:当检测图形2移动到正常显示的子像素时,检测图形2中只有两个显示黑色的子像素,当检测图形2移动灰度不良的子像素时,检测图形2中也只有两个黑色的子像素,人眼不能辨别检测图形2有无颜色差异,因此,就无法进行定位了。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种能够对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的不良子像素进行定位的不良子像素的定位方法、装置。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种不良子像素的定位方法,包括:
向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,所述显示面板包括依次排列的像素,每个所述像素包括多个子像素,所述测试画面包括不良图形,以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色,所述不良图形对应于不良子像素;
向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,每个所述检测画面包括不良图形和检测图形,所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素,所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压,所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合;
根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
其中,所述检测画面包括检测区域,所述检测区域包括检测图形,所述检测区域对应于检测像素,所述检测像素包括检测子像素。
其中,相邻的检测画面中检测图形的位置不同。
其中,所述测试信号包括每个子像素的灰度值,所述每个子像素的灰度相同。
其中,所述每个子像素的灰度值为63或127。
作为另一技术方案,本发明还提供一种不良子像素的定位装置,包括:
第一输入模块,用于向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,所述显示面板包括依次排列的像素,每个所述像素包括多个子像素,所述测试画面包括不良图形,以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色,所述不良图形对应于不良子像素;
第二输入模块,用于向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,每个所述检测画面包括不良图形和检测图形,所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素,所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压,所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合;
定位模块,用于根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
其中,所述检测画面包括检测区域,所述检测区域包括检测图形,所述检测区域对应于检测像素,所述检测像素包括检测子像素。
其中,相邻的检测画面中检测图形的位置不同。
其中,所述测试信号包括每个子像素的灰度值,所述每个子像素的灰度相同。
其中,所述每个子像素的灰度值为63或127。
本发明的不良子像素的定位方法、装置中,该不良子像素的定位方法,通过将检测子像素的灰度值设置为与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合,根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置,从而获取导致该不良子像素出现灰度值不同的数据线的位置,进而使操作人员对该数据线的对应位置进行修复,以提高产品良率。
附图说明
图1为现有的不良子像素的示意图;
图2为现有的不良子像素的定位方法的一个检测画面;
图3为现有的不良子像素的定位方法的另一个检测画面;
图4为本发明的实施例1的不良子像素的定位方法的流程示意图;
图5为本发明的实施例1的不良子像素的示意图;
图6为本发明的实施例1的不良子像素的定位方法的一个检测画面;
图7为本发明的实施例1的不良子像素的定位方法的另一个检测画面;
图8为本发明的实施例2的不良子像素的定位装置的结构示意图;
其中,附图标记为:1、不良图形;2、检测图形;10、第一输入模块;20、第二输入模块;30、定位模块。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
实施例1:
请参照图4至图7,本实施例提供一种不良子像素的定位方法,包括:
步骤101,向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,显示面板包括依次排列的像素,每个像素包括多个子像素,测试画面包括不良图形1,以通过不良图形1确定出不良子像素的颜色,不良图形对应于不良子像素。
其中,测试信号包括每个子像素的灰度值,每个子像素的灰度相同。
如图5所示,本实施例中以R为不良子像素为例进行说明。如图5所示,当向显示面板输入测试信号后,显示面板上显示出多个像素,每个像素包括三个子像素,分别为红色子像素(R)、绿色子像素(G)和蓝色子像素(B),但该显示面板上存在有短路(即不是完全断路)或连接不良的数据线时,该数据线控制的子像素就会出现能够显示其颜色但颜色的灰度值不同的现象,因此,测试画面中包括不良图形1,不良图形1中包括显示其颜色但颜色的灰度值不同的不良子像素。
需要说明的是,当向显示面板输入测试信号后,操作人员通过肉眼就可以发现不良图形1的位置以及不良子像素的颜色。当然,每个像素中的多个子像素的颜色并不局限于R、G和B,还可以根据实际情况进行调整,在此不再赘述。
步骤102,向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,每个检测画面包括不良图形1和检测图形2,检测图形2对应于与不良子像素的颜色相同的检测子像素,检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压,检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形1与检测图形2重合。
其中,检测画面包括检测区域,检测区域包括检测图形,检测区域对应于检测像素,检测像素包括检测子像素。
其中,相邻的检测画面中检测图形的位置不同。
如图6所示,当向显示面板输入检测信号后,显示面板显示检测图形2,检测图形2中同样包括三个子像素,分别为R、G和B。在步骤101中测试信号已将每个检测画面的灰度值调整为相同(以下称为第一灰度值),但由于不良图形1中的R无法正常显示第一灰度值,因此,检测信号对检测图形2中的R的灰度值进行调节(以下简称第二灰度值),需要说明的是,此时,检测图形2中的G和B的灰度值为第一灰度值。检测图形2在相邻两个检测画面中挪动一个位置,也就是说,在图6的基础上,经过两个检测画面后,检测图形2覆盖了图6中不良图形1的位置(如图7所示)。
其中,每个子像素的灰度值为63或127。
当然,灰度值(即第一灰度值)并不局限于此,还可以为其他常用灰度值,在此不再赘述。
步骤103,根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
当检测图形2与不良图形1重合后,检测图形2的坐标位置即为不良图形1的坐标,从而获取控制不良子像素的数据线的位置,以使操作人员对该数据线的对应位置进行修复,以提高产品良率。
本实施例的具体方法如下例所示:
向显示面板输入测试信号,即显示面板的所有子像素都输入相同的显示相同的第一灰度值的测试信号,第一灰度值为63,虽然输入的测试信号相同,但不良子像素所显示的灰度值与正常的子像素显示的灰度值不同(正常子像素的灰度值为第一灰度值),在此情况下,操作人员可以通过肉眼判断出R为不良子像素,即R的灰度值与其他子像素的第一灰度值不同;向显示面板输入检测信号,在检测信号控制下,检测图形2中的R的第二灰度值设置为70,在经过数个检测画面之后,检测图形2与不良图形1重合,此时,通过检测图形2的坐标位置即为不良图形1的坐标,从而获取控制不良子像素的数据线的位置。
本实施例的不良子像素的定位方法,针对显示面板上存在的数据线短路(即不是完全断路)或连接不良导致其控制的子像素出现能够显示其颜色但颜色的灰度值不同的现象,通过将检测子像素的灰度值设置为与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形1与检测图形2重合,根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置,从而获取导致该不良子像素出现灰度值不同的数据线的位置,进而使操作人员对该数据线的对应位置进行修复,以提高产品良率。
实施例2:
请参照图8,本实施例提供一种不良子像素的定位装置,包括:第一输入模块10、第二输入模块20和定位模块30。
第一输入模块10用于向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,显示面板包括依次排列的像素,每个像素包括多个子像素,测试画面包括不良图形1,以通过不良图形1确定出不良子像素的颜色,不良图形对应于不良子像素。
第二输入模块20用于向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,每个检测画面包括不良图形1和检测图形2,检测图形2对应于与不良子像素的颜色相同的检测子像素,检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压,检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形1与检测图形2重合。
定位模块30用于根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
其中,检测画面包括检测区域,检测区域包括检测图形2,检测区域对应于检测像素,检测像素包括检测子像素。
其中,相邻的检测画面中检测图形2的位置不同。
其中,测试信号包括每个子像素的灰度值,每个子像素的灰度相同。
其中,每个子像素的灰度值为63或127。
本实施例的不良子像素的定位装置用于实现实施例1的不良子像素的定位方法,详细描述可参照实施例1的不良子像素的定位方法,在此不再赘述。
本实施例的不良子像素的定位装置,通过将检测子像素的灰度值设置为与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形1与检测图形2重合,根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置,从而获取导致该不良子像素出现灰度值不同的数据线的位置,进而使操作人员对该数据线的对应位置进行修复,以提高产品良率。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种不良子像素的定位方法,其特征在于,包括:
向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,所述显示面板包括依次排列的像素,每个所述像素包括多个子像素,所述测试画面包括不良图形,以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色,所述不良图形对应于不良子像素;
向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,每个所述检测画面包括不良图形和检测图形,所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素,所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压,所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合;
其中,所述检测画面包括检测区域,所述检测区域包括检测图形,所述检测区域对应于检测像素,所述检测像素包括检测子像素;
根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
2.根据权利要求1所述的不良子像素的定位方法,其特征在于,相邻的检测画面中检测图形的位置不同。
3.根据权利要求1所述的不良子像素的定位方法,其特征在于,所述测试信号包括每个子像素的灰度值,所述每个子像素的灰度相同。
4.根据权利要求3所述的不良子像素的定位方法,其特征在于,所述每个子像素的灰度值为63或127。
5.一种不良子像素的定位装置,其特征在于,包括:
第一输入模块,用于向显示面板输入测试信号,以使显示面板显示测试画面,所述显示面板包括依次排列的像素,每个所述像素包括多个子像素,所述测试画面包括不良图形,以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色,所述不良图形对应于不良子像素;
第二输入模块,用于向显示面板输入检测信号,以使显示面板的多个检测画面依次显示,每个所述检测画面包括不良图形和检测图形,所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素,所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压,所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同,直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合;
其中,所述检测画面包括检测区域,所述检测区域包括检测图形,所述检测区域对应于检测像素,所述检测像素包括检测子像素;
定位模块,用于根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
6.根据权利要求5所述的不良子像素的定位装置,其特征在于,相邻的检测画面中检测图形的位置不同。
7.根据权利要求5所述的不良子像素的定位装置,其特征在于,所述测试信号包括每个子像素的灰度值,所述每个子像素的灰度相同。
8.根据权利要求7所述的不良子像素的定位装置,其特征在于,所述每个子像素的灰度值为63或127。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107564446A (zh) * 2017-09-30 2018-01-09 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种面板点灯机、面板点灯测试系统及测试方法
CN109978864A (zh) * 2019-03-28 2019-07-05 惠科股份有限公司 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质
CN110136619A (zh) * 2019-06-28 2019-08-16 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的不良检测方法、装置、质量管理方法
CN112415431A (zh) * 2019-08-22 2021-02-26 遂宁立讯精密工业有限公司 一种数据线短接不良的检测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1767660A (zh) * 2005-11-16 2006-05-03 北京中星微电子有限公司 一种缺陷像素检测方法
US20070165118A1 (en) * 2006-01-19 2007-07-19 Babak Forutanpour Method and apparatus for defective pixel detection based on the human visual system
CN102595028A (zh) * 2011-01-11 2012-07-18 索尼公司 图像处理装置、图像捕获装置、图像处理方法和程序
CN103698912A (zh) * 2013-12-12 2014-04-02 合肥京东方光电科技有限公司 一种定位缺陷亚像素位置的方法
CN104280909A (zh) * 2014-10-28 2015-01-14 合肥京东方光电科技有限公司 一种显示面板颜色不良的检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1767660A (zh) * 2005-11-16 2006-05-03 北京中星微电子有限公司 一种缺陷像素检测方法
US20070165118A1 (en) * 2006-01-19 2007-07-19 Babak Forutanpour Method and apparatus for defective pixel detection based on the human visual system
CN102595028A (zh) * 2011-01-11 2012-07-18 索尼公司 图像处理装置、图像捕获装置、图像处理方法和程序
CN103698912A (zh) * 2013-12-12 2014-04-02 合肥京东方光电科技有限公司 一种定位缺陷亚像素位置的方法
CN104280909A (zh) * 2014-10-28 2015-01-14 合肥京东方光电科技有限公司 一种显示面板颜色不良的检测方法

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