CN105437765A - 定位调节方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种定位调节方法，包括步骤a：获取打印样本上一印迹与基准印迹之间存在的位置误差数据，位置误差数据包括X、Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，其中X轴与Y轴相互正交；步骤b：根据X和Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，对X和Y轴方向位移误差及水平偏转角度进行校正。与传统定位调节方法相比，本发明提供的定位调节方法具有如下有益效果：通过调整待印品的位置，不仅实现精确套印的功能，而且操作方法简单，用时少，克服了传统技术中印版调整存在的操作方法复杂且费时等问题。

Description

定位调节方法

技术领域

本公开一般涉及金属薄板印刷机，具体涉及金属薄板印刷机校版系统，尤其涉及定位调节方法。

背景技术

近年来，多色金属薄板印涂产品的使用量和需求量日益增加，如在食品罐，饮料罐，气雾罐，日用化工罐、盖、盒的金属薄板上印刷表面文字、彩色印迹等，使得多色金属薄板印涂行业得到了快速的发展。与之同时，高质量的多色金属薄板印涂产品对印刷设备的功能及性能要求也越来越高，尤其在精度方面。多色金属薄板印刷机在试印对版时，需要利用校版系统进行校正，所以应用在校版系统中的定位调节方法对校版精度及印刷精度起到关键作用。

目前，市场上的多色金属薄板印刷机中大都是停机手工对版，操作工凭经验操作，调节方法较繁琐。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种定位调节方法。

本发明提供一种定位调节方法，包括步骤a：获取打印样本上一印迹与基准印迹之间存在的位置误差数据，位置误差数据包括X、Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，其中X轴与Y轴相互正交；步骤b：根据X和Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，对X和Y轴方向位移误差及水平偏转角度进行校正。

本发明提供的定位调节方法，通过对印迹与基准印迹之间位置的比较，测取两者存在的位置误差数据，然后对其进行位置补偿，实现最终的精准印刷。与传统定位调节方法相比，本发明提供的定位调节方法具有如下有益效果：通过调整待印品的位置，不仅实现精确套印的功能，而且操作方法简单，用时少，克服了传统技术中对版调整存在的操作方法复杂且费时等问题。

附图说明

通过阅读依照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本发明实施例提供的定位调节方法流程图；

图2为本发明实施例提供的基准印迹与印迹之间出现X轴及Y轴位移误差情况；

图3为本发明实施例提供的基准印迹与印迹之间出现水平偏转情况；

图4为本发明实施例提供的对待印品位置校正方法示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

图1为本发明实施例提供的定位调节方法流程图；图2为本发明实施例提供的基准印迹与印迹之间出现X轴及Y轴位移误差情况；图3为本发明实施例提供的基准印迹与印迹之间出现水平偏转情况；图4为本发明实施例提供的对待印品位置校正方法示意图。请参考图1-4，本实施例提供定位调节方法，包括步骤a：获取打印样本上一印迹2与基准印迹1之间存在的位置误差数据，位置误差数据包括X、Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，其中X轴与Y轴相互正交；步骤b：根据X和Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，对X和Y轴方向位移误差及水平偏转角度进行校正。

在本实施例中，通过对打印样本上一印迹2与基准印迹1之间位置的比较，测取两者存在的位置误差数据，然后对其进行位置补偿，实现最终的精准印刷。与传统定位调节方法相比，本发明提供的定位调节方法具有如下有益效果：通过调整待印品7的位置，不仅实现精确套印的功能，而且操作方法简单，用时少，克服了传统技术中印版调整存在的操作方法复杂且费时等问题。

优选地，在步骤b中依次校正水平偏转角度误差、X轴方向位移误差和Y轴方向位移误差。

在本实施例中，在实际生产过程中，可能由于印版的歪斜或者待印品7在运输过程中由于抖动或者其他原因导致有一定角度偏转、以及X和Y轴上存在的位移误差，导致待印品7存在X轴方向、Y轴方向及水平偏转方向情况，或者出现在X轴方向或者Y轴方向及水平偏转方向情况，在上述几种情况下，优选进行水平偏转方向校正，然后依次进行X轴方向、Y轴方向校正。采用这种校正顺序，可避免水平偏转校正后出现X轴或Y轴位置误差需再次校正的问题。同时，在本实施例中提供的定位调节方法中，对校正待印品7在X轴方向的误差，然后校正待印品7在Y轴方向的误差。这里“依次”可理解为两种意思，第一种为先进行待印品7在水平偏转角度的校正，带校正结束后，然后再进行在X轴方向的误差校正，等到其完全结束后再进行待印品7在Y轴方向的误差校正；第二种为先进行待印品7在水平偏转角度的校正，带校正结束后，再进行待印品7在X轴方向的误差校正，不需要等到其完全结束后再进行待印品7在Y轴方向的误差校正。

优选地，步骤a具体包括：获取印品上印迹2的位置信息，位置信息包括水平旋转角度、X和Y轴方向数据；将水平旋转角度与基准印迹1的水平旋转基准角度作差，获得水平偏转角度；将X轴方向数据与基准印迹1中X轴方向基准数据作差，获得X轴方向位移误差数据；将Y轴方向数据与基准印迹1上Y轴方向基准数据作差，获得Y轴方向位移误差数据。

在本实施例中，通过将基准印迹1的位置作为参考，然后获取印迹2的位置信息，即为水平旋转角度、X轴方向数据和Y轴方向数据，通过将两者数据进行做差处理，得到印迹2相对于基准印迹1的水平偏转角度、X轴方向位移误差数据和Y轴方向位移误差数据。

优选地，定位调节方法具体包括：获取基准印迹1上基准点3的XY坐标值，分别为X轴方向基准数据和Y轴方向基准数据；获取印迹2上比对点4的XY坐标值，分别为X轴方向数据和Y轴方向数据，基准点3与比对点4相对应；

如图4所示，将X轴方向数据与X轴方向基准数据作差，获得X轴方向位移误差数据；将Y轴方向数据与Y轴方向基准数据作差，获得Y轴方向位移误差数据；

当X轴方向位移误差数据为正值时，对待印品7向前校正；

当X轴方向位移误差数据为负值时，对待印品7向后校正；

当Y轴方向位移误差数据为正值时，对待印品7向右校正；

当Y轴方向位移误差数据为负值时，对待印品7向左校正。

在本实施例中，通过选取参照点进行位置校正，具体为选取一基准印迹1上基准点3和一印迹2上比对点4，这里基准点3与比对点4为印迹2与基准印迹1上一个共同点，基准点3与比对点4相对应，且只存在唯一的映射关系。将比对点4的X坐标值与基准点3的X坐标值做差，得X轴方向位移误差数据；将比对点4的Y坐标值与基准点3的Y坐标值做差，得Y轴方向位移误差数据。由于X轴方向位移误差数据和Y轴方向位移误差数据存在正负之分，故有下面四种情况：

当X轴方向位移误差数据为正值时，也就是在XY坐标系比对点4位于基准点3的后方，故需要利用前规装置8驱动待印品7向前运动，补偿误差；

当X轴方向位移误差数据为负值时，也就是在XY坐标系比对点4位于基准点3的前方，故需要利用前规装置8驱动待印品7向后运动，补偿误差；

当Y轴方向位移误差数据为正值时，也就是在XY坐标系比对点4位于基准点3的右方，故需要利用侧规装置9驱动待印品7向左运动，补偿误差；

当Y轴方向位移误差数据为负值时，也就是在XY坐标系比对点4位于基准点3的左方，故需要利用侧规装置9驱动待印品7向右运动，补偿误差。

这里以待印品7进给方向(即图4中箭头所指方向)为前方向，与之相反的为后方向，以人面向待印品7进给方向，人的左手方为左方向，人的右手方为右方向。

优选地，获取水平偏转角度具体为：在基准印迹1上获取基准线6，具体为：在基准印迹1上选取第一点与第二点，由第一点及第二点确定基准线6；在印迹2上获取比对线5，具体为：在印迹2上选取第三点与第四点，由第三点及第四点确定比对线6，第一点与第三点相对应，第二点与第四点相对应；获取基准线6与X轴正方向夹角，为第一夹角，获取比对线5与X轴正方向夹角，为第二夹角，将第二夹角与第一夹角做差，获得水平偏转角度。

在本实施例中，第一点与第三点、第二点与第四点之间相对应，且存在唯一的映射关系。第一点与第三点直接确定的直线为基准线6，第二点与第四点直接确定的直线为比对线5，计算出比对线5与基准线6之间形成的夹角，即为待印品7水平偏转角度。X轴正方向为待印品7进给方向，通过计算出第一角度与第二角度，在将第二角度与第一角度做差，便可得待印品7的水平偏转角度。本方法可简单快速地确定待印品7存在的水平偏转角度，便于快速调整。

优选地，对水平偏转角度进行校正具体为：

当水平偏转角度为正值时，将待印品7逆时针旋转校正；

当水平偏转角度为负值时，将待印品7顺时针旋转校正。

根据前面获取的水平偏转角度，分别利用两个前规体进行顺时针或者逆时针旋转，直至水平偏转角度补偿完成。

在本发明中，可通过基准印迹1与印迹2上相对应的十字套线进行位置误差确定。

优选地，基准线6为基准印迹1上十字套线中的横线，比对线5为印迹2上十字套线中的横线；或者基准线6为基准印迹1上十字套线中的竖线，比对线5为印迹2上十字套线中的竖线。基准点3为基准印迹1上十字套线中的交点，比对点4为印迹2上十字套线中的交点。

在本技术领域中，通常采用十字套线进行较版，也就是每一个印版上都会设有一个十字套线，通过比较各印迹的十字套线位置，判断是否存在位置误差，及存在位置误差的大小等等。故通过比较十字套线，便于各印迹的位置的矫正。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (8)

1.一种定位调节方法，所述方法包括：

步骤a：获取打印样本上一印迹与基准印迹之间存在的位置误差数据，所述位置误差数据包括X、Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，其中X轴与Y轴相互正交；

步骤b：根据所述X和Y轴方向位移误差数据及水平偏转角度，对X和Y轴方向位移误差及水平偏转角度进行校正。

2.根据权利要求1所述的定位调节方法，其特征在于，所述步骤b中，依次校正所述水平偏转角度误差、X轴方向位移误差和所述Y轴方向位移误差。

3.根据权利要求2所述的定位调节方法，其特征在于，所述步骤a具体包括：

获取印品上所述印迹的位置信息，所述位置信息包括水平旋转角度、X和Y轴方向数据；

将所述水平旋转角度与基准印迹的水平旋转基准角度作差，获得所述水平偏转角度；

将所述X轴方向数据与基准印迹中X轴方向基准数据作差，获得所述X轴方向位移误差数据；

将所述Y轴方向数据与基准印迹上Y轴方向基准数据作差，获得所述Y轴方向位移误差数据。

4.根据权利要求3所述的定位调节方法，其特征在于，所述获取水平偏转角度具体为：

在所述基准印迹上获取基准线，具体为：在所述基准印迹上选取第一点与第二点，由所述第一点及第二点确定所述基准线；

在所述印迹上获取比对线，具体为：在所述印迹上选取第三点与第四点，由所述第三点及第四点确定所述比对线，所述第一点与所述第三点相对应，所述第二点与所述第四点相对应；

获取所述基准线与X轴正方向夹角，为第一夹角，获取所述比对线与X轴正方向夹角，为第二夹角，将所述第二夹角与第一夹角做差，获得所述水平偏转角度。

5.根据权利要求4所述的定位调节方法，其特征在于，所述对水平偏转角度进行校正具体为：

当所述水平偏转角度为正值时，将待印品逆时针旋转校正；

当所述水平偏转角度为负值时，将待印品顺时针旋转校正。

6.根据权利要求3所述的定位调节方法，其特征在于，所述定位调节方法具体包括：

获取基准印迹上基准点的XY坐标值，分别为X轴方向基准数据和Y轴方向基准数据；获取印迹上比对点的XY坐标值，分别为X轴方向数据和Y轴方向数据，所述基准点与所述比对点相对应；

将所述X轴方向数据与X轴方向基准数据作差，获得X轴方向位移误差数据；将Y轴方向数据与Y轴方向基准数据作差，获得Y轴方向位移误差数据；

当所述X轴方向位移误差数据为正值时，对待印品向前校正；

当所述X轴方向位移误差数据为负值时，对待印品向后校正；

当所述Y轴方向位移误差数据为正值时，对待印品向右校正；

当所述Y轴方向位移误差数据为负值时，对待印品向左校正。

7.根据权利要求4所述的定位调节方法，其特征在于，所述基准线为所述基准印迹上十字套线中的横线，所述比对线为所述印迹上十字套线中的横线；或者所述基准线为所述基准印迹上十字套线中的竖线，所述比对线为所述印迹上十字套线中的竖线。

8.根据权利要求6所述的定位调节方法，其特征在于，所述基准点为所述基准印迹上十字套线中的交点，所述比对点为所述印迹上十字套线中的交点。