CN105784118A - 光学检查装置 - Google Patents

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    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters

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Abstract

本发明提供一种光学检查装置，包含：支架，支架包含Z方向支柱、X方向横梁及第一θ方向旋转臂，Z方向支柱具有相对的第一端和第二端，第一端设置于该检测平台上，第二端连接该X方向横梁，第一θ方向旋转臂设置于X方向横梁上；光学模组设置于第一θ方向旋转臂上，且在第一θ方向旋转臂上具有第一检测位置和第二检测位置；其中，第一检测位置与第二检测位置位于第一圆弧轨迹上，光学模组在第一检测位置获取第一检测值，且在第二检测位置获取第二检测值。本发明的光学检查装置设置θ方向旋转臂，使得OLED面板上的同一点可以进行多个视角的光学检查，提高了光学检测效果和检查效率。

Description

光学检查装置
技术领域
本发明涉及光学检查领域，尤其涉及一种光学检查装置。
背景技术
OLED面板在生产过程中会进行多项功能的检测，例如电性检测、光学检测等，而光学检测又可能包含色度检测、辉度检测等，OLED面板的发光材料所发出的色光会影响到OLED显示装置的显示效果及视觉体验，因此色度检测为OLED面板生产过程中较为关键的一项检测。通常OLED面板的色度检测是将色度计设置于OLED面板的正上方进行检查，即从正视角进行测量；然而OLED显示装置在实际应用中通常是供多视角观看，因此，仅仅测量OLED面板的正视角下的色度并不足以反映其在其它视角下的色度，因此，OLED面板在色度检测时需要多视角检查。
发明内容
因此，本发明的目的之一在于提供一种光学检查装置，以解决现有技术中OLED面板不能进行多视角检查的技术问题。
本发明提供一种光学检查装置，用于待测物的光学检查，该光学检查装置包含：支架，该支架包含Z方向支柱、X方向横梁及第一θ方向旋转臂，该Z方向支柱具有相对的第一端和第二端，该第一端设置于该检测平台上，该第二端连接该X方向横梁，该第一θ方向旋转臂设置于该X方向横梁上；以及光学模组，该光学模组设置于该第一θ方向旋转臂上，且在该第一θ方向旋转臂上具有第一检测位置和第二检测位置；其中，该第一检测位置与该第二检测位置位于第一圆弧轨迹上，该光学模组在该第一检测位置获取第一检测值，且在该第二检测位置获取第二检测值。
作为进一步可选的技术方案，该光学模组在该第一检测位置时与在该第二检测位置时对该待测物上的同一点位进行检测，使得该第一检测值与该第二检测值为该待测物上的同一点位的检测值。
作为进一步可选的技术方案，该第一圆弧轨迹的弧长大于1/8圆周长且小于1/4圆周长。
作为进一步可选的技术方案，该第一θ方向旋转臂可绕该Z方向旋转。
作为进一步可选的技术方案，该第一θ方向旋转臂可沿该X方向横梁的长度方向移动，以及/或者该X方向横梁可沿其长度方向在该Z方向支柱上移动。
作为进一步可选的技术方案，该光学模组至少包含第一光学仪，该第一光学仪位于该第一检测位置时获取该第一检测值，该第一光学仪沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置时获取该第二检测值。
作为进一步可选的技术方案，该光学模组至少包含第一光学仪与第二光学仪，该第一光学仪固定于该第一θ方向旋转臂上且位于该第一检测位置，该第二光学仪可沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置，且该第一光学仪用于量测该第一检测值，该第二光学仪用于量测该第二检测值。
作为进一步可选的技术方案，该光学检查装置还包含第二θ方向旋转臂，该第二θ方向旋转臂设置于该X方向横梁上，该光学模组设置于该第二θ方向旋转臂上，该光学模组在该第二θ方向旋转臂上具有该第一检测位置和第三检测位置，且该第一检测位置与该第三检测位置位于第二圆弧轨迹上，该光学仪模组在该第三检测位置时获取第三检测值。
作为进一步可选的技术方案，该光学模组在该第一检测位置时、在该第二检测位置时及在该第三检测位置时对该待测物上的同一点位进行检测，该第一检测值、该第二检测值及该第三检测值为该待测物上的同一点位的检测值。
作为进一步可选的技术方案，该光学模组至少包含第一光学仪，该第一光学仪位于该第一位置时获取该第一检测值，该第一光学仪沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置时获取该第二检测值，且沿该第二圆弧轨迹滑动至该第三检测位置时获取该第三检测值；或者，该光学模组至少包含第一光学仪、第二光学仪及第三光学仪，该第一光学仪固定于该第一θ方向旋转臂及该第二θ方向旋转臂上，且位于该第一位置，该第二光学仪可沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置，该第三光学仪可沿该第二圆弧轨迹滑动至该第三检测位置，且该第一光学仪用于量测该第一检测值，该第二光学仪用于量测该第二检测值，该第三光学仪用于量测该第三检测值。
与现有技术相比，本发明的光学检查装置通过设置第一θ方向旋转臂使得OLED面板上的同一点可以进行多个视角的光学检查，提高了光学检测效果和检查效率。
附图说明
图1为本发明一实施例的光学检查装置的示意图。
图2为本发明另一实施例的光学检查装置的示意图。
具体实施方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。
请参考图1，图1为本发明一实施例的光学检查装置的示意图。本实施例中，光学检查装置100用于待测物的光学检查，例如用于对OLED面板进行光学检查，但不限于此，本发明的光学检查装置亦可用于其它产品的检测。光学检查装置100包含支撑平台110、支架、光学模组130以及检测平台140，支架设置于支撑平台110上，待测物设置于检测平台140上。支架包含Z方向支柱121、X方向横梁122及第一θ方向旋转臂123，Z方向支柱121具有相对的第一端1211和第二端1212，第一端1211设置于支撑平台110上，第二端1212连接X方向横梁122，第一θ方向旋转臂123设置于X方向横梁122上。光学模组130可以是色度计、辉度计、椭偏仪或者上述的组合；光学模组130设置于第一θ方向旋转臂123上，且在第一θ方向旋转臂123上具有第一检测位置1231和第二检测位置1232。其中，第一检测位置1231与第二检测位置1232位于第一圆弧轨迹L1上，具体地，于本实施例中，第一θ方向旋转臂123为圆弧形结构，第一检测位置1231及第二检测位置1232皆位于第一θ方向旋转臂123上。光学模组130在第一检测位置1231获取第一检测值，且在第二检测位置1232获取第二检测值。
于一实施例中，由于第一检测位置1231与第二检测位置1232位于第一圆弧轨迹L1上，光学模组130在第一检测位置1231时与在第二检测位置1232时实际是对待测物上的同一点位进行检测，从而使得第一检测值与第二检测值为待测物上的同一点位的检测值，即对待测物上的同一个点进行等距离多角度的光学测量，使得待测物的同一个点的光学测量值更加准确和全面，提高了光学检测的可信赖度。
于一较佳实施例中，第一圆弧轨迹L1的弧长大于1/8圆周长且小于1/4圆周长，即圆弧形的第一θ方向旋转臂123的弧长大于1/8圆周长且小于1/4圆周长；较佳地，第一检测位置1231位于第一θ方向旋转臂123的一端且位于垂直检测平台140的直线上，且第二检测位置1232与第一检测位置1231距离大于1/8圆周长，即第二检测位置可以位于第一θ方向旋转臂123的1/8圆周长至1/4圆周长的任意位置上，从而提高检测结果的可靠度。
于一具体实施例中，第一θ方向旋转臂123可沿X方向横梁122的长度方向(图中X方向)移动，以及/或者X方向横梁122可沿其长度方向在Z方向支柱121上移动，即，可以通过调节第一θ方向旋转臂123在X方向横梁122上的位置以实现待测物上不同点的测量，亦可以通过调节X方向横梁122的位置来实现待测物上的不同点的测量，亦或是同时调节X方向横梁122及第一θ方向旋转臂123的位置以实现待测物上的不同点的测量。但并不以此为限，于其它实施例中，亦可以通过调节Z方向支柱121的位置或者调节检测台140的位置来实现待测物上的不同点的测量。较佳地，X方向横梁122具有复数个定位卡点1221，以方便第一θ方向旋转臂123的位置调节并定位于多个预定位置。
于另一实施例中，光学模组130至少包含第一光学仪131，第一光学仪131位于第一检测位置1231时获取第一检测值，第一光学仪131沿第一圆弧轨迹L1滑动至第二检测位置1232时获取第二检测值。第一θ方向旋转臂123上具有定位卡点1233，以方便第一光学仪131的位置调节及定位。
于一较佳实施例中，光学模组130至少包含第一光学仪131与第二光学仪132，第一光学仪131固定于第一θ方向旋转臂123上且位于第一检测位置1231，第二光学仪132可沿第一圆弧轨迹L1滑动至第二检测位置1232，且第一光学仪131用于量测第一检测值，第二光学仪132用于量测该第二检测值。于实际应用中，使用者可以根据需要选取光学仪的个数，如三个或更多，并不以上述实施例为限。于其它实施例中，第一光学仪131可以选自色度计、辉度计及椭偏仪的其中之一，第二光学仪132可以选自色度计、辉度计及椭偏仪的其中另一，如此可以同时快速获取多个不同种类的检测值，提高了检测效率。
于另一实施例中，第一θ方向旋转臂123设置为可绕Z方向旋转，如图箭头ω所示，即沿图中第一光学仪131的中轴线δ旋转，如此可实现对待测物从多个角度和多个方位进行量测。
再请结合参考图2，图2为本发明另一实施例的光学检查装置的示意图。光学检查装置100还包含第二θ方向旋转臂124，第二θ方向旋转臂124设置于X方向横梁122上，光学模组130设置于第二θ方向旋转臂124上，光学模组130在第二θ方向旋转臂124上具有第一检测位置1241(1231)和第三检测位置1242，且第一检测位置1241与第三检测位置1242位于第二圆弧轨迹L2上，光学模组130在第三检测位置1242时获取第三检测值。
于一具体实施例中，光学模组130在第一检测位置时1241(1231)、在第二检测位置1232时及在第三检测位置1242时实际是对待测物上的同一点位进行检测，从而使得第一检测值、第二检测值及第三检测值为待测物上的同一点位的检测值，如此实现了对待测物进行同时多角度和多方位的检测。
于另一实施例中，光学模组130至少包含第一光学仪131，第一光学仪131位于第一位置时1241(1231)获取第一检测值，第一光学仪131沿第一圆弧轨迹L1滑动至第二检测位置1232时获取第二检测值，且沿第二圆弧轨迹L2滑动至第三检测位置1242时获取第三检测值。
于一具体实施例中，光学模组130至少包含第一光学仪131、第二光学仪132及第三光学仪133，第一光学仪131固定于第一θ方向旋转臂123上，同时固定于第二θ方向旋转臂124上，且位于第一位置1241(1231)，第二光学仪132可沿第一圆弧轨迹L1滑动至第二检测位置1232，第三光学仪133可沿第二圆弧轨迹L2滑动至第三检测位置1242，且第一光学仪131用于量测第一检测值，第二光学仪132用于量测第二检测值，第三光学仪133用于量测第三检测值，或者于另一实施例中，第一θ方向旋转臂123及/或第二θ方向旋转臂124可绕Z方向旋转，如图2中箭头ω所示，即沿图中第一光学仪131的中轴线δ旋转，以实现对待测物从多个角度和多个方位进行量测。
综上，本发明的光学检查装置通过设置第一θ方向旋转臂/第二θ方向旋转臂，使得OLED面板上的同一点可以进行多个视角的光学检查，提高了光学检测效果和检查效率。
本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。

Claims (10)

1.一种光学检查装置，其特征在于，该光学检查装置包含：
支架，该支架包含Z方向支柱、X方向横梁及第一θ方向旋转臂，该Z方向支柱具有相对的第一端和第二端，该第一端设置于该检测平台上，该第二端连接该X方向横梁，该第一θ方向旋转臂设置于该X方向横梁上；以及
光学模组，该光学模组设置于该第一θ方向旋转臂上，且在该第一θ方向旋转臂上具有第一检测位置和第二检测位置；
其中，该第一检测位置与该第二检测位置位于第一圆弧轨迹上，该光学模组在该第一检测位置获取第一检测值，且在该第二检测位置获取第二检测值。
2.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该光学模组在该第一检测位置时与在该第二检测位置时对该待测物上的同一点位进行检测，使得该第一检测值与该第二检测值为该待测物上的同一点位的检测值。
3.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该第一圆弧轨迹的弧长大于1/8圆周长且小于1/4圆周长。
4.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该第一θ方向旋转臂可绕该Z方向旋转。
5.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该第一θ方向旋转臂可沿该X方向横梁的长度方向移动，以及/或者该X方向横梁可沿其长度方向在该Z方向支柱上移动。
6.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该光学模组至少包含第一光学仪，该第一光学仪位于该第一检测位置时获取该第一检测值，该第一光学仪沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置时获取该第二检测值。
7.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该光学模组至少包含第一光学仪与第二光学仪，该第一光学仪固定于该第一θ方向旋转臂上且位于该第一检测位置，该第二光学仪可沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置，且该第一光学仪用于量测该第一检测值，该第二光学仪用于量测该第二检测值。
8.如权利要求1所述的光学检查装置，其特征在于，该光学检查装置还包含第二θ方向旋转臂，该第二θ方向旋转臂设置于该X方向横梁上，该光学模组设置于该第二θ方向旋转臂上，该光学模组在该第二θ方向旋转臂上具有该第一检测位置和第三检测位置，且该第一检测位置与该第三检测位置位于第二圆弧轨迹上，该光学模组在该第三检测位置时获取第三检测值。
9.如权利要求8所述的光学检查装置，其特征在于，该光学模组在该第一检测位置时、在该第二检测位置时及在该第三检测位置时对该待测物上的同一点位进行检测，该第一检测值、该第二检测值及该第三检测值为该待测物上的同一点位的检测值。
10.如权利要求8所述的光学检查装置，其特征在于，该光学模组至少包含第一光学仪，该第一光学仪位于该第一位置时获取该第一检测值，该第一光学仪沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置时获取该第二检测值，且沿该第二圆弧轨迹滑动至该第三检测位置时获取该第三检测值；或者，该光学模组至少包含第一光学仪、第二光学仪及第三光学仪，该第一光学仪固定于该第一θ方向旋转臂及该第二θ方向旋转臂上，且位于该第一位置，该第二光学仪可沿该第一圆弧轨迹滑动至该第二检测位置，该第三光学仪可沿该第二圆弧轨迹滑动至该第三检测位置，且该第一光学仪用于量测该第一检测值，该第二光学仪用于量测该第二检测值，该第三光学仪用于量测该第三检测值。
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