CN105474154B - 用于用户接地校正的触摸面板电极结构 - Google Patents

用于用户接地校正的触摸面板电极结构 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种用于触摸面板中的用户接地校正的触摸面板电极结构。该电极结构可包括用于感测面板处的触摸的电极阵列，以及用于将各组电极选择性地耦接在一起以形成彼此交叉的电极行和电极列的多个跳线。在一些实例中，该阵列可具有线性构型并能够通过使用之字形图案中的跳线耦接成对角相邻的电极来形成行和列，或者该阵列可具有菱形构型并能够通过使用线性图案中的跳线耦接线性相邻的电极来形成行和列。在各个实例中，每个电极可具有带有正方形形状的实心结构、带有外部电极和物理分开的中心电极的减小的面积、中空中心、或带有六边形形状的实心结构。

Description

用于用户接地校正的触摸面板电极结构
技术领域
本发明整体涉及电容触摸面板，并且更具体地涉及能够测量互电容和自电容两者的触摸面板以及能够校正用户接地的触摸面板电极结构。
背景技术
许多类型的输入设备目前可用于在计算系统中执行操作，该计算系统诸如按钮或按键、鼠标、轨迹球、操纵杆、触摸面板、触摸屏等等。具体地，触敏设备和触摸屏因其在操作方面的简便性和灵活性以及其买得起的价格而变得相当普及。触敏设备可包括触摸面板和显示设备诸如液晶显示器(LCD)，该触摸面板可以是具有触敏表面的透明面板，该显示设备可部分或完全定位在面板的后面，使得触敏表面可覆盖显示设备的可视区域的至少一部分。触敏设备可允许用户通过使用手指、触笔或其他对象在由显示设备所显示的用户界面(UI)常常指示的位置处触摸触摸面板或悬停在触摸面板上方来执行各种功能。一般来讲，触敏设备可识别触摸事件或悬停事件和事件在触摸面板上的位置，并且计算系统然后可根据事件发生时出现的显示内容来解释该事件，并且之后可基于事件来执行一个或多个动作。
在一些情况下，可能难以在触摸事件和悬停事件之间或在真实事件和虚假事件之间进行区分。在触摸面板处有不利状况诸如触摸对象或悬停对象不良接地、触摸面板上有水滴或在触摸面板中引入噪声等时，这种困难可能会加剧。例如，在触摸面板上方触摸或悬停的对象不良接地时，用于指示触摸事件或悬停事件的输出值可能是错误的或由于其他原因而失真。当在触摸面板处发生两个或更多同时事件时，此类错误或失真值的可能性可能进一步增大。在错误或失真值影响到面板在触摸对象和悬停对象之间进行区分的能力时，它们可能尤其会导致问题。
发明内容
本发明涉及在触摸面板中同时测量互电容和自电容两者。一种方法可包括在触摸面板的各种电极图案处测量自电容和互电容，并基于自电容测量、互电容测量或两者来计算用于指示触摸面板上方的对象触摸或悬停的触摸信号。在一些实例中，触摸面板可以是行-列电极图案。在一些实例中，触摸面板可具有像素化电极图案。在一些实例中，可使用自电容测量、互电容测量或两者来确定用于指示触摸面板处的不利状况的校正因子和用于校正触摸信号的不利状况的校正因子。通过测量互电容和自电容两者，触摸面板可有利地提供更精确和更快的触摸信号检测以及功率节省，并且针对各种不利状况更稳定地加以调整。
本发明还涉及用于触摸面板中的用户接地校正的触摸面板电极结构。该电极结构可包括用于感测面板处的触摸的电极阵列，以及用于将多组电极选择性地耦接在一起以形成彼此交叉的电极行和电极列的多个跳线。在一些实例中，该阵列可具有线性构型并可使用之字形图案的跳线耦接成对角相邻的电极而形成行和列。在另选的实例中，该阵列可具有菱形构型，并可通过使用直线图案的跳线耦接线性相邻的电极来形成行和列。该电极结构可有利地校正面板中的不良用户接地状况并减轻噪声例如AC适配器噪声，由此提供更精确和更快的触摸信号检测以及功率节省，并针对用户的各种接地状况更稳定地加以调整。电极结构还可减轻面板中的噪声。
附图说明
图1示出了根据各种实例的用于使用互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的示例性方法。
图2示出了根据各种实例的具有行-列电极构型的触摸面板中的示例性用户接地状况。
图3示出了根据各种实例的用于使用来自多个行-列电极图案的互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的示例性方法。
图4至图7示出了根据各种实例的用于测量互电容触摸测量和自电容触摸测量以校正触摸信号中的用户接地的示例性行-列电极图案。
图8A示出了根据各种实例的用于使用来自多个行-列电极图案的互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的另一种示例性方法。
图8B示出了根据各种实例的用于使用来自多个行-列电极图案的互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的又一种示例性方法。
图9示出了根据各种实例的在其上测量互电容和自电容以校正触摸信号中的用户接地的示例性行-列电极结构。
图10示出了根据各种实例的具有像素化电极构型的触摸面板中的示例性用户接地状况。
图11示出了根据各种实例的用于使用来自多个像素化电极图案的互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的示例性方法。
图12至图18B示出了根据各种实例的用于测量互电容触摸测量和自电容触摸测量以校正触摸信号中的用户接地的示例性像素化电极图案。
图19示出了根据各种实例的用于使用来自多个像素化电极图案的互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的另一种示例性方法。
图20A和20B示出了根据各种实例的用于测量互电容触摸测量和自电容触摸测量以校正触摸信号中的用户接地的其他示例性像素化电极图案。
图21示出了根据各种实例的用于使用来自多个像素化电极图案的自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的示例性方法。
图22至图25示出了根据各种实例的用于测量自电容触摸测量以校正触摸信号中的用户接地的示例性像素化电极图案。
图26示出了根据各种实例的在其上测量互电容和自电容以对触摸信号中的用户接地进行校正的示例性像素化电极结构。
图27示出了根据各种实例的用于使用互电容触摸测量和自电容触摸测量来校正触摸信号中的用户接地的示例性系统。
图28至图30示出了根据各种实例的可使用互电容触摸测量和自电容触摸测量来对触摸信号中的用户接地进行校正的示例性个人设备。
图31示出了根据各种实例的可影响触摸信号的触摸面板上的示例性触摸和水的情形。
图32至图37示出了根据各种实例的在其上测量互电容和自电容以校正触摸信号中的用户接地的附加示例性行-列电极结构。
具体实施方式
在以下对本公开和实例的描述中将引用附图，在附图中以例示方式示出了可实施的具体实例。应当理解，在不脱离本公开的范围的情况下，可实施其他实例并且可进行结构性变更。
本发明涉及在触摸面板中测量互电容和自电容两者。一种方法可包括在触摸面板的各种电极图案处测量自电容和互电容，并基于自电容测量、互电容测量或两者来计算用于指示触摸面板上方的对象触摸或悬停的触摸信号。在一些实例中，触摸面板可以是行-列电极图案。在一些实例中，触摸面板可具有像素化电极图案。在一些实例中，可使用自电容测量、互电容测量或两者来确定用于指示触摸面板处的不利状况的校正因子和用于校正触摸信号的不利状况的校正因子。通过测量互电容和自电容两者，触摸面板可有利地提供更精确和更快的触摸信号检测以及功率节省，并且针对各种不利状况更稳定地加以调整。
本发明还涉及用于触摸面板中的用户接地校正的触摸面板电极结构。该电极结构可包括用于感测面板处的触摸的电极阵列，以及用于将多组电极选择性地耦接在一起以形成彼此交叉的电极行和电极列的多个跳线。在一些实例中，该阵列可具有线性构型并能够通过使用之字形图案的跳线耦接成对角相邻的电极来形成行和列。在另选的实例中，该阵列可具有菱形构型并能够通过使用直线图案的跳线耦接线性相邻的电极来形成行和列。该电极结构可有利地对面板中的不良用户接地状况进行校正并减轻噪声例如AC适配器噪声，由此提供更精确和更快的触摸信号检测以及功率节省，并针对用户的各种接地状况更稳定地加以调整。电极结构还可减轻面板中的噪声。
该电极结构可有利地对面板中的不良用户接地状况进行校正和/或减轻噪声例如AC适配器噪声，由此提供更精确和更快的触摸信号检测以及功率节省，并针对用户的各种接地状况更稳定地加以调整。
可互换地使用术语“不良接地”、“未接地”、“不接地”、“未很好接地”、“未正确接地”、“隔离”和“浮接”来指示在用户未与触摸面板的接地部形成低阻抗电耦合时可能存在的不良接地状况。
可以互换地使用术语“接地”、“接地良好”、和“接地很好”表示用户与触摸面板的地形成低阻抗电耦合时可能存在的良好接地状况。
图1示出了用于触敏设备的触摸面板中的触摸信号的用户接地校正的示例性方法。在图1的实例中，可测量面板的各个电极图案处的自电容和互电容以评估用户的接地状况(120)。基于自电容测量、互电容测量或两者，可针对触摸信号来确定用户接地校正因子(130)。然后可使用校正因子来计算针对用户的任何不良接地状况校正的触摸信号(140)。下面将更详细地描述该方法的几种变型形式。
一种类型的触摸面板可具有行-列电极图案。图2示出了用于这种类型触摸面板的示例性用户接地状况。在图2的实例中，触摸面板200可包括形成于行导电迹线201和列导电迹线202的交点处的触摸节点206的阵列，但应当理解，可采用其他节点构型。每个触摸节点206可具有形成于交叉的行迹线201和列迹线202之间的相关联的互电容Cm。
当良好接地的用户手指(或其他对象)触摸面板200或悬停在面板200上方时，手指可在触摸位置处使电容Cm降低量ΔCm。该电容变化ΔCm可以是由于以下原因而导致的：来自被激励行迹线201的电荷或电流通过进行触摸(或进行悬停)的手指被分流到接地，而不是被耦接到触摸位置处的交叉的列迹线202。可由列迹线104向感测电路(未示出)传输表示电容变化ΔCm的触摸信号以用于进行处理。触摸信号可指示发生触摸处的触摸节点206以及在该节点位置处发生的触摸量。
然而，如图2所示，在不良接地的用户手指(或其他对象)在面板200上方触摸或悬停时，手指可能形成返回面板中而非返回地的一条或多条辅助电容路径。在该实例中，手指可能在两个触摸节点206的可检测距离内，一个节点由第一行r1和第一列c1形成，并且另一个节点由第二行r2和第二列c2形成。指向行迹线r1的手指电容Cr1、指向列迹线c1的手指电容Cc1和指向用户接地部的手指电容Cg可形成一条辅助路径，以用于将来自被激励行迹线r1的电荷经由列迹线c1耦接回到面板中。类似地，指向行迹线r2的手指电容Cr2、指向列迹线c2的手指电容Cc2和指向用户接地部的手指电容Cg可形成另一条辅助路径。因此，并非将触摸位置处的触摸节点的电容Cm减小ΔCm，而是Cm可仅减小(ΔCm–Cneg)，其中Cneg可表示由于手指不良接地而导致电荷耦合到交叉列迹线中而生成的所谓“负电容”。触摸信号仍然能够总体上指示发生触摸的触摸节点206，但指示比实际发生更少量的触摸。
因此，检测负电容并使用用户接地校正方法来校正触摸信号的负电容可改善不良用户接地状况中的触摸面板的触摸检测。
图3示出了在图2的行-列触摸面板中的用于触摸信号的用户接地校正的示例性方法。在图3的实例中，触摸面板可在面板中的各个行-列电极图案处捕获自电容和互电容，以便测量用户的接地状况并使用用户接地测量来计算触摸信号，以校正触摸信号的任何不良接地状况。因此，面板可分别测量面板中的行迹线和列迹线的自电容Xr、Xc(310)。图5示出了使用辅助程序操作来测量行自电容和列自电容的示例性行-列电极图案。在图5的实例中，可由驱动电路(未示出)提供的激励信号V同时激励行迹线501和列迹线502，该激励信号可包括交流(AC)波形，并能够向感测电路(未示出)传输自电容Xr、Xc，该感测电路可包括用于列感测迹线402的感测放大器。因此，可在单个操作中测量自电容Xr、Xc。
在一些实例中，触摸面板可包括行迹线和列迹线下方的接地板并可在迹线之间具有间隙，使得将板的部分暴露于接近(即，触摸或悬停于其上)迹线的手指。不良接地的手指和暴露的板可形成可能影响触摸信号的辅助电容路径。因此，在激励行迹线和列迹线的同时，也可由激励信号V来激励板，使得行自电容测量和列自电容测量包括与板相关联的接地状况。
再次参考图3，在测量自电容之后，面板可测量面板中的行迹线和列迹线的行到列互电容Cm(或Yrc)(320)。图4示出了测量行到列互电容的示例性行-列电极图案。在图4的实例中，触摸面板400可包括作为驱动线起作用的行迹线401和作为感测线起作用的列迹线402，其中行迹线和列迹线可在其交叉处形成互电容Cm。可由驱动电路(未示出)提供的激励信号V来激励行驱动迹线401，并且列感测迹线402可向感测电路(未示出)传输指示面板400处的触摸的触摸信号(Cm–ΔCm)。
再次参考图3，在测量行到列互电容之后，面板可测量面板中的行迹线的行到行互电容Yrr(330)。图6A和图6B示出了测量行到行互电容的示例性行-行电极图案。在图6A的实例中，触摸面板600可被配置为将第一行601的行-行电极图案形成为驱动迹线，将第二行611形成为接地迹线，将第三行621形成为感测迹线，将第四行631形成为另一接地迹线，并针对其余行来重复该图案。行驱动和感测迹线601,621可在它们间形成互电容Yrr。可由驱动电路(未示出)提供的激励信号V来激励行驱动迹线601，并且行感测迹线621可向感测电路(未示出)传输互电容Yrr。为了确保针对所有行来测量互电容，面板600可被配置为将第一行601的行-行电极图案形成为接地迹线，将第二行611形成为驱动迹线，将第三行621形成为另一接地迹线，将第四行631形成为感测迹线，并针对其余行重复该图案，如图6B所示。像前一图案那样，可激励行驱动迹线611，并且行感测迹线631可传输互电容Yrr。因此，可在第一操作中在一个行-行电极图案处测量互电容Yrr，接着在其他行-行电极图案处进行第二操作。在一些实例中，可一次激励一个行驱动迹线。在一些实例中，可同时激励多个行驱动迹线。
再次参考图3，在测量行到行互电容之后，面板可测量面板中的列迹线的列到列互电容Ycc(340)。图7示出了测量列到列互电容的示例性列-列电极图案。在图7的实例中，触摸面板700可被配置为将第一列702的列-列电极图案形成为驱动迹线，将第二列712形成为感测迹线，并针对其余列重复该图案。列驱动和感测迹线702,712可在它们间形成互电容Ycc。可由驱动电路(未示出)提供的激励信号V来激励列驱动迹线702，并且列感测迹线712可向感测电路(未示出)传输互电容Ycc。因此，可在列-列电极图案处在一次操作中测量互电容Ycc。在一些实例中，可一次激励一个列驱动迹线。在一些实例中，可同时激励多个列驱动迹线。
如图6A和图6B所示，行迹线可被配置为接地迹线，以分隔行驱动迹线和行感测迹线。在迹线彼此非常接近时可这样做，以避免相邻迹线之间的强互电容受到邻近其的手指的影响，这可能会不利地影响迹线到迹线的互电容测量。反之，如图7所示，可省略列接地迹线。在迹线彼此足够远时可这样做，使得相邻迹线之间更弱的互电容不会受到邻近其的手指的影响，从而不会不利地影响迹线到迹线的互电容测量。因此，在另选的实例中，行-行电极图案可包括作为驱动迹线的第一行、作为感测迹线的第二行，并针对其余行重复该图案，如图7中所示。类似地，在另选的实例中，一个列-列电极图案可包括作为驱动迹线的第一列、作为接地迹线的第二列、作为感测迹线的第三列、作为另一接地迹线的第四列，并针对其余列重复该图案，如图6A中所示。另一个列-列电极图案可包括作为接地迹线的第一列、作为驱动迹线的第二列、作为另一接地迹线的第三列、作为感测迹线的第四列，并针对其余列重复该图案，如图6B中所示。根据面板规格，这些示例性图案和其他示例性图案是可能的。
再次参考图3，在测量列到列互电容之后，可基于自电容测量和互电容测量来确定用户接地校正因子(350)，并可使用校正因子来计算针对用户不良接地状况加以校正的触摸信号(360)。可使用公式(1)来计算经校正的触摸信号。
ΔCmij，实际＝Δcmij+K·XriXcj (1)
其中ΔCmij,实际＝行迹线i和列迹线j处的触摸节点的经接地校正的触摸信号，ΔCmij＝行迹线i和列迹线j处的触摸节点的所测量触摸信号，Xri＝行迹线i的自电容测量，Xcj＝列迹线j的自电容测量，K＝f(Xri,Xcj,Yrirk,Ycjcl)，其中K是Xri、Xcj、Yrirk(行迹线i到行迹线k的互电容测量)和Ycjcl(列迹线j到列迹线l的互电容测量)的函数并且指示用户的接地状况。在一些实例中，可通过电容测量的经验分析来确定K。
在另选的实例中，可从基于负电容测量的估计来确定K，其中K＝f(ΔCmij<0)，使得可忽略行到行互电容测量和列到列互电容测量。
图8A示出了在图2的行-列触摸面板中的用于触摸信号的用户接地校正的另一种示例性方法。图8B的方法类似于图3的方法，但可利用测量行到列互电容替代测量列到列互电容，并可与行到行互电容同时测量行到列互电容。在图8A的实例中，如图5所示，触摸面板可同时测量行自电容和列自电容(820)。面板可测量行到行互电容，如图6A和图6B所示，并同时另外测量行到列互电容，如图4中所示(830)。可基于自电容测量和互电容测量来确定用户接地校正因子(840)，使得K＝f(Xri,Xcj,Yrirk)，并用于计算针对用户不良接地状况加以校正的触摸信号(850)。在一些实例中，这种方法可通过省略独立的列到列互电容操作而减少测量时间。在包括与触摸面板一起的显示设备的触敏设备中可能希望减少测量时间，因为更短的测量时间可发生于显示器消隐(或更新)周期期间，由此避免显示对测量的干扰。
图8B示出了在图2的行-列触摸面板中的用于触摸信号的用户接地校正的另一种示例性方法。图8B的方法类似于图8A的方法，但可省略测量行到行互电容。在图8B的实例中，如图5所示，触摸面板可同时测量行自电容和列自电容(860)。如图4所示，面板可测量行到列互电容(870)。可基于行互电容测量和列互电容测量来确定用户接地校正因子(880)，并用于计算针对用户不良接地状况加以校正的触摸信号(890)。在此处，K＝f(ΔCmij<0)。
在另选的方法中，并不使用校正因子来计算触摸信号(890)，可使用互电容测量Yricj(行迹线i到列迹线j的互电容测量，或Cmij)来确定触摸信号，除非ΔCmij测量指示负电容。在这种情况下，可使用自电容测量Xr,Xc来确定触摸信号。
应当理解，行-列电极图案不限于图5到图7中所示的那些，而是可包括适于测量触摸面板中的行迹线和列迹线自电容和互电容的其他图案或附加图案。例如，行-列电极图案可被配置为包括作为驱动迹线的第一行迹线、作为接地迹线的第二行迹线、随后是作为感测迹线以与第一行迹线形成互电容的多行迹线、随后是作为另一接地迹线的另一行迹线，并针对其余行迹线重复该图案。在另选的实例中，行-列电极图案可被配置为包括作为驱动迹线的第一行迹线、随后是作为感测迹线以与第一行迹线形成互电容的多行迹线，并针对其余行迹线重复该图案。类似图案可被配置用于列迹线。
除了向触摸信号应用用户接地校正因子之外，可设计行迹线和列迹线的结构以减轻不良接地状况。图9示出了可使用的示例性行-列电极结构。在图9的实例中，触摸面板900可包括行迹线901和列迹线902。行迹线901可形成单条迹线，其具有交替的带有渐缩末端911的更宽部分901a和渐缩末端处的更窄部分901b。列迹线902可形成独立的具有渐缩末端922的更宽部分902a，该渐缩末端922由导电桥903连接在一起。列迹线902的桥903可跨越行迹线901的更窄部分901b。这种结构可有利地使形成触摸信号的行到列互电容最大化，同时使可能受到激励信号V引入的噪声的影响的迹线区域、可能不利地影响触摸信号的行到行互电容和/或列到列互电容、以及可能不利地影响触摸信号的行和列到地电容最小化。
在另选的实例中，像列迹线902那样，行迹线901可具有独立的更宽部分和将更宽部分连接在一起的导电桥。在其他另选的实例中，列迹线902可形成具有交替的更宽部分和更窄部分的单个迹线。
图32至图37示出了可使用的附加示例性行-列电极结构。如前所述，这些结构可有利地使可能受到引入面板的噪声的影响的电极区域以及可能不利影响触摸信号的行到行互电容和/或列到列互电容最小化。此外，这些结构可使用于对用户接地进行校正所需的触摸尺寸最小化。例如，通过使这些结构中的行到行互电容和列到列互电容最小化，不需要使相邻行和列分开更远或不需要所述列与所述行之间具有接地电极或迹线。这样，用户的手指(可通过其来测量互电容)可触摸面板的更小区域，以便涵盖必需的电极行和电极列。在一些实例中，触摸尺寸可以是2x2的电极行-列区域。在一些实例中，触摸尺寸可以是3x3的电极行-列区域。
在图32的实例中，触摸面板3200可包括多个电极3211，其中可将电极中的一些电极耦接到导电跳线(或桥)3221以形成电极行3201，并将其耦接到导电跳线(或桥)3222以形成电极列3202。在此处，之字形图案的行3201可为基本水平的，并且另一之字形图案的列3012可为基本垂直的。跳线3221,3222中的一些跳线可交叉以在其相应行3201和列3202之间形成互电容。在此处，行之字形图案可指第一阵列行和第一阵列列中的第一电极3211、耦接到第二阵列行和第二阵列列中的第二电极、耦接到第一阵列行和第三阵列列中的第三电极、耦接到第二阵列行和第四阵列列中的第四电极等等，其中曲折形状可介于第一阵列行和第二阵列行之间。类似地，列之字形图案可指第一阵列行和第二阵列列中的第一电极3211、耦接到第二阵列行和第一阵列列中的第二电极、耦接到第三阵列行和第二阵列列中的第三电极、耦接到第四阵列行和第一阵列列中的第四电极等等，其中曲折形状可介于第一阵列列和第二阵列列之间。
图33示出了图32的结构的部分层叠。在图32的实例中，触摸面板3200可包括具有可触摸表面的覆盖玻璃3343(用户能够在其上触摸或悬停)以及与图32的行-列电极结构邻近的下表面。在一些实例中，覆盖玻璃3343可以是玻璃、塑料、聚合物或任何适当的透明材料。在一些实例中，行电极结构可以是氧化铟锡(ITO)或任何适当的透明导电材料。触摸面板3200还可包括行-列电极结构上的用于覆盖和保护结构的层合体3345。层合体可以是任何适当的保护材料。触摸面板3200还可包括邻近层合体3345以充当屏蔽的背板3347以及邻近背板以提供色彩信息的滤色器3349。在一些实例中，背板可以是ITO。
可类似地将这种层叠结构用于本文，例如图9、图26和图34至图37中所述的任何其他电极结构，利用其电极结构来替代层叠结构中的图32的结构。
触摸面板电极结构可能受到来自面板内部或外部的其他元件的噪声的影响。可能向该结构中引入噪声的一种特定元件可能是连接到面板以供电的功率适配器例如AC适配器。适配器噪声可能耦接到电极并不利地影响其中的互电容。为了减小这种适配器噪声，可减小电极面积以便减小噪声耦合的量。
图34示出了电极面积减小的行-列电极，以便减小适配器噪声。在图34的实例中，电极3411可具有外电极3411a和中心电极3411b，其中中心电极可浮接，以减小噪声耦合以及行到行互电容和/或列到列互电容。在一些实例中，可通过激励电压V和行电极来同时(如图32所示，元件3201)激励邻近中心电极3411b的背板(如图33所示，元件3347)，以便使可能不利地影响触摸信号的行和列到地电容最小化。图34中的电极3411可替代图32中的电极3211，以便使用电极3411来形成电极行3201和电极列3202。
图35示出了中空电极区域的行-列电极，以便减小适配器噪声。图35类似于图34，其中去除了中心电极。在图35的实例中，电极3511可具有中空中心。图35中的电极3511可替代图32中的电极3211，以便使用电极3511来形成电极行3201和电极列3202。
图36示出了具有菱形构型和中空电极区域的行-列电极结构，以便减小适配器噪声。图36类似于图34，其中具有菱形构型而非正方形构型。在图36的实例中，触摸面板3600可包括多个电极3611，其中可将电极中的一些电极耦接到导电跳线(或桥)3621以形成电极行3601，并将其耦接到导电跳线(或桥)3122以形成电极列3602。在此处，行3601可以是水平的，并且列3602可以是竖直的。跳线3621,3622可交叉以在行3601和列3602之间形成互电容。电极3611可以是中心中空的。
图37示出了电极面积减小的行-列电极，以便减小适配器噪声。图37类似于图34，其中具有菱形构型而非正方形构型。在图37的实例中，电极3711可具有外部电极3711a和中心电极3711b，其中中心电极可浮接。图37的电极3711可替代图36中的电极3611，以便使用电极3711来形成电极行3601和电极列3602。
在另选的实例中，菱形构型中的电极可具有实心电极区域，其像图9的行迹线和列迹线那样具有渐缩拐角，以形成六角形形状，并具有连接水平行中的一些电极和垂直列中的其他电极的跳线(或桥)。跳线可交叉，以在行和列之间形成互电容。
图32至图37的行-列电极结构可用于执行图3和图8的方法，以校正用户接地。
水可能会通过多种方式被引入行-列触摸面板中，例如湿度、汗液或湿润的触摸对象，并能够给面板带来问题，因为水可能与面板中的任何行或列耦接以形成互电容，使得难以在水和触摸事件或悬停事件之间进行区分。此外，水可能在面板中形成负电容，尤其是在其与触摸事件或悬停事件共享行迹线和/或列迹线时。
图31示出了行-列触摸面板可能遇到的示例性水和触摸的情形，这可能导致上述困难。在图31的实例中，情形1示出了面板的行迹线3101和列迹线3102处无水的单次触摸3106。情形2至情形5示出了在面板上的各个位置处的多个触摸3106。情形6示出了面板上无触摸时的小水滴3107。情形7至11同时示出了面板上各个位置处的一个或多个水滴3107和一个或多个触摸3106，其中水和触摸共享行迹线和/或列迹线。情形11示出了面板上的水滴3107汇聚以形成更大水滴。应当理解，这些情形仅用于示例性目的，因为其他情形也是可能的。
图3、图8A和图8B的方法、图5至图7的图案和图9的结构可用于校正针对水效应的触摸信号。在图3的实例中，在捕获自电容测量和互电容测量之后(310-340)，可计算用户接地校正因子(350)。然后可使用校正因子来计算针对任何不良用户接地状况和针对水效应校正的触摸信号(360)。如前所述，用户接地校正因子K可以是行自电容测量Xr、列自电容测量Xc、行迹线之间的互电容测量Yrr和列迹线之间的互电容测量Ycc的函数。水一般可能会对互电容测量有贡献，从而导致校正因子K大于其应当具有的值。作为结果，校正因子K可能对触摸信号计算校正过度，以在面板上的水接触位置处产生过度补偿的误触摸，尤其是在触摸事件或悬停事件和水滴共享相同的行和/或列迹线时。一旦校正了触摸信号，便可基于水触摸信号仍将保持为负的事实来识别水的位置。在一些实例中，可丢弃在所识别的水位置处所计算的触摸信号。在一些实例中，可在所识别的水位置处跳过触摸信号的计算。
在另选的实例中，如前所述，在测量行到列互电容时(320)，可从这些测量中识别水的位置。然后可在非水的位置处选择性地测量行到行互电容Yrr和列到列互电容Ycc(330-340)，使得不会对校正因子K进行过度估计。
在图8B的实例中，并非使用用户接地校正因子来计算触摸信号(890)，而是可使用在(870)中测量的互电容测量Yrc来确定触摸信号，除非Yrc测量指示存在水例如负电容。在这种情况下，可使用(860)所测量的自电容测量Xr,Xc来确定触摸信号。
根据本文所述的各种实例，可在触摸面板处校正触摸信号中的各种用户接地状况和水效应。在一个实例中，在不良接地的用户十指和两个手掌非常接近面板而触摸时，负电容可能会影响触摸信号中的一些或所有触摸信号，例如无名指和食指的触摸信号可能会受到负电容的很大影响。应用本文所述的校正方法，可校正负电容效应并在面板的正确位置处恢复正确的触摸信号。
在第二实例中，可向第一实例中的触摸状况添加防水贴片，例如其中防水贴片被设置在拇指和手掌之间，从而导致来自手指附近和水的负电容。应用本文描述的校正方法，可校正触摸信号中的负电容效应，以在面板上的正确的位置处恢复实际的触摸信号并使水导致的误触摸最小化。
在第三实例中，当与触摸面板上的手指触摸相比防水贴片很大时，水对负电容的贡献很大，以便支配触摸信号。应用本文描述的校正方法，可跳过水的位置或者丢弃涉及水位置的所计算的触摸信号，使得可在面板上的正确位置处恢复实际触摸信号而没有由水导致的任何误触摸。
在第四实例中，两个用户可能在触摸面板，其中一个用户接地良好并且另一个用户不良接地。在一些情况下，接地良好的用户可能将不良接地的用户有效接地，使得不良接地用户对触摸信号的影响更低。因此，与不良接地的用户独自触摸面板相比，应用本文描述的校正方法可对触摸信号进行更少校正。
在第五实例中，可向第一实例的触摸状况中引入显示噪声，除了由于不良接地导致的负电容之外还导致触摸信号干扰。应用本文所述的校正方法，可校正负电容效应并使噪声最小化，使得在面板上的正确位置处恢复正确的触摸信号。
另一种类型的触摸面板可具有像素化电极图案。图10示出了针对这一类型的面板的示例性用户接地状况。在图10的实例中，触摸面板1000可包括个体触摸电极1011的阵列，但应当理解可采用其他电极构型。每个电极1011可具有耦接到其上以利用驱动电压V来驱动电极的导电迹线1013，以及用于向感测电路传输触摸信号的传感器迹线(未示出)。每个电极1011可具有相对于地的相关联的自电容，并可与邻近的手指(或其他对象)形成自电容Cs。图12示出了捕获触摸信号的示例性像素化触摸面板。在图12的实例中，触摸面板1200可包括触摸电极1211，可由驱动电路(未示出)提供的驱动电压V来驱动该触摸电极以与手指形成指示面板1200处的触摸的电容Cs。可向感测电路(未示出)传输触摸信号Cs。
再次参考图10，在接地良好的用户手指(或其他对象)在面板1000上方触摸或悬停时，手指可与触摸位置处的电极1011形成自电容Cs。这一电容可以是由从驱动导电迹线1013到电极1011的电荷或电流形成的。在一些实例中，电极1011可耦接到同一电压源并由其驱动。在其他实例中，电极1011均可耦接到不同的电压源并由其驱动。可由传感器迹线向感测电路(未示出)传输表示电容Cs的触摸信号以进行处理。触摸信号可指示发生触摸处的电极1011以及在该电极位置处发生的触摸量。
然而，如图10所示，在不良接地的用户手指(或其他对象)在面板100上方触摸或悬停时，电容Cg可能很差，使得电极1011和用户手指之间形成的电容Cs与原本的电容不同。在该实例中，手指可在两个电极1011的可检测距离内。可形成手指到第一电极的电容Cs1和手指到第二电极的电容Cs2。然而，因为用户到地的电容Cg很差，所以手指电容Cs1,Cs2可能不正确。基于不正确的电容Cs1,Cs2，面板1000不能在触摸之间进行区分，而只能在不良接地的手指和可悬停但接地良好的手指之间进行区分。
因此，检测不良接地并使用用户接地校正方法来校正触摸信号的不良接地可改善不良用户接地状况中的触摸面板的触摸检测。
图11示出了在图10的像素化触摸面板中的用于触摸信号的用户接地校正的示例性方法。在图11的实例中，触摸面板可在面板中的各个像素化电极图案处捕获自电容和互电容，以便测量用户的接地状况并使用用户接地测量来计算触摸信号，以校正触摸信号的任何不良接地状况。因此，该面板可测量面板中的电极的全局自电容Xe(1120)。图13示出了使用自举操作来测量全局自电容的示例性像素化面板。在图13的实例中，可由驱动电路(未示出)提供的驱动电压V来同时驱动电极1311，并且可向感测电路(未示出)传输自电容Xe。每个电极1311上的标记“D”可指示电极正被驱动。因此，可在单个操作中测量自电容Xe。
再次参考图11，在测量全局自电容之后，面板可测量面板中的对角电极之间的互电容Yee(1130)。图14至图17示出了测量电极互电容的示例性像素化电极图案。在图14的实例中，触摸面板1400可被配置为形成像素化电极图案，其中电极1411a作为驱动电极，水平相邻的电极1411b作为接地电极，垂直相邻的电极1411c作为另一个接地电极，对角电极1411d作为感测电极，并针对其余电极重复该图案。特定电极1411上的标记“D”可指示电极正被驱动，标记“G”指示电极正被接地，并且标记“S”指示电极正在感测互电容。驱动电极1411a和感测电极1411d可在它们间形成互电容Yee。可由驱动电路(未示出)提供的驱动电压V来驱动电极1411a，并且感测电极1411d可向感测电路(未示出)传输互电容Yee。
为了确保针对所有电极测量互电容，面板可被配置为通过将图14的图案顺时针旋转45度来形成第二像素化电极图案。图15示出了第二像素化电极图案。在图15的实例中，触摸面板1400可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极1411a作为接地电极，电极1411b作为驱动电极，电极1411c作为感测电极，电极1411d作为另一个接地电极，并针对其余电极重复该图案。驱动电极1411b和感测电极1411c可在它们间形成互电容Yee。
通常，图14和图15的图案可足以测量电极之间的互电容。然而，可使用图16和图17中所示的两个更多图案进行附加测量，以与从图14和图15的图案获得的测量求平均。图16示出了通过将图15的图案顺时针旋转45度而形成的第三像素化电极图案。在图16的实例中，触摸面板1400可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极1411a作为感测电极，电极1411b作为接地电极，电极1411c作为另一个接地电极，电极1411d作为驱动电极，并针对其余电极重复该图案。驱动电极1411d和感测电极1411a可在它们间形成互电容Yee。
图17示出了通过将图16的图案顺时针旋转45度而形成的第四像素化电极图案。在图17的实例中，触摸面板1400可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极1411a作为接地电极，电极1411b作为感测电极，电极1411c作为驱动电极，以电极1411d作为另一个接地电极，并针对其余电极重复该图案。驱动电极1411c和感测电极1411b可在它们间形成互电容Yee。因此，可在任何两个操作(图14和图15的图案)或四个操作(图14至图17的图案)中测量互电容Yee。
如前所述，当使用全部四个图案时，可对互电容求平均。例如，可对使用图14和图16的图案所测量的电极1411a,1411d之间的互电容求平均，以提供这两个电极之间的互电容Yee。类似地，可对使用图15和图17的图案所测量的电极1411b,1411c之间的互电容求平均，以提供这两个电极之间的互电容Yee。可对面板中的其余电极进行同样的操作。
图18A和图18B示出了可替代图14至图17的图案的用于测量电极互电容的替代像素化电极图案。在图18A的实例中，触摸面板1800可被配置为形成像素化电极图案，其中电极1811a作为驱动电极，水平相邻电极1811b作为感测电极，并针对其余电极重复该图案。特定电极1811的标记“D”可指示电极正被驱动，并且标记“S”指示电极正在感测互电容。与图14至图17的图案不同的是，图18A的图案可省略将特定电极接地。驱动电极1811a和感测电极1811b可在它们间形成互电容Yee。可由驱动电路(未示出)提供的驱动电压V来驱动电极1811a，并且感测电极1811b可向感测电路(未示出)传输互电容Yee。
通常，图18A的图案可足以测量电极之间的互电容。然而，可使用图18B中所示的第二图案进行附加测量，以与从图18A的图案获得的测量求平均。在图18B的实例中，触摸面板1800可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极1811a作为感测电极，电极1811b作为驱动电极，并针对其余电极重复该图案。驱动电极1811b和感测电极1811a可在它们间形成互电容Yee。因此，可在一个操作(图18A的图案)或两个操作(图18A和图18B的图案)中测量互电容Yee。可对使用图18A和图18B的两个图案所测量的电极1811a,1811b之间的互电容求平均，以提供两个电极之间的互电容Yee。可对面板中的其余电极进行同样的操作。
应当理解，像素化电极图案不限于图14至图18B中所示的那些像素化电极图案，而是可包括适于测量触摸面板中的电极的自电容和互电容的其他图案或附加图案。例如，像素化电极图案可被配置为包括作为驱动电极的第一行电极、作为接地电极的第二行电极、作为感测电极以与第一行电极形成互电容的第三行电极、作为接地电极的第四行电极，并针对其余电极行重复该图案。在另一个实例中，像素化电极图案可被配置为包括作为驱动电极的第一电极、作为接地电极的围绕第一电极的相邻电极、作为感测电极以与第一电极形成互电容的围绕接地电极的相邻电极，并针对其余电极重复该图案。
再次参考图11，在测量互电容之后，可基于自电容测量和互电容测量来确定用户接地校正因子(1140)，并可使用校正因子来计算针对用户不良接地状况加以校正的触摸信号(1150)。可使用公式(2)来计算经校正的触摸信号。
其中Cmi＝触摸电极i处的所捕获的触摸信号，Cmi,实际＝电极i处的经接地校正的触摸信号，Cg＝f(Xei Yeiej)为用户地电容，其中Cg是Xei(在同时驱动、自举所有触摸电极时的触摸电极i的自电容测量)和Yeiej(触摸电极i到触摸电极j的互电容测量)的函数并指示用户的接地状况。计算校正因子的替代方式可以是K＝Cg/[sum(Cmi,实际)+Cg]＝K(Xei,Yeiej)，这会导致Cmi＝K Cmi,实际的简单的全局标量校正因子形式。
图19示出了在图10的像素化电极触摸面板中的用于触摸信号的用户接地校正的另一示例性方法。图19的方法类似于图11的方法，但可利用测量局部自电容来替代测量全局自电容，并可同时测量局部自电容和全局自电容。在图19的实例中，触摸面板可测量电极之间的互电容Yee，并同时使用非自举操作来另外测量局部自电容Xe(1920)。图20A示出了测量自电容和互电容的示例性像素化电极图案。在图20A的实例中，类似于图14，触摸面板2000可被配置为形成像素化电极图案，其中电极2011a作为驱动电极，水平相邻的电极2011b作为接地电极，垂直相邻的电极2011c作为另一个接地电极，对角电极2011d作为感测电极，并针对其余电极重复该图案。为了测量局部自电容，在驱动电极2011a以提供其和感测电极2011d之间的互电容Yee时，可测量驱动电极2011a的自电容Xe。可形成类似于图15至图17的那些像素化电极图案的附加像素化电极图案，其中例如驱动电极1411b具有其所测量的自电容(图15)，驱动电极1411c具有其所测量的自电容(图16)，并且驱动电极1411d具有其所测量的自电容(图17)。
再次参考图19，在测量自电容和互电容之后，可基于自电容测量和互电容测量来确定用户接地校正因子(1930)，并可用于计算针对用户不良接地状况加以校正的触摸信号(1940)。如上所述，可使用公式(2)来执行校正。
应当理解，像素化电极图案不限于图20A中所示的那些像素化电极图案，而是可包括适于测量触摸面板中的电极的自电容和互电容的其他图案或附加图案。例如，像素化电极图案可被配置为包括作为驱动电极的第一行电极、作为感测电极以与第一行电极形成互电容的第二行电极、作为感测电极以与第一行电极形成互电容的第三行电极、类似于第二电极行的第四行电极，并针对其余电极行重复该图案。在另一个实例中，像素化电极图案可被配置为以第一电极作为驱动电极，以围绕第一电极的相邻电极作为感测电极以与第一电极形成互电容，以围绕第一组的第二组相邻电极作为感测电极以与第一电极形成互电容，第三组相邻电极类似于第一组相邻电极，并对其余电极重复该图案。
图20B示出了可替代图20A的图案的用于测量自电容和互电容的另一示例性像素化电极图案。在图20B的实例中，触摸面板2000可被配置为形成像素化电极图案，其中电极2011a作为驱动电极，电极2011b作为另一驱动电极，电极2011c作为第三驱动电极，电极2011d作为感测电极，并针对其余电极重复该图案。在此处，在驱动电极2011a以形成其和感测电极2011d之间的互电容Yee时，可测量电极2011a的自电容Xe。同时，也可驱动电极2011b,2011c并测量其自电容Xe。可形成类似于图15和图17那些像素化电极图案的附加像素化电极图案，只是可利用驱动电极来替代接地电极。例如，类似于图15，可驱动电极1411a,1411d并测量其自电容。类似于图16，可驱动电极1411b,1411c并测量其自电容。类似于图17，可驱动电极1411a,1411d并测量其自电容。
应当理解，像素化电极图案不限于图20B中所示的那些像素化电极图案，而是可包括适于测量触摸面板中的电极的自电容和互电容的其他图案或附加图案。例如，像素化电极图案被配置为包括作为驱动电极的第一行电极、作为驱动电极的第二行电极、作为感测电极以与第一行电极形成互电容的第三行电极、类似于第二行电极的第四行电极，并针对其余电极行重复该图案。在另一个实例中，像素化电极图案可被配置为包括作为驱动电极的第一电极、作为驱动电极的围绕第一电极的相邻电极、作为感测电极以与第一电极形成互电容的围绕第一组相邻电极的第二组相邻电极、以及类似于第一组相邻电极的围绕第二组相邻电极的第三组相邻电极，并对其余电极重复该图案。
图21示出了在图10的像素化电极触摸面板中的用于触摸信号的用户接地校正的另一种示例性方法。图21的方法类似于图11的方法，但可利用测量局部自电容来替代测量互电容。在图21的实例中，触摸面板可在面板中的各个像素化电极图案处捕获自电容，以便测量用户的接地状况并使用该测量来计算针对任何不良接地状况加以校正的触摸信号。因此，该面板可在自举操作中测量面板中的电极的全局自电容Xe，如图13中所示(2120)。然后，面板可在非自举操作中测量面板中的电极的局部自电容Xe(2130)。图22至图25示出了测量局部自电容的示例性像素化电极图案。在图22的实例中，触摸面板2200可被配置为形成像素化电极图案，其中电极2211a作为驱动电极，水平相邻的电极2211b作为后续电极，垂直相邻的电极2211c作为另一个后续电极，成对角电极2211d作为接地电极，并针对其余电极重复该图案。特定电极1411的标记“D”可指示电极正被驱动，标记“G”可指示电极正被接地，并且标记“F”可指示电极正在被驱动但未测量其自电容。可由驱动电路(未示出)提供的驱动电压V来驱动电极2211a，并且向感测电路(未示出)传输该电极的自电容Xe。后续电极2211b,2211c也可由驱动电压V驱动。通过驱动后续电极2211b,2211c，可使在后续电极和相邻驱动电极2211a之间形成的不希望有的寄生电容最小化，以免干扰来自驱动电极的自电容Xe。
为了确保针对所有电极来测量局部自电容，面板可被配置为通过将图22的图案顺时针旋转45度来形成第二像素化电极图案。图23示出了第二像素化电极图案。在图23的实例中，触摸面板2200可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极2211a作为后续电极，电极2211b作为驱动电极，电极2211c作为接地电极，电极2211d作为另一后续电极，并针对其余电极重复该图案。可测量驱动电极2211b的自电容Xe。
通常，图22和图23的图案可足以测量局部自电容。然而，可使用图24和图25中所示的两个更多图案进行附加测量，以与从图22和图23的图案获得的测量求平均。图24示出了通过将图23的图案顺时针旋转45度而形成的第三像素化电极图案。在图24的实例中，触摸面板2200可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极2211a作为接地电极，电极2211b作为后续电极，电极2211c作为另一个后续电极，电极2211d作为驱动电极，并针对其余电极重复该图案。可测量驱动电极2211d的自电容Xe。
图25示出了通过将图24的图案顺时针旋转45度而形成的第四像素化电极图案。在图25的实例中，触摸面板2200可被配置为形成像素化电极图案，其中现在电极2211a作为后续电极，电极2211b作为接地电极，电极2211c作为驱动电极，电极2211d作为另一后续电极，并针对其余电极重复该图案。可测量驱动电极2211c的自电容Xe。因此，可在两个操作(图22和图23的图案)或四个操作(图22至图25的图案)中测量局部自电容Xe。
应当理解，像素化电极图案不限于图22至图25中所示的那些像素化电极图案，而是可包括适于测量触摸面板中的电极的自电容的其他图案或附加图案。例如，像素化电极图案可被配置为以第一行电极作为驱动电极，第二行电极后续于该驱动电极，以第三行电极作为接地电极，第四行电极电后续于该驱动电极，并针对其余电极行重复该图案。在另一个实例中，像素化电极图案可被配置为以第一电极作为驱动电极，以围绕第一电极的相邻电极作为后续电极，一围绕后续电极的相邻电极作为接地电极，并针对剩余电极重复该图案。
再次参考图21，在测量自电容之后，可基于自电容测量来确定用户接地校正因子(2140)，并可用于计算针对用户不良接地状况加以校正的触摸信号(2150)。如上所述，可使用公式(2)来对不良接地状况进行校正。
除了向触摸信号应用用户接地校正因子之外，可设计触摸电极的结构以减轻不良接地状况。图26示出了可使用的示例性像素化电极结构。在图26的实例中，触摸面板2600可包括形状像八边形的触摸电极2611的阵列，其中拐角2615被刮削以在对角电极之间形成距离d，但也可使用其他形状以在对角电极之间提供距离。这种结构可有利地使形成触摸信号的自电容最大化，同时使对角电极之间可能会不利地影响触摸信号的互电容以及可能不利地影响触摸信号的电极到地电容最小化。
一个或多个触摸面板可工作于与图27所示的系统2700类似或相同的系统中。系统2700可包括存储在非暂态计算机可读存储介质中并由处理器2705执行的指令，该非暂态计算机可读存储介质诸如存储器2703或存储设备2701。也可在任何非暂态计算机可读存储介质内存储和/或传输指令，
以供指令执行系统、装置或设备诸如基于计算机的系统、包括处理器的系统或可以从指令执行系统、装置或设备获取指令并执行指令的其他系统使用或与其结合。在本文的上下文中，“非暂态计算机可读存储介质”可以是可包括或存储程序以供指令执行系统、装置和设备使用或与其结合的任何介质。非暂态计算机可读存储介质可包括但不限于电子、磁性、光学、电磁、红外或半导体系统、装置或设备、便携式计算机磁盘(磁性)、随机存取存储器(RAM)(磁性)、只读存储器(ROM)(磁性)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)(磁性)、便携式光盘(诸如CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R或DVD-RW)，或闪存存储器(诸如紧凑型闪存卡、安全数字卡、USB存储设备、记忆棒)等等。
指令也可在任何传输介质内传播以供指令执行系统、装置或设备诸如基于计算机的系统、包括处理器的系统或可从指令执行系统、装置或设备获取指令并执行指令的其他系统使用或与其结合。在本文的上下文中，“传输介质”可以是能够发送、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备使用或与其结合的任何介质。传输介质可包括但不限于电子、磁性、光学、电磁或红外有线或无线传播介质。
系统2700还可包括耦接到处理器2705的显示设备2709。显示设备2709可用于显示图形用户界面。系统2700还可包括耦接到处理器2705的触摸面板2707诸如图2和图10中的触摸面板。触摸面板2707可具有能够检测在与显示设备2709上的图形用户界面对应的位置处的面板上方触摸或悬停的对象的触摸节点。处理器2705可处理来自触摸面板2707的输出以基于触摸事件或悬停事件和所显示的图形用户界面来执行动作。
应当理解，该系统不限于图27的部件和构型，而是可包括根据各种实例的多种构型中的其他部件或附加部件。此外，系统2700的部件可被包括在单个设备中，或者可被分布于多个设备之间。在一些实例中，处理器2705可位于触摸面板2707和/或显示设备2709内。
图28示出了根据各种实例的示例性移动电话2800，该示例性移动电话可包括触摸面板2824、显示器2836和可执行触摸面板中的触摸信号的用户接地校正的其他计算系统块。
图29示出了根据各种实例的示例性数字媒体播放器2900，该示例性数字媒体播放器可包括触摸面板2924、显示器2936和可执行触摸面板中的触摸信号的用户接地校正的其他计算系统块。
图30示出了根据各种实例的示例性个人计算机3000，该示例性个人计算机可包括触摸面板(触控板)3024、显示器3036和可执行触摸面板中的触摸信号的用户接地校正的其他计算系统块。
图28至图30的移动电话、媒体播放器和个人计算机可有利地提供更精确和更快的触摸信号检测以及功率节省，并根据各种实例针对用户的各种接地状况更稳定地进行调整。
因此，根据上文，本公开的一些实例涉及一种用于在触摸面板处测量互电容和自电容的方法，该方法包括：在触摸面板中的多个触摸节点图案处测量互电容和自电容；以及基于测量来计算触摸信号，该触摸信号指示邻近触摸面板的对象。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，触摸面板具有行-列电极构型，触摸面板包括多行导电迹线和多列导电迹线，该列与该行交叉以在所述列与所述行之间形成互电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，其中触摸信号包括互电容触摸信号。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该测量包括：在第一节点图案处同时测量触摸面板的行导电迹线的第一自电容和列导电迹线的第二自电容；在第二节点图案处测量一对行导电迹线之间的第一互电容；以及在第三节点图案处测量一对列导电迹线之间的第二互电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该测量包括：在第一节点图案处同时测量触摸面板的行导电迹线的第一自电容和列导电迹线的第二自电容；以及在第二节点图案处同时测量一对行导电迹线之间的第一互电容和一对行导电迹线和列导电迹线之间的第二互电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该计算进一步包括：计算针对不良接地的邻近对象、触摸面板上的水或引入到触摸面板中的噪声中的至少一者校正过的触摸信号。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，触摸面板具有像素化电极构型，该触摸面板包括电极阵列以在电极和对象之间形成自电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，触摸信号包括自电容触摸信号。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该测量包括：在第一节点图案处从触摸面板的电极全局测量自电容；以及在第二节点图案处测量一对电极之间的互电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该测量包括：在第一节点图案处局部测量来自触摸面板的电极中的至少一个电极的自电容以及同时测量一对电极之间的互电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该测量包括：在第一节点图案处全局测量来自触摸面板的电极的第一自电容；以及在第二节点图案处局部测量来自电极中的至少一个电极的第二自电容。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该方法还包括：基于所测量的电容来确定校正因子，以对触摸面板处的不利状况进行校正。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该确定包括基于以下各项中的至少一者来确定校正因子：触摸面板中的行导电迹线的第一自电容的第一测量、触摸面板中的列导电迹线的第二自电容的第二测量、多对行导电迹线之间的第一互电容的第三测量、多对列导电迹线之间的第二互电容的第四测量、或多对行导电迹线和列导电迹线之间的第三互电容的第五测量。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该确定包括基于以下各项中的至少一者来确定所述校正因子：来自所述触摸面板的电极的第一自电容的第一全局测量、来自所述电极中的至少一个电极的第二自电容的第二局部测量、或一对所述电极之间的互电容的第三测量。
本公开的其他实例涉及一种触摸设备，该触摸设备包括：触摸面板，该触摸面板具有一组触摸节点，该一组触摸节点能够测量互电容触摸和自电容触摸；以及处理器，该处理器能够接收从多个触摸节点的图案获取的一组互电容触摸测量或一组自电容触摸测量中的至少一者，并使用该至少一组测量来计算触摸面板处的触摸信号。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该组触摸节点包括：多行导电迹线，每行迹线具有交替的宽部分和窄部分，该宽部分在远侧端部处渐缩以耦接到窄部分；以及多列导电迹线，每列迹线具有在远侧端部处渐缩的宽部分和连接宽部分的经渐缩的远侧端部的桥接部，其中行述列在行迹线的窄部分和列迹线的桥接部处彼此交叉。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，触摸节点的第一图案包括触摸面板的被同时激励以提供一组自电容测量的多行导电迹线和多列导电迹线，其中触摸节点的第二图案包括一对行导电迹线，激励行对中的一个行以驱动行对中的另一个行，从而传输一组互电容测量中的至少一些互电容测量，其中触摸节点的第三图案包括一对列导电迹线，激励列中的一个列以驱动列对中的另一个列，从而传输一组互电容测量中的至少其他互电容测量，并且其中处理器从节点的第一图案、第二图案和第三图案接收该一组互电容测量和一组自电容测量。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该组触摸节点包括：电极阵列，每个电极具有刮削的拐角以提供与另一电极的距离。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，其中触摸节点的第一图案包括触摸面板的被同时激励以提供一组自电容测量的电极，其中触摸节点的第二图案包括电极中的作为驱动电极的第一电极、电极中的作为接地电极的第二电极、电极中的作为感测电极的第三电极、以及电极中的作为接地电极的第四电极，激励第一电极来驱动第三电极以传输一组互电容测量，并且其中处理器从节点的第一图案和第二图案接收该一组互电容测量和一组自电容测量。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，触摸节点的第一图案包括触摸面板的作为驱动电极的第一电极、作为接地电极的第二电极、作为感测电极的第三电极、以及作为接地电极的第四电极，激励第一电极以提供所述一组自电容测量并驱动第三电极以同时提供一组互电容测量，并且其中处理器从节点的第一图案接收该一组互电容测量和一组自电容测量。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，触摸节点的第一图案包括触摸面板的被同时激励以提供一组自电容测量中的一些自电容测量的电极，其中触摸节点的第二图案包括电极中的作为驱动电极的第一电极、电极中的作为后续电极的第二电极、电极中的作为接地电极的第三电极、以及电极中的作为后续电极的第四电极，激励第一电极以提供一组自电容测量中的其他自电容测量，并且其中处理器从节点的第一图案和第二图案接收一组自电容测量除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，该设备包括移动电话、媒体播放器或便携式计算机中的至少一者。
本公开的其他实例涉及一种用于使用触摸面板处的互电容测量和自电容测量的方法，该方法包括：在触摸面板的触摸节点处测量自电容和互电容，该测量指示邻近触摸面板的对象；基于自电容测量和互电容测量来确定校正因子；以及基于校正因子来计算触摸信号，该触摸信号针对对象的接地状况、触摸面板上设置的水或引入到触摸面板中的噪声的至少一者被校正过。
本公开的其他实例涉及一种触摸面板，该触摸面板包括：多个触摸节点，该多个触摸节点能够检测接近面板的对象，该触摸节点中的至少一个触摸节点用于在第一操作中检测所述对象的触摸并用于在第二操作中测量节点的自电容或互电容中的至少一者。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，多个触摸节点包括一行导电迹线和一列导电迹线，该行迹线和该列迹线交叉以形成所述节点，其中第一操作检测互电容触摸信号，并且其中第二操作测量行迹线和列迹线的自电容、一对行迹线的互电容或一对列迹线的互电容中的至少一者。除上文所公开的一种或多种实例之外或作为另外一种选择，多个触摸节点包括电极阵列，其中第一操作检测自电容触摸信号，并且其中第二操作测量电极的自电容或一对电极的互电容中的至少一者。
本公开的一些实例涉及一种触摸面板，该触摸面板包括：电极阵列，该电极阵列能够感测触摸；多个跳线，该多个跳线能够将多组电极选择性地耦接在一起以形成之字形图案的电极行和电极列，该跳线中的至少一些跳线形成彼此交叉的行和列。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，电极阵列具有线性构型。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，每个电极具有实心表面和正方形形状。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，每个电极具有外部电极和中心电极，该外部和该中心电极是物理地分开的。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，每个电极具有中空中心。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，该电极行包括：第一跳线，该第一跳线耦接阵列的第一行和第一列中的第一电极以及阵列的第二行和第二列中的并与第一电极成对角的第二电极，第一跳线耦接第一电极和第二电极的邻近拐角；以及第二跳线，该第二跳线将第二电极耦接到阵列的第一行和第三列中的并与第二电极成对角的第三电极，第二跳线耦接第二电极和第三电极的邻近拐角，第一跳线和第二跳线形成之字形图案中的一个之字形图案的电极行。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，该电极列包括：第一跳线，该第一跳线耦接阵列的第一行和第二列中的第一电极以及阵列的第二行和第一列中的并与第一电极成对角的第二电极，该第一跳线耦接第一电极和第二电极的邻近拐角；以及第二跳线，该第二跳线将第二电极耦接到阵列的第三行和第二列中的并与第二电极成对角的第三电极，该第二跳线耦接第二电极和第三电极的邻近拐角，第一跳线和第二跳线形成之字形图案中的一个之字形图案的电极列。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，之字形图案能够校正面板中的用户接地状况。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，该面板被结合到移动电话、媒体播放器或便携式计算机的至少一者中。
本公开的一些实例涉及一种触摸设备，该触摸设备包括：触摸面板，触摸面板包括：电极阵列，所述电极阵列能够感测互电容和自电容；以及多个跳线，该多个跳线能够将多组电极选择性地耦接在一起以形成之字形图案的电极行和电极列，该跳线中的至少一些跳线形成彼此交叉的行和列；以及处理器，该处理器能够接收从多个感测电极图案获取的一组自电容触摸测量或一组自电容触摸测量中的至少一者，并使用至少一组测量来确定针对触摸面板的用户接地校正因子。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，感测图案中的第一感测图案包括触摸面板的电极行和电极列，同时激励行和列以提供一组自电容测量；感测图案的第二感测图案包括一对电极行，激励行对中的一个行以驱动行对中的另一个行，从而传输一组互电容测量中的至少一些互电容测量；感测图案的第三感测图案包括一对电极列，激励列对中的一个列以驱动列对中的另一个列，从而传输一组互电容测量中的至少其他互电容测量；并且处理器从第一感测图案、第二感测图案和第三感测图案接收该一组互电容测量和一组自电容测量。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，感测图案中的第一感测图案包括触摸面板的电极行和电极列，同时激励行和列以提供一组自电容测量；感测图案的第二感测图案同时包括一对电极行以及一对电极行和电极列，激励行对中的一个行以驱行对中的另一个行，从而传输一组互电容测量中的至少一些互电容测量，激励行-列对中的行以驱动行-列对中的列和行-列对中的列，从而传输一组互电容测量的至少其他感测图案；并且处理器从第一感测图案和第二感测图案接收该一组互电容测量和一组自电容测量。
本公开的一些实例涉及一种用于形成触摸面板的方法，该方法包括：形成用于感测触摸的电极阵列；在电极之间形成多个跳线；利用第一多组跳线来将第一多组电极选择性地耦接在一起，以形成用于驱动面板的电极行，该电极行形成第一之字形图案；利用第二多组跳线来将第二多组电极选择性地耦接在一起，以形成用于传输用于指示触摸的触摸信号的电极列，该电极列形成第二之字形图案；以及使第一多组跳线和第二多组跳线中的至少一些跳线交叉。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，选择性地耦接第一多组电极包括利用第一多组跳线来在基本水平的方向上将第一多组电极的相邻成对角的拐角耦接在一起，以形成第一之字形图案。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，选择性地耦接第二多组电极包括利用第二多组跳线来在基本垂直的方向上将第二多组电极的相邻成对角的拐角耦接在一起，以形成第二之字形图案。
本公开的一些实例涉及一种触摸面板，该触摸面板包括：电极阵列，该电极阵列能够感测触摸，每个电极具有非实心表面；以及多个跳线，该多个跳线能够将多组电极选择性地耦接在一起以形成电极行和电极列，该跳线中的至少一些跳线形成彼此交叉的行和列。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，电极阵列具有菱形构型。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，非实心表面包括外部电极和中心电极，该外部电极和该中心电极是物理地分开的。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，非实心表面包括中空中心。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，电极行包括耦接一行电极的相邻拐角的跳线中的一些跳线。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，电极列包括耦接一列电极的相邻拐角的跳线中的一些跳线。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，非实心表面能够减轻面板处的噪声。除上文所公开的实例中的一个或多个实例之外或作为另外一种选择，在一些实例中，电极能够校正面板中的用户接地状况。
虽然参照附图对本公开和实例进行了全面的描述，但应注意，各种变化和修改对于本领域内的技术人员而言将变得显而易见。应当理解，此类变化和修改被认为被包括在由所附权利要求所限定的本公开和实例的范围内。

Claims (20)

1.一种用于在触摸面板处测量互电容和自电容的方法，包括：
在所述触摸面板中的多个触摸节点图案处测量互电容和自电容；
确定一个或多个校正因子，每个校正因子是使用基于所测量的互电容和自电容的值计算的；以及
基于将所述一个或多个校正因子施加到所测量的互电容或自电容，来计算触摸信号，所述触摸信号指示邻近所述触摸面板的对象。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述触摸面板具有行-列电极构型，所述触摸面板包括多行导电迹线和多列导电迹线，所述列与所述行交叉以在所述列与所述行之间形成互电容。
3.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量包括：
在第一节点图案处同时测量所述触摸面板的行导电迹线的第一自电容和列导电迹线的第二自电容；
在第二节点图案处测量一对所述行导电迹线之间的第一互电容；以及
在第三节点图案处测量一对所述列导电迹线之间的第二互电容。
4.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量包括：
在第一节点图案处同时测量所述触摸面板的行导电迹线的第一自电容和列导电迹线的第二自电容；以及
在第二节点图案处同时测量一对所述行导电迹线之间的第一互电容和一对所述行导电迹线和所述列导电迹线之间的第二互电容。
5.根据权利要求1所述的方法，其中所述计算进一步包括：
计算所述触摸信号，所述触摸信号针对不良接地的邻近所述触摸面板的对象、所述触摸面板上的水或引入到所述触摸面板中的噪声中的至少一者被校正。
6.根据权利要求1所述的方法，其中所述触摸面板具有像素化电极构型，所述触摸面板包括电极阵列以在所述电极和所述对象之间形成自电容。
7.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量包括：
在第一节点图案处从所述触摸面板的电极全局测量自电容；以及
在第二节点图案处测量一对所述电极之间的互电容。
8.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量包括：
在第一节点图案处局部测量所述触摸面板的电极中的至少一个电极的自电容并同时测量一对所述电极之间的互电容。
9.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量包括：
在第一节点图案处全局测量所述触摸面板的电极的第一自电容；以及
在第二节点图案处局部测量所述电极中的至少一个电极的第二自电容。
10.根据权利要求1所述的方法，其中所述校正因子被施加到所测量的互电容或自电容以对所述触摸面板处的不利状况进行校正。
11.根据权利要求1所述的方法，其中所述确定包括：
确定所述校正因子，每个校正因子是基于以下各项中的至少一者来计算的：所述触摸面板中的行导电迹线的第一自电容的第一测量、所述触摸面板中的列导电迹线的第二自电容的第二测量、多对所述行导电迹线之间的第一互电容的第三测量、多对所述列导电迹线之间的第二互电容的第四测量、或多对所述行导电迹线和所述列导电迹线之间的第三互电容的第五测量。
12.根据权利要求1所述的方法，其中所述确定包括：
基于以下各项中的至少一者来确定所述校正因子：所述触摸面板的电极的第一自电容的第一全局测量、所述电极中的至少一个电极的第二自电容的第二局部测量、或一对所述电极之间的互电容的第三测量。
13.根据权利要求1所述的方法，其中所述触摸信号包括互电容触摸信号或自电容触摸信号。
14.一种触摸设备，包括：
触摸面板，所述触摸面板具有一组触摸节点，所述一组触摸节点能够测量互电容触摸和自电容触摸；和
处理器，所述处理器能够
接收从所述触摸节点的多个图案获取的一组互电容触摸测量和一组自电容触摸测量，
确定一个或多个校正因子，每个校正因子是使用基于所述一组互电容触摸测量和所述一组自电容触摸测量的值来计算的，以及
基于将所述一个或多个校正因子施加到所述一组互电容触摸测量或所述一组自电容触摸测量中的一者，来计算所述触摸面板处的触摸信号。
15.根据权利要求14所述的设备，其中所述一组触摸节点包括：
多行导电迹线，每个行迹线具有交替的宽部分和窄部分，所述宽部分在远侧端部处渐缩以耦接到所述窄部分；和
多列导电迹线，每个列迹线具有在远侧端部处渐缩的宽部分和连接所述宽部分的经渐缩的远侧端部的桥接部，
其中所述行和所述列在所述行迹线的所述窄部分和所述列迹线的所述桥接部处彼此交叉。
16.根据权利要求14所述的设备，其中所述触摸节点的所述多个图案中的第一图案包括所述触摸面板的被同时激励以提供所述一组自电容测量的多行导电迹线和多列导电迹线，
其中所述触摸节点的所述多个图案中的第二图案包括一对所述行导电迹线，激励所述行对中的一个行来驱动所述行对中的另一个行以传输所述一组互电容测量中的至少一些互电容测量，
其中所述触摸节点的所述多个图案中的第三图案包括一对所述列导电迹线，激励所述列对中的一个列来驱动所述列对中的另一个列以传输所述一组互电容测量中的至少其他互电容测量，并且
其中所述处理器从所述触摸节点的所述多个图案中的所述第一图案、所述第二图案和所述第三图案接收所述一组互电容测量和所述一组自电容测量。
17.根据权利要求14所述的设备，其中所述一组触摸节点包括：
电极阵列，每个电极具有刮削的拐角以提供与另一电极的距离。
18.根据权利要求14所述的设备，其中所述触摸节点的所述多个图案中的第一图案包括所述触摸面板的被同时激励以提供所述一组自电容测量的电极，
其中所述触摸节点的所述多个图案中的第二图案包括所述电极中的作为驱动电极的第一电极、所述电极中的作为接地电极的第二电极、所述电极中的作为感测电极的第三电极和所述电极中的作为接地电极的第四电极，激励所述第一电极以驱动所述第三电极来传输所述一组互电容测量，并且
其中所述处理器从所述触摸节点的所述多个图案中的所述第一图案和所述第二图案接收所述一组互电容测量和所述一组自电容测量。
19.根据权利要求14所述的设备，其中所述触摸节点的所述多个图案中的第一图案包括所述触摸面板的作为驱动电极的第一电极、作为接地电极的第二电极、作为感测电极的第三电极和作为接地电极的第四电极，激励所述第一电极来提供所述一组自电容测量以及来驱动所述第三电极以同时提供所述一组互电容测量，并且
其中所述处理器从所述触摸节点的所述多个图案中的所述第一图案接收所述一组互电容测量和所述一组自电容测量。
20.根据权利要求14所述的设备，其中所述触摸节点的所述多个图案中的第一图案包括所述触摸面板的被同时激励以提供所述一组自电容测量中的一些自电容测量的电极，
其中所述触摸节点的所述多个图案中的第二图案包括所述电极中的作为驱动电极的第一电极、所述电极中的作为后续电极的第二电极、所述电极中的作为接地电极的第三电极和所述电极中的作为后续电极的第四电极，激励所述第一电极以提供所述一组自电容测量中的其他自电容测量，并且
其中所述处理器从所述触摸节点的所述多个图案中的所述第一图案和所述第二图案接收所述一组自电容测量。
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