CN105699822A - 一种基于图像定位的pcb板级emi测试装置 - Google Patents

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范静
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
    • G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit

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Abstract

本发明涉及一种基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，频谱分析仪、二维运动平台和图像采集模块分别与电脑相连；二维运动平台上一侧固设有图像采集模块；图像采集模板包括摄像头、丝杆装置和步进电机；摄像头设置在丝杆装置上；丝杆装置与步进电机相连；二维运动平台内部设有通过驱动装置可蛇型扫描位于二维运动平台上方的待测PCB的磁场探头；磁场探头与频谱分析仪相连，本发明的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其测试效率高，同时提供相对于封闭的空间和可靠的测试环境，也能对测试结果通过图像定位直观地体现，这样有助于开发人员快速找到PCB问题的来源，运用图像精确地定位，进而能针对问题分析解决措施，缩短设计周期，降低产品设计费用。

Description

一种基于图像定位的PCB板级EMI测试装置
技术领域
本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种基于图像定位的PCB板级EMI测试装置。
背景技术
传统的PCB板级EMI测试装置是直接利用磁场探头连接到频谱仪，手动对PCB进行EMI检测，这样的测试方式存在着诸多问题，首先，测试效率很低，每次测试时都需要重新设置频谱仪，不仅效率低而且容易出错，测试前期的准备时间就相对较长；其次，数据无法保存，传统的测试方法是观察频谱仪数据的变化，但是无法保存，也无法对测试结果有一个直观的体现；最后，传统测试是在开放的空间，而不是相对封闭的空间，周围电磁环境的影响会使测试的结果受到干扰，测试结果不一定可靠。
发明内容
本发明目的是为了克服现有技术的不足而提供一种测试效率和精度高，测试环境可靠，且能保存测试结果的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置。
为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，包括频谱分析仪、二维运动平台、图像采集模块、电脑和磁场探头；所述频谱分析仪、二维运动平台和图像采集模块分别与电脑相连；所述二维运动平台上一侧固设有图像采集模块；所述图像采集模板包括摄像头、丝杆装置和步进电机；所述摄像头设置在丝杆装置上；所述丝杆装置与步进电机相连；所述二维运动平台内部设有通过驱动装置可蛇型扫描位于二维运动平台上方的待测PCB的磁场探头；所述磁场探头与频谱分析仪相连。
优选的，所述驱动装置包括两个二维步进电机、传送带和泡沫；所述传送带通过两个二维步进电机蛇型移动的设置在二维运动平台内部；所述传送带上设有泡沫；所述磁场探头固定在泡沫上表面。
优选的，所述频谱分析仪通过LAN网线与电脑相连。
优选的，所述二维运动平台和图像采集模块通过USB接口与电脑相连。
由于上述技术方案的运用，本发明与现有技术相比具有下列优点：
本发明方案的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其测试效率高，同时提供相对于封闭的空间和可靠的测试环境，也能对测试结果通过图像定位直观地体现，这样不仅有助于开发人员快速地找到PCB问题的来源，运用图像精确地定位，进而能针对问题分析解决措施，进而大大缩短设计周期，降低了产品设计的费用。
附图说明
下面结合附图对本发明技术方案作进一步说明：
附图1为本发明的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置的结构示意图；
其中：1、频谱分析仪；2、二维运动平台；3、图像采集模块；4、电脑；5、泡沫；6、待测PCB。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细说明。
如附图1所示的本发明所述的一种基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，包括频谱分析仪1、二维运动平台2、图像采集模块3、电脑4和磁场探头；所述频谱分析仪1、二维运动平台2和图像采集模块3分别与电脑4相连；所述二维运动平台2上一侧固设有图像采集模块3；所述图像采集模板3包括摄像头、丝杆装置和步进电机；所述摄像头设置在丝杆装置上；所述丝杆装置与步进电机相连；所述二维运动平台2内部设有通过驱动装置可蛇型扫描位于二维运动平台2上方的待测PCB的磁场探头；所述磁场探头与频谱分析仪1相连；所述驱动装置包括两个二维步进电机、传送带和泡沫5；所述传送带通过两个二维步进电机蛇型移动的设置在二维运动平台2内部；所述传送带上设有泡沫5；所述磁场探头（图中未示出）固定在泡沫5上表面；所述频谱分析仪1通过LAN网线与电脑4相连；所述二维运动平台2和图像采集模块3通过USB接口与电脑4相连。
实际操作过程如下：将待测PCB6放置在二维运动平台上，摄像头开启，通过电脑控制步进电机开启，控制摄像头在丝杆装置上进行上下运动，对待测PCB6进行清晰的拍摄，接着利用电脑对频谱分析仪的参数进行设置，通过电脑发送信号给两个二维步进电机，让传送带进行蛇型移动，这样磁性探头就通过传送带对待测PCB6进行蛇型扫描，并向频谱仪进行读取数据，最后对数据进行标定处理，通过三维图或者图像定位算法的方法显示PCB各个位置EMI的大小。
其中采用泡沫让磁场探头与传送带相连，是因为泡沫的材质不会影响测量结果。
本发明的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其测试效率高，同时提供相对于封闭的空间和可靠的测试环境，也能对测试结果通过图像定位直观地体现，这样不仅有助于开发人员快速地找到PCB问题的来源，运用图像精确地定位，进而能针对问题分析解决措施，进而大大缩短设计周期，降低了产品设计的费用。
以上仅是本发明的具体应用范例，对本发明的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本发明权利保护范围之内。

Claims (4)

1.一种基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其特征在于：包括频谱分析仪、二维运动平台、图像采集模块、电脑和磁场探头；所述频谱分析仪、二维运动平台和图像采集模块分别与电脑相连；所述二维运动平台上一侧固设有图像采集模块；所述图像采集模板包括摄像头、丝杆装置和步进电机；所述摄像头设置在丝杆装置上；所述丝杆装置与步进电机相连；所述二维运动平台内部设有通过驱动装置可蛇型扫描位于二维运动平台上方的待测PCB的磁场探头；所述磁场探头与频谱分析仪相连。
2.根据权利要求1所述的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其特征在于：所述驱动装置包括两个二维步进电机、传送带和泡沫；所述传送带通过两个二维步进电机蛇型移动的设置在二维运动平台内部；所述传送带上设有泡沫；所述磁场探头固定在泡沫上表面。
3.根据权利要求1或2所述的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其特征在于：所述频谱分析仪通过LAN网线与电脑相连。
4.根据权利要求3所述的基于图像定位的PCB板级EMI测试装置，其特征在于：所述二维运动平台和图像采集模块通过USB接口与电脑相连。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110646668A (zh) * 2019-08-15 2020-01-03 威凯检测技术有限公司 一种采用线阵列探头的汽车emi诊断装置及诊断方法
CN110837036A (zh) * 2019-11-07 2020-02-25 东南大学 一种电路板故障自动检测系统
CN111413571A (zh) * 2020-04-27 2020-07-14 扬芯科技(深圳)有限公司 一种可视化电磁场自动化测试系统及方法
CN112578320A (zh) * 2019-09-30 2021-03-30 台湾积体电路制造股份有限公司 测量方法和半导体结构的形成方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005227217A (ja) * 2004-02-16 2005-08-25 Technos Kk 基板検査装置及び検査方法
CN201210180Y (zh) * 2008-05-05 2009-03-18 上海工程技术大学 一种用于新型绝缘体上半导体薄膜电学表征的测试系统
CN101477155A (zh) * 2008-01-03 2009-07-08 尚富煜科技股份有限公司 电子接点的定位系统及其方法
CN203630252U (zh) * 2013-12-24 2014-06-04 珠海格力电器股份有限公司 家用电器的测试电路、装置和系统
US9009516B1 (en) * 2014-02-19 2015-04-14 Google Inc. Adjusting a power mode of a wearable computing device based on motion data
CN205608105U (zh) * 2016-03-29 2016-09-28 苏州市职业大学 一种基于图像定位的pcb板级emi测试装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005227217A (ja) * 2004-02-16 2005-08-25 Technos Kk 基板検査装置及び検査方法
CN101477155A (zh) * 2008-01-03 2009-07-08 尚富煜科技股份有限公司 电子接点的定位系统及其方法
CN201210180Y (zh) * 2008-05-05 2009-03-18 上海工程技术大学 一种用于新型绝缘体上半导体薄膜电学表征的测试系统
CN203630252U (zh) * 2013-12-24 2014-06-04 珠海格力电器股份有限公司 家用电器的测试电路、装置和系统
US9009516B1 (en) * 2014-02-19 2015-04-14 Google Inc. Adjusting a power mode of a wearable computing device based on motion data
CN205608105U (zh) * 2016-03-29 2016-09-28 苏州市职业大学 一种基于图像定位的pcb板级emi测试装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
范静: "基于图像定位的PCB板级EMI自动监测系统", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110646668A (zh) * 2019-08-15 2020-01-03 威凯检测技术有限公司 一种采用线阵列探头的汽车emi诊断装置及诊断方法
CN110646668B (zh) * 2019-08-15 2024-02-02 威凯检测技术有限公司 一种采用线阵列探头的汽车emi诊断装置及诊断方法
CN112578320A (zh) * 2019-09-30 2021-03-30 台湾积体电路制造股份有限公司 测量方法和半导体结构的形成方法
CN110837036A (zh) * 2019-11-07 2020-02-25 东南大学 一种电路板故障自动检测系统
CN111413571A (zh) * 2020-04-27 2020-07-14 扬芯科技(深圳)有限公司 一种可视化电磁场自动化测试系统及方法

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