CN105611559A - 一种终端射频的调试方法及调试系统 - Google Patents

一种终端射频的调试方法及调试系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种终端射频的调试方法及调试系统，包括：扫描开关谱和功率时间信息；根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围；将ramp参数的范围设置成多个子区间；以及分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。本发明通过将ramp参数的范围分为设定的多个子区间，获取功率时间信息确定上升沿与下降沿的范围，根据预设的调试规则进行调试，具有操作过程简单、调试效率高、以及准确性高的特点。

Description

一种终端射频的调试方法及调试系统
技术领域
本发明属于移动通信领域，尤其涉及一种终端射频的调试方法及调试系统。
背景技术
当今的移动通信领域，随着对无线数据业务、无线传输速率不断增强，终端射频(RadioFrequency，RF)调试越来越重要，并且终端射频的调试时间直接影响着整个终端的研发周期。
目前的终端射频调试一般采用开关谱测量方法，其原理是对全球移动通信系统(GlobalSystemforMobileCommunications，GSM)手机的功率切换进行调试，以调制突发脉冲的上升沿和下降沿在其标准载频频率附近不同频偏出的功率谱，通俗来讲为表示它在功率切换时对临近信道的干扰情况，一般的调试方法为手动的调节上升沿和下降沿的数据，使得干扰的程度控制在一定的标准之下。
然而，目前的终端射频调试方法，因为调试过程无规律性，耗费大量时间，且调试方法死板、调试效率低、且准确性不足。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种终端射频的调试方法及调试系统，可以解决现有技术中终端射频调试过程无规律性，耗费大量时间，且调试方法死板、调试效率低、且准确性不足的问题，大大的提升了调试效率和调试的准确性。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种终端射频的调试方法，包括：
扫描开关谱和功率时间信息；
根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围；
将ramp参数的范围设置成多个子区间；以及
分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
为解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种终端射频的调试系统，包括：
扫描模块，用于扫描开关谱和功率时间信息；
范围模块，用于根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围；
区间模块，用于将ramp参数的范围设置成多个子区间；以及
调试模块，用于分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
相对于现有技术，本发明的终端射频的调试方法及调试系统，通过将ramp参数的范围分为设定的多个子区间，获取功率时间信息确定上升沿与下降沿的范围，根据预设的调试规则进行调试，具有操作过程简单、调试效率高、以及准确性高的特点。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的终端射频的调试方法的流程示意图；
图2是本发明实施例二提供的终端射频的调试方法的流程示意图；
图3是本发明实施例三提供的终端射频的调试系统的模块示意图；
图4是本发明实施例四提供的终端射频的调试系统的模块示意图；
图5是本发明实施例提供的扫描界面的示意图。
具体实施方式
请参照附图中的图式，其中相同的组件符号代表相同的组件，本发明的原理是以实施在一适当的运算环境中来举例说明。以下的说明是基于所示例的本发明的具体实施例，其不应被视为限制本发明未在此详述的其它具体实施例。
本发明原理以上述文字来说明，其并不代表为一种限制，本领域技术人员将可了解到以下所述的多种步骤及操作亦可实施在硬件当中。本发明的原理使用许多其它泛用性或特定目的运算、通信环境或组态来进行操作。
本发明提供的终端射频的调试方法及调试系统，主要对智能手机等终端设备的射频参数进行调试，以下以全球移动通信系统(GlobalSystemforMobileCommunications，GSM)为例进行阐释。
请参照以下实施例。
实施例一
请参阅图1，所示为本发明实施例中终端射频的调试方法的流程示意图。
具体而言，所述终端射频的调试方法包括：
在步骤S101中，扫描开关谱和功率时间信息。
如图5所示，为通过综测仪对开关谱和功率时间信息进行扫描所形成的扫描界面，以此获取开关谱和功率时间信息的初始值。所述开关谱就是全球移动通信系统(GlobalSystemforMobileCommunications，GSM)手机功率切换时，调制突发脉冲的上升沿51和下降沿52在其标准载频频率附近不同频偏出的功率谱，通常用开关谱来衡量在功率切换时对临近信道的干扰情况。所述功率时间信息(PowerVsTime，PVT)，为功率随时间变化的曲线关系。
在步骤S102中，根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围。
可以理解的是，每个制式对应的功率控制等级(Powercontrollevel，PCL)上升沿和下降沿各有一定数量的值，通常表示为15-16个数字，通过更改这些数字来调整开关谱以及功率时间信息(PVT)。
在步骤S103中，将ramp参数的范围设置成多个子区间。
其中，ramp参数的范围是0～255，这是系统固定的。以下以四个子区间为例，第一子区间的范围为(200～255)，第二子区间的范围为(40～200)，第三子区间的范围为(10～40)，第四子区间的范围为(0～10)，可以理解的是，上述子区间的个数和范围仅作示例，不作为对本发明的限制，可根据实际情况进行调整。
在步骤S104中，分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
具体而言，本步骤包括：
(1)获取任一子区间的范围、和所对应的上升沿或下降沿的点；
(2)将所述上升沿的点的值依次递增、或将所述下降沿的点的值依次递减；
(3)判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化；
其中，获取开关谱国际标准，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到了优化，若得到了优化，则执行步骤(4)，若未得到优化，则执行步骤(5)。
(4)继续递增或递减；
(5)放弃递增或递减；
(6)获取放弃递增或递减前，所述上升沿或下降沿的点的值；以及
(7)依次获取各子区间的点的值，以生成上升沿和下降沿的ramp参数值。
请同时结合图5，先从第一子区间A的上升沿值开始增加，将横轴上第X14的点所对应的纵轴的值Y14增加1，初始值200，范围为：200－255，对比开关谱值的变化，如果有优化，则继续加1，直到后面的开谱值恶化，保存Y14；接下来第13点重复14的操作，……，直到将第二区间B、第三区间C、和第四区间D中的上升沿的所有点都完成；开始下降沿的数据按照上升沿方式进行扫描。最后，得出上升沿和下降沿这32个点的值。
本发明的终端射频的调试方法，通过将ramp参数的范围分为设定的多个子区间，获取功率时间信息确定上升沿与下降沿的范围，根据预设的调试规则进行调试，具有操作过程简单、调试效率高、以及准确性高的特点。
实施例二
请参阅图2，所示为本发明实施例提供的终端射频的调试方法的流程示意图。其中，图2是图1所示终端射频的调试方法的流程优化，其中与图1相同的步骤，仍以S1开头，与图1不同的步骤以S2开头，以显示其差异所在。
所述终端射频的调试方法，包括：
在步骤S101中，扫描开关谱和功率时间信息。
在步骤S102中，根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围。
在步骤S103中，将ramp参数的范围设置成多个子区间。
在步骤S201中，判断当前的制式是否属于低频。
以GSM为例，其包含有如下4种制式：GSM850，GSM900，DCS1800，PCS1900，其中GSM850、GSM900为低频功率级，功率等级为5至19，DCS1800、PCS1900为高频功率级，功率等级为0至15，此为开关谱的国标。
其中，若判断当前的制式属于低频，则执行步骤S202；若判断当前的制式不属于低频，则执行步骤S203。
在步骤S202中，获取预设的第一调试值。
其中，所述第一调试值Om(m＝5～19)为开关谱国际标准为低频所对应的电信标准化协会(EuropeanTelecommunicationsStandardsInstitute，ETSI)值。如下表1所示：
表1低频功率级的开关谱国标
在步骤S203中，获取预设的第二调试值。
其中，所述第二调试值Pn(n＝0～15)为开关谱国际标准为高频所对应的ETSI值。如下表2所述：
表2高频功率级的开关谱国标
在步骤S204中，根据所述第一调试值或所述第二调试值，分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
具体而言，本步骤包括：
(1)获取任一子区间的范围、和所对应的上升沿或下降沿的点；
(2)将所述上升沿的点的值依次递增、或将所述下降沿的点的值依次递减；
(3)根据所述第一调试值所对应的表1或所述第二调试值所对应的表2，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化；
其中，获取开关谱国际标准，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到了优化，若得到了优化，则执行步骤(4)，若未得到优化，则执行步骤(5)。
(4)继续递增或递减；
(5)放弃递增或递减；
(6)获取放弃递增或递减前，所述上升沿或下降沿的点的值；以及
(7)依次获取各子区间的点的值，以生成上升沿和下降沿的ramp参数值。
在步骤S205中，将所述ramp参数值代入所述开关谱和功率时间信息中进行测试。
可以理解的是，所述ramp参数值为经过优化的参数组，将其组合起来测试，查看在功率切换时，对临近信道的干扰情况。
在步骤S206中，判断测试是否通过。
其中，若测试通过，则执行步骤S207；若测试不通过，则执行步骤S101，重新调值优化。
在步骤S207中，存储所述ramp参数值。
可以理解的是，若测试通过，则表明在功率切换时，对临近信道的干扰情况处于可规定的范围之内，调试成功，将所述ramp参数值保存下来。
本发明的终端射频的调试方法，通过将ramp参数的范围分为设定的多个子区间，获取功率时间信息确定上升沿与下降沿的范围以及开关谱国际标准值，根据所述开关谱国际标准值及预设的调试规则进行调试，过程无需认为干预，具有操作过程简单、调试效率高、以及准确性高的特点。
实施例三
请参阅图3，所示为本发明实施例中终端射频的调试系统的模块示意图。
具体而言，所述终端射频的调试系统300，包括：扫描模块31、范围模块32、区间模块33、以及调试模块34。
扫描模块31，用于扫描开关谱和功率时间信息。
其中，所述开关谱就是全球移动通信系统(GlobalSystemforMobileCommunications，GSM)手机功率切换时，调制突发脉冲的上升沿51和下降沿52在其标准载频频率附近不同频偏出的功率谱，通常用开关谱来衡量在功率切换时对临近信道的干扰情况。所述功率时间信息(PowerVsTime，PVT)，为功率随时间变化的曲线关系。
范围模块32，连接于扫描模块31，用于根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围。
可以理解的是，每个制式对应的功率控制等级(Powercontrollevel，PCL)上升沿和下降沿各有一定数量的值，通常表示为15-16个数字，通过更改这些数字来调整开关谱以及功率时间信息(PVT)。
区间模块33，用于将ramp参数的范围设置成多个子区间。
其中，ramp参数的范围是0～255，这是系统固定的。以下以四个子区间为例，第一子区间的范围为(200～255)，第二子区间的范围为(40～200)，第三子区间的范围为(10～40)，第四子区间的范围为(0～10)，可以理解的是，上述子区间的个数和范围仅作示例，不作为对本发明的限制，可根据实际情况进行调整。
调试模块34，连接于范围模块32与区间模块33，用于分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
其中，所述调试模块34包括：获取子模块341、调值子模块342、频段判断子模块343、调试值获取子模块344、优化判断子模块345、优化子模块346、放弃子模块347、和生成子模块348。
具体而言，所述获取子模块341，用于获取任一子区间的范围、和所对应的上升沿或下降沿的点和还用于获取放弃递增或递减前，所述上升沿或下降沿的点的值。调值子模块342，用于将所述上升沿的点的值依次递增、或将所述下降沿的点的值依次递减。所述频段判断子模块343，用于判断当前的制式是否属于低频。调试值获取子模块344，用于当属于低频时，获取预设的第一调试值或还用于当不属于低频，获取预设的第二调试值。优化判断子模块345，连接于所述调试值获取子模块344，用于根据所述预设的第一调试值或预设的第二调试值判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化。优化子模块346，用于当得到优化时，继续递增或递减。放弃子模块347，用于当未得到优化时，放弃递增或递减。生成子模块348，用于生成依次获取各子区间的点的值，以生成上升沿和下降沿的ramp参数值。
本发明的终端射频的调试系统，通过将ramp参数的范围分为设定的多个子区间，获取功率时间信息确定上升沿与下降沿的范围，根据预设的调试规则进行调试，具有操作过程简单、调试效率高、以及准确性高的特点。
实施例四
请参阅图4，所示为本发明实施例提供的终端射频的调试系统的模块示意图。其中，图4是图3所示终端射频的调试系统的模块优化，其中与图3相同的模块，仍以3开头，不同的模块以4开头，以显示其差异所在，其中相同部分不一一赘述。
所述终端射频的调试系统400，包括：扫描模块31、范围模块32、区间模块33、调试模块34、参数代入模块41、测试判断模块42、存储模块43。
扫描模块31，用于扫描开关谱和功率时间信息。
范围模块32，用于根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围。
区间模块33，用于将ramp参数的范围设置成多个子区间。
其中，ramp参数的范围是0～255，这是系统固定的。以下以四个子区间为例，第一子区间的范围为(200～255)，第二子区间的范围为(40～200)，第三子区间的范围为(10～40)，第四子区间的范围为(0～10)，可以理解的是，上述子区间的个数和范围仅作示例，不作为对本发明的限制，可根据实际情况进行调整。
调试模块34，用于分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
其中，所述调试模块34包括：获取子模块341、调值子模块342、频段判断子模块343、调试值获取子模块344、优化判断子模块345、优化子模块346、放弃子模块347、和生成子模块348。
具体而言，所述获取子模块341，用于获取任一子区间的范围、和所对应的上升沿或下降沿的点和还用于获取放弃递增或递减前，所述上升沿或下降沿的点的值。调值子模块342，用于将所述上升沿的点的值依次递增、或将所述下降沿的点的值依次递减。所述频段判断子模块343，用于判断当前的制式是否属于低频。调试值获取子模块344，用于当属于低频时，获取预设的第一调试值或还用于当不属于低频，获取预设的第二调试值。优化判断子模块345，连接于所述调试值获取子模块344，用于根据所述预设的第一调试值或预设的第二调试值判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化。优化子模块346，用于当得到优化时，继续递增或递减。放弃子模块347，用于当未得到优化时，放弃递增或递减。生成子模块348，用于生成依次获取各子区间的点的值，以生成上升沿和下降沿的ramp参数值。
参数代入模块41，连接于所述调试模块34，用于将所述ramp参数值代入所述开关谱和功率时间信息中进行测试。
可以理解的是，所述ramp参数值为经过优化的参数组，将其组合起来测试，查看在功率切换时，对临近信道的干扰情况。
测试判断模块42，用于判断测试是否通过。
存储模块43，连接于测试判断模块42，用于当测试通过时，存储所述ramp参数值。
可以理解的是，若测试通过，则表明在功率切换时，对临近信道的干扰情况处于可规定的范围之内，调试成功，将所述ramp参数值保存下来。
所述扫描模块31，还连接于测试判断模块42，用于当测试不通过时，继续扫描，并获得新的ramp参数。
本发明的终端射频的调试系统，通过将ramp参数的范围分为设定的多个子区间，获取功率时间信息确定上升沿与下降沿的范围以及开关谱国际标准值，根据所述开关谱国际标准值及预设的调试规则进行调试，过程无需认为干预，具有操作过程简单、调试效率高、以及准确性高的特点。
本发明实施例提供的终端射频的调试方法及调试系统属于同一构思，其具体实现过程详见说明书全文，此处不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器(ROM，ReadOnlyMemory)、随机存取记忆体(RAM，RandomAccessMemory)、磁盘或光盘等。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种终端射频的调试方法，其特征在于，包括：
扫描开关谱和功率时间信息；
根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围；
将ramp参数的范围设置成多个子区间；以及
分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
2.如权利要求1所述的调试方法，其特征在于，分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值，之后还包括：
将所述ramp参数值代入所述开关谱和功率时间信息中进行测试；
判断测试是否通过；
若测试通过，则存储所述ramp参数值；或
若测试不通过，则重新扫描开关谱和功率时间信息。
3.如权利要求1所述的调试方法，其特征在于，分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值，包括：
获取任一子区间的范围、和所对应的上升沿或下降沿的点；
将所述上升沿的点的值依次递增、或将所述下降沿的点的值依次递减；
判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化；
若得到优化，则继续递增或递减；
若未得到优化，则放弃递增或递减；
获取放弃递增或递减前，所述上升沿或下降沿的点的值；以及
依次获取各子区间的点的值，以生成上升沿和下降沿的ramp参数值。
4.如权利要求3所述的调试方法，其特征在于，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化，之前还包括：
判断当前的制式是否属于低频；
若属于低频，则获取预设的第一调试值；
判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化，具体为：根据所述第一调试值，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化。
5.如权利要求4所述的调试方法，其特征在于，判断当前的制式是否属于低频，之后还包括：
若不属于低频，则获取预设的第二调试值；
判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化，具体为：根据所述第二调试值，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化。
6.一种终端射频的调试系统，其特征在于，包括：
扫描模块，用于扫描开关谱和功率时间信息；
范围模块，用于根据所述功率时间信息确定上升沿和下降沿的范围；
区间模块，用于将ramp参数的范围设置成多个子区间；以及
调试模块，用于分别对所述子区间所对应的上升沿和下降沿的范围进行调试，得到上升沿和下降沿的ramp参数值。
7.如权利要求6所述的调试系统，其特征在于，还包括：
参数代入模块，连接于所述调试模块，用于将所述ramp参数值代入所述开关谱和功率时间信息中进行测试；
测试判断模块，用于判断测试是否通过；
存储模块，用于当测试通过时，存储所述ramp参数值；
所述扫描模块，还用于当测试不通过时，重新扫描开关谱和功率时间信息。
8.如权利要求6所述的调试系统，其特征在于，所述调试模块，包括：
获取子模块，用于获取任一子区间的范围、和所对应的上升沿或下降沿的点；
调值子模块，用于将所述上升沿的点的值依次递增、或将所述下降沿的点的值依次递减；
优化判断子模块，用于判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化；
优化子模块，用于当得到优化时，继续递增或递减；
放弃子模块，用于当未得到优化时，放弃递增或递减；
所述获取子模块，还用于获取放弃递增或递减前，所述上升沿或下降沿的点的值；以及
生成子模块，用于生成依次获取各子区间的点的值，以生成上升沿和下降沿的ramp参数值。
9.如权利要求8所述的调试系统，其特征在于，还包括：
频段判断子模块，用于判断当前的制式是否属于低频；
调试值获取子模块，用于当属于低频时，获取预设的第一调试值；
所述优化判断子模块，还用于根据所述第一调试值，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化。
10.如权利要求9所述的调试系统，其特征在于，还包括：
所述调试值获取子模块，还用于当不属于低频，获取预设的第二调试值；
所述优化判断子模块，还用于根据所述第二调试值，判断递增或递减后对应的开关谱的值是否得到优化。
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