CN105445373B - 一种用于超声波检测的缺陷定位装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于超声波检测的缺陷定位装置，其特征在于：它包括一安装固定座和一直角测量尺；所述直角测量尺包括一第一测量尺和一固定连接在所述第一测量尺的一端的第二测量尺，所述第一测量尺的尺面与所述第二测量尺的尺面垂直；在所述安装固定座上设置一滑道，所述第一测量尺滑动连接在所述滑道中；在所述第二测量尺上滑动设置一活动箭头。本发明由于采用平面内两定位方式，使定位可以在平面内精确到某一点，有利于精准判定缺陷位置，以便及时对对缺陷进行清除及返修。

Description

一种用于超声波检测的缺陷定位装置
技术领域
本发明涉及一种用于超声波检测的缺陷定位装置。
背景技术
超声波无损检测的基本原理，是利用均匀材料中由于不均匀缺陷的存在所造成的材料不连续性，这种不连续性会在材料的内部产生不同大小的界面，从而造成声阻抗的不一致。而超声波会在不同声阻抗的介质交界面(或“缺陷”)上发生反射现象，超声波探伤就是利用这种交界面反射波的出现，对缺陷在工件中位置和大小进行判定。
超声波检测时，缺陷界面(材料的不连续处)的反射波会显示在超声波探伤仪的示波器上，示波器可以通过事先设定好的线性比例关系，直接显示出反射声波的位置和大小。反射波的位置参数主要表示了声波在材料中传递的声程、水平距离、垂直深度，反射波高度大小表示声波的声压大小，即表示缺陷的大小，以分贝表示；通过上述示波屏上读到的反射声波参数值，可以判定缺陷在工件内部的位置和当量大小。
在读取反射声波的位置和大小时，一般会在找到最高反射波的条件下，确定缺陷的具体位置。但在实际检测过程中，这两个参数是在超声波示波屏上显示出来的，具体到工件上的具体位置，现场需要借用检测尺进行测量，即在找到缺陷最高反射波后，依据示波屏上显示的相关数据，通过直尺测量出缺陷在工件上的实际位置。
找缺陷最高反射波时，需要手持探头在存在缺陷位置附近轻微移动探头，根据反射波的变化找出其最高点，找到最高点后，在示波屏上可以读出该反射波在工件中的位置相关数值，根据示波屏上显示的相关数据，通过直尺在工件上实际测量出缺陷所在位置，但是，探伤检测过程是在不断行进中进行的，直尺不便于携带，同时普通的直尺不能准确到探伤的中心位置处，因此测量缺陷的位置则是通过目视和直尺结合大致测量的，因此操作时具有较大的不准确性。
发明内容
针对上述问题，本发明的目的是提供一种用于超声波检测的缺陷定位装置，该定位装置与超声波探伤仪的探头结合使用能够快速、准确地对缺陷位置进行定位。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种用于超声波检测的缺陷定位装置，其特征在于：它包括一安装固定座和一直角测量尺；所述直角测量尺包括一第一测量尺和一固定连接在所述第一测量尺的一端的第二测量尺，所述第一测量尺的尺面与所述第二测量尺的尺面垂直；在所述安装固定座上设置一滑道，所述第一测量尺滑动连接在所述滑道中；在所述第二测量尺上滑动设置一活动箭头。
在所述第一测量尺和第二测量尺上分别设置有刻度线。
所述第一测量尺的量程为150mm，所述第二测量尺的量程为30mm。
所述安装固定座和直角测量尺采用金属或塑料制成；所述活动箭头采用透明的塑料制成。
一种超声波探伤仪，它包括探头，其特征在于：在所述探头上安装有所述的缺陷定位装置。
所述安装固定座可拆卸地连接在所述探头的侧面。
本发明由于采取以上技术方案，其具有以下优点：1、本发明由于采用平面内两定位方式，使定位可以在平面内精确到某一点，有利于精准判定缺陷位置，以便及时对对缺陷进行清除及返修。2、本发明将缺陷定位装置固定连接在探头上，可以在检测中前后左右移动探头，找到最高反射波后，不需要另外再去寻找直尺，而是通过持探头的拇指前后推移第一测量尺即可，既方便探伤过程又由于准确测量。3、本发明在第二测量尺上设置活动箭头，其可以较快快速、准确地对准探头的中心位置，以避免目视测量误差。4、本发明缺陷定位装置的固定安装座与探头之间采用可拆卸的连接方式，便于以不同的超声波探伤仪的探头进行配合使用，而且本发明缺陷定位装置还具有便携的特点。
附图说明
图1是本发明的整体结构示意图；
图2是本发明的俯视示意图；
图3是本发明第二测量尺的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。
如图1、图2所示，本发明包括一安装固定座1和一直角测量尺2。其中，直角测量尺2包括一第一测量尺2-1和一固定连接在第一测量尺2-1的一端的第二测量尺2-2，并且，第二测量尺2-2的尺面与第一测量尺2-1的尺面垂直。在安装固定座1上设置一滑道，第一测量尺2-1滑动连接在安装固定座1的滑道中。在第二测量尺上滑动设置一活动箭头3(如图2、图3所示)。
进一步地，在第一测量尺2-1和第二测量尺2-2上分别设置有刻度线，并且，第一测量尺2-1的量程为150mm，第二测量尺的量程为30mm，即可满足大多数情况下的缺陷定位测量。
进一步地，安装固定座1和直角测量尺2采用金属或塑料制成，若采用塑料，可以是透明的塑料也可以是不透明的塑料；活动箭头则优选采用透明的塑料制成。
本发明的使用方法如下：
1)将本发明缺陷定位装置的安装固定座1以可拆卸的方式(螺钉连接、粘贴等)连接在超声波探伤仪的探头4的侧面，安装完成后，第一测量尺2-1可以相对于探头4水平移动，用于测量缺陷相对于探头4的水平距离。
2)调整活动箭头3在第二测量尺2-2上的位置，使活动箭头3至探头4中心位置处。
3)将探头4放置在工件的被检测面上，移动探头4寻找缺陷的最高反射波，当找到最高反射波时，探头停止移动。
4)推动第一测量尺2-1在滑槽中移动，根据缺陷反射波在超声波探伤仪的示波器上显示的水平位置数值来确定第一测量尺2-1相对于探头4伸出的长度，当第一测量尺2-1调整到符合示波器显示的水平距离后，活动箭头3对应工件上的点即为缺陷的其中一个端点。再次实施相同的检测过程可以找到缺陷的另一端点，两点连线的长度，即为该缺陷在工件内部的当量长度值，根据该长度的大小，结合相应的标注规定范围，即可对缺陷是否超标进行判定。
本发明仅以上述实施例进行说明，各部件的结构、设置位置及其连接都是可以有所变化的。在本发明技术方案的基础上，凡根据本发明原理对个别部件进行的改进或等同变换，均不应排除在本发明的保护范围之外。

Claims (5)

1.一种用于超声波检测的缺陷定位装置，其特征在于：它包括一用于与超声波探伤仪的探头进行安装的安装固定座和一直角测量尺；所述直角测量尺包括一第一测量尺和一固定连接在所述第一测量尺的一端的第二测量尺，所述第一测量尺的尺面与所述第二测量尺的尺面垂直；在所述安装固定座上设置一滑道，所述第一测量尺滑动连接在所述滑道中；在所述第二测量尺上滑动设置一活动箭头；在所述第一测量尺和第二测量尺上分别设置有刻度线。
2.如权利要求1所述的一种用于超声波检测的缺陷定位装置，其特征在于：所述第一测量尺的量程为150mm，所述第二测量尺的量程为30mm。
3.如权利要求1所述的一种用于超声波检测的缺陷定位装置，其特征在于：所述安装固定座和直角测量尺采用金属或塑料制成；所述活动箭头采用透明的塑料制成。
4.一种超声波探伤仪，它包括探头，其特征在于：在所述探头上安装有如权利要求1至3中任一项所述的缺陷定位装置。
5.如权利要求4所述的一种超声波探伤仪，其特征在于：所述安装固定座可拆卸地连接在所述探头的侧面。
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