CN105629676A - 基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法及装置 - Google Patents
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Abstract
基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法及装置属于半导体制造装备技术,该装置包括支撑框架、平衡质量块、回转轴、磁浮工件台、工件台测量装置、工件台驱动装置,两个工件台工作于测量位和曝光位之间,采用平面光栅对工件台位置进行测量,工件台采用磁悬浮平面电机驱动,双工件台交换过程中,采用平面电机驱动两个工件台实现单节拍弧线快速换台;本发明解决了现有换台方案节拍多、轨迹长、起停环节多、稳定时间长等问题,减少换台环节,缩短了换台时间,提高了光刻机的产率。
Description
技术领域
本发明属于半导体制造装备技术领域,主要涉及基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧回转换台方法及装置。
背景技术
光刻机是极大规模集成电路制造中重要的超精密装备之一。作为光刻机关键子系统的工件台在很大程度上决定了光刻机的分辨率、套刻精度和产率。
产率是光刻机发展的主要追求目标之一。在满足分辨率和套刻精度的条件下,提高工件台运行效率进而提高提高光刻机产率是工件台技术的发展方向。提高工件台运行效率最直接的方式就是提高工件台的运动加速度和速度,但是为保证原有精度,速度和加速度不能无限制提高。最初的工件台只有一个硅片承载装置,光刻机一次只能处理一个硅片,全部工序串行处理,生产效率低。为此有人提出了双工件台技术,这也是目前提高光刻机生产效率的主流技术手段。双工件台技术在工件台上设有曝光、预处理两个工位和两个工件台,曝光和测量调整可并行处理,大大缩短了时间,提高了生产效率。目前的代表产品为荷兰ASML公司基于Twinscan技术即双工件台技术的光刻机。
提高双工件台的运行效率是目前光刻机工件台技术的发展目标之一。双工件台技术的牵扯到工件台在两个工位之间切换的问题,换台效率直接影响到光刻机工件台的运行效率即光刻机的产率。如何在尽可能缩短换台时间的条件下减小换台对其他系统的干扰一直是研究的重点。在传统双台切换过程中,工件台在曝光和预处理工序中一样为直线驱动,双台专利US2001/0004105A1和W098/40791中,每个工件台有两个可交换配合的单元来实现双台的交换,在不提高工件台运动速度的前提下提高了产率,但由于工件台与导轨之间采用耦合连接方式,在换台过程中工件台与驱动单元会出现短暂的分离,对工件台的定位精度产生较大影响。同时运动单元和导轨较长,运动质量较大,对于运动速度和加速度的提高都产生不利影响。中国专利CN101609265提出了一种平面电机驱动的硅片台多台交换系统,平面电机定子设置在基台顶部,动子设置在硅片台底部,相对于直线电机驱动不存在工件台和驱动单元的分离;中国专利CN101694560中提出了一种采用气浮支撑永磁平面电机驱动的双台交换系统,工件台采用平面电机驱动并通过气浮支撑,避免了前述换台过程中驱动单元与工件台分离问题,减小了工件台运行阻力,减小了平面电机驱动电流,减小了散热问题。
上述专利换台时采用直线换台方案,回转换台方案较直线换台方案有独特优势,因此出现了采用回转换台的双工件台技术。中国专利CN101071275采用回转整个基台的方式实现双工件台的换位,简化了系统结构,同时两个工件台运动无重叠区域,避免了碰撞安全隐患。但是通过回转整个基台实现工件台换位存在转动惯量大,大功率回转电机精密定位困难和发热量大引起系统温升等问题,同时回转半径大,使光刻机主机结构显著增大。中国专利CN102495528在基台中心采用一种回转转接台完成双工件台换台,换台分为三个节拍,提高了换台效率,但回转换台机构结构复杂,回转定位精度较低。
工件台的位置测量精度直接影响到光刻机工件台的定位精度,进而影响到光刻机的最小线宽。工件台在运动过程中速度较大,测量方案必须满足高速测量和精度要求,在美国专利US6498350B2和US20100279232A1中采用多个激光干涉仪来实现一个工件台的位置测量,采用激光干涉仪测量精度高、工作距离长,但是测量光路过长,对湿度和空气紊流所引起误差非常敏感,而且成本较高。
发明内容
针对上述现有技术的不足,本发明提出了一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧回转换台方法及装置,达到实现工件台单节拍快速弧线换台、减少换台环节、缩短换台时间、有效提高了光刻机产率的目的。
本发明的目的是这样实现的:
一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法,该方法包括以下步骤:初始工作状态,测量位第一工件台处于预对准状态,曝光位第二工件台处于曝光状态;第一步,测量位第一工件台预对准完毕后由动磁钢驱动运动到测量位换台预定位置A并充电和等待,曝光位第二工件台曝光完毕后由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C;第二步,第一工件台与第二工件台通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹逆时针运动,在运动过程中,两个工件台的相位不发生变化,运动位置由平面光栅进行测量,当第一工件台由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C、第二工件台由动磁钢驱动运动到测量位预定位置D时,换台结束,第一工件台在曝光位进行硅片光刻曝光,第二工件台在测量位进行硅片上片及硅片预对准操作;第三步,测量位第二工件台预对准完毕后由动磁钢驱动运动到测量位换台预定位置A'并充电和等待,曝光位第一工件台曝光完毕后由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C;第四步,第二工件台与第一工件台通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹顺时针运动,当第二工件台由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C、第一工件台由动磁钢驱动运动到测量位预定位置D时,换台结束,曝光位第二工件台进入曝光状态,测量位第一工件台进行上下片及预对准操作,此时系统回到初始工作状态,完成了包含两次换台操作的一个工作周期,在测量、曝光和换台过程中采用无线通讯方式完成。
一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台装置,该装置包括支撑框架、平衡质量块、第一工件台、第二工件台、无线充电发射器,所述平衡质量块位于支撑框架上方,宏动平面电机定子安装在平衡质量块上的平面上,平衡质量块中心下方与回转轴固接,平衡质量块与支撑框架之间、回转轴与支撑框架之间采用气浮支撑,平衡质量块可以绕回转轴中心转动;第一工件台和第二工件台配置在宏动平面电机定子上方,所述第一工件台和第二工件台运行于测量位和曝光位之间,在第一工件台和第二工件台上平面上分别安装测量位平面光栅和曝光位平面光栅;第一工件台和第二工件台为六自由度磁浮微动台,所述六自由度磁浮微动台由Chuck、吸盘、微动电机、防撞框、宏动平面电机动子、平面光栅读数头、调平调焦传感器、无线充电接收器、无线通讯收发器组成,所述微动电机由微动平面电机动子与重力补偿器动子集成在一起构成,所述吸盘安装在Chuck上,Chuck四个角上安装有四个平面光栅读数头和四个调平调焦传感器,Chuck固定在微动电机上,在微动电机四周安装有防撞框,所述宏动平面电机动子安装在防撞框下方,宏动平面电机动子由磁钢阵列交错排布构成,宏动平面电机定子由线圈阵列成人字形排布构成,所述线圈阵列之间含有气隙。
本发明具有以下创新点和突出优点:
1)提出圆弧矢量换台方法,并设计了圆弧矢量换台装置。采用矢量换台策略将双工件台现有的多节拍直线换台优化为单节拍快速换台,起停次数少、稳定环节少;同时采用弧线轨迹规划缩短了换台路径,回转冲击小、稳定时间短,同时交换过程实时测量系统监测,确保换台过程中宏/微定位精度,直接溯源到激光波长,最终实现了换台的高效率和高精度两个特性的兼顾。这是本发明的创新点和突出优点之一;
2)提出基于回转平衡质量的冲量平衡补偿方法,并设计了具有回转平衡质量机构。该机构可以实现平衡质量块X向、Y向、Z向、Rz运动补偿,相对于主动补偿结构,降低了机构的复杂程度,减小了控制和实施难度,这是本发明的创新点和突出优点之二;
3)提出了无线通电和无线通信的无线缆干扰的工件台交换方法,并设计了无线通电和无线通信的双工件台装置。该装置在磁浮磁驱的基础上,采用无线通电和无线信号传输方式,实现两个微动台电源和通讯信号的无线传输和控制,使得整体结构紧凑,更重要的是消除了电缆和信号线缆扰动对双工件台定位精度的影响,实现了无线供电、无线通信数据的传输和无线缆束缚。这是本发明的创新点和突出优点之三;
4)提出基于动磁钢磁浮平面电机的大行程磁驱方法,并设计了相应的矢量平面电机装置。采用复合电流驱动实现高功效矢量控制,实现六自由度矢量力的合成和分解,具有运动范围大、推力密度大、动态特性好、绕组利用率高、温度分布均匀、热变形小等特点,同时采用动磁钢驱动、无线通信数据传输,无线缆束缚,结构简单,定位精度高,这是本发明的创新点和突出优点之四;
5)提出基于平面光栅的超精密六自由度测量方法,并设计了平面光栅六自由度超精密测量系统。该测量系统较激光干涉仪系统,在测量速度上满足了光刻机系统的测量需求,同时由于其测量噪声小,测量精度高于激光干涉仪,特别是回避了chuck台上平面反射镜的直角反射镜的制造难度与高成本和质量、惯量过大的风险,这是本发明的创新点和突出优点之五。
附图说明
图1是单节拍优化规划弧线快速换台流程示意图。
图2是基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台装置总体结构示意图。
图3是双工件台系统的剖视图。
图4是六自由度磁浮微动台结构示意图。
图5是微动平面电机动子与重力补偿器集成机构示意图。
图6是宏动平面电机动子磁刚阵列排布示意图。
图7是宏动平面电机定子线圈阵列排布示意图。
图中件号:1-支撑框架;2-平衡质量系统;3-宏动平面电机定子;4a-第一工件台;4b-第二工件台;5a-测量位平面光栅;5b-曝光位平面光栅;9-气隙;10-回转轴;11-测量位;12-曝光位;401-Chuck;402-吸盘;403-微动电机;404-防撞框;405-宏动平面电机动子;406-平面光栅读数头;407-调平调焦传感器;408-微动平面电机动子;409-重力补偿器动子;411-磁钢阵列;412-线圈阵列;413-无线充电接收器;414-无线通讯收发器。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施方案作进一步详细说明:
一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法,该方法包括以下步骤:初始工作状态,测量位第一工件台处于预对准状态,曝光位第二工件台处于曝光状态;第一步,测量位第一工件台预对准完毕后由动磁钢驱动运动到测量位换台预定位置A并充电和等待,曝光位第二工件台曝光完毕后由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C;第二步,第一工件台与第二工件台通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹逆时针运动,在运动过程中,两个工件台的相位不发生变化,运动位置由平面光栅进行测量,当第一工件台由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C、第二工件台由动磁钢驱动运动到测量位预定位置D时,换台结束,第一工件台在曝光位进行硅片光刻曝光,第二工件台在测量位进行硅片上片及硅片预对准操作;第三步,测量位第二工件台预对准完毕后由动磁钢驱动运动到测量位换台预定位置A'并充电和等待,曝光位第一工件台曝光完毕后由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C;第四步,第二工件台与第一工件台通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹顺时针运动,当第二工件台由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C、第一工件台由动磁钢驱动运动到测量位预定位置D时,换台结束,曝光位第二工件台进入曝光状态,测量位第一工件台进行上下片及预对准操作,此时系统回到初始工作状态,完成了包含两次换台操作的一个工作周期,在测量、曝光和换台过程中采用无线通讯方式完成。
一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台装置,该装置包括支撑框架1、平衡质量块2、第一工件台4a、第二工件台4b、无线充电发射器30,所述平衡质量块2位于支撑框架1上方,宏动平面电机定子3安装在平衡质量块2上的平面上,平衡质量块2中心下方与回转轴10固接,平衡质量块2与支撑框架1之间、回转轴10与支撑框架1之间采用气浮支撑,平衡质量块2可以绕回转轴10中心转动;第一工件台4a和第二工件台4b配置在宏动平面电机定子3上方,所述第一工件台4a和第二工件台4b运行于测量位11和曝光位12之间,在第一工件台4a和第二工件台4b上平面上分别安装测量位平面光栅5a和曝光位平面光栅5b;第一工件台4a和第二工件台4b为六自由度磁浮微动台,所述六自由度磁浮微动台由Chuck401、吸盘402、微动电机403、防撞框404、宏动平面电机动子405、平面光栅读数头406、调平调焦传感器407、无线充电接收器413、无线通讯收发器414组成,所述微动电机403由微动平面电机动子408与重力补偿器动子409集成在一起构成,所述吸盘402安装在Chuck401上,Chuck401四个角上安装有四个平面光栅读数头406和四个调平调焦传感器407,Chuck401固定在微动电机403上,在微动电机403四周安装有防撞框404,所述宏动平面电机动子405安装在防撞框404下方,宏动平面电机动子405由磁钢阵列411交错排布构成,宏动平面电机定子3由线圈阵列412成人字形排布构成,所述线圈阵列412之间含有气隙9。
本发明工作流程如下:
第一工件台4a在测量位11预对准完毕后由平面电机动驱动运动到换台位置A,等待第二工件台4b在曝光位12完成曝光,第二工件台4b完成曝光后由平面电机驱动运动到换台位置B,然后第一工件台4a与第二工件台4b通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹逆时针运动完成换台操作;换台完成后,第一工件台4a向曝光位12运动在曝光位12进行曝光,第二工件台4b向测量位11运动在测量位11进行上片和预对准操作;率先完成硅片预对准完毕的第二工件台4b运动到测量位换台位置A',等待第一工件台4a完成曝光后运动到换台位置B',然后,第二工件台4b与第一工件台4a通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹顺时针运动,完成第二次换台;换台完成后,第一工件台4a向测量位11运动,第二工件台4b向曝光位12运动,这样完成了一次完整的工作周期。
Claims (2)
1.一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法,其特征在于该方法包括以下步骤:初始工作状态,测量位第一工件台处于预对准状态,曝光位第二工件台处于曝光状态;第一步,测量位第一工件台预对准完毕后由动磁钢驱动运动到测量位换台预定位置A并充电和等待,曝光位第二工件台曝光完毕后由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C;第二步,第一工件台与第二工件台通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹逆时针运动,在运动过程中,两个工件台的相位不发生变化,运动位置由平面光栅进行测量,当第一工件台由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C、第二工件台由动磁钢驱动运动到测量位预定位置D时,换台结束,第一工件台在曝光位进行硅片光刻曝光,第二工件台在测量位进行硅片上片及硅片预对准操作;第三步,测量位第二工件台预对准完毕后由动磁钢驱动运动到测量位换台预定位置A'并充电和等待,曝光位第一工件台曝光完毕后由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C;第四步,第二工件台与第一工件台通过平面电机矢量控制沿圆弧轨迹顺时针运动,当第二工件台由动磁钢驱动运动到曝光位预定位置C、第一工件台由动磁钢驱动运动到测量位预定位置D时,换台结束,曝光位第二工件台进入曝光状态,测量位第一工件台进行上下片及预对准操作,此时系统回到初始工作状态,完成了包含两次换台操作的一个工作周期,在测量、曝光和换台过程中采用无线通讯方式完成。
2.一种基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台装置,其特征在于该装置包括支撑框架(1)、平衡质量块(2)、第一工件台(4a)、第二工件台(4b)、无线充电发射器(30),所述平衡质量块(2)位于支撑框架(1)上方,宏动平面电机定子(3)安装在平衡质量块(2)上的平面上,平衡质量块(2)中心下方与回转轴(10)固接,平衡质量块(2)与支撑框架(1)之间、回转轴(10)与支撑框架(1)之间采用气浮支撑,平衡质量块(2)可以绕回转轴(10)中心转动;第一工件台(4a)和第二工件台(4b)配置在宏动平面电机定子(3)上方,所述第一工件台(4a)和第二工件台(4b)运行于测量位(11)和曝光位(12)之间,在第一工件台(4a)和第二工件台(4b)上平面上分别安装测量位平面光栅(5a)和曝光位平面光栅(5b);第一工件台(4a)和第二工件台(4b)为六自由度磁浮微动台,所述六自由度磁浮微动台由Chuck(401)、吸盘(402)、微动电机(403)、防撞框(404)、宏动平面电机动子(405)、平面光栅读数头(406)、调平调焦传感器(407)、无线充电接收器(413)、无线通讯收发器(414)组成,所述微动电机(403)由微动平面电机动子(408)与重力补偿器动子(409)集成在一起构成,所述吸盘(402)安装在Chuck(401)上,Chuck(401)四个角上安装有四个平面光栅读数头(406)和四个调平调焦传感器(407),Chuck(401)固定在微动电机(403)上,在微动电机(403)四周安装有防撞框(404),所述宏动平面电机动子(405)安装在防撞框(404)下方,宏动平面电机动子(405)由磁钢阵列(411)交错排布构成,宏动平面电机定子(3)由线圈阵列(412)成人字形排布构成,所述线圈阵列(412)之间含有气隙(9)。
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GB1719532.2A GB2556219B (en) | 2016-01-14 | 2016-08-31 | Vector arc revolve transposition method for moving magnetic steel magnetic levitated dual-table system based on revolve balance mass and device thereof |
PCT/CN2016/097504 WO2017121128A1 (zh) | 2016-01-14 | 2016-08-31 | 基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法及装置 |
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GB (1) | GB2556219B (zh) |
WO (1) | WO2017121128A1 (zh) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017121128A1 (zh) * | 2016-01-14 | 2017-07-20 | 哈尔滨工业大学 | 基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法及装置 |
CN109254502A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-01-22 | 哈尔滨工业大学 | 基于气磁悬浮和动磁钢的扫描曝光装置 |
CN109870881A (zh) * | 2019-03-20 | 2019-06-11 | 哈尔滨工业大学 | 宏微组合式长行程精密运动平台 |
CN111830789A (zh) * | 2019-04-17 | 2020-10-27 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 平衡质量装置及光刻设备 |
CN112130425A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-25 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种光刻装置 |
CN112902832A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-04 | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 | 柱形光栅干涉仪及读数头总成装置 |
CN113745138A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-12-03 | 上海隐冠半导体技术有限公司 | 磁浮装置和微动台 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN2938172Y (zh) * | 2006-07-18 | 2007-08-22 | 上海微电子装备有限公司 | 双台轮换曝光精密定位系统 |
TW200945736A (en) * | 2007-12-28 | 2009-11-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Contactless lifting of an object by an inverted planar motor |
CN102495528A (zh) * | 2011-11-12 | 2012-06-13 | 哈尔滨工业大学 | 基于随动防转机构双工件台同相位回转交换方法与装置 |
CN103309176A (zh) * | 2013-06-17 | 2013-09-18 | 清华大学 | 一种带升降真空爪的六自由度微动台 |
CN103531502A (zh) * | 2012-07-03 | 2014-01-22 | 上海微电子装备有限公司 | 一种工件台装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6785005B2 (en) * | 2001-09-21 | 2004-08-31 | Nikon Corporation | Switching type dual wafer stage |
KR20070099609A (ko) * | 2005-01-17 | 2007-10-09 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 이동 디바이스 |
CN102393613B (zh) * | 2011-11-12 | 2014-02-05 | 哈尔滨工业大学 | 一种基于同步齿轮调向的双工件台回转交换装置 |
CN102393611B (zh) * | 2011-11-12 | 2013-10-16 | 哈尔滨工业大学 | 光刻机工件台磁预紧平衡定位系统 |
CN103592820B (zh) * | 2012-08-13 | 2016-09-28 | 上海微电子装备有限公司 | 一种全局调平边沿扫描的装置和方法 |
CN103543613B (zh) * | 2013-09-25 | 2015-12-23 | 清华大学 | 一种动铁式无线缆的六自由度磁浮运动平台 |
CN105629676A (zh) * | 2016-01-14 | 2016-06-01 | 哈尔滨工业大学 | 基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法及装置 |
-
2016
- 2016-01-14 CN CN201610023027.1A patent/CN105629676A/zh active Pending
- 2016-08-31 WO PCT/CN2016/097504 patent/WO2017121128A1/zh active Application Filing
- 2016-08-31 GB GB1719532.2A patent/GB2556219B/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN2938172Y (zh) * | 2006-07-18 | 2007-08-22 | 上海微电子装备有限公司 | 双台轮换曝光精密定位系统 |
TW200945736A (en) * | 2007-12-28 | 2009-11-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Contactless lifting of an object by an inverted planar motor |
CN102495528A (zh) * | 2011-11-12 | 2012-06-13 | 哈尔滨工业大学 | 基于随动防转机构双工件台同相位回转交换方法与装置 |
CN103531502A (zh) * | 2012-07-03 | 2014-01-22 | 上海微电子装备有限公司 | 一种工件台装置 |
CN103309176A (zh) * | 2013-06-17 | 2013-09-18 | 清华大学 | 一种带升降真空爪的六自由度微动台 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
张磊: "动磁钢式磁悬浮平面电机的设计与建模研究", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 工程科技II辑》 * |
武志鹏等: "双工件台光刻机换台过程的轨迹规划及控制", 《哈尔滨工业大学学报》 * |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2556219B (en) * | 2016-01-14 | 2021-03-17 | Harbin Inst Technology | Vector arc revolve transposition method for moving magnetic steel magnetic levitated dual-table system based on revolve balance mass and device thereof |
GB2556219A (en) * | 2016-01-14 | 2018-05-23 | Harbin Inst Technology | Dynamic magnetic steel magnetic levitation dual workpiece stage vector arc stage switching method and device based on rotary balance mass |
WO2017121128A1 (zh) * | 2016-01-14 | 2017-07-20 | 哈尔滨工业大学 | 基于回转平衡质量的动磁钢磁浮双工件台矢量圆弧换台方法及装置 |
CN109254502A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-01-22 | 哈尔滨工业大学 | 基于气磁悬浮和动磁钢的扫描曝光装置 |
CN109870881A (zh) * | 2019-03-20 | 2019-06-11 | 哈尔滨工业大学 | 宏微组合式长行程精密运动平台 |
CN109870881B (zh) * | 2019-03-20 | 2021-06-15 | 哈尔滨工业大学 | 宏微组合式长行程精密运动平台 |
CN111830789A (zh) * | 2019-04-17 | 2020-10-27 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 平衡质量装置及光刻设备 |
CN111830789B (zh) * | 2019-04-17 | 2021-07-02 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 平衡质量装置及光刻设备 |
CN112130425A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-25 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种光刻装置 |
CN112902832A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-04 | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 | 柱形光栅干涉仪及读数头总成装置 |
CN112902832B (zh) * | 2021-01-19 | 2023-08-25 | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 | 柱形光栅干涉仪及读数头总成装置 |
CN113745138A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-12-03 | 上海隐冠半导体技术有限公司 | 磁浮装置和微动台 |
CN113745138B (zh) * | 2021-09-03 | 2024-03-22 | 上海隐冠半导体技术有限公司 | 磁浮装置和微动台 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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GB2556219B (en) | 2021-03-17 |
GB2556219A (en) | 2018-05-23 |
GB201719532D0 (en) | 2018-01-10 |
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