CN105738856B - 安全性好的电能表校表方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种安全性好的电能表校表方法,包括FCT功能测试机,电流源和电压源;FCT功能测试机分别与电流源、电压源、第一单片机、第二单片机、第一计量芯片、第二计量芯片电连接,电流源、第一互感器、第二互感器依次电连接,第一互感器、第一计量芯片和第一单片机依次电连接,第二互感器、第二计量芯片和第二单片机依次电连接,电压源分别与第一单片机和第二单片机电连接。本发明具有校表效率高、校表精度高、稳定性好,降低了生产成本的特点。

Description

安全性好的电能表校表方法
技术领域
本发明涉及电能表技术领域,尤其是涉及一种校表效率高、校表精度高、稳定性好的安全性好的电能表校表方法。
背景技术
通常生产电能表时,需要通过FCT功能测试机测试PCBA(印刷电路板)是否焊接可靠,PCBA通过FCT测试合格后装配成整表进行校表和误差检测。常规校表方法是将校表参数保存在外部的EEPROM或铁电(FRAM)中,有被读取篡改的可能性,导致通过修改校表参数偷电的问题。
发明内容
本发明的发明目的是为了克服现有技术中FCT测试功能单一,后续PCBA装配成整表后还需要校表并且打一检误差的不足,提供了一种校表效率高、校表精度高、稳定性好的安全性好的电能表校表方法。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种安全性好的电能表校表方法,等待校表的第一电能表的PCBA电路板上设有第一互感器、第一计量芯片和第一单片机;标准电能表的PCBA电路板包括第二互感器、第二单片机和第二计量芯片;包括FCT功能测试机,电流源和电压源;FCT功能测试机分别与电流源、电压源、第一单片机、第二单片机、第一计量芯片、第二计量芯片电连接,电流源、第一互感器、第二互感器依次电连接,第一互感器、第一计量芯片和第一单片机依次电连接,第二互感器、第二计量芯片和第二单片机依次电连接,电压源分别与第一单片机、第一计量芯片、第二单片机和第二计量芯片电连接;第一电能表和标准电能表均为单相电能表;
所述校表方法包括如下步骤:
(1-1)利用电压源给第一单片机上电,FCT功能测试机完成第一单片机的各测试点的电压测试和电流测试;
(1-2)FCT功能测试机使第一单片机处于reset状态;
(1-3)FCT功能测试机获得电压源的源电压U1,电流源的源电流为I1,根据U1、I1和U1、I1的角差θ计算得到有功功率为P1=U1*I1*cosθ、无功功率为Q1=U1*I1*sinθ;
(1-4)FCT功能测试机获得第一计量芯片测得的电压U2、电流I2、有功功率为P2和无功功率为Q2;
(1-5)FCT功能测试机计算有功功率误差errP、无功功率误差errQ、有功校准值GP、无功校准值GQ、电压校准系数GU和电流校准系数GI;
(1-6)FCT功能测试机中存储有bin代码,FCT功能测试机用计算得到的GP,GQ,GU,GI代替bin代码中GP,GQ,GU,GI;并且重新计算bin代码中的校验码L1;
(1-7)FCT功能测试机把bin代码烧录到第一单片机中,并读取第一单片机中bin代码中的校验码L2,当L1和L2相同时,FCT功能测试机的显示屏显示bin代码烧录成功的信息,转入步骤(1-8);当L1≠L2时,FCT功能测试机的显示屏显示bin代码烧录失败的信息;
(1-8)FCT功能测试机检测第一计量芯片、第二计量芯片输出的脉冲参数,做出第一电能表校表成功的判断。
本发明除了在FCT测试阶段完成PCBA焊接是否可靠的测试外,还直接给板载的互感器通上一定的电压和电流信号,采用侵入式测试方法,使用探针绕过第一单片机的控制直接配置第一计量芯片的计量参数,FCT功能测试机完成电压源和电流源的功率、电压、电流的误差计算,并计算出对应PCBA的校表参数,用校表参数替换单片机的bin程序中相应校表参数的位置,最后把带校表参数的bin代码在线烧录到单片机中。
本发明减少了电能表的生产流程,降低了生产成本;本发明将校表参数直接编译到程序中,电能表上电可以直接运行,不需要从外部的存储器中读取,加快了电能表的启动速度。避免了保存校表参数的外部存储器因为误操作或电压不稳导致的校表参数被误擦除,误改写的风险。
因此,本发明具有校表效率高、校表精度高、稳定性好,降低了生产成本的特点。
作为优选,所述步骤(1-8)包括如下具体步骤:
FCT功能测试机使第一单片机脱离reset状态进入正常工作状态,控制电流源和电压源输出若干组由电流、电压和功率因数组成的组合参数;FCT功能测试机检测第一计量芯片、第二计量芯片输出的脉冲;计算第一计量芯片相邻脉冲之间的时间间隔T1,计算第二计量芯片相邻脉冲之间的时间间隔T,当FCT功能测试机做出第一电能表校表成功的判断。
作为优选,所述组合参数为6组,6组组合参数分别为Un,IB,1.0;Un,Imax,1.0;Un,Imin,1.0;Un,IB,0.5L;Un,Imax,0.5L;Un,Imin,0.5L;其中,Un为电能表额定电压,IB为电能表额定电流,Imax为电能表最大电流,Imin为电能表轻载电流,L为感性负载。1.0均为为品质因数,0.5L为感性负载电流信号滞后电压信号60°的品质因数。
作为优选,所述有功功率误差errP的计算公式为所述有功校准值GP的计算公式为GP=errP·215
作为优选,所述无功功率误差errQ的计算公式为所述无功校准值GQ的计算公式为GQ=errQ·215
作为优选,所述电压校准系数GU的计算公式为
作为优选,所述电流校准系数GI的计算公式为
作为优选,(1-1)包括如下步骤:FCT功能测试机通过电压信号端子A,N探针给单片机加额定电压,通过各测试探针测试各个测试点的电压电流;其中,第n个电压测试点Un的电压阈值为[Unmin,Unmax],第n个电流测试点In的电流阈值为[Inmin,Inmax]。
作为优选,还包括电压报警灯、电流报警灯和误差报警灯,电压报警灯、电流报警灯和误差报警灯均与FCT功能测试机电连接;还包括如下步骤:
当Un<Unmin或Un>Unmax,电压报警灯报警
当In<Inmin或In>Inmax,电流报警灯报警
时,误差报警灯报警。
当报警灯闪烁,工作人员会发现第一计量芯片有故障,会及时采用更换及维修等方法解决故障。
因此,本发明具有如下有益效果:校表效率高、校表精度高、稳定性好,降低了生产成本。
附图说明
图1是本发明的一种原理框图;
图2是本发明的一种流程图。
图中:第一计量芯片1、第一单片机2、FCT功能测试机3、电流源4、电压源5、第一互感器6、第二单片机7、第二计量芯片8、第二互感器9、电压报警灯10、电流报警灯11、误差报警灯12。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的描述。
实施例1
如图1所示的实施例是一种安全性好的电能表校表方法,等待校表的第一电能表的PCBA电路板上设有第一互感器6、第一计量芯片1和第一单片机2;标准电能表的PCBA电路板包括第二互感器9、第二单片机7和第二计量芯片8;包括FCT功能测试机3,电流源4和电压源5;FCT功能测试机分别与电流源、电压源、第一单片机、第二单片机、第一计量芯片、第二计量芯片电连接,电流源、第一互感器、第二互感器依次电连接,第一互感器、第一计量芯片和第一单片机依次电连接,第二互感器、第二计量芯片和第二单片机依次电连接,电压源分别与第一单片机、第一计量芯片、第二单片机和第二计量芯片电连接;第一电能表和标准电能表均为单相电能表;
如图2所示,校表方法包括如下步骤:
步骤100,电压、电流检测
利用电压源给第一单片机上电,FCT功能测试机通过电压信号端子A,N探针给单片机加额定电压,通过各测试探针测试各个测试点的电压、电流;其中,第n个电压测试点Un的电压阈值为[Unmin,Unmax],第n个电流测试点In的电流阈值为[Inmin,Inmax]。
步骤200,第一单片机置为reset状态
FCT功能测试机使第一单片机的reset引脚为低电平,从而使第一单片机处于reset状态;
步骤300,获取U1、I1、P1、Q1、角差θ
FCT功能测试机获得电压源的源电压U1,电流源的源电流为I1,根据U1、I1和U1、I1的角差θ计算得到有功功率为P1=U1*I1*cosθ、无功功率为Q1=U1*I1*sinθ;
步骤400,获取U2、I2、P2、Q2
FCT功能测试机获得第一计量芯片测得的电压U2、电流I2、有功功率为P2和无功功率为Q2;
步骤500,计算有功校准值、无功校准值、电压校准系数和电流校准系数
FCT功能测试机计算有功功率误差errP、无功功率误差errQ、有功校准值GP、无功校准值GQ、电压校准系数GU和电流校准系数GI;
有功功率误差errP的计算公式为无功功率误差errQ的计算公式为有功校准值GP的计算公式为GP=errP·215,无功校准值GQ的计算公式为GQ=errQ·215,电压校准系数GU的计算公式为电流校准系数GI的计算公式为
步骤600,用校准参数替换bin代码的对应值
FCT功能测试机中存储有bin代码,FCT功能测试机用计算得到的GP,GQ,GU,GI代替bin代码中GP,GQ,GU,GI;并且重新计算bin代码中的校验码L1;
步骤700,烧录bin代码
FCT功能测试机把bin代码烧录到第一单片机中,并读取第一单片机中bin代码中的校验码L2,当L1和L2相同时,FCT功能测试机的显示屏显示bin代码烧录成功的信息,转入步骤800;当L1≠L2时,FCT功能测试机的显示屏显示bin代码烧录失败的信息;
步骤800,判断校表是否成功
FCT功能测试机释放第一单片机的reset引脚,第一单片机脱离reset状态进入正常工作状态,控制电流源和电压源输出6组由电流、电压和功率因数组成的组合参数;
6组组合参数分别为Un,IB,1.0;Un,Imax,1.0;Un,Imin,1.0;Un,IB,0.5L;Un,Imax,0.5L;Un,Imin,0.5L;其中,Un为电能表额定电压,IB为电能表额定电流,Imax为电能表最大电流,Imin为电能表轻载电流,L为感性负载。
FCT功能测试机分别检测在6种组合参数下的第一计量芯片、第二计量芯片输出的脉冲;计算第一计量芯片相邻脉冲之间的时间间隔T1,计算第二计量芯片相邻脉冲之间的时间间隔T,当6种组合参数下,均满足则FCT功能测试机做出第一电能表校表成功的判断。
实施例2
实施例2包括实施例1的所有结构和步骤部分,实施例2还包括电压报警灯10、电流报警灯11和误差报警灯12,电压报警灯、电流报警灯和误差报警灯均与FCT功能测试机电连接;还包括如下步骤:
当Un<Unmin或Un>Unmax,电压报警灯报警
当In<Inmin或In>Inmax,电流报警灯报警
时,误差报警灯报警。
应理解,本实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解,在阅读了本发明讲授的内容之后,本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改,这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。

Claims (9)

1.一种安全性好的电能表校表方法,等待校表的第一电能表的PCBA电路板上设有第一互感器(6)、第一计量芯片(1)和第一单片机(2);标准电能表的PCBA电路板包括第二互感器(9)、第二单片机(7)和第二计量芯片(8);其特征是,包括FCT功能测试机(3),电流源(4)和电压源(5);FCT功能测试机分别与电流源、电压源、第一单片机、第二单片机、第一计量芯片、第二计量芯片电连接,电流源、第一互感器、第二互感器依次电连接,第一互感器、第一计量芯片和第一单片机依次电连接,第二互感器、第二计量芯片和第二单片机依次电连接,电压源分别与第一单片机、第一计量芯片、第二单片机和第二计量芯片电连接;第一电能表和标准电能表均为单相电能表;
所述校表方法包括如下步骤:
(1-1)利用电压源给第一单片机上电,FCT功能测试机完成第一单片机的各测试点的电压测试和电流测试;
(1-2)FCT功能测试机使第一单片机处于reset状态;
(1-3)FCT功能测试机获得电压源的源电压U1,电流源的源电流为I1,根据U1、I1和U1、I1的角差θ计算得到有功功率为P1=U1*I1*cosθ、无功功率为Q1=U1*I1*sinθ;
(1-4)FCT功能测试机获得第一计量芯片测得的电压U2、电流I2、有功功率为P2和无功功率为Q2;
(1-5)FCT功能测试机计算有功功率误差errP、无功功率误差errQ、有功校准值GP、无功校准值GQ、电压校准系数GU和电流校准系数GI;
(1-6)FCT功能测试机中存储有bin代码,FCT功能测试机用计算得到的GP,GQ,GU,GI代替bin代码中GP,GQ,GU,GI;并且重新计算bin代码中的校验码L1;
(1-7)FCT功能测试机把bin代码烧录到第一单片机中,并读取第一单片机中bin代码中的校验码L2,当L1和L2相同时,FCT功能测试机的显示屏显示bin代码烧录成功的信息,转入步骤(1-8);当L1≠L2时,FCT功能测试机的显示屏显示bin代码烧录失败的信息;
(1-8)FCT功能测试机检测第一计量芯片、第二计量芯片输出的脉冲参数,做出第一电能表校表成功的判断。
2.根据权利要求1所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,所述步骤(1-8)包括如下具体步骤:
FCT功能测试机使第一单片机脱离reset状态进入正常工作状态,控制电流源和电压源输出若干组由电流、电压和功率因数组成的组合参数;FCT功能测试机检测第一计量芯片、第二计量芯片输出的脉冲;计算第一计量芯片相邻脉冲之间的时间间隔T1,计算第二计量芯片相邻脉冲之间的时间间隔T,当FCT功能测试机做出第一电能表校表成功的判断。
3.根据权利要求2所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,所述组合参数为6组,6组组合参数分别为Un,IB,1.0;Un,Imax,1.0;Un,Imin,1.0;Un,IB,0.5L;Un,Imax,0.5L;Un,Imin,0.5L;其中,Un为电能表额定电压,IB为电能表额定电流,Imax为电能表最大电流,Imin为电能表轻载电流,L为感性负载。
4.根据权利要求1所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,所述有功功率误差errP的计算公式为所述有功校准值GP的计算公式为GP=errP·215
5.根据权利要求1所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,所述无功功率误差errQ的计算公式为所述无功校准值GQ的计算公式为GQ=errQ·215
6.根据权利要求1所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,所述电压校准系数GU的计算公式为
7.根据权利要求1所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,所述电流校准系数GI的计算公式为
8.根据权利要求1所述的安全性好的电能表校表方法,其特征是,(1-1)包括如下步骤:FCT功能测试机通过电压信号端子A,N探针给单片机加额定电压,通过各测试探针测试各个测试点的电压、电流;其中,第n个电压测试点Un的电压阈值为[Unmin,Unmax],第n个电流测试点In的电流阈值为[Inmin,Inmax]。
9.根据权利要求2所述的安全性好的电能表校表方法,还包括电压报警灯(10)、电流报警灯(11)和误差报警灯(12),电压报警灯、电流报警灯和误差报警灯均与FCT功能测试机电连接;其特征是,还包括如下步骤:
当Un<Unmin或Un>Unmax,电压报警灯报警
当In<Inmin或In>Inmax,电流报警灯报警
时,误差报警灯报警。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108051770A (zh) * 2017-11-09 2018-05-18 宁波三星医疗电气股份有限公司 一种三相智能电能表的校表方法
CN112596017B (zh) * 2020-11-30 2022-08-02 华立科技股份有限公司 一种基于大数据的单相电能表智能校表方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101806878A (zh) * 2010-04-08 2010-08-18 南京新联电子股份有限公司 单工位校表装置及其校表测试方法
CN101900799A (zh) * 2009-09-30 2010-12-01 广东电网公司电力科学研究院 一种基于模拟溯源法的数字电能表校验装置
CN202305787U (zh) * 2011-10-14 2012-07-04 浙江正泰仪器仪表有限责任公司 一种电能表功能板测试装置
CN102621517A (zh) * 2012-04-06 2012-08-01 青岛乾程电子科技有限公司 一种电表生产过程中的检测与控制方法
CN102967845A (zh) * 2012-11-09 2013-03-13 华立仪表集团股份有限公司 一种电能计量模块的电气参数测试方法与装置
CN202995023U (zh) * 2012-11-09 2013-06-12 华立仪表集团股份有限公司 一种电能计量模块的电气参数测试装置
US8810256B1 (en) * 2008-12-17 2014-08-19 Keithley Instruments, Inc. Impedance meter calibration
CN104166119A (zh) * 2014-09-01 2014-11-26 国家电网公司 一种基于错误注入的智能电能表程序稳定性检测系统
CN204882811U (zh) * 2015-07-15 2015-12-16 深圳市华沃表计科技有限公司 一种pcba在线快速自动烧录、功能测试一体化装置
GB2528162A (en) * 2014-05-09 2016-01-13 Stephen J Willis A consumer unit for electrical power distribution

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8810256B1 (en) * 2008-12-17 2014-08-19 Keithley Instruments, Inc. Impedance meter calibration
CN101900799A (zh) * 2009-09-30 2010-12-01 广东电网公司电力科学研究院 一种基于模拟溯源法的数字电能表校验装置
CN101806878A (zh) * 2010-04-08 2010-08-18 南京新联电子股份有限公司 单工位校表装置及其校表测试方法
CN202305787U (zh) * 2011-10-14 2012-07-04 浙江正泰仪器仪表有限责任公司 一种电能表功能板测试装置
CN102621517A (zh) * 2012-04-06 2012-08-01 青岛乾程电子科技有限公司 一种电表生产过程中的检测与控制方法
CN102967845A (zh) * 2012-11-09 2013-03-13 华立仪表集团股份有限公司 一种电能计量模块的电气参数测试方法与装置
CN202995023U (zh) * 2012-11-09 2013-06-12 华立仪表集团股份有限公司 一种电能计量模块的电气参数测试装置
GB2528162A (en) * 2014-05-09 2016-01-13 Stephen J Willis A consumer unit for electrical power distribution
CN104166119A (zh) * 2014-09-01 2014-11-26 国家电网公司 一种基于错误注入的智能电能表程序稳定性检测系统
CN204882811U (zh) * 2015-07-15 2015-12-16 深圳市华沃表计科技有限公司 一种pcba在线快速自动烧录、功能测试一体化装置

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