CN105548935B - 磁场测量仪分辨率的检测方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种磁场测量仪分辨率的检测方法和装置，其中，该方法包括以下步骤：将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上；通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号；根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br；若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。本发明实施例，能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。

Description

磁场测量仪分辨率的检测方法和装置
技术领域
本发明涉及设备分辨率检测领域，特别涉及一种磁场测量仪分辨率的检测方法和装置。
背景技术
一些低噪声和高分辨率的恒定磁场测量仪器(例如，光泵磁传感器和超导量子干涉磁测量仪表)的内部噪声和分辨率可达皮特斯拉量级。然而，检测其是否真正可以达到这么高的分辨率，无论对一般用户还是仪器检测计量部门都很难实现。
因为很难建立或找到一个磁场值在仪器的量程范围内(一般为地磁场量级)且变化如此小的恒定磁场作为被测对象。考虑到在仪器测量时间段内可认为地磁场基本是恒定不变的，可以将地磁场作为被测磁场对象来检测测量仪器的灵敏度。但是，由于空间中各种磁场信号和场源产生的背景干扰磁场太大，在空旷的野外也会达到0.1nT量级，因此很难找到只存在地磁场的空间。如果没有高稳定性的恒定磁场环境或被测对象，则无法检测高灵敏度和高准确度的仪器。
相关技术中建立恒定磁场的一种方法是屏蔽掉背景干扰磁场来建立恒定磁场测量室。但是低频变化的磁场很难屏蔽掉，由于此类测量仪器的最小量程一般在10μT左右，与地磁场在同一个级别，因此在屏蔽时变干扰磁场的同时却不能将地磁场屏蔽掉，否则磁场会小于仪器的最小量程就不能实现测量与检测了。然而，这种仅屏蔽低频磁场而不屏蔽恒定地磁场分量的屏蔽就更难实现了，并且利用一般的材料很难实现理想的屏蔽。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的一个目的在于提出一种磁场测量仪分辨率的检测方法，该方法能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
本发明的第二目的在于提出一种磁场测量仪分辨率的检测装置。
为实现上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种磁场测量仪分辨率的检测方法，包括以下步骤：将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率；通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数；根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br；判断所述时变成分的峰值Br是否小于所述被检测仪标称的分辨率，若所述时变成分的峰值Br小于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。
根据本发明实施例的磁场测量仪分辨率的检测方法，首先将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，然后通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号，而后根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，最后判断时变成分的峰值Br是否小于被检测仪标称的分辨率，若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。因此，该方法，能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
另外，根据本发明上述磁场测量仪分辨率的检测方法还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一个实施例中，所述通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号之后，还包括：获取所述基准仪和所述被检测仪在预设时间段内的，所述基准仪的N个基准仪信号的平均值S1和所述被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S2。
在本发明的一个实施例中，所述根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成所述恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，具体包括：计算所述基准仪信号的平均绝对离差R1和所述被检测仪信号的平均绝对离差R2；计算按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个所述被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于所述N的正整数；计算所述恒定磁场Bdi；以及根据所述恒定磁场Bdi确定所述时变成分的峰值Br。
在本发明的一个实施例中，上述磁场测量仪分辨率的检测方法还包括：若所述时变成分的峰值Br大于或者等于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率不能达到其标称值。
在本发明的一个实施例中，通过以下公式计算所述基准仪或所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差：
其中，j＝1,2分别对应所述基准仪和所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于所述N的正整数，Bji为第i个所述基准仪或所述被检测仪的输出信号；
通过以下公式对所述输出信号的归一化做差处理：
B'2i＝S2+(B2i-S2)R1/R2，
Bdi＝B'2i-B1i，
其中，B'2i为按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个所述被检测仪的输出信号，所述B2i为第i个所述被检测仪的输出信号，Bdi为第i个恒定磁场，B1i为第i个所述基准仪的输出信号。
为实现上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种磁场测量仪分辨率的检测装置，包括：连接模块，用于将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率；采集模块，用于通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数；确定模块，用于根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br；判断模块，用于判断所述时变成分的峰值Br是否小于所述被检测仪标称的分辨率，若所述时变成分的峰值Br小于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。
根据本发明实施例的磁场测量仪分辨率的检测装置，首先通过连接模块将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，然后采集模块通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号，而后确定模块根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，最后判断模块判断时变成分的峰值Br是否小于被检测仪标称的分辨率，若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。因此，该装置能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
上述磁场测量仪分辨率的检测装置还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一个实施例中，上述磁场测量仪分辨率的检测装置还包括：获取模块，用于获取所述基准仪和所述被检测仪在预设时间段内的，所述基准仪的N个基准仪信号的平均值S1和所述被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S2。
在本发明的一个实施例中，所述确定模块，具体用于：计算所述基准仪信号的平均绝对离差R1和所述被检测仪信号的平均绝对离差R2；计算按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个所述被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于所述N的正整数；计算所述恒定磁场Bdi；以及根据所述恒定磁场Bdi确定所述时变成分的峰值Br。
在本发明的一个实施例中，所述判断模块，还用于：若所述时变成分的峰值Br大于或者等于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率不能达到其标称值。
在本发明的一个实施例中，通过以下公式计算所述基准仪或所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差：
其中，j＝1,2分别对应所述基准仪和所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于所述N的正整数，Bji为第i个所述基准仪或所述被检测仪的输出信号；
通过以下公式对所述输出信号的归一化做差处理：
B'2i＝S2+(B2i-S2)R1/R2，
Bdi＝B'2i-B1i，
其中，B'2i为按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个所述被检测仪的输出信号，所述B2i为第i个所述被检测仪的输出信号，Bdi为第i个恒定磁场，B1i为第i个所述基准仪的输出信号。
本发明附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
图1是根据本发明一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测方法的流程图。
图2是根据本发明另一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测方法的流程图。
图3是根据本发明又一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测方法的流程图。
图4是根据本发明一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测装置的方框示意图。
图5是根据本发明另一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测装置的方框示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的磁场测量仪分辨率的检测方法和装置。
图1是根据本发明一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测方法的流程图。
如图1所示，该磁场测量仪分辨率的检测方法包括以下步骤：
S1，将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，基准仪的分辨率高于被检测仪的分辨率。
具体地，使用一台高于被检测仪分辨率的测量仪作为基准仪，并将基准仪与被检测仪连接到一个同步数据采集卡上。
其中，需要理解的，该实施例中所说的基准仪和被检测仪可为同一种设备。
S2，通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数。
具体地，根据实际情况，通过同步数据采集卡同步实时采集基准仪和被检测仪的信号输出值。
例如，可通过同步数据采集卡同步实时采集足够长时间段内的集基准仪和被检测仪测量结果(一般秒量级即可)，即，采集基准仪和被检测仪的信号输出值。
在本发明的一个实施例中，如图2所示，通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号之后，还可包括：
S5，获取基准仪和被检测仪在预设时间段内的，基准仪的N个基准仪信号的平均值S1和被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S2。其中，预设时间段可以根据实际情况进行标定。
S3，根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br。
其中，需要理解的是，上述恒定磁场Bdi可以认为是消除或者削弱背景噪声的恒定磁场。
其中，需要理解的是，经过上述归一化做差处理得到恒定磁场后，仍含有时变成分，该时变成分可被认为是被检测仪内部噪声，将该时变成分的峰值Br与被检测仪标称的分辨率作比较，以便于判断被检测仪是否达到其标称值。
具体而言，在本发明的一个实施例中，如图3所示，根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br的具体过程可包括：
S31，计算基准仪信号的平均绝对离差R1和被检测仪信号的平均绝对离差R2。
在本发明的一个实施例中，可通过下述公式(1)计算基准仪或被检测仪的输出信号的平均绝对离差：
其中，j＝1,2分别对应基准仪和被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于N的正整数，Bji为第i个基准仪或被检测仪的输出信号。
具体地，根据上述公式(1)，可以计算出基准仪和被检测仪N个信号的平均绝对离差值，以便进行输出信号的归一化做差处理。
S32，计算按照基准仪信号的平均绝对离差R1与被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于N的正整数。
S33，计算恒定磁场Bdi。
在本发明的另一个实施例中，通过下述公式(2)和(3)对上述输出信号的归一化做差处理：
B'2i＝S2+(B2i-S2)R1/R2 (2)
Bdi＝B'2i-B1i (3)
其中，B'2i为按照基准仪信号的平均绝对离差R1与被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个被检测仪的输出信号，B2i为第i个被检测仪的输出信号，Bdi第i个恒定磁场，B1i为第i个基准仪的输出信号。
具体地，上述公式(2)可获得按照基准仪信号的平均绝对离差R1与被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个被检测仪的输出信号B'2i，根据上述公式(2)的计算，结果，利用公式(3)可计算出第i个恒定磁场Bdi。
其中，需要理解的是，在本发明的实施例中，通过上述公式(1)-(3)可计算出恒定磁场的i个恒定磁场的值Bdi，其中i为小于或等于N的正整数。
其中，需要理解的是，该实施例中计算获得的恒定磁场可以是去除或者削弱背景噪声后的磁场。
S34，根据恒定磁场Bdi确定时变成分的峰值Br。
S4，判断时变成分的峰值Br是否小于被检测仪标称的分辨率，若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。
在本发明的一个实施例中，上述磁场测量仪分辨率的检测方法还包括，若时变成分的峰值Br大于或者等于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率不能达到其标称值。
在本发明的实施例中，可考虑到基准仪器也存在内部噪声，可以认为若时变成分的峰值Br大于或者等于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪器的分辨率最高能达到峰值Br的二分之一。
根据本发明实施例的磁场测量仪分辨率的检测方法，首先将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，然后通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号，而后根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，最后判断时变成分的峰值Br是否小于被检测仪标称的分辨率，若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。因此，该方法，能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
为了实现上述实施例，本发明还提出一种磁场测量仪分辨率的检测装置。
图4是根据本发明一个实施例的磁场测量仪分辨率的检测装置的方框示意图。
如图4所示，该磁场测量仪分辨率的检测装置包括连接模块100、采集模块200、确定模块300和判断模块400。
具体地，连接模块100用于将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，基准仪的分辨率高于被检测仪的分辨率。
更具体地，使用一台高于被检测仪分辨率的测量仪作为基准仪，并通过连接模块100将基准仪与被检测仪连接到一个同步数据采集卡上。
其中，需要理解的，该实施例中所说的基准仪和被检测仪可为同一种设备。
采集模块200用于通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数。
具体地，根据实际情况，采集模块200通过同步数据采集卡同步实时采集基准仪和被检测仪的信号输出值。
例如，采集模块200可通过同步数据采集卡同步实时采集足够长时间段内的集基准仪和被检测仪测量结果(一般秒量级即可)，即，采集基准仪和被检测仪的信号输出值。
在本发明的一个实施例中，如图5所示，上述磁场测量仪分辨率的检测装置还可包括,获取模块500用于获取基准仪和被检测仪在预设时间段内的，基准仪的N个基准仪信号的平均值S1和被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S2。其中，预设时间段可以根据实际情况进行标定。
确定模块300用于根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，以生成恒定磁场的峰值Br。
其中，需要理解的是，上述恒定磁场Bdi可以认为是消除或者削弱背景噪声的恒定磁场。
其中，需要理解的是，经过上述归一化做差处理得到恒定磁场后，仍含有时变成分，该时变成分可被认为是被检测仪内部噪声，将该时变成分的峰值Br与被检测仪标称的分辨率作比较，以便于判断被检测仪是否达到其标称值。
具体而言，在本发明的一个实施例中，确定模块300具体用于，计算基准仪信号的平均绝对离差R1和被检测仪信号的平均绝对离差R2。
在本发明的一个实施例中，可通过下述公式(1)计算基准仪或被检测仪的输出信号的平均绝对离差：
其中，j＝1,2分别对应基准仪和被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于N的正整数，Bji为第i个基准仪或被检测仪的输出信号。
具体地，根据上述公式(1)，可以计算出基准仪和被检测仪N个信号的平均绝对离差值，以便进行输出信号的归一化做差处理。
在本发明的另一个实施例中，确定模块300还用于，计算按照基准仪信号的平均绝对离差R1与被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于N的正整数，计算恒定磁场Bdi，以及根据恒定磁场Bdi确定时变成分的峰值Br。
在本发明的另一个实施例中，通过下述公式(2)和(3)对上述输出信号的归一化做差处理：
B'2i＝S2+(B2i-S2)R1/R2 (2)
Bdi＝B'2i-B1i (3)
其中，B'2i为按照基准仪信号的平均绝对离差R1与被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个被检测仪的输出信号，B2i为第i个被检测仪的输出信号，Bdi第i个恒定磁场，B1i为第i个基准仪的输出信号。
具体地，上述公式(2)可获得按照基准仪信号的平均绝对离差R1与被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个被检测仪的输出信号B'2i，根据上述公式(2)的计算结果，利用公式(3)可计算出第i个恒定磁磁场Bdi，而后根据计算获得i个恒定磁场值，以及根据恒定磁场Bdi确定事变成分的峰值Br。
其中，需要理解的是，在本发明的实施例中，通过上述公式(1)-(3)可计算出恒定磁场的i个恒定磁场的值Bdi，其中i为小于或等于N的正整数。
其中，需要理解的是，该实施例中计算获得的恒定磁场可以是去除或者削弱背景噪声后的磁场。
判断模块400用于判断时变成分的峰值Br是否小于被检测仪标称的分辨率，若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。
在本发明的一个实施例中，判断模块400还包括，若时变成分的峰值Br大于或者等于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率不能达到其标称值。
在本发明的实施例中，可考虑到基准仪器也存在内部噪声，判断模块400可以认为若时变成分的峰值Br大于或者等于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪器的分辨率最高能达到峰值Br的二分之一。
根据本发明实施例的磁场测量仪分辨率的检测装置，首先通过连接模块将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，然后采集模块通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号，而后确定模块根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，最后判断模块判断时变成分的峰值Br是否小于被检测仪标称的分辨率，若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。因此，该装置能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (8)

1.一种磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率；
通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数；
根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，其中，所述根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成所述恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，具体包括：
计算所述基准仪信号的平均绝对离差R1和所述被检测仪信号的平均绝对离差R2；
计算按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个所述被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于所述N的正整数；
计算所述恒定磁场Bdi；
根据所述恒定磁场Bdi确定所述时变成分的峰值Br；
判断所述时变成分的峰值Br是否小于所述被检测仪标称的分辨率，若所述时变成分的峰值Br小于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。
2.如权利要求1所述的磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，所述通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号之后，还包括：
获取所述基准仪和所述被检测仪在预设时间段内的，所述基准仪的N个基准仪信号的平均值S1和所述被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S2。
3.如权利要求1或2所述的磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，还包括：
若所述时变成分的峰值Br大于或者等于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率不能达到其标称值。
4.如权利要求2所述的磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，通过以下公式计算所述基准仪或所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差：
其中，j＝1,2分别对应所述基准仪和所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于所述N的正整数，Bji为第i个所述基准仪或所述被检测仪的输出信号；
通过以下公式对所述输出信号的归一化做差处理：
B'2i＝S2+(B2i-S2)R1/R2，
Bdi＝B'2i-B1i，
其中，B'2i为按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个所述被检测仪的输出信号，所述B2i为第i个所述被检测仪的输出信号，Bdi为第i个恒定磁场，B1i为第i个所述基准仪的输出信号。
5.一种磁场测量仪分辨率的检测装置，其特征在于，包括：
连接模块，用于将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率；
采集模块，用于通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数；
确定模块，用于根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，其中，所述确定模块，具体用于：
计算所述基准仪信号的平均绝对离差R1和所述被检测仪信号的平均绝对离差R2；
计算按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个所述被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于所述N的正整数；
计算所述恒定磁场Bdi；
根据所述恒定磁场Bdi确定所述时变成分的峰值Br；
判断模块，用于判断所述时变成分的峰值Br是否小于所述被检测仪标称的分辨率，若所述时变成分的峰值Br小于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。
6.如权利要求5所述的磁场测量仪分辨率的检测装置，其特征在于，还包括：
获取模块，用于获取所述基准仪和所述被检测仪在预设时间段内的，所述基准仪的N个基准仪信号的平均值S1和所述被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S2。
7.如权利要求5或6所述的磁场测量仪分辨率的检测装置，其特征在于，所述判断模块，还用于：
若所述时变成分的峰值Br大于或者等于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率不能达到其标称值。
8.如权利要求6所述的磁场测量仪分辨率的检测装置，其特征在于，通过以下公式计算所述基准仪或所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差：
其中，j＝1,2分别对应所述基准仪和所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于所述N的正整数，Bji为第i个所述基准仪或所述被检测仪的输出信号；
通过以下公式对所述输出信号的归一化做差处理：
B'2i＝S2+(B2i-S2)R1/R2，
Bdi＝B'2i-B1i，
其中，B'2i为按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的，第i个所述被检测仪的输出信号，所述B2i为第i个所述被检测仪的输出信号，Bdi为第i个恒定磁场，B1i为第i个所述基准仪的输出信号。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111413244A (zh) * 2019-01-04 2020-07-14 国电锅炉压力容器检验有限公司 一种氧化皮检测仪的标定方法
CN111948591A (zh) * 2020-08-18 2020-11-17 上海卫星装备研究所 星载磁强计校准装置及方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5311126A (en) * 1992-09-11 1994-05-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Magnetic field strength threshold indicator for use in a magnetic particle inspection device
CN1879006A (zh) * 2004-10-07 2006-12-13 雅马哈株式会社 地磁传感器和地磁传感器校正方法、温度传感器和温度传感器校正方法、地磁检测装置
CN101065661A (zh) * 2004-11-30 2007-10-31 皇家飞利浦电子股份有限公司 校准磁传感器的传递函数的方法
CN101251584A (zh) * 2008-04-09 2008-08-27 武汉大学 三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法
CN101427157A (zh) * 2006-04-26 2009-05-06 皇家飞利浦电子股份有限公司 磁传感器装置的校准
CN101641609A (zh) * 2007-03-23 2010-02-03 旭化成微电子株式会社 磁传感器及其灵敏度测量方法
CN103941309A (zh) * 2013-01-17 2014-07-23 三星电子株式会社 地磁传感器校准设备及其方法
CN105093147A (zh) * 2014-05-20 2015-11-25 中国人民解放军63973部队 一种电磁脉冲电场探头时域校准方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3717753B2 (ja) * 2000-05-26 2005-11-16 エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 磁気センサの感度校正装置
AU2002328577A1 (en) * 2002-07-01 2004-01-19 European Organisation For Nuclear Research - Cern Device for calibration of magnetic sensors in three dimensions

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5311126A (en) * 1992-09-11 1994-05-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Magnetic field strength threshold indicator for use in a magnetic particle inspection device
CN1879006A (zh) * 2004-10-07 2006-12-13 雅马哈株式会社 地磁传感器和地磁传感器校正方法、温度传感器和温度传感器校正方法、地磁检测装置
CN101065661A (zh) * 2004-11-30 2007-10-31 皇家飞利浦电子股份有限公司 校准磁传感器的传递函数的方法
CN101427157A (zh) * 2006-04-26 2009-05-06 皇家飞利浦电子股份有限公司 磁传感器装置的校准
CN101641609A (zh) * 2007-03-23 2010-02-03 旭化成微电子株式会社 磁传感器及其灵敏度测量方法
CN101251584A (zh) * 2008-04-09 2008-08-27 武汉大学 三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法
CN103941309A (zh) * 2013-01-17 2014-07-23 三星电子株式会社 地磁传感器校准设备及其方法
CN105093147A (zh) * 2014-05-20 2015-11-25 中国人民解放军63973部队 一种电磁脉冲电场探头时域校准方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
三轴地磁传感器的误差校准算法;马迎辉 等;《弹箭与制导学报》;20131031;第33卷(第5期);第59-62页 *

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