CN105425137A - 61580芯片测试底板 - Google Patents
61580芯片测试底板 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105425137A CN105425137A CN201510651172.XA CN201510651172A CN105425137A CN 105425137 A CN105425137 A CN 105425137A CN 201510651172 A CN201510651172 A CN 201510651172A CN 105425137 A CN105425137 A CN 105425137A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- bus
- chip
- exampleization
- dsp
- interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
一种61580芯片测试底板，包括：DSP最小系统、RS232接口、FPGA门阵列、总线适配器、板载61580、8片测试座、16片继电器和1553B总线耦合器；利用了DSP处理器和FPGA智能控制,板载61580和被测61580均使用总线适配器，保证部分被测61580发生故障不会影响其他61580测试使用。该底板采用24V转5V电源模块，外部供电错误只会损害电源模块，保证系统和被测61580芯片的安全性。该底板对外接口为RS232，通过串口对接线缆可以与计算机串口直接对接，工作时自动打印被测芯片测试信息，完全自动化测试，具有使用安全和便于携带等特点。
Description
技术领域
本发明涉及自动检测的技术领域，具体说是一种61580芯片测试底板。
背景技术
随着现代科技的发展，MIL-STD-1553B总线标准已广泛应用到航空、航天、船舶和电子等多领域，应运而生了许多基于1553B总线的嵌入式板卡。现代各领域中广泛应用的1553B总线控制器大多采用61580芯片，如美国DDC公司的BU-61580S3-110和一些国产61580厂家。该芯片最大的特点是工作稳定、宽温度范围使用、价格昂贵、不规则直插件不利于拆卸。该芯片在出厂前功能验证和进行各种试验比较麻烦。因此，设计一款计算机能直接控制的独立底板，支持多个61580芯片全面测试，十分必要。
测控领域61580芯片测试设备很少，主流设备是1553B总线监控仪。该设备主要特点为该设备可以插入计算机，例如PCMCIA接口的1553B总线监控仪或USB接口的。与被测1553B总线设备板卡进行1553B总线通讯，监控1553B是否通讯正常，进而验证被测板卡1553B总线。中国专利“1553B总线通信器件高低温测试装置”（申请号201210363938.0）公开了一种1553B总线通信器件高低温综合试验室平台的设计方案。该方案主要讲述了高低温气流冲击设备Thermojet、温控适配箱、温度测试仪、测试电路板和主控计算机等多个设备组成高低温试验室平台，专用于1553B总线通信器件高低温试验，该系统相对复杂，导致使用不便。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种61580芯片测试底板。
本发明为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是:
本发明的61580芯片测试底板，包括：DSP最小系统、RS232接口、FPGA门阵列、总线适配器、板载61580、8片测试座、16片继电器和1553B总线耦合器；其中DSP最小系统为CPU最小单元，FPGA门阵列包括82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件，DSP最小系统分别与82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件相连接，82C52例化元件与RS232接口相连接，RLY控制器与16片继电器相连接，61580例化元件与总线适配器相连，总线适配器分别连接板载61580和8片测试座，板载61580与1553B总线耦合器相连，8片测试座通过16片继电器与1553B总线耦合器相连接。
本发明还可以采用以下技术措施：
所述的DSP最小系统分别与82C52例化元件和61580例化元件双向电连接，DSP最小系统RLY控制器单向电连接，82C52例化元件与RS232接口双向电连接，RLY控制器与16片继电器单向电连接，61580例化元件与总线适配器双向电连接，总线适配器与板载61580双向电连接，总线适配器与8片测试座双向电连接，板载61580与1553B总线耦合器双向电连接，8片测试座和16片继电器双向电连接，16片继电器与1553B总线耦合器双向电连接。
所述的DSP最小系统为底板处理器组成核心，包括DSP处理器、FLASH存储器和SDRAM存储器。
所述的DSP最小系统中的DSP处理器采用TI公司的DSP处理器TMS320C6713BPYP,FLASH存储器选用SPANSION公司的S29GL256P，SDRAM存储器选用MICRON公司的MT48LC32M16芯片。
所述的RS232接口为D-SUB9公口插座，插座上的信号TXD,RXD和GND通过串口线缆，依次与计算机串口的RXD，TXD和GND对接。
所述的82C52例化元件为intersil公司的82C52元件模块，FPGA为其分配了相应的地址空间；82C52例化元件的并行接口连接在DSP最小系统的EMIF总线，82C52例化元件的对外串行接口连接在RS232接口。
所述的61580例化元件为DDC公司的BU-61580S3-110芯片，FPGA为其分配了9个相同大小的地址空间作为元件操作接口，分别对应板载61580和8片测试座的地址空间；61580例化元件的并行控制接口连接在DSP的EMIF总线，61580例化元件的对外操作61580接口连接在总线适配器。
所述的总线适配器采用型号为SN74CBTD16211DGVR和SN74LVC4245APW适配芯片；其中SN74CBTD16211DGVR芯片用于8个被测芯片座、板载61580芯片数据线与DSP的EMIF总线的数据线电平匹配和隔离；SN74LVC4245APW芯片用于8个被测芯片座、板载61580芯片地址、控制线与DSP的EMIF总线的地址、控制线电平匹配和隔离；SN74CBTD16211DGVR芯片双向传输数据，隔离EMIF数据总线，SN74LVC4245APW芯片单向传输EMIF总线的地址线和控制线，隔离被测芯片。
所述的板载61580采用型号为BU-61580S3-110芯片和B-3226的变压器，板载61580的1553B总线A,B通道与1553B总线耦合器直接对接。
所述的8片测试座为由8个夹具和B-3226变压器组成。
所述的16片继电器为16个5V电压控制的继电器，继电器采用型号为IM03TS的继电器；16片继电器其中的8个控制8片测试座的1553B总线A通道的开关状态，另外8个控制8片测试座的1553B总线B通道的开关状态。
所述的1553B总线耦合器为2个通用的1553B总线耦合器，其中一个1553B总线耦合器与板载61580和8片测试座的1553B总线A通道对接，另一个与B通道对接。
所述的RLY控制器为TI公司的TPIC6B273DWG4继电器控制器芯片，FPGA为其分配了1个地址空间，RLY控制器的并行输入接口连接在DSP的EMIF总线，RLY控制器的继电器控制端连接在16片继电器的2片TPIC6B273DWG4芯片的16个输入点，DSP最小系统通过EMIF进行16位访问RLY控制器控制16片继电器。
本发明具有的优点和积极效果是:
本发明的61580芯片测试底板，利用了DSP处理器和FPGA智能控制,板载61580和被测61580均使用总线适配器，保证部分被测61580发生故障不会影响其他61580测试使用。该底板采用24V转5V电源模块，外部供电错误只会损害电源模块，保证系统和被测61580芯片的安全性。该底板对外接口为RS232，通过串口对接线缆可以与计算机串口直接对接，工作时自动打印被测芯片测试信息，完全自动化测试，具有使用安全和便于携带等特点。该测试底板带有8个61580芯片测试座，一次性可以进行8片61580芯片测试。
附图说明
图1为本发明的61580芯片测试底板的原理示意图。
具体实施方式
以下结合实施例和附图对技术方案进行具体说明。
如图1所示，本发明的61580芯片测试底板，包括：DSP最小系统、RS232接口、FPGA门阵列、总线适配器、板载61580、8片测试座、16片继电器和1553B总线耦合器；其中DSP最小系统为CPU最小单元，FPGA门阵列包括82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件，DSP最小系统分别与82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件相连接，82C52例化元件与RS232接口相连接，RLY控制器与16片继电器相连接，61580例化元件与总线适配器相连，总线适配器分别连接板载61580和8片测试座，板载61580与1553B总线耦合器相连，8片测试座通过16片继电器与1553B总线耦合器相连接。
DSP最小系统为底板处理器组成核心，包括DSP处理器、FLASH存储器和SDRAM存储器。实施例的DSP最小系统的DSP处理器采用TI公司的高性能DSP处理器TMS320C6713BPYP,FLASH存储器选用SPANSION公司的S29GL256P，SDRAM存储器选用MICRON公司的MT48LC32M16芯片。在测试底板工作过程中，DSP最小系统用于综合处理DSP的EMIF总线的所有设备，SDRAM存储器作为512Mb内存，FLASH存储器作为ROM存储器，用于DSP启动。
RS232接口为标准的D-SUB9公口插座。在测试底板工作过程中，插座上的信号TXD,RXD和GND通过串口线缆，依次与计算机串口的RXD，TXD和GND对接，进行RS232串口通讯。
82C52例化元件为intersil公司的82C52芯片，FPGA为其分配了相应的地址空间，。82C52例化元件的并行接口连接在DSP的EMIF总线，82C52例化元件的对外串行接口连接在RS232接口。在测试底板工作过程中，DSP通过EMIF访问82C52例化元件的地址空间与计算机进行串口通讯，默认波特率115200bps。
RLY控制器为TI公司的TPIC6B273DWG4继电器控制器芯片，FPGA为其分配了1个地址空间，RLY控制器的并行输入接口连接在DSP的EMIF总线，RLY控制器的继电器控制端连接在16片继电器的2片TPIC6B273DWG4芯片的16个输入点。在测试底板工作过程中，DSP通过EMIF进行16位访问RLY控制器控制16片继电器。
61580例化元件为DDC公司的BU-61580S3-110芯片，FPGA为其分配了9个相同大小的地址空间，使用硬件描述语言例化设计了BU-61580S3-110元件操作接口，分别对应板载61580和8片测试座的地址空间。61580例化元件的并行控制接口连接在DSP的EMIF总线，61580例化元件的对外操作61580接口连接在总线适配器。在测试底板工作过程中，DSP通过EMIF可以访问61580例化元件的9个地址空间，即可以对板载61580和8片测试座上的61580分别进行读写操作。
总线适配器用于电平匹配和总线开关芯片。实施例的总线适配器采用型号为SN74CBTD16211DGVR和SN74LVC4245APW适配芯片。SN74CBTD16211DGVR用于8个被测芯片座、板载61580芯片数据线与DSP的EMIF总线的数据线电平匹配和隔离。SN74LVC4245APW用于8个被测芯片座、板载61580芯片地址、控制线与DSP的EMIF总线的地址、控制线电平匹配和隔离。在测试底板工作过程中，SN74CBTD16211DGVR双向传输数据，隔离EMIF数据总线，SN74LVC4245APW单向传输EMIF总线的地址线和控制线，起到与被测芯片隔离作用。
所述板载61580用于与8个测试座5上的芯片分别进行1553B总线通讯。实施例的板载61580采用型号为BU-61580S3-110芯片和B-3226的变压器，板载61580的1553B总线A,B通道与1553B总线耦合器直接对接。在测试底板工作过程中，板载61580作为性能良好的61580芯片与8个被测61580芯片依次进行1553B总线通讯，测试被测芯片功能。
所述8片测试座用于安装被测的8片被测的61580测试芯片。实施例的8片测试座为由8个自制夹具和B-3226变压器组成。根据61580芯片封装资料，使用PCB制图自行设计61580芯片管脚的测试夹具，以按压夹取的方式进行被测芯片的固定。在测试底板工作过程中，8片测试座作为8个被测61580芯片安装插座,进行芯片功能测试。
所述16片继电器为16个5V电压控制的继电器。实施例的16片继电器采用型号为IM03TS的继电器,在测试底板工作过程中，16片继电器其中的8个用于控制8片测试座的1553B总线A通道的开关状态，另外8个用于控制8片测试座的1553B总线B通道的开关状态。
所述1553B总线耦合器为2个通用的1553B总线耦合器。在测试底板工作过程中，其中一个1553B总线耦合器用于板载61580和8片测试座的1553B总线A通道对接，另一个用于连接B通道对接。
本发明测试底板工作过程是：DSP通过EMIF总线可以访问FPGA内部82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件。访问82C52例化元件通过RS232接口可以与计算机进行串口通讯，打印测试信息。访问RLY控制器可以控制16片继电器开关状态。访问61580例化元件可以控制总线适配器的开关状态，对板载61580和8片测试座进行读写操作。初始上电时，DSP将总线适配器和16片继电器全部关闭。然后打开8片测试座中第1被测61580芯片的继电器，即第1被测芯片的1553B的A,B通道接入1553B总线耦合器。然后，打开对应的总线适配器，即打开被测芯片控制总线。DSP先后写、读被测芯片的内部4K存储器，读出数据与所写一致判断被测芯片存在，然后依次检测8片测试座的第2～8片测试芯片。对存在的芯片依次与板载61580进行RT,BC,MT模式的1553B总线通讯，所有模式测试合格记为通过。多次测试后统计通过次数和出错信息，并提示错误消息类型。
实施例实验表明，本发明测试底板可以用18～36V供电，通过RS232接口与计算机通讯，人机交互的进行1～8片61580芯片的测试。该测试底板选用宽温器件，能够在-55～+85℃范围内正常工作，测试性能稳定，满足要求。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例公开如上，然而，并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内,当然会利用揭示的技术内容作出些许更动或修饰，成为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本发明技术方案的范围内。
Claims (13)
1.一种61580芯片测试底板，其特征在于，包括：DSP最小系统、RS232接口、FPGA门阵列、总线适配器、板载61580、8片测试座、16片继电器和1553B总线耦合器；其中DSP最小系统为CPU最小单元，FPGA门阵列包括82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件，DSP最小系统分别与82C52例化元件、RLY控制器和61580例化元件相连接，82C52例化元件与RS232接口相连接，RLY控制器与16片继电器相连接，61580例化元件与总线适配器相连，总线适配器分别连接板载61580和8片测试座，板载61580与1553B总线耦合器相连，8片测试座通过16片继电器与1553B总线耦合器相连接。
2.根据权利要求1所述的61580芯片测试底板，其特征在于：DSP最小系统分别与82C52例化元件和61580例化元件双向电连接，DSP最小系统RLY控制器单向电连接，82C52例化元件与RS232接口双向电连接，RLY控制器与16片继电器单向电连接，61580例化元件与总线适配器双向电连接，总线适配器与板载61580双向电连接，总线适配器与8片测试座双向电连接，板载61580与1553B总线耦合器双向电连接，8片测试座和16片继电器双向电连接，16片继电器与1553B总线耦合器双向电连接。
3.根据权利要求1或2所述的61580芯片测试底板，其特征在于：DSP最小系统为底板处理器组成核心，包括DSP处理器、FLASH存储器和SDRAM存储器。
4.根据权利要求3所述的61580芯片测试底板，其特征在于：DSP最小系统中的DSP处理器采用TI公司的DSP处理器TMS320C6713BPYP,FLASH存储器选用SPANSION公司的S29GL256P，SDRAM存储器选用MICRON公司的MT48LC32M16芯片。
5.根据权利要求1或4所述的61580芯片测试底板，其特征在于：RS232接口为D-SUB9公口插座，插座上的信号TXD,RXD和GND通过串口线缆，依次与计算机串口的RXD，TXD和GND对接。
6.根据权利要求5所述的61580芯片测试底板，其特征在于：82C52例化元件为intersil公司的82C52元件模块，FPGA为其分配了相应的地址空间；82C52例化元件的并行接口连接在DSP最小系统的EMIF总线，82C52例化元件的对外串行接口连接在RS232接口。
7.根据权利要求6所述的61580芯片测试底板，其特征在于：61580例化元件为DDC公司的BU-61580S3-110芯片，FPGA为其分配了9个相同大小的地址空间作为元件操作接口，分别对应板载61580和8片测试座的地址空间；61580例化元件的并行控制接口连接在DSP的EMIF总线，61580例化元件的对外操作61580接口连接在总线适配器。
8.根据权利要求7所述的61580芯片测试底板，其特征在于：总线适配器采用型号为SN74CBTD16211DGVR和SN74LVC4245APW适配芯片；其中SN74CBTD16211DGVR芯片用于8个被测芯片座、板载61580芯片数据线与DSP的EMIF总线的数据线电平匹配和隔离；SN74LVC4245APW芯片用于8个被测芯片座、板载61580芯片地址、控制线与DSP的EMIF总线的地址、控制线电平匹配和隔离；SN74CBTD16211DGVR芯片双向传输数据，隔离EMIF数据总线，SN74LVC4245APW芯片单向传输EMIF总线的地址线和控制线，隔离被测芯片。
9.根据权利要求8所述的61580芯片测试底板，其特征在于：板载61580采用型号为BU-61580S3-110芯片和B-3226的变压器，板载61580的1553B总线A,B通道与1553B总线耦合器直接对接。
10.根据权利要求9所述的61580芯片测试底板，其特征在于：8片测试座为由8个夹具和B-3226变压器组成。
11.根据权利要求10所述的61580芯片测试底板，其特征在于：16片继电器为16个5V电压控制的继电器，继电器采用型号为IM03TS的继电器；16片继电器其中的8个控制8片测试座的1553B总线A通道的开关状态，另外8个控制8片测试座的1553B总线B通道的开关状态。
12.根据权利要求11所述的61580芯片测试底板，其特征在于：1553B总线耦合器为2个通用的1553B总线耦合器，其中一个1553B总线耦合器与板载61580和8片测试座的1553B总线A通道对接，另一个与B通道对接。
13.根据权利要求12所述的61580芯片测试底板，其特征在于：RLY控制器为TI公司的TPIC6B273DWG4继电器控制器芯片，FPGA为其分配了1个地址空间，RLY控制器的并行输入接口连接在DSP的EMIF总线，RLY控制器的继电器控制端连接在16片继电器的2片TPIC6B273DWG4芯片的16个输入点，DSP最小系统通过EMIF进行16位访问RLY控制器控制16片继电器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510651172.XA CN105425137B (zh) | 2015-10-09 | 2015-10-09 | 61580芯片测试底板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510651172.XA CN105425137B (zh) | 2015-10-09 | 2015-10-09 | 61580芯片测试底板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN105425137A true CN105425137A (zh) | 2016-03-23 |
| CN105425137B CN105425137B (zh) | 2018-09-28 |
Family
ID=55503469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201510651172.XA Active CN105425137B (zh) | 2015-10-09 | 2015-10-09 | 61580芯片测试底板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105425137B (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106483450A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-03-08 | 河海大学常州校区 | 一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统 |
| CN107193272A (zh) * | 2017-06-14 | 2017-09-22 | 中石化石油工程技术服务有限公司 | 一种随钻测控仪器总线测试系统 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020062461A1 (en) * | 2000-02-29 | 2002-05-23 | Patrick Nee | Method and system for testing microprocessor based boards in a manufacturing environment |
| CN103105578A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-05-15 | 苏州瀚瑞微电子有限公司 | 通用芯片测试系统 |
| CN103309837A (zh) * | 2013-01-09 | 2013-09-18 | 北京赛维奥软件科技有限公司 | 基于mil-std-1553b总线的cpci架构的接口板卡 |
| CN103646003A (zh) * | 2013-12-02 | 2014-03-19 | 西安航空制动科技有限公司 | 基于dsp的1553b总线协议模块 |
| CN104865457A (zh) * | 2015-01-14 | 2015-08-26 | 重庆金美通信有限责任公司 | 一种通用检测板卡 |
-
2015
- 2015-10-09 CN CN201510651172.XA patent/CN105425137B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020062461A1 (en) * | 2000-02-29 | 2002-05-23 | Patrick Nee | Method and system for testing microprocessor based boards in a manufacturing environment |
| CN103105578A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-05-15 | 苏州瀚瑞微电子有限公司 | 通用芯片测试系统 |
| CN103309837A (zh) * | 2013-01-09 | 2013-09-18 | 北京赛维奥软件科技有限公司 | 基于mil-std-1553b总线的cpci架构的接口板卡 |
| CN103646003A (zh) * | 2013-12-02 | 2014-03-19 | 西安航空制动科技有限公司 | 基于dsp的1553b总线协议模块 |
| CN104865457A (zh) * | 2015-01-14 | 2015-08-26 | 重庆金美通信有限责任公司 | 一种通用检测板卡 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 张世兵 等: "基于1553B总线的BU-61580芯片测试系统的设计与实现", 《电子设计工程》 * |
| 赵杰 等: "基于FPGA的1553B总线测试系统设计", 《科学技术与工程》 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106483450A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-03-08 | 河海大学常州校区 | 一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统 |
| CN107193272A (zh) * | 2017-06-14 | 2017-09-22 | 中石化石油工程技术服务有限公司 | 一种随钻测控仪器总线测试系统 |
| CN107193272B (zh) * | 2017-06-14 | 2024-03-19 | 中国石油化工集团有限公司 | 一种随钻测控仪器总线测试系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN105425137B (zh) | 2018-09-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103149526B (zh) | Pcba板测试系统及方法 | |
| US7810004B2 (en) | Integrated circuit having a subordinate test interface | |
| CN102981093B (zh) | 一种针对cpu模块的测试系统 | |
| CN103699112B (zh) | 基于io信号故障仿真的航电自检测验证设备及其验证方法 | |
| CN106571166A (zh) | 一种可定制流程的mt29f系列nand flash测试老炼系统 | |
| CN104572382A (zh) | I2c总线测试治具 | |
| CN108490297A (zh) | 一种航空发射装置外场自动检测嵌入式设备及其控制方法 | |
| CN105372619A (zh) | 一种安全芯片掉电测试设备 | |
| CN211505789U (zh) | 一种pcie板卡测试装置 | |
| CN101750578A (zh) | 一种集成电路板级自动测试系统 | |
| CN105425137A (zh) | 61580芯片测试底板 | |
| WO2012059066A1 (zh) | 串口定位故障方法及系统 | |
| CN207764782U (zh) | 快捷外设互联标准插槽的检测系统 | |
| CN211148838U (zh) | 一种空调内机测试装置 | |
| CN204347211U (zh) | 一种多继电器功能测试装置 | |
| CN103425123A (zh) | 一种基于软件脚本的can总线自动化测试方法 | |
| CN217787754U (zh) | 自动化测试装置及系统 | |
| CN202533455U (zh) | 一种通讯扩展电路 | |
| CN203133695U (zh) | 一种基于ast2300 控制芯片的bmc卡 | |
| CN106201961B (zh) | 控制处理器工作频率的计算器系统与方法 | |
| CN201876870U (zh) | 内部整合电路总线的测试系统及其装置 | |
| KR20090095029A (ko) | 프로그래머블 전원공급유닛의 제어방법 및 반도체 실장테스트 시스템 | |
| CN207650792U (zh) | 一种bmc卡和主板 | |
| CN203643521U (zh) | I2c总线测试治具 | |
| CN107766186A (zh) | 一种usb接口可扩展风扇板测试板及使用方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |