CN105551433B - 阵列基板及其驱动方法、显示面板 - Google Patents

Abstract

本申请公开了阵列基板及其驱动方法、显示面板。阵列基板至少包括呈阵列排布的子像素、多个第一发光控制信号线组和多个第二发光控制信号线组，每个第一发光控制信号线组包括至少一条第一发光控制信号线，每个第二发光控制信号线组包括至少一条第二发光控制信号线；每一列子像素中，与第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同；所述方法包括：向第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有其他发光控制信号线组施加第二信号，以使与第一发光控制信号线组连接的子像素显示、与其他发光控制信号线组连接的子像素不显示。该方法可以实现在视觉测试阶段对阵列基板显示性能的测试。

Description

阵列基板及其驱动方法、显示面板

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及显示面板的驱动技术领域，尤其涉及阵列基板及其驱动方法、显示面板。

背景技术

在显示面板的设计中，阵列基板上的子像素阵列可以具有多种排列方式。诸如条带式排列和非条带式排列。在条带式排列方式中，数据线方向上的同一列子像素颜色相同，在扫描线方向上子像素按照红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素的顺序重复排列；在非条带式的排列方式中，数据线方向上的同一列子像素的颜色可以不相同，每一条数据线驱动多种颜色的子像素。

通常，在制作显示面板时，需将阵列基板、驱动IC、柔性电路板、背光源、偏光片等材料进行组装。在组装之前，需要测试显示面板上的子像素是否可以显示正常的画面，以筛选出显示性能合格的阵列基板。这时，可以测试显示面板所显示的红色、绿色、蓝色等纯色的画面是否存在色偏或漏光点。一般地，可以在组装之前通过视觉测试(Visual Test，VT)对子像素阵列进行测试，也可以在上述组装过程完毕后通过电学测试(Electronic Test，ET)测试显示面板上的子像素是否可以正常显示。在视觉测试阶段，为了简化测试电路的结构，一般将全部数据线短接在一起，通过一条或两条信号线分时驱动整个子像素阵列。对于非条带式排列的子像素阵列，若要显示红色、绿色、蓝色等纯色的画面，需要向每一条数据线施加电平信号的变化频率较高的信号，而由于向子像素提供数据信号的信号线上的电平信号变化频率较高，使得测试电路的负载过大，增大了测试电路中的等效电阻，从而增加了数据线充电所需的时间，无法满足正常显示纯色画面时数据线的充电速度，部分数据线的信号会产生延迟，造成显示不均的问题，不能正常反映阵列基板的显示性能。在这种子像素排列方式中，只能在电测试阶段检测出纯色画面的色偏，有可能造成了驱动电路、柔性电路板、偏光片等材料的消耗。

发明内容

有鉴于此，期望能够提供一种在视觉测试阶段可以检测阵列基板的色偏的驱动电路。为了解决上述问题，本申请提供了阵列基板及其驱动方法、显示面板。

第一方面，本申请提供了一种阵列基板的驱动方法，所述阵列基板至少包括呈阵列排布的子像素、多个第一发光控制信号线组和多个第二发光控制信号线组，每个所述第一发光控制信号线组包括至少一条第一发光控制信号线，每个所述第二发光控制信号线组包括至少一条第二发光控制信号线，每一条所述第一发光控制信号线或所述第二发光控制信号线分别与一行所述子像素连接；每一列所述子像素中，与所述第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同；所述方法包括：向所述第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有其他发光控制信号线组施加第二信号，以使得与所述第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与所述其他发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

第二方面，本申请提供了一种阵列基板，包括驱动电路，所述驱动电路应用本申请第一方面所提供的驱动方法驱动所述阵列基板。

第三方面，本申请提供了一种阵列基板，包括第一驱动电路和第二驱动电路；所述第一驱动电路和所述第二驱动电路设置于所述阵列基板的显示区之外的两侧；所述第一驱动电路和所述第二驱动电路均应用本申请第一方面所提供的驱动方法驱动所述阵列基板。

第四方面，本申请提供了一种显示面板，包括本申请第三方面提供的阵列基板或本申请第四方面提供的阵列基板。

本申请提供的阵列基板及其驱动方法、显示面板，通过将发光控制信号线按照子像素的排列进行分组，采用多组信号分别控制不同发光控制信号线组，在测试纯色画面的显示时能够降低测试信号的电平变化频率，降低测试电路的负载，实现在视觉测试阶段对阵列基板显示性能的测试，从而避免中间制程的材料消耗。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是可以应用本申请的驱动方法的阵列基板的一个结构示意图；

图2是图1所示阵列基板中一个子像素内的电路结构示意图；

图3是可以应用本申请的驱动方法的阵列基板的一个具体结构示意图；

图4是本申请提供的驱动方法应用于图3所示阵列基板的一个工作时序图；

图5是可以应用本申请的驱动方法的阵列基板的另一个具体结构示意图；

图6是本申请提供的驱动方法应用于图5所示阵列基板的一个工作时序图；

图7是本申请提供的阵列基板的一个实施例的结构示意图；

图8是本申请提供的阵列基板中发光控制器的一个实施例的结构示意图；

图9是本申请提供的阵列基板的另一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

请参考图1，其示出了可以应用本申请的驱动方法的阵列基板的一个结构示意图。如图1所示，阵列基板100包括呈阵列排布的子像素11以及多条发光控制信号线。其中，多条发光控制信号线至少包括多个第一发光控制信号线组E11、E12、…，多个第二发光控制信号线组E21、E22、…。在图1所示的实施例中，阵列基板100还可以包括多个第三发光控制信号线组E31、E32、…，第四发光控制信号线组等(图1未示出)。其中，每个第一发光控制信号线组可以包括至少一条第一发光控制信号线，例如第一发光控制信号线组E11包括两条第一发光控制信号线E111和E112，第一发光控制信号线组E12包括两条第一发光控制信号线E121和E122。每个第二发光控制信号线组包括至少一条第二发光控制信号线，例如第二发光控制信号线组E21包括两条第二发光控制信号线E211和E212，第二发光控制信号线组E22包括两条第二发光控制信号线E221和E222。子像素阵列11中，每一条上述第一发光控制信号线或第二发光控制信号线分别与子像素阵列11中的一行子像素连接。

在本实施例的一些可选的实现方式中，阵列基板100还可以包括多条扫描线G11和多条数据线S11、S12、S13、S14、S15、…。每一条扫描线连接一行子像素，每一条数据线连接一列子像素。

在本实施例中，阵列基板100的子像素呈非条带状排列。在每一列子像素中，与第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同。也就是说，在与一条数据线连接的各子像素中，与第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同。例如图1中，与数据线S11连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线E111、E112、E121、E122连接的各子像素均为红色子像素R；与数据线S12连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线E111、E112、E121、E122连接的各子像素均为绿色子像素G；与数据线S13连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线E111、E112、E121、E122连接的各子像素均为蓝色子像素B；与数据线S14连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线E111、E112、E121、E122连接的各子像素均为红色子像素R；与数据线S15连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线E111、E112、E121、E122连接的各子像素均为绿色子像素G。

在本实施例的一些可选的实现方式中，在每一列子像素中，与第N发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同，其中，N≥1。

需要说明的是，虽然图1中以每一列子像素中各子像素在数据线方向上对齐排列作为示例进行描述，但在本实施例的多个可选的实现方式中，一列子像素中的任意两个子像素在数据线方向上可以形成具有小于一个子像素宽度交错的排列，本申请对此不作限定。

在本实施例中，可以采用如下驱动方法驱动图1所示的阵列基板：向第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有其他发光控制信号线组施加第二信号，以使得与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与其他发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

具体地，可以向图1所示阵列基板100中的第一发光控制信号线组E11、E12、…逐组施加第一信号，使与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示；在向第一发光控制信号线组E11、E12、…逐组施加第一信号时，可以向第二发光控制信号线组E21、E22、第三发光控制信号线组E31、E32、…等其他所有发光控制信号线组施加第二信号，使得与除第一发光控制信号线组之外的其他发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

由此，本实施例提供的驱动方法在应用于VT测试时，若需要测试纯色画面，例如红色、蓝色和绿色画面，可以通过一条VT测试线向所有数据线提供测试信号，由于所述的驱动方法中与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示，与其他发光控制信号线组连接的子像素不进行显示，向VT测试线施加直流的测试信号即可实现纯色画面的显示，从而避免了VT测试线上信号变化频率过高导致的显示延迟的问题，能够准确地测试阵列基板的显示性能，避免显示性能不合格的阵列基板在中间制程对驱动IC、柔性电路板、偏光片等材料的消耗。

进一步参考图2，其示出了图1所示阵列基板中一个子像素内的电路结构示意图。在OLED(Organic Light-Emitting Diode有机电致发光二极管)显示器中，子像素200可以包括包含补偿电路21、驱动晶体管22及有机发光二极管23。补偿电路21在扫描线输入的信号Scan的控制下写入数据线传输的信号Data。驱动晶体管22由与该子像素连接的发光控制信号线输入的信号Emit控制，当驱动晶体管22导通时将补偿电路21写入的信号Data传递至所述有机发光二极管23。有机发光二极管23根据输入的信号Data进行显示。

从图2中可以看出，在OLED中，扫描线输入的信号Scan控制数据信号的写入，发光控制信号线输入的信号Emit控制有机发光二极管是否发光。当发光控制信号线输入的信号Emit控制驱动晶体管22导通时，有机发光二极管发光，该子像素进行显示；当发光控制信号线输入的信号Emit控制驱动晶体管22截止时，有机发光二极管不发光，该子像素不进行显示。

在上述实施例所描述的用于驱动阵列基板100的驱动方法中，向第一发光控制信号线组逐组施加的第一信号可以为导通与第一发光控制信号线组连接的子像素中的驱动晶体管的信号，例如为脉冲信号。驱动晶体管在脉冲信号的脉冲时长内截止，在脉冲信号的脉冲时长之外导通。在脉冲信号的脉冲时长内，与第一发光控制信号线组连接的子像素中的补偿电路在Scan信号的控制下写入数据信号Data；在脉冲时长之外，驱动晶体管在Emit信号的控制下导通，有机发光二极管根据补偿电路输入的数据信号Data进行发光。向其他发光控制信号线组施加的第二信号可以包括控制驱动晶体管截止的直流信号。当驱动晶体管为P型晶体管时，第二信号可以包括高电平的直流信号；当驱动晶体管为N型晶体管时，第二信号可以包括低电平的直流信号。与第二发光控制信号线组连接的子像素内的驱动晶体管在第二信号的控制下截止，从而使得补偿电路无法向有机发光二极管传递数据信号，则有机发光二极管不发光，对应的子像素不进行显示。

进一步参考图3，其示出了可以应用本申请的驱动方法的阵列基板的一个具体结构示意图。

如图3所示，阵列基板300包括呈阵列排布的子像素以及多条发光控制信号线。其中，多条发光控制信号线至少包括多个第一发光控制信号线组E1-1、E1-2、E1-3、…，以及多个第二发光控制信号线组E2-1、E2-2、E2-3、…。阵列基板300还可以多条扫描线G31以及多条数据线S31、S32、S33、S34、S35等。每一条扫描线G31与一行子像素连接，每一条数据线与一列子像素连接。在子像素阵列31的每一列子像素中，与第一发光控制信号线组E1-1、E1-2、E1-3、…连接的各子像素的颜色相同，与第二发光控制信号线组E2-1、E2-2、E2-3、…连接的各子像素的颜色相同。例如在与数据线S31连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线组E1-1、E1-2、E1-3、…连接的各子像素为红色子像素R，与第二发光控制信号线组E2-1、E2-2、E2-3、…连接的各子像素为绿色子像素G；在与数据线S32连接的一列子像素中，与第一发光控制信号线组E1-1、E1-2、E1-3、…连接的各子像素为绿色子像素G，与第二发光控制信号线组E2-1、E2-2、E2-3、…连接的各子像素为蓝色子像素B。

在本实施例中，第一发光控制信号线和第二发光控制信号线在呈阵列排布的子像素的列方向上交替排列。第i个第一发光控制信号线组包括第(i-1)×m+1条第一发光控制信号线至第i×m条第一发光控制信号线，其中，i、m为整数且i≥1，m≥1。也就是说，第一个第一发光控制信号线组包括第一条至第m条第一发光控制信号线，第二个第一发光控制信号线组包括第m+1条第一发光控制信号线至第2m条第一发光控制信号线，以此类推。例如图3中，第一个第一发光控制信号线组E1-1包括第一条第一发光控制信号线E1-11和第二条第一发光控制信号线E1-12，第二个第一发光控制信号线组E1-2包括第三条第一发光控制信号线E1-21和第四条第一发光控制信号线E1-22，第三个第一发光控制信号线组E1-3包括第五条第一发光控制信号线E1-31和第六条第一发光控制信号线E1-32。

第j个第二发光控制信号线组包括第(j-1)×n+1条第二发光控制信号线至第j×n条第二发光控制信号线，其中，j、n为整数且j≥1，n≥1。也就是说，第一个第二发光控制信号线组包括第一条至第n条第二发光控制信号线，第二个第二发光控制信号线组包括第n+1条第二发光控制信号线至第2n条第二发光控制信号线，以此类推。例如图3中，第一个第二发光控制信号线组E2-1包括第一条第二发光控制信号线E1-11和第二条第二发光控制信号线E2-12，第二个第二发光控制信号线组E2-2包括第三条第二发光控制信号线E2-21和第四条第二发光控制信号线E2-22，第三个第二发光控制信号线组E2-3包括第五条第二发光控制信号线E2-31和第六条第二发光控制信号线E2-32。

阵列基板300还可以包括与数据线S31、S32、S33、S34、S35等一一对应连接的选通单元SW1、SW2、SW3、SW4、SW5等以及至少一条测试线(图3仅示出一条测试线V1)。每个选通单元用于选通红色、绿色、蓝色中一种颜色的数据信号。每一条数据线与一条测试线连接。在图3中，数据线S31、S32、S33、S34、S35分别通过选通单元与测试线V1连接。测试线V1用于将测试的一种颜色的数据信号分别传递至对应的数据线。

在本实施例中，可以采用如下方法驱动阵列基板300：向第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有第二发光控制信号线组施加第二信号，以使得与第一发光控制信号线连接的子像素进行显示，与第二发光控制信号线连接的子像素不进行显示。

在一些实施例中，上述驱动阵列基板300的方法还可以包括：向扫描线施加栅极驱动信号，以将数据线传输的信号写入与扫描线连接的一行所述子像素。子像素在第一发光控制信号线输入的信号或第二发光控制信号线输入的信号的控制下根据写入的信号进行显示。具体来说，子像素中的补偿电路可以栅极驱动信号的控制下写入数据线传输的信号，当与该子像素中的驱动晶体管的栅极连接的发光控制信号线接收到导通驱动晶体管的信号时，子像素中的有机发光二极管根据补偿电路写入的信号进行显示。

进一步参考图4，其示出了本申请提供的驱动方法应用于图3所示阵列基板的一个工作时序图。

如图4所示，向第一发光控制信号线组施加的第一启动信号Stv1为一个脉冲信号，向第二发光控制信号线组施加的第二启动信号Stv2为一个高电平的直流信号。Scan1、Scan2、Scan3、Scan4、Scan5、Scan6、Scan7、Scan8为第一至第八行的扫描线上施加的信号的示意图。从图4可以看出，扫描线上施加的信号为脉冲信号，其脉冲宽度可以为第一启动信号Stv1的脉冲宽度的四分之一。Emit1-1、Emit1-2、Emit1-3分别为施加至第一组第一发光控制信号线E1-1、第二组第一发光控制信号线E1-2和第三组第一发光控制信号线E1-3的信号；Emit2-1、Emit2-2、Emit2-3分别为施加至第一组第二发光控制信号线E2-1、第二组第二发光控制信号线E2-2和第三组第二发光控制信号线E2-3的信号。从图4中可以看出，向每一个第一发光控制信号线组施加的脉冲信号与向前一个第一发光控制信号线组施加的脉冲信号之间具有一个脉冲宽度的延时。通过向第一发光控制信号线组逐组施加脉冲信号，与第一发光控制信号线组连接的子像素可以逐行进行显示。向每一个第二发光控制信号线组施加的均为直流信号，所有与第二发光控制信号线组连接的子像素可以不进行显示。由此，可以仅驱动阵列基板300中的奇数行子像素。

在一些实施例中，在驱动与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示之后，上述驱动方法还可以包括：向第二发光控制信号线组逐组施加所述的第一信号，同时向所有第一发光控制信号线组施加所述的第二信号，以使得与第二发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与第一发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。换言之，可以驱动所有与第二发光控制信号线连接的子像素逐行进行显示，所有与第一发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。具体地，对于图3所示阵列基板300，在驱动奇数行的子像素逐行显示之后，可以驱动偶数行的子像素逐行显示。在应用于VT测试时，本实施例提供的驱动方法可以实现整个阵列基板中所有相同颜色子像素的显示，有利于全面、准确地对阵列基板的显示性能进行测试。

在应用于VT测试时，上述驱动方法还可以包括：向测试线V1施加直流信号。这时，由于阵列基板300中与第一发光控制信号线连接的子像素进行显示，且选通单元仅选通一个颜色的数据信号，各数据线S31、S32、S33、S34、S35、…可以接收直流信号，并将直流信号传递至对应颜色的子像素中。阵列基板300上奇数行该颜色的子像素逐行显示，偶数行子像素和奇数行中其他颜色的子像素不进行显示，从而实现了纯色画面的显示。

作为示例，在测试红色的纯色画面时，可以通过测试线V1向阵列基板300施加直流的测试信号，这时，选通单元可以仅选通红色的数据信号通道，可以逐组向第一发光控制信号线组施加脉冲信号，向第二发光控制信号线组施加控制子像素中的驱动晶体管截止的直流信号，整个子像素阵列中奇数行的红色子像素逐行被点亮，显示红色画面，这时可以对奇数行红色子像素的显示性能进行评估。之后，可以向第二发光控制信号线组逐组施加脉冲信号，向第一发光控制信号线组施加控制子像素中的驱动晶体管截止的直流信号，整个子像素阵列中偶数行的红色子像素逐行被点亮，显示红色的纯色画面，这时可以对偶数行红色子像素的显示性能进行评估。

由于采用直流信号作为测试信号，测试线V1上的信号变化频率大幅降低，从而使得提供测试信号的测试电路的负载大幅减小，测试线可以及时向各数据线传输信号，避免了信号延迟的问题，保证VT测试阶段显示画面均匀，准确反映阵列基板的显示性能，从而实现在VT测试阶段实现纯色画面显示性能的测试，避免了中间制程的材料消耗。

请参考图5，其示出了可以应用本申请的驱动方法的阵列基板的另一个具体结构示意图。与图3所示实施例相比，图5中列基板500上的子像素阵列51中子像素的排列方式、第一发光控制信号线组以及第二发光控制信号线组发生了变化。图3所示阵列基板中，与数据线S31、S34等连接的一列子像素按照红色子像素R、绿色子像素G的顺序重复排列，与数据线S32、S35等连接的一列子像素按照绿色子像素G、蓝色子像素B的顺序重复排列，与数据线S33等连接的一列子像素按照蓝色子像素B、红色子像素R的顺序重复排列。在图5所示阵列基板中，与数据线S51、S54等连接的一列子像素按照红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B的顺序重复排列，与数据线S52、S55等连接的一列子像素按照绿色子像素G、蓝色子像素B、红色子像素R的顺序重复排列，与数据线S53等连接的一列子像素按照蓝色子像素B、红色子像素R、绿色子像素G的顺序重复排列。在图5中，阵列基板500包括第一发光控制信号线组E1-1、E1-2、…，第二发光控制信号线组E2-1、E2-2、…以及第三发光控制信号线组E3-1、E3-2、…。其中，第一发光控制信号线组E1-1包括第一发光控制信号线E1-11和E1-12，第一发光控制信号线组E1-2包括第一发光控制信号线E1-21和E1-22；第二发光控制信号线组E2-1包括第二发光控制信号线E2-11和E2-12，第二发光控制信号线组E2-2包括第二发光控制信号线E2-21和E2-22；第三发光控制信号线组E3-1包括第三发光控制信号线E3-11和E3-12，第三发光控制信号线组E3-2包括第三发光控制信号线E3-21和E3-22。每一条扫描线G51连接一行子像素。各数据线S51、S52、S53、S54、S55分别通过选通单元SW1、SW2、SW3、SW4、SW5与一条测试线V2连接。

阵列基板500可以采用如下驱动方式进行驱动：向第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有第二发光控制信号线组和所有第三发光控制信号线组施加第二信号，以使得与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示，与第二发光控制信号线组连接的子像素和与第三发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

可选地，在驱动与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示之后，可以向第二发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有第一发光控制信号线组和所有第三发光控制信号线组施加第二信号，以使得与第二发光控制信号线组连接的子像素进行显示，与第一发光控制信号线组连接的子像素和与第三发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

进一步地，在驱动与第二发光控制信号线组连接的子像素进行显示之后，还可以向第三发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有第一发光控制信号线组和所有第二发光控制信号线组施加第二信号，以使得与第三发光控制信号线组连接的子像素进行显示，与第一发光控制信号线组连接的子像素和与第二发光控制信号线组连接的子像素不进行显示，由此实现整个阵列基板上全部子像素的驱动。

继续参考图6，其示出了本申请提供的驱动方法应用于图5所示阵列基板的一个工作时序图。需要说明的是，图6仅示例性地示出了阵列基板500在本申请提供的驱动方法驱动下的与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与第二发光控制信号线组连接的子像素和与第三发光控制信号线组连接的子像素不进行显示的阶段的工作时序图，其他阶段(包括与第二发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与第一发光控制信号线组连接的子像素和与第三发光控制信号线组连接的子像素不进行显示的阶段以及与第三发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与第一发光控制信号线组连接的子像素和与第二发光控制信号线组连接的子像素不进行显示的阶段)与图6所示阶段的工作时序图类似，此处不再赘述。

在图6中，向第一发光控制信号线组施加的第一启动信号Stv1为一个脉冲信号，向第二发光控制信号线组施加的第二启动信号Stv2和向第三发光控制信号线组施加的第三启动信号Stv3为高电平的直流信号。Scan1、Scan2、Scan3、Scan4、Scan5、Scan6、Scan7、Scan8为第一至第八行的扫描线上施加的信号的示意图。从图6可以看出，扫描线上施加的信号为脉冲信号，其脉冲宽度可以为第一启动信号Stv1的脉冲宽度的四分之一。Emit1-1、Emit1-2分别为施加至第一组第一发光控制信号线E1-1和第二组第一发光控制信号线E1-2的信号；Emit2-1、Emit2-2分别为施加至第一组第二发光控制信号线E2-1和第二组第二发光控制信号线E2-2的信号；Emit3-1、Emit3-2分别为施加至第一组第三发光控制信号线E3-1和第二组第三发光控制信号线E3-2的信号。从图6中可以看出，向第二个第一发光控制信号线组施加的脉冲信号与向第一个第一发光控制信号线组施加的脉冲信号之间具有一个脉冲宽度的延时。通过向第一发光控制信号线组逐组施加脉冲信号，与第一发光控制信号线组连接的子像素可以逐行进行显示。向每一个第二发光控制信号线组和每一个第三发光控制信号线组施加的均为直流信号，所有与第二发光控制信号线组连接的子像素和所有与第三发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。由此，可以仅驱动阵列基板500中的第3x+1行子像素(x为非负整数)。

在实际应用中，可以在阵列基板上设计驱动电路，驱动电路应用上述驱动方法驱动阵列基板。

请参考图7，其示出了本申请提供的阵列基板的一个实施例的结构示意图。如图7所示，阵列基板700包括驱动电路72。驱动电路72应用以上实施例描述的驱动方法驱动阵列基板700。扫描线和数据线分别沿子像素阵列71的行方向和列方向延伸。阵列基板700包括多条发光控制信号线。多条发光控制信号线可以包括多个第一发光控制信号线组E11、E12、…、多个第二发光控制信号线组E21、E22、…。在一些实施例中，多条发光控制信号线还可以包括多个第三发光控制信号线组、多个第四发光控制信号线组等。其中，每个第一发光控制信号线组可以包括至少一条第一发光控制信号线，例如第一发光控制信号线组E11包括两条第一发光控制信号线E111和E112，第一发光控制信号线组E12包括两条第一发光控制信号线E121和E122，第一发光控制信号线组E13包括两条第一发光控制信号线E131和E132。每个第二发光控制信号线组包括至少一条第二发光控制信号线，例如第二发光控制信号线组E21包括两条第二发光控制信号线E211和E212，第二发光控制信号线组E22包括两条第二发光控制信号线E221和E222，第二发光控制信号线组E32包括两条第二发光控制信号线E321和E322。子像素阵列71中，每一行子像素与一条发光控制信号线一一对应连接。每一条第一发光控制信号线分别与子像素阵列11中的一行子像素连接，每一条第二发光控制信号线分别与子像素阵列11中的一行子像素连接。

在本实施例中，阵列基板700的子像素呈非条带状排列。在每一列子像素中，与第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同。也就是说，在与一条数据线连接的各子像素中，与第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同。

在本实施例的一些可选的实现方式中，在每一列子像素中，与第N发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同，其中，N≥1。

在本实施例的一个具体的实例中，子像素阵列可以包括沿与发光控制信号线垂直的方向顺序重复排列的第一子像素序列和第二子像素序列。第一子像素序列包括沿发光控制信号线方向顺序重复排列的第一子像素、第二子像素和第三子像素，第二子像素序列包括沿所述发光控制信号线方向顺序重复排列的第二子像素、第三子像素和第一子像素。其中，第一子像素、第二子像素、第三子像素为红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素中的一种，且第一子像素、第二子像素、第三子像素的颜色互不相同。

驱动电路72可以应用如下方法驱动阵列基板700：向第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有其他发光控制信号线组施加第二信号，以使得与第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与其他发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。其中，第一信号可以为脉冲信号，第二信号可以为直流信号。

在本实施例中，驱动电路72可以包括发光控制器。发光控制器可以至少包括向多个第一发光控制信号线组施加信号的第一发光控制器和向多个第二发光控制信号线组施加信号的第二发光控制器。

进一步参考图8，其示出了本申请提供的阵列基板中发光控制器的一个实施例的结构示意图。如图8所示，发光控制器800第一发光控制器81和第二发光控制器82。第一发光控制器包括M个级联的第一发光控制单元SR11、SR12、SR13、…SR1M，每一级第一发光控制单元包括第一时钟信号输入端、第二时钟信号输入端、第一信号输入端以及第一输出端，用于根据第一时钟信号端输入的信号CK11、第二时钟信号输入端输入的信号CK12和第一信号输入端IN1输入的信号驱动一条第一发光控制信号线，第二级至第M级第一发光控制单元的第一信号输入端IN1与上一级第一发光控制单元的第一输出端OUT1连接。可选地，每一级第一发光控制单元还可以包括第一电压信号输入端和第二电压信号输入端，分别用于接收第一电压信号VGH和第二电压信号VGL。

第二发光控制器包括N个级联的第二发光控制单元SR21、SR22、SR23、…SR2N，每一级第二发光控制单元包括第三时钟信号输入端、第四时钟信号输入端、第二信号输入端以及第二输出端，用于根据第三时钟信号端输入的信号CK21、第四时钟信号输入端输入的信号CK22和第二信号输入端IN2输入的信号驱动一条第二发光控制信号线，第二级至第N级第二发光控制单元的第二信号输入端IN2与上一级第二发光控制单元的第二输出端OUT2连接。可选地，每一级第二发光控制单元还可以包括第一电压信号输入端和第二电压信号输入端，分别用于接收第一电压信号VGH和第二电压信号VGL。其中，M与N可以相等。

在图8所示的发光控制器中，第一级第一发光控制单元的第一信号输入端IN1接收第一启动信号Stv1，第一级第二发光控制单元的第二信号输入端IN2接收第二启动信号Stv2。在驱动阵列基板时，第一启动信号Stv1为脉冲信号，第一级第一发光控制单元SR11在第一时钟信号CK11、CK12、第一电压信号VGH和第二电压信号VGL的控制下将脉冲信号延时后向第一发光控制信号线E111输出第一发光控制信号Emit11，第二级第一发光控制单元SR12在第一时钟信号CK11、CK12、第一电压信号VGH和第二电压信号VGL的控制下将第一发光控制信号Emit11延时后输出第一发光控制信号Emit12，依次类推，第三级至第M级第一发光控制单元输出的信号为Emit13至Emit1M。第二启动信号Stv2为直流信号，则第一级至第N级第二发光控制单元输出的信号Emit21至Emit2N均为直流信号。

在本实施例中，每一级第一发光控制单元的输出端与每一个第一发光控制信号线组一一对应连接，每一级第二发光控制单元的输出端与每一个第二发光控制信号线组一一对应连接。则同一个第一发光控制信号线组中的多条第一发光控制信号线同时被驱动，多个第一发光控制信号线组被逐组驱动。

通过采用如上所述的驱动电路对阵列基板进行驱动，可以避免VT测试阶段测试线上的信号变化频率较高导致部分子像素显示延迟的问题。通过将发光控制信号线分组，并采用与发光控制信号线组一一对应的发光控制单元对每组发光控制信号线中的多条发光控制信号线同时驱动，可以简化驱动电路的结构，有利于显示面板窄边框的设计。

进一步参考图9，其示出了本申请提供的阵列基板的另一个实施例的结构示意图。与图8所示实施例不同的是，本实施例所提供的阵列基板900包括第一驱动电路92和第二驱动电路93；其中第一驱动电路92和第二驱动电路93设置于所述阵列基板的显示区之外的两侧。第一驱动电路92和第二驱动电路93均应用上述实施例所描述的驱动方法驱动所述阵列基板900。第一驱动电路92和第二驱动电路93的电路结构可以相同，均可以包括参考图8所描述的发光控制器。

在图9所示实施例中，通过两个相同的驱动电路同时对阵列基板进行驱动，可以减小驱动电路的负载，保证驱动电路正常工作。

此外，本申请还提供了一种显示面板，包括如图7所示的阵列基板或如图9所示的阵列基板。可以理解，显示面板还包括其他公知的结构，例如与阵列基板对置设置的彩膜基板、柔性电路板、偏光片等。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (13)

1.一种阵列基板的驱动方法，其特征在于，所述阵列基板至少包括呈阵列排布的子像素、多个第一发光控制信号线组和多个第二发光控制信号线组，每个所述第一发光控制信号线组包括至少一条第一发光控制信号线，每个所述第二发光控制信号线组包括至少一条第二发光控制信号线，每一条所述第一发光控制信号线或所述第二发光控制信号线分别与一行所述子像素连接；

每一列所述子像素的颜色不完全相同，每一列所述子像素中，与所述第一发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同；

所述方法包括：

向所述第一发光控制信号线组逐组施加第一信号，同时向所有其他发光控制信号线组施加第二信号，以使得与所述第一发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与所述其他发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

2.根据权利要求1所述的驱动方法，其特征在于，每一列所述子像素中，与所述第二发光控制信号线连接的各子像素的颜色相同。

3.根据权利要求2所述的驱动方法，其特征在于，所述第一发光控制信号线和所述第二发光控制信号线在所述呈阵列排布的子像素的列方向上交替排列；

第i个所述第一发光控制信号线组包括第(i-1)×m+1条第一发光控制信号线至第i×m条第一发光控制信号线，其中，i、m为整数且i≥1，m≥1；

第j个所述第二发光控制信号线组包括第(j-1)×n+1条第二发光控制信号线至第j×n条第二发光控制信号线，其中，j、n为整数且j≥1，n≥1。

4.根据权利要求2所述的驱动方法，其特征在于，所述阵列基板包括的控制信号线组为多个第一发光控制信号线组和多个第二发光控制信号线组，所述方法还包括：

向所述第二发光控制信号线组逐组施加所述第一信号，同时向所有所述第一发光控制信号线组施加所述第二信号，以使得与所述第二发光控制信号线组连接的子像素进行显示、与所述第一发光控制信号线组连接的子像素不进行显示。

5.根据权利要求1所述的驱动方法，其特征在于，所述阵列基板还包括多条扫描线和多条数据线，每一条所述扫描线连接一行所述子像素，每一条所述数据线连接一列所述子像素；

所述方法还包括：

向所述扫描线施加栅极驱动信号，以将所述数据线传输的信号写入与所述扫描线连接的一行所述子像素；

所述子像素在所述第一发光控制信号线输入的信号或所述第二发光控制信号线输入的信号的控制下根据写入的信号进行显示。

6.根据权利要求5所述的驱动方法，其特征在于，所述子像素包括驱动晶体管、补偿电路和有机发光二极管；

所述补偿电路在所述扫描线输入的信号的控制下写入所述数据线传输的信号；

所述驱动晶体管由所述第一发光信号控制线输入的信号或所述第二发光控制信号线输入的信号控制，所述驱动晶体管导通时将所述补偿电路写入的信号传递至所述有机发光二极管；

所述第一信号包括脉冲信号，所述驱动晶体管在所述脉冲信号的脉冲时长内截止，在脉冲信号的脉冲时长之外导通；

所述第二信号包括控制所述驱动晶体管截止的直流信号。

7.根据权利要求6所述的驱动方法，其特征在于，所述驱动晶体管为P型晶体管，所述第二信号包括高电平的直流信号。

8.根据权利要求5所述的驱动方法，其特征在于，所述阵列基板还包括至少一条测试线，每一条所述数据线与一条所述测试线连接；

所述驱动方法还包括：向所述测试线施加直流信号。

9.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括驱动电路，所述驱动电路应用如权利要求1-8任一项所述的驱动方法驱动所述阵列基板。

10.根据权利要求9所述的阵列基板，其特征在于，所述驱动电路包括发光控制器，所述发光控制器包括第一发光控制器和第二发光控制器，

所述第一发光控制器包括M个级联的第一发光控制单元，每一级所述第一发光控制单元包括第一时钟信号输入端、第二时钟信号输入端、第一信号输入端以及第一输出端，用于根据所述第一时钟信号端输入的信号、所述第二时钟信号输入端输入的信号和所述第一信号输入端输入的信号驱动一条所述第一发光控制信号线，第二级至第M级第一发光控制单元的第一信号输入端与上一级第一发光控制单元的第一输出端连接；

所述第二发光控制器包括N个级联的第二发光控制单元，每一级所述第二发光控制单元包括第三时钟信号输入端、第四时钟信号输入端、第二信号输入端以及第二输出端，用于根据所述第三时钟信号端输入的信号、所述第四时钟信号输入端输入的信号和所述第二信号输入端输入的信号驱动一条所述第二发光控制信号线，第二级至第N级第二发光控制单元的第二信号输入端与上一级第二发光控制单元的第二输出端连接。

11.根据权利要求9所述的阵列基板，其特征在于，所述子像素包括沿与所述发光控制信号线垂直的方向顺序重复排列的第一子像素序列和第二子像素序列，所述第一子像素序列包括沿所述发光控制信号线方向顺序重复排列的第一子像素、第二子像素和第三子像素，所述第二子像素序列包括沿所述发光控制信号线方向顺序重复排列的第二子像素、第三子像素和第一子像素。

12.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括第一驱动电路和第二驱动电路；所述第一驱动电路和所述第二驱动电路设置于所述阵列基板的显示区之外的两侧；

所述第一驱动电路和所述第二驱动电路均应用如权利要求1-8任一项所述的驱动方法驱动所述阵列基板。

13.一种显示面板，包括如权利要求9-11之一所述的阵列基板或如权利要求12所述的阵列基板。