CN105486379A - 可调高能x射线反散射物位测量方法 - Google Patents

可调高能x射线反散射物位测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105486379A
CN105486379A CN201511023481.9A CN201511023481A CN105486379A CN 105486379 A CN105486379 A CN 105486379A CN 201511023481 A CN201511023481 A CN 201511023481A CN 105486379 A CN105486379 A CN 105486379A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ray
ray detector
detector
measured
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201511023481.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105486379B (zh
Inventor
赵孝文
高雅娟
李北城
万志伟
潘志魁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Technical Physics Institute Heilongjiang Academy Of Sciences
Original Assignee
Technical Physics Institute Heilongjiang Academy Of Sciences
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Technical Physics Institute Heilongjiang Academy Of Sciences filed Critical Technical Physics Institute Heilongjiang Academy Of Sciences
Priority to CN201511023481.9A priority Critical patent/CN105486379B/zh
Publication of CN105486379A publication Critical patent/CN105486379A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105486379B publication Critical patent/CN105486379B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
    • G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
    • G01F23/28—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
    • G01F23/284—Electromagnetic waves
    • G01F23/288—X-rays; Gamma rays or other forms of ionising radiation

Abstract

可调高能X射线反散射物位测量方法，属于核物位检测技术领域。本发明是为了解决现有核物位测量中含有辐射源，对人员及周围环境存在危害的问题。它基于可调高能X射线反散射物位测量装置实现，方法为待测罐体内无物料时，使X射线管发射X射线至待测罐体，X射线探测器接收待测罐体对X射线的反散射信号；将此时X射线探测器的输出数据作为标定参数；然后使待测罐体内缓慢输入物料，并实时将X射线探测器输出数据与标定参数作比较，当X射线探测器输出数据与标定参数不相等时，确定待测罐体内物料的物位达到标准，由此实现对物位的测量。本发明用于物位测量。

Description

可调高能X射线反散射物位测量方法
技术领域
本发明涉及可调高能X射线反散射物位测量方法，属于核物位检测技术领域。
背景技术
以核物理测量原理为基础进行研究的监测仪表，由于具有不与被测物接触进行无损测量、可在恶劣条件下监测的优点，在工业的特定领域中应用非常广泛，并逐步形成不可替代的地位。国内应用的核物位测量装置均是由探测器、辐射源、二次仪表三部分组成，多采用辐射源做为发射极，辐射强度较大，对使用人员安全和周围环境有一定的危害，随着国家经济的发展，环境保护的要求也更加严格了，因而对物位检测技术提出了新的更多的需求。
发明内容
本发明目的是为了解决现有核物位测量中含有辐射源，对人员及周围环境存在危害的问题，提供了一种可调高能X射线反散射物位测量方法。
本发明所述可调高能X射线反散射物位测量方法，该方法基于可调高能X射线反散射物位测量装置实现，该装置包括外箱体、X射线管、高压电源、X射线探测器、液晶显示屏、物位指示灯和航空插头，
外箱体的底座上设置X射线发射窗口和X射线接收窗口，X射线发射窗口和X射线接收窗口的中心位于与外箱体一侧边框平行的同一条直线上；X射线管固定在底座上，并且X射线管的射线发射口对应于X射线发射窗口，高压电源固定于外箱体内的高压电源固定板上，高压电源用于为X射线管提供工作电源；X射线探测器位于外箱体内，并且X射线探测器的探头对应于X射线接收窗口；液晶显示屏、物位指示灯和航空插头均设置于外箱体的上盖上，液晶显示屏用于显示X射线探测器的测量数据，物位指示灯用于待测罐体内物料到达指定位置时的闪烁指示，航空插头用于为高压电源提供外接电源；
所述测量方法为：
将测量装置按照预设限位高度相对于待测罐体固定，使外箱体的底座与待测罐体顶面相对；
待测罐体内无物料时，使X射线管发射X射线至待测罐体，X射线探测器接收待测罐体对X射线的反散射信号；将此时X射线探测器的输出数据作为标定参数；
然后使待测罐体内缓慢输入物料，并实时将X射线探测器输出数据与标定参数作比较，当X射线探测器输出数据与标定参数不相等时，确定待测罐体内物料的物位达到标准，由此实现对物位的测量。
所述X射线探测器包括晶体外套、NaI晶体、探测器屏蔽筒、光电倍增管、分压器、电路板支架、电路板外套、放大电路板和探测器屏蔽筒上盖，
晶体外套的X射线接收端插入X射线接收窗口，晶体外套内安装NaI晶体，NaI晶体与光电倍增管之间通过涂抹硅油紧密相连，光电倍增管与分压器相连接，光电倍增管与分压器套接在探测器屏蔽筒内；
分压器固定在电路板支架一侧表面上，电路板支架另一侧表面固定放大电路板，电路板支架套接在电路板外套内并且通过螺纹固定，电路板外套用于放大电路板的屏蔽与保护，探测器屏蔽筒上盖通过螺纹旋接在电路板外套的外端口上；
所述NaI晶体用于采集待测罐体的反散射信号，NaI晶体的脉冲信号输出端连接光电倍增管的信号输入端，光电倍增管的信号输出端连接放大电路板的信号输入端，放大电路板输出的放大信号为X射线探测器的输出数据；分压器分别为光电倍增管和放大电路板提供工作电压。
所述测量方法对物位的测量通过甄别器、控制器、定时器和计数器实现，
放大电路板的放大信号输出端连接甄别器的信号输入端，甄别器的核素信号输出端连接控制器的核素信号输入端，控制器的阈值信号输出端连接计数器的计数信号输入端，计数器的计数信号输出端连接控制器的计数信号输入端，计数器的显示信号输出端连接液晶显示屏的显示信号输入端；控制器的定时控制信号输出端连接定时器的控制信号输入端，定时器的定时信号输出端连接控制器的定时信号输入端；
甄别器用于实现X射线探测器输出数据的检测；
控制器用于实现X射线探测器输出数据与标定参数的比较。
本发明的优点：本发明采用X射线作为辐射源，基于人们对X射线在不使用的过程中没有射线伤害的认知，能够消除人们对核辐射的恐惧感，提高现场工作人员的安全性，减少管理费用及使用成本。
本发明方法通过闪烁探测器测量可调高能X射线所释放出的辐射射线能量，并根据其能量变化特征获得可调高能X射线发射的参数，最后将该参数与标定参数作比较，从而确定物位是否达到标准。本发明测量方法不与被测物接触，且不使用放射源，安全可靠，不会对人员及环境造成危害。适用于对密闭罐体内介质进行物位检测。
附图说明
图1是本发明所述可调高能X射线反散射物位测量装置的结构示意图；
图2是X射线探测器的分体示意图；
图3是本发明方法的控制原理图；
图4是本发明方法的流程图。
具体实施方式
具体实施方式一：下面结合图1至图4说明本实施方式，本实施方式所述可调高能X射线反散射物位测量方法，该方法基于可调高能X射线反散射物位测量装置实现，该装置包括外箱体1、X射线管2、高压电源3、X射线探测器4、液晶显示屏5、物位指示灯6和航空插头7，
外箱体1的底座上设置X射线发射窗口1-1和X射线接收窗口1-2，X射线发射窗口1-1和X射线接收窗口1-2的中心位于与外箱体1一侧边框平行的同一条直线上；X射线管2固定在底座上，并且X射线管2的射线发射口对应于X射线发射窗口1-1，高压电源3固定于外箱体1内的高压电源固定板上，高压电源3用于为X射线管2提供工作电源；X射线探测器4位于外箱体1内，并且X射线探测器4的探头对应于X射线接收窗口1-2；液晶显示屏5、物位指示灯6和航空插头7均设置于外箱体1的上盖上，液晶显示屏5用于显示X射线探测器4的测量数据，物位指示灯6用于待测罐体内物料到达指定位置时的闪烁指示，航空插头7用于为高压电源3提供外接电源；
所述测量方法为：
将测量装置按照预设限位高度相对于待测罐体固定，使外箱体1的底座与待测罐体顶面相对；
待测罐体内无物料时，使X射线管2发射X射线至待测罐体，X射线探测器4接收待测罐体对X射线的反散射信号；将此时X射线探测器4的输出数据作为标定参数；
然后使待测罐体内缓慢输入物料，并实时将X射线探测器4输出数据与标定参数作比较，当X射线探测器4输出数据与标定参数不相等时，确定待测罐体内物料的物位达到标准，由此实现对物位的测量。
本实施方式还可再设置高压电源指示灯、电源航空插头和485通讯接口航空插头，高压电源固定板与高压电源支架相连并安装于箱体底座上，X射线管2通过高压绝缘线与高压电源3相连，高压电源3还通过电线分别与电源航空插头及高压电源指示灯相连，高压电源指示灯通过螺母固定在箱体上盖上，指示X射线高压电源是否工作正常，工作正常时绿色灯光常亮，工作异常时红色灯光常亮。航空插头7通过螺丝固定箱体上盖上，同时为箱体里的探测器提供电源。高压电源3为X射线管2提供一定范围内可调节的高压电源。X射线管2通过X射线发射窗口1-1发射一定能量的连续X射线。
具体实施方式二：下面结合图2说明本实施方式，本实施方式对实施方式一作进一步说明，所述X射线探测器4包括晶体外套4-1、NaI晶体4-2、探测器屏蔽筒4-3、光电倍增管4-4、分压器4-5、电路板支架4-6、电路板外套4-7、放大电路板4-8和探测器屏蔽筒上盖4-9，
晶体外套4-1的X射线接收端插入X射线接收窗口1-2，晶体外套4-1内安装NaI晶体4-2，NaI晶体4-2与光电倍增管4-4之间通过涂抹硅油紧密相连，光电倍增管4-4与分压器4-5相连接，光电倍增管4-4与分压器4-5套接在探测器屏蔽筒4-3内；
分压器4-5固定在电路板支架4-6一侧表面上，电路板支架4-6另一侧表面固定放大电路板4-8，电路板支架4-6套接在电路板外套4-7内并且通过螺纹固定，电路板外套4-7用于放大电路板4-8的屏蔽与保护，探测器屏蔽筒上盖4-9通过螺纹旋接在电路板外套4-7的外端口上；
所述NaI晶体4-2用于采集待测罐体的反散射信号，NaI晶体4-2的脉冲信号输出端连接光电倍增管4-4的信号输入端，光电倍增管4-4的信号输出端连接放大电路板4-8的信号输入端，放大电路板4-8输出的放大信号为X射线探测器4的输出数据；分压器4-5分别为光电倍增管4-4和放大电路板4-8提供工作电压。
所述的晶体外套4-1对NaI晶体4-2起到保护与固定作用，NaI晶体与光电倍增管通过中间涂抹硅油紧密相连，分压器与光电倍增管上端相连接，分压器包括由电阻、电容、晶体管等元器件构成的各倍增级之间的分压线路，分压线路为光电倍增管提供所需的高压。探测器屏蔽筒4-3对光电倍增管起到遮蔽射线与固定保护的作用，分压器通过螺丝与放大电路板支架相连，放大电路板通过螺丝固定在放大电路板支架上，放大电路板通过屏蔽导线与分压器相连，接收光电倍增管测量的脉冲信号并进行放大处理，电路板外套通过螺纹与放大电路板支架相连接，电路板外套对放大电路板起到屏蔽与保护作用，探测器屏蔽筒上盖4-9通过螺纹固定在电路板外套4-7上，对探测器起到密封作用。放大电路板4-8通过导线与电源航空插头、485通讯航空插头、物位指示灯、液晶显示屏相连。电源航空插头为放大电路板及分压器提供电源，485通讯航空插头通过螺丝固定在箱体上盖上，可以传输探测器的信号，也可以通过该接口对探测器进行参数设定，物位指示灯通过螺母固定在箱体上盖上，在所测物位到达指定位置时做红色闪烁提示。
NaI晶体4-2用于采集X射线管发出的γ辐射信号；探测器屏蔽筒4-3的材料为铅。
具体实施方式三：下面结合图3和图4说明本实施方式，本实施方式对实施方式二作进一步说明，所述测量方法对物位的测量通过甄别器8、控制器9、定时器10和计数器11实现，
放大电路板4-8的放大信号输出端连接甄别器8的信号输入端，甄别器8的核素信号输出端连接控制器9的核素信号输入端，控制器9的阈值信号输出端连接计数器11的计数信号输入端，计数器11的计数信号输出端连接控制器9的计数信号输入端，计数器11的显示信号输出端连接液晶显示屏5的显示信号输入端；控制器9的定时控制信号输出端连接定时器10的控制信号输入端，定时器10的定时信号输出端连接控制器9的定时信号输入端；
甄别器8用于实现X射线探测器4输出数据的检测；
控制器9用于实现X射线探测器4输出数据与标定参数的比较。
所述控制器中嵌入有通过软件实现的模块，该模块包括：采集甄别信号的单元；采集阈值信号的单元；将甄别信号与阈值信号作比较的单元；获得判断结果的单元；
物位参数的具体判定过程为：
步骤一：反复检测阈值甄别器输出的信号，直到检测到有信号输出时，执行步骤二；
步骤二：接收阈值甄别器输出的待检测的物料的物位参数，比较该物位参数与标定参数是否相等，是则表示罐体内物料的物位达到限位高度，否则执行步骤一。

Claims (3)

1.一种可调高能X射线反散射物位测量方法，该方法基于可调高能X射线反散射物位测量装置实现，该装置包括外箱体(1)、X射线管(2)、高压电源(3)、X射线探测器(4)、液晶显示屏(5)、物位指示灯(6)和航空插头(7)，
外箱体(1)的底座上设置X射线发射窗口(1-1)和X射线接收窗口(1-2)，X射线发射窗口(1-1)和X射线接收窗口(1-2)的中心位于与外箱体(1)一侧边框平行的同一条直线上；X射线管(2)固定在底座上，并且X射线管(2)的射线发射口对应于X射线发射窗口(1-1)，高压电源(3)固定于外箱体(1)内的高压电源固定板上，高压电源(3)用于为X射线管(2)提供工作电源；X射线探测器(4)位于外箱体(1)内，并且X射线探测器(4)的探头对应于X射线接收窗口(1-2)；液晶显示屏(5)、物位指示灯(6)和航空插头(7)均设置于外箱体(1)的上盖上，液晶显示屏(5)用于显示X射线探测器(4)的测量数据，物位指示灯(6)用于待测罐体内物料到达指定位置时的闪烁指示，航空插头(7)用于为高压电源(3)提供外接电源；
其特征在于，所述测量方法为：
将测量装置按照预设限位高度相对于待测罐体固定，使外箱体(1)的底座与待测罐体顶面相对；
待测罐体内无物料时，使X射线管(2)发射X射线至待测罐体，X射线探测器(4)接收待测罐体对X射线的反散射信号；将此时X射线探测器(4)的输出数据作为标定参数；
然后使待测罐体内缓慢输入物料，并实时将X射线探测器(4)输出数据与标定参数作比较，当X射线探测器(4)输出数据与标定参数不相等时，确定待测罐体内物料的物位达到标准，由此实现对物位的测量。
2.根据权利要求1所述的可调高能X射线反散射物位测量方法，其特征在于，
所述X射线探测器(4)包括晶体外套(4-1)、NaI晶体(4-2)、探测器屏蔽筒(4-3)、光电倍增管(4-4)、分压器(4-5)、电路板支架(4-6)、电路板外套(4-7)、放大电路板(4-8)和探测器屏蔽筒上盖(4-9)，
晶体外套(4-1)的X射线接收端插入X射线接收窗口(1-2)，晶体外套(4-1)内安装NaI晶体(4-2)，NaI晶体(4-2)与光电倍增管(4-4)之间通过涂抹硅油紧密相连，光电倍增管(4-4)与分压器(4-5)相连接，光电倍增管(4-4)与分压器(4-5)套接在探测器屏蔽筒(4-3)内；
分压器(4-5)固定在电路板支架(4-6)一侧表面上，电路板支架(4-6)另一侧表面固定放大电路板(4-8)，电路板支架(4-6)套接在电路板外套(4-7)内并且通过螺纹固定，电路板外套(4-7)用于放大电路板(4-8)的屏蔽与保护，探测器屏蔽筒上盖(4-9)通过螺纹旋接在电路板外套(4-7)的外端口上；
所述NaI晶体(4-2)用于采集待测罐体的反散射信号，NaI晶体(4-2)的脉冲信号输出端连接光电倍增管(4-4)的信号输入端，光电倍增管(4-4)的信号输出端连接放大电路板(4-8)的信号输入端，放大电路板(4-8)输出的放大信号为X射线探测器(4)的输出数据；分压器(4-5)分别为光电倍增管(4-4)和放大电路板(4-8)提供工作电压。
3.根据权利要求2所述的可调高能X射线反散射物位测量方法，其特征在于，所述测量方法对物位的测量通过甄别器(8)、控制器(9)、定时器(10)和计数器(11)实现，
放大电路板(4-8)的放大信号输出端连接甄别器(8)的信号输入端，甄别器(8)的核素信号输出端连接控制器(9)的核素信号输入端，控制器(9)的阈值信号输出端连接计数器(11)的计数信号输入端，计数器(11)的计数信号输出端连接控制器(9)的计数信号输入端，计数器(11)的显示信号输出端连接液晶显示屏(5)的显示信号输入端；控制器(9)的定时控制信号输出端连接定时器(10)的控制信号输入端，定时器(10)的定时信号输出端连接控制器(9)的定时信号输入端；
甄别器(8)用于实现X射线探测器(4)输出数据的检测；
控制器(9)用于实现X射线探测器(4)输出数据与标定参数的比较。
CN201511023481.9A 2015-12-30 2015-12-30 可调高能x射线反散射物位测量方法 Active CN105486379B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201511023481.9A CN105486379B (zh) 2015-12-30 2015-12-30 可调高能x射线反散射物位测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201511023481.9A CN105486379B (zh) 2015-12-30 2015-12-30 可调高能x射线反散射物位测量方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105486379A true CN105486379A (zh) 2016-04-13
CN105486379B CN105486379B (zh) 2018-10-19

Family

ID=55673511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201511023481.9A Active CN105486379B (zh) 2015-12-30 2015-12-30 可调高能x射线反散射物位测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105486379B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107478296A (zh) * 2016-06-08 2017-12-15 郑州立子加速器科技有限公司 一种x射线料位计
CN110416057A (zh) * 2019-07-31 2019-11-05 深圳麦科田生物医疗技术有限公司 光电倍增管屏蔽结构及信号检测装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1060355A (zh) * 1990-09-29 1992-04-15 北京市西城区新开通用试验厂 红外感测的极限液位敏感装置
JPH0510806A (ja) * 1991-07-03 1993-01-19 Hitachi Medical Corp Ｘ線液量検査装置用ｘ線装置
US5508526A (en) * 1995-02-01 1996-04-16 Keithley Instruments, Inc. Dual entrance window ion chamber for measuring X-ray exposure
CN1252520A (zh) * 1998-10-23 2000-05-10 杨毅 跟踪式物位计
CN2472205Y (zh) * 2001-04-11 2002-01-16 郭廷麟 透、反射式超声波液位计
JP2006064681A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Purex:Kk 全反射蛍光ｘ線分析用試料板及び試料作成用のカーボン純化方法
CN103604483A (zh) * 2013-11-29 2014-02-26 国家电网公司 电力系统充油瓷套油位超声波测量方法
CN103712668A (zh) * 2014-01-22 2014-04-09 黑龙江省中贝技术有限公司 被动式核物位检测器及检测方法
CN204535817U (zh) * 2015-05-04 2015-08-05 广州坚诺机械设备有限公司 一种基于x射线的容器液位在线检测设备

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1060355A (zh) * 1990-09-29 1992-04-15 北京市西城区新开通用试验厂 红外感测的极限液位敏感装置
JPH0510806A (ja) * 1991-07-03 1993-01-19 Hitachi Medical Corp Ｘ線液量検査装置用ｘ線装置
US5508526A (en) * 1995-02-01 1996-04-16 Keithley Instruments, Inc. Dual entrance window ion chamber for measuring X-ray exposure
CN1252520A (zh) * 1998-10-23 2000-05-10 杨毅 跟踪式物位计
CN2472205Y (zh) * 2001-04-11 2002-01-16 郭廷麟 透、反射式超声波液位计
JP2006064681A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Purex:Kk 全反射蛍光ｘ線分析用試料板及び試料作成用のカーボン純化方法
CN103604483A (zh) * 2013-11-29 2014-02-26 国家电网公司 电力系统充油瓷套油位超声波测量方法
CN103712668A (zh) * 2014-01-22 2014-04-09 黑龙江省中贝技术有限公司 被动式核物位检测器及检测方法
CN204535817U (zh) * 2015-05-04 2015-08-05 广州坚诺机械设备有限公司 一种基于x射线的容器液位在线检测设备

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
任延明: "无放射源的核料位计在火电厂的应用", 《山西电力》 *
石莲娣: "γ射线物位计", 《工业仪表与自动化装置》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107478296A (zh) * 2016-06-08 2017-12-15 郑州立子加速器科技有限公司 一种x射线料位计
CN110416057A (zh) * 2019-07-31 2019-11-05 深圳麦科田生物医疗技术有限公司 光电倍增管屏蔽结构及信号检测装置
CN110416057B (zh) * 2019-07-31 2022-03-01 深圳麦科田生物医疗技术股份有限公司 光电倍增管屏蔽结构及信号检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN105486379B (zh) 2018-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103712668B (zh) 被动式核物位检测器及检测方法
CN105301542A (zh) 基于光子计数技术的全日盲紫外成像定量化检测方法
CN108318164A (zh) 一种电缆附件的界面压力检测方法和装置
CN103543462A (zh) 一种放射性气溶胶核素识别装置
JP2015190819A (ja) 放射性ガスモニタ
CN111538068A (zh) 一种放射性表面污染测量装置及表面污染测量方法
CN105486379A (zh) 可调高能x射线反散射物位测量方法
CN105807310B (zh) 一种核事故后应急环境监测谱仪
CN105929351A (zh) 测试装置及紫外成像仪灵敏度的测试方法
CN106291657A (zh) 一种基于合束闪烁光纤的放射能谱分析系统
CN205246171U (zh) 可调高能x射线反散射物位测量装置
CN210136312U (zh) 一种光电倍增管检测装置
CN104515781B (zh) X射线检查系统
CN206096480U (zh) 一种核电站废气处理辐射监测系统
US10859422B2 (en) Method for determining a remaining operating period of a detector unit
CN206609977U (zh) 一种用于流体放射性测量的检测器
CN203929638U (zh) 矿浆浓度测试仪
CN103424763B (zh) 一种含易燃易爆气体的管道的放射性气体活度监测装置
CN109239540A (zh) 高压避雷器缺陷诊断方法及电压分配测量装置
CN105547409B (zh) 无源核物位测量装置及方法
CN104516010A (zh) X射线束流强度监控装置和x射线检查系统
CN204439843U (zh) X射线束流强度监控装置和x射线检查系统
JP2014009977A (ja) 放射性漏洩水モニタリングシステム及び放射性漏洩水モニタリング方法
CN207336410U (zh) 一种用于闪烁材料精密测试的设备
CN206649169U (zh) 一种用于流体放射性测量的检测器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant