CN105446848A - 电子设备的数据处理性能的测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置。该方法包括：接收开始测试指令并响应，记录当前的第一系统时间，执行对数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据两时间之差，确定数据处理性能；执行对数据处理性能的测试包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从存储器中读取已写入的数据。可见，本方案实现了对电子设备数据处理性能的测试，提高了性能测试的全面性。

Description

电子设备的数据处理性能的测试方法及装置

技术领域

本发明涉及电子设备性能测试领域，特别涉及一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置。

背景技术

随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得电子设备成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分。

而涌现在市场上的电子设备性能高低不一，很多用户在购买电子设备时或者购买之后有了解设备性能的意愿，因此，对电子设备的性能测试极为重要。其中，电子设备的数据处理性能在电子设备性能中占有举足轻重的地位，也是用户非常关心的性能。

其中，在执行某项任务时可能既用到CPU的计算能力，也使用到内存，还需要往存储器读写数据，这些都涉及到数据处理。但是，现有的电子设备的性能测试中，有的只是对内存做测试，有的是对存储器做测试，而有的是对CPU计算性能做测试，并未涉及到涵盖有这些项目的数据处理性能的测试，导致现有的电子设备的性能测试不够全面，最终无法较好地体现电子设备的综合性能。

发明内容

基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置，以实现对电子设备的数据处理性能的测试，从而提高电子设备的性能测试的全面性。技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备的数据处理性能的测试方法，包括：

接收开始测试指令；

响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；

在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：

通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

可选的，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块。

可选的，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，包括：

通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，继续执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

可选的，通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，包括：

生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到所述预定大小，如果否，将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并继续执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤；

如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。

可选的，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据，包括：

通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；

在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否则，将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，继续执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。

可选的，

所述通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程，包括：

通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

对所读取出的数据块经过第二加工方式处理；

并在经过第二加工方式处理后，继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。

可选的，所述预定大小为5M-25M。

第二方面，本发明实施例提供了一种电子设备的数据处理性能的测试装置，包括：

指令接收模块，用于接收开始测试指令；

指令响应模块，用于响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并触发性能测试模块；

第二时间记录模块，用于在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

性能确定模块，用于依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，所述性能测试模块，包括：

数据写入模块，用于通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；

数据读取模块，用于在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

可选的，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块。

可选的，所述数据写入模块，包括：

写入单元，用于通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

第一判断单元，用于在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，触发所述写入单元执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

可选的，所述写入单元，包括：

第一获得子单元，用于生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

待写入数据块形成子单元，用于对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

数据块写入子单元，用于将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

判断子单元，用于判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到预定大小，如果否，触发第二获得子单元；如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程；

所述第二获得子单元，用于将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并触发所述待写入数据块形成子单元执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤。

可选的，所述数据读取模块，包括：

读取单元，用于通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；

第二判断单元，用于在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否则，触发当前待读取的文件确定单元；

所述当前待读取的文件确定单元，用于将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，并触发所述读取单元执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。

可选的，所述读取单元，包括：

读取子单元，用于通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

加工子单元，用于对所读取出的数据块经过第二加工方式处理，并在经过第二加工方式处理后，触发所述读取子单元，以继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。

本发明实施例中，在对电子设备的性能测试过程中，接收开始测试指令；响应开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据该第二系统时间和该第一系统时间之差，确定该电子设备的数据处理性能；其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据。可见，通过利用本方案，可以实现对电子设备的数据处理性能的测试，从而提高电子设备的性能测试的全面性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试方法的第一种流程图；

图2为本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试方法的第二种流程图；

图3为本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试方法的第三种流程图；

图4为本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试方法的第四种流程图；

图5为本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试方法的第五种流程图；

图6为本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了实现对电子设备的数据处理性能的测试，从而提高电子设备的性能测试的全面性，本发明实施例提供了一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置。

首先需要说明的是，本发明所称的电子设备的数据处理性能，是指电子设备对数据存取、运算的处理能力，是CPU的计算能力和存储器读写数据能力等的综合体现。可以理解的是，该数据处理性能也可冠以其他的名称，本发明对此不作限定。

下面首先对本发明实施例所提供的一种电子设备的数据处理性能的测试方法进行介绍。

需要说明的是，本发明实施例所提供的电子设备的数据处理性能的测试方法适用于电子设备中，其中，在实际应用中，该电子设备可以包括：手机、平板电脑、笔记本电脑等；并且，本发明实施例所针对的存储器为电子设备的内存及CPU缓存以外的存储器，这类存储器在断电后仍然能保存数据，如ROM(Read-OnlyMemory，只读内存)；其中，在实际应用中，ROM可以包括：EMMC存储器(EmbeddedMultiMediaCard，内嵌式存储器)、SD卡(SecureDigitalMemoryCard，安全数码卡)。

如图1所示，一种电子设备的数据处理性能的测试方法，可以包括：

S101，接收开始测试指令；

当需要对电子设备的数据处理性能进行测试时，用户可以通过人机交互界面向电子设备发出开始测试指令，而该电子设备可以接收到该开始测试指令，进而进行后续的处理。

S102，响应该开始测试指令，记录当前的第一系统时间；

当接收到用户发出的开始测试指令后，该电子设备可以响应该开始测试指令，从而记录当前的第一系统时间，并在记录该当前的第一系统时间后，进行后续的对电子设备的数据处理性能的测试。

需要说明的是，由于对电子设备的数据处理性能进行测试，将涉及到CPU的性能、存储器的读写性能以及内存的性能，因此，为了合理地记录所消耗的时间，需要在响应该开始测试指令时，便记录当前的第一系统时间，以避免由于在后续过程中记录时间点的时机不固定所带来的性能测试的不准确。

S103，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据；其中，预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入该存储器；

需要说明的是，该预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入该存储器；具体而言，基于存储器的文件存储方式，该存储器中的预定测试量的数据的存储形式为至少一个符合预定大小的文件，其中，所存储的每一文件由向存储器多次写入的数据块构成。

S104，在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据；

在该电子设备响应该开始测试指令，记录当前的第一系统时间后，可以对电子设备的数据处理性能进行测试，即通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，并在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据。

由于上述的处理过程涉及到CPU的性能、存储器的读写性能，并且还使用到内存，因此，适用于作为对数据处理性能的测试。例如，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据的过程，涉及到了CPU、存储器的写入性能以及内存；而通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据也涉及到了CPU、存储器的读取性能以及内存。

其中，通过I/O接口向存储器中写入数据的过程以及通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据的具体过程与现有技术相同，在此不作赘述。

其中，该第一加工方式可以包括：加密、傅里叶变化、加密并压缩、傅里叶变化并压缩中的至少一种，当然并不局限于此。在实际应用中，所采用的加密算法可以为现有的DSA(DigitalSignatureAlgorithm，数字签名算法)、DES(DataEncryptionStandard，数据加密标准)算法、RSA算法等，也可以为自行设计的算法；而所采用的压缩算法可以为现有的DEFLATE算法，当然，也可以为自行设计的算法。

本领域技术人员可以理解的是，在实际应用中，由于一些存储器本身自带特定大小的缓冲区(该缓冲区并非I/O缓存，其位于存储器内部)，如果写入存储器的数据的总量太小，在后续读取数据过程中，将会存在所读取的部分数据是从存储器自带的缓冲区所读取出的，从而影响测试准确性；而如果写入存储器的数据的总量太大，可能会引入文件碎片，使得后写入的部分数据受到文件碎片的影响，也将影响测试准确性。因此，为了避免存储器自带的缓存区和文件碎片对测试结果的影响，写入存储器的数据的总量(即预定测试量)通常在几十兆到几百兆之间，其中，具体的测试量可以根据存储器的实际存储容量进行设定，通常情况下，存储容量大的存储器所对应的预定测试量可以较大，而存储容量小的存储器所对应的预定测试量可以较小。举例而言：通常存储容量较大的SD卡自带缓存的较大，因此，预定测试量可以较大，而存储容量较小的EMMC存储器自带缓存较小，因此，预定测试量可以较小。

同时，在存储器中存在文件碎片的情况下，如果写入数据块太大，为了找到所需的满足大小的可用空间，可能需要跳过的文件碎片较多，影响写入速度，因此，该存储器中的预定测试量的数据的存储形式为至少一个符合预定大小的文件，而每一文件由至少一个数据块构成，以此降低写入数据块时受到文件碎片影响的几率。其中，预定大小通常可以为5M-25M，具体的大小可以根据存储器的存储容量进行设定，通常情况下，存储容量大的存储器所对应的预定大小可以较大，而存储容量小的存储器所对应的预定大小可以较小。

需要说明的是，在实际应用中，为了容易把握写入数据的量，从而更好的完成测试，预定测试量和预定大小通常为特定范围，而不是具体的数值。

S105，在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

其中，在测试完毕后，可以记录当前的第二系统时间，从而根据之前所记录的第一系统时间和第二系统时间确定该电子设备的数据处理性能。

S106，依据该第二系统时间和该第一系统时间之差，确定该电子设备的数据处理性能。

在得到第一系统时间和第二系统时间之后，可以对该第二系统时间和该第一系统时间作差，从而获得整个测试过程所消耗的总时间，进而根据该总时间，确定出该电子设备的数据处理性能。其中，该数据处理性能可以为分数值，也可以为不同等级的评价内容，例如：差、良、好、优，当然并不局限于此。

本领域技术人员可以理解的是，可以预先设定测试总时间与数据处理性能的对应关系，从而在获得总时间后，依据总时间确定出数据处理性能。其中，关于测试总时间与数据处理性能的对应关系可以通过多次测试总结获得。

本发明实施例中，在对电子设备的性能测试过程中，接收开始测试指令；响应开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据该第二系统时间和该第一系统时间之差，确定该电子设备的数据处理性能；其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据。可见，通过利用本方案，可以实现对电子设备的数据处理性能的测试，从而提高电子设备的性能测试的全面性。

为了进一步提高电子设备的性能测试的全面性以及准确性，本发明实施例所提供方案中，在向该存储器写入预定测试量的数据时，每个符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到该存储器中，各个数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到该文件对应的下一次待写入的数据块。

其中，该存储器中的预定测试量的数据的存储形式为至少一个符合预定大小的文件，所存储的每一文件由向存储器多次写入的不同数据块构成，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到该文件对应的下一次待写入的数据块，以此保证了每次待写入的数据块的差异性较大，从而使得写入每一数据块时，无法直接从I/O缓存到存储器，而需要从内存到存储器，避免了直接将I/O缓存中的数据块写入存储器从而影响存储器性能测试准确性的问题，从而提高了电子设备的数据处理性能的测试准确性。

由于上述的处理过程涉及到CPU的性能、存储器的读写性能，并且还使用到内存，因此，更加完善了对数据处理性能的测试。例如，对数据块进行第一加工方式处理的过程涉及到CPU，还使用到内存；而通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据的过程，涉及到了CPU、存储器的写入性能以及内存；而通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据也涉及到了CPU、存储器的读取性能以及内存。

基于上述所提供的优选方案，介绍通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据的过程以及通过I/O接口从存储器中读取已写入的数据的过程。其中，所述的优选方案中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入该存储器，在向该存储器写入预定测试量的数据时，每个符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到该文件对应的下一次待写入的数据块。

具体的，如图2所示，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据的过程，可以包括：

S201，通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

在通过I/O接口向存储器写入预定大小的数据后，将形成存储于存储器的一个文件，其中，所存储的该一个文件由向存储器多次写入的不同数据块构成，且该当前文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到该当前文件对应的下一次待写入的数据块。

S202，在该一个文件存储完成后，判断已写入该存储器的数据是否为预定测试量，如果是，执行步骤S203；否则，继续执行步骤S201；

在当前文件存储完成后，可以判断已写入该存储器的数据是否为预定测试量，并根据不同的判断结果执行不同的步骤。其中，当判断出已写入该存储器的数据为预定测试量时，表明完成写入操作，此时，执行步骤S203即可；而当判断出已写入该存储器的数据不为预定测试量，此时，表明写入操作未结束，此时，可以继续执行步骤S201。

S203，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作。

在判断出已写入该存储器的数据为预定测试量时，可以结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作，至此完成写入操作。

更进一步的，通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，如图3所示，可以包括：

S301，生成随机数据，将该随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块；

其中，该第一数据块不大于该预定大小。

S302，对该第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

其中，该第一加工方式可以包括：加密、傅里叶变化、加密并压缩、傅里叶变化并压缩中的至少一种，当然并不局限于此。

S303，将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

其中，将数据块通过I/O接口写入存储器的具体过程与现有技术相似，在此不作赘述。

S304，判断已写入该存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到该预定大小，如果否，执行步骤S305；否则，执行步骤S306；

在将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器后，可以判断已写入该存储器中的关于本次待写入文件的数据是否达到预定大小，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当判断出已写入该存储器中的关于本次待写入文件的数据达到预定大小时，表明写入本次待写入文件的操作完成，此时，执行步骤S306；而当判断出已写入该存储器中的关于本次待写入文件的数据未达到预定大小时，表明写入当前文件的操作未完成，此时，执行步骤S305。

S305，将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并继续执行步骤S302；

在判断出已写入该存储器中的关于当前文件的数据未达到预定大小时，表明写入当前文件的操作未完成，可以将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，进而继续执行步骤S302，使得下一次的待写入的数据块与本次待写入的数据块不同，避免了直接从I/O接口到存储器所造成的性能测试准确性较低的问题。

S306，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。

在判断出已写入该存储器中的关于本次待写入文件的数据达到预定大小时，表明写入本次待写入文件的操作完成，可以结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。

需要说明的是，上述的写入存储器的数据块的过程为边写入边生成，当然，也可以在写入之前，生成形成本次待写入文所需写入存储器的所有数据块，其中，具体的生成过程可以包括：生成随机数据，将该随机数据确定为所需的第一数据块，对该第一数据块经过第一加工方式处理，形成第一次待写入的数据块，进而将第一次待写入的数据块经过第一加工方式处理，形成第二次待写入的数据块，将第二次待写入的数据块经过第一加工方式处理，形成第三次写入的数据块，以此类推，直至所形成的待写入的数据块的总量达到预定大小时，完成形成本次待写入文件所需的数据块。其中，对于预先生成数据块的过程，发生在响应该开始测试指令，记录当前的第一系统时间之后，也就是，预先生成的过程属于数据处理性能测试的一部分，此时，预先生成的过程涉及到CPU和内存。

综上可见，上述通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据的过程中，涉及到对数据的加工处理以及向存储器写入数据，因此，同时涉及到对存储器性能、CPU性能以及内存性能的测试，因此，适用于作为对电子设备的数据处理性能的测试。

具体的，如图4所示，通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据，可以包括：

S401，通过I/O接口从该存储器中读取至少一个符合预定大小的文件中的当前待读取的文件；

其中，通过I/O接口从该存储器中读取数据的具体过程与现有技术相同，在此不作赘述。

本领域技术人员可以理解的是，在写入数据时，多个数据块将构成存储于存储器的文件，其中，形成文件时将记录各个数据块之间的关系以及写入顺序等信息，而各个文件的写入顺序等信息也将被记录并存储，因此，可以根据所记录的文件形成顺序依次读取存储器中以文件形式存储的预定测试量的数据。

S402，在该当前待读取的文件读取完毕后，判断当前待读取的文件是否为至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，执行步骤S403；否则，执行步骤S404；

在该当前待读取的文件读取完毕后，判断该当前待读取的文件是否为至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当判断出该当前待读取的文件为最后一个文件时，可以执行步骤S403；当判断出该当前待读取的文件不为最后一个文件时，表明读取数据操作未结束，此时，可以执行步骤S404。

S403，结束读取已写入的数据的操作；

当判断出该当前待读取的文件为至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件时，可以结束读取已写入的数据的操作。

S404，将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，继续执行S401。

当判断出该当前待读取的文件不为最后一个文件时，表明读取数据操作未结束，此时，可以将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，继续执行步骤S401。

需要说明的是，通过I/O接口从该存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程，可以包括：通过I/O接口依次从该存储器中读取至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的数据块。

本领域技术人员可以理解的是，现有的电子设备的操作系统有时会分配特定大小的内存作为存储器的辅助缓存，当向存储器写完数据再读取时，部分数据在该辅助缓存也有保存，这些保存的数据将会影响到测试的准确性。基于该因素，读取完数据块后可以进行简单操作，以使用到内存，此时，可以使得保留在该辅助缓存的数据可能被清除掉，能够打断读取数据的连续性，最终可以保证测试的准确性。

因此，基于上述原理，为了进一步提供测试准确性，在本发明的另一实施例中，所述通过I/O接口从所述存储器中读取至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程，可以包括：

S501，通过I/O接口从该存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

其中，通过I/O接口从该存储器中读取数据的方式与现有技术相同，在此不作赘述。

S502，对所读取出的数据块经过第二加工方式处理；

其中，该第二加工方式可以为该第一加工方式的逆向加工方式，当然并不局限于此，还可以为其他的简单的操作或运算。

S503，在经过第二加工方式处理后，继续通过I/O接口从该存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到该当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。

在经过第二加工方式处理后，可以继续通过I/O接口从该存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到该当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕，至此结束通过I/O接口从该存储器中读取至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程。

综上可见，上述通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据的过程中，涉及到对数据的加工处理以及从存储器读取数据，因此同时涉及到对存储器性能、CPU性能以及内存性能的测试，因此，适用于作为对电子设备的数据处理性能的测试。

相应于上述方法实施例，本发明实施例还提供了一种电子设备的数据处理性能的测试装置，如图6所示，可以包括：

指令接收模块610，用于接收开始测试指令；

指令响应模块620，用于响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并触发性能测试模块630；

第二时间记录模块640，用于在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

性能确定模块650，用于依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，所述性能测试模块630，可以包括：

数据写入模块631，用于通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；

数据读取模块632，用于在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

本发明实施例中，在对电子设备的性能测试过程中，接收开始测试指令；响应开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据该第二系统时间和该第一系统时间之差，确定该电子设备的数据处理性能；其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从该存储器中读取已写入的数据。可见，通过利用本方案，可以实现对电子设备的数据处理性能的测试，从而提高电子设备的性能测试的全面性。

更进一步的，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块。

其中，所述数据写入模块631，可以包括：

写入单元，用于通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

第一判断单元，用于在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，触发所述写入单元执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

其中，所述写入单元，可以包括：

第一获得子单元，用于生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

待写入数据块形成子单元，用于对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

数据块写入子单元，用于将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

判断子单元，用于判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到预定大小，如果否，触发第二获得子单元；如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程；

所述第二获得子单元，用于将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并触发所述待写入数据块形成子单元执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤。

其中，所述数据读取模块632，可以包括：

读取单元，用于通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；

第二判断单元，用于在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否则，触发当前待读取的文件确定单元；

所述当前待读取的文件确定单元，用于将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，并触发所述读取单元执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。

其中，所述读取单元，可以包括：

读取子单元，用于通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

加工子单元，用于对所读取出的数据块经过第二加工方式处理，并在经过第二加工方式处理后，触发所述读取子单元，以继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。

对于系统或装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域普通技术人员可以理解实现上述方法实施方式中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，这里所称得的存储介质，如：ROM/RAM、磁碟、光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (13)

1.一种电子设备的数据处理性能的测试方法，其特征在于，包括：

接收开始测试指令；

响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；

在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：

通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，包括：

通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，继续执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，包括：

生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到所述预定大小，如果否，将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并继续执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤；

如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据，包括：

通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；

在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否则，将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，继续执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程，包括：

通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

对所读取出的数据块经过第二加工方式处理；

并在经过第二加工方式处理后，继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定大小为5M-25M。

8.一种电子设备的数据处理性能的测试装置，其特征在于，包括：

指令接收模块，用于接收开始测试指令；

指令响应模块，用于响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并触发性能测试模块；

第二时间记录模块，用于在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

性能确定模块，用于依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，所述性能测试模块，包括：

数据写入模块，用于通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；

数据读取模块，用于在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述数据写入模块，包括：

写入单元，用于通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

第一判断单元，用于在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，触发所述写入单元执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述写入单元，包括：

第一获得子单元，用于生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

待写入数据块形成子单元，用于对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

数据块写入子单元，用于将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

判断子单元，用于判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到预定大小，如果否，触发第二获得子单元；如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程；

所述第二获得子单元，用于将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并触发所述待写入数据块形成子单元执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤。

12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述数据读取模块，包括：

读取单元，用于通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；

第二判断单元，用于在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否则，触发当前待读取的文件确定单元；

所述当前待读取的文件确定单元，用于将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，并触发所述读取单元执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述读取单元，包括：

读取子单元，用于通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

加工子单元，用于对所读取出的数据块经过第二加工方式处理，并在经过第二加工方式处理后，触发所述读取子单元，以继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。