CN105627874A - 一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法 - Google Patents

一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105627874A
CN105627874A CN201510952145.6A CN201510952145A CN105627874A CN 105627874 A CN105627874 A CN 105627874A CN 201510952145 A CN201510952145 A CN 201510952145A CN 105627874 A CN105627874 A CN 105627874A
Authority
CN
China
Prior art keywords
main scale
measurement apparatus
coordinate dimension
product
product coordinate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510952145.6A
Other languages
English (en)
Inventor
陈伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guizhou Anji Aviation Precision Casting Co Ltd
Original Assignee
Guizhou Anji Aviation Precision Casting Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guizhou Anji Aviation Precision Casting Co Ltd filed Critical Guizhou Anji Aviation Precision Casting Co Ltd
Priority to CN201510952145.6A priority Critical patent/CN105627874A/zh
Publication of CN105627874A publication Critical patent/CN105627874A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

本发明公开了一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,包括底座、主尺、副尺,所述主尺安装在底座上,主尺上安装有主尺游标,主尺游标上安装有副尺,副尺上设置有读数装置,读数装置上安装有卡装装置,卡装装置上安装有指示表。测量装置可以测量制件X、Y、Z三个坐标轴方向的坐标,测量精度X轴方向可以达到0.01㎜(该方向能随时随处可归零),Y轴方向精度可达0.02㎜,Z轴可在任意360°方向达到0.002㎜~0.01㎜(即可用分辨率0.01㎜百分表和0.002㎜的千分表测量),且测量过程比较简单。

Description

一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法
技术领域
本发明涉及测量装置领域,尤其涉及一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法。
背景技术
目前,高度卡尺及测高尺在工程(平台)测量中只能用来测量制件表面高度位置和划线的功能,即只能在主尺上下(高度)单一方向进行读数测量(假设其为空间Y轴尺寸),那么在其它的X轴、Z轴均无法进行读数测量,如果要对一些小型数模制件进行坐标尺寸检测/测量,高度卡尺及测高尺是无法进行三维测量的,只能采用三坐标测量仪、关节臂等较大型精密仪器进行测量/检测,测量过程相对比较繁杂。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明旨在提供一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法。
本发明是通过如下技术方案予以实现的:
一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,包括底座、主尺、副尺,所述主尺安装在底座上,主尺上安装有主尺游标,主尺游标上安装有副尺,副尺上设置有读数装置,读数装置上安装有卡装装置,卡装装置上安装有指示表。
所述副尺通过环扣垂直安装在主尺游标的侧面。
所述卡装装置垂直安装在读书装置的下方。
所述卡装装置上设置有转轴。
所述读数装置为数显式标尺。
所述主尺游标、读数装置、环扣、防脱环扣,侧面均安装有调节螺栓。
所述指示表为百分表、千分表、杠杆百分表、杠杆千分表中的一种。
所述主尺与副尺的端头均设置有防脱环扣。
其使用方法为:
a.先将指示表测头接触制件所需测量曲面截线、面的起始点;
b.将所测截线、截面垂直于副尺4的方向缓慢移动制件至所需测量的点
c.通过微调读数装置401将测量数据精确,读数装置401确测出所测截面、线在X轴方向的测量值,指示表403的测出所需测量截面、线在Z轴方向的测量值,主尺游标3测出Y轴方向的测量值。
本发明的有益效果是:
与现有技术相比,本发明提供的该装置等同于一台小型的三坐标测量仪,可以测量制件X、Y、Z三个坐标轴方向的坐标,测量精度X轴方向可以达到0.01㎜(该方向能随时随处可归零),Y轴方向精度可达0.02㎜,Z轴可在任意360°方向达到0.002㎜~0.01㎜(即可用分辨率0.01㎜百分表和0.002㎜的千分表测量),且测量过程比较简单。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图中:1-底座,2-主尺,3-主尺游标,4-副尺,5-防脱环扣,6-调节螺栓,7-环扣,401-读书装置,402-卡装装置,403-指示表,404-转轴。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的技术方案作进一步说明,但所要求的保护范围并不局限于所述;
如图所示,本发明提供的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,包括底座1、主尺2、副尺4,所述主尺2安装在底座2上,主尺2上安装有主尺游标3,主尺游标3上安装有副尺4,副尺4上设置有读数装置401,读数装置401上安装有卡装装置402,卡装装置402上安装有指示表403。
所述副尺4通过环扣7垂直安装在主尺游标3的侧面。通过环扣7可以拆卸副尺4使装置可以单独测量制件的高度。
所述卡装装置402垂直安装在读书装置401的下方。
所述卡装装置402上设置有转轴404。通过转轴404指示表可以360°旋转,使装置可以测量多种类型的曲面零件。
所述读数装置401为数显式标尺。
所述指示表403为百分表、千分表、杠杆百分表、杠杆千分表中的一种。
所述主尺2与副尺4的端头均设置有防脱环扣5。
所述主尺游标3、读数装置401、环扣7、防脱环扣5,侧面均安装有调节螺栓6。
其使用方法为:
a.先将指示表测头接触制件所需测量曲面截线、面的起始点;
b.将所测截线、截面垂直于副尺4的方向缓慢移动制件至所需测量的点;
c.通过微调读数装置401将测量数据精确,读数装置401确测出所测截面、线在X轴方向的测量值,指示表403的测出所需测量截面、线在Z轴方向的测量值,主尺游标3测出Y轴方向的测量值。

Claims (9)

1.一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,包括底座(1)、主尺(2)、副尺(4),其特征在于:所述主尺(2)安装在底座(2)上,主尺(2)上安装有主尺游标(3),主尺游标(3)上安装有副尺(4),副尺(4)上设置有读数装置(401),读数装置(401)上安装有卡装装置(402),卡装装置(402)上安装有指示表(403)。
2.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述副尺(4)通过环扣(7)垂直安装在主尺游标(3)的侧面。
3.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述卡装装置(402)垂直安装在读书装置(401)的下方。
4.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述卡装装置(402)上设置有转轴(404)。
5.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述读数装置(401)为数显式标尺。
6.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述指示表(403)为百分表、千分表、杠杆百分表、杠杆千分表中的一种。
7.根据权利要求1或所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述主尺(2)与副尺(4)的端头均设置有防脱环扣(5)。
8.根据权利要求1或2或3或7所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于:所述主尺游标(3)、读数装置(401)、环扣(7)、防脱环扣(5),侧面均安装有调节螺栓(6)。
9.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法,其特征在于,其使用方法为:
a.先将指示表测头接触制件所需测量曲面截线、面的起始点;
b.将所测截线、截面垂直于副尺(4)的方向缓慢移动制件至所需测量的点;
c.通过微调读数装置(401)将测量数据精确,读数装置(401)确测出所测截面、线在X轴方向的测量值,指示表(403)的测出所需测量截面、线在Z轴方向的测量值,主尺游标(3)测出Y轴方向的测量值。
CN201510952145.6A 2015-12-17 2015-12-17 一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法 Pending CN105627874A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510952145.6A CN105627874A (zh) 2015-12-17 2015-12-17 一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510952145.6A CN105627874A (zh) 2015-12-17 2015-12-17 一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105627874A true CN105627874A (zh) 2016-06-01

Family

ID=56043031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510952145.6A Pending CN105627874A (zh) 2015-12-17 2015-12-17 一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105627874A (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4305207A (en) * 1979-10-01 1981-12-15 Lantz Dane A Three-axis inspection machine
CN1472503A (zh) * 2003-04-30 2004-02-04 西北工业大学 一种三坐标测量仪
CN202599381U (zh) * 2012-04-13 2012-12-12 苏州怡信光电科技有限公司 带有影像处理系统的三坐标测量仪
CN103471480A (zh) * 2013-09-05 2013-12-25 贵州安吉航空精密铸造有限责任公司 一种工件厚度的测量装置
CN203586981U (zh) * 2013-11-19 2014-05-07 江苏省武进职业教育中心校 一种零件尺寸精密测量装置
CN103968733A (zh) * 2014-05-16 2014-08-06 广西大学 贝壳尺寸的检测装置
CN104359436A (zh) * 2014-11-13 2015-02-18 郑大腾 关节臂式三坐标测量机、多测量模型系统及工件测量方法
CN205426028U (zh) * 2015-12-17 2016-08-03 贵州安吉航空精密铸造有限责任公司 一种制件坐标尺寸的测量装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4305207A (en) * 1979-10-01 1981-12-15 Lantz Dane A Three-axis inspection machine
CN1472503A (zh) * 2003-04-30 2004-02-04 西北工业大学 一种三坐标测量仪
CN202599381U (zh) * 2012-04-13 2012-12-12 苏州怡信光电科技有限公司 带有影像处理系统的三坐标测量仪
CN103471480A (zh) * 2013-09-05 2013-12-25 贵州安吉航空精密铸造有限责任公司 一种工件厚度的测量装置
CN203586981U (zh) * 2013-11-19 2014-05-07 江苏省武进职业教育中心校 一种零件尺寸精密测量装置
CN103968733A (zh) * 2014-05-16 2014-08-06 广西大学 贝壳尺寸的检测装置
CN104359436A (zh) * 2014-11-13 2015-02-18 郑大腾 关节臂式三坐标测量机、多测量模型系统及工件测量方法
CN205426028U (zh) * 2015-12-17 2016-08-03 贵州安吉航空精密铸造有限责任公司 一种制件坐标尺寸的测量装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN204346328U (zh) 一种检测轴类零件长度的检具
CN204085427U (zh) 一种垂直度检测量具
CN202329505U (zh) 位置误差检验夹具
CN203719599U (zh) 用于测量间隙宽度的测量装置
CN205037837U (zh) 一种检测坩埚内宽的装置
CN204301670U (zh) 可调式节气门板平面度测量仪
CN205426028U (zh) 一种制件坐标尺寸的测量装置
CN112781523A (zh) 一种基于激光位移测距的便携式表面缺陷检测装置及方法
CN202329454U (zh) 一种基于测长仪的高精度螺纹塞规测量装置
CN204240901U (zh) 可调测量量具
CN202393335U (zh) 垂直度测量仪
CN203657684U (zh) 带轮内孔端面轴向长度测量装置
CN203824505U (zh) 一种用于检测工件平面度的检具
CN110017803A (zh) 一种revo测头b轴零位误差标定方法
CN105091710A (zh) 一种检测坩埚内宽的方法及装置
CN105627874A (zh) 一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法
CN102889834B (zh) 锥螺纹塞规中径测量方法
CN105157639A (zh) 一种组合定位装置及定位方法
CN212082204U (zh) 一种测量基准面定位装置
CN202393336U (zh) 一种新型工件垂直度检测装置
JP6197261B2 (ja) 測定機の校正方法及びその装置
CN205482722U (zh) 一种采用对比法测量浅止口大内径的测量装置
CN105115462A (zh) 一种便于对所得数据进行修正的三坐标测量装置
CN209745251U (zh) 三坐标测量机检定装置
CN205300469U (zh) 一种测量两端面距离的装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20160601

RJ01 Rejection of invention patent application after publication