CN105423950A - 3d扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆 - Google Patents

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许传国
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Kunshan Ai Erfa Measures Science And Technology Ltd
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    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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    • GPHYSICS
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Abstract

本发明公开了一种3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆,包括若干杆体、连接件和以及连接在杆体两端的球体,所述杆体的两端设有螺纹孔,球体的一端设有螺柱,所述若干杆体之间通过螺钉螺纹连接组成所需长度的整段杆体,所述连接件呈圆台状,圆台的上底面设有与球体的螺柱配合螺纹孔,圆台的下底面设有与杆体两端螺纹孔配合的螺柱,本发明的同一套标准球杆可替代原有两种标准器具,标准球可拆卸用于校准关节臂的测头及单轴坐标测量的一致性。球杆可以任意组合用于测量空间长度的示值误差。精度更高、操作更方便。

Description

3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆
技术领域
本发明涉及精准度检测领域,特别涉及一种3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆。
背景技术
激光3D扫描仪与关节臂式坐标测量机的校准,一直以来都是以标准圆球和量块进行校准。标准球检测扫描仪和关节臂的单轴坐标测量一致性,再用量块检测扫描仪和关节臂的空间长度示值误差。操作不方便。
发明内容
为了克服上述缺陷,本发明提供了一种检测精度高,检测方便的3D扫描仪和关节臂测量机精准度检测球杆。
本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆,包括若干杆体、连接件和以及连接在杆体两端的球体,所述杆体的两端设有螺纹孔,球体的一端设有螺柱,所述若干杆体之间通过螺钉螺纹连接组成所需长度的整段杆体,所述连接件呈圆台状,圆台的上底面设有与球体的螺柱配合螺纹孔,圆台的下底面设有与杆体两端螺纹孔配合的螺柱。
作为本发明的进一步改进,所述杆体为碳纤维杆体,所述球体为陶瓷球体,所述球体的直径为30mm,杆体的直径小于球体直径。
作为本发明的进一步改进,所述球杆的一端配置基座,便于球杆使用中的水平、垂直及45°角摆放。
本发明的有益效果是:本发明的同一套标准球杆可替代原有两种标准器具,标准球可拆卸用于校准关节臂的测头及单轴坐标测量的一致性。球杆可以任意组合用于测量空间长度的示值误差。精度更高、操作更方便!
附图说明
图1为本发明结构示意图;
图2为本发明结构局部示意图;
图中标示:1-杆体;2-连接件;3-球体。
具体实施方式
为了加深对本发明的理解,下面将结合实施例和附图对本发明作进一步详述,该实施例仅用于解释本发明,并不构成对本发明保护范围的限定。
图1示出了本发明3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆的一种实施方式,包括若干杆体1、连接件2和以及连接在杆体1两端的球体3,所述杆体1的两端设有螺纹孔,球体3的一端设有螺柱,所述若干杆体1之间通过螺钉螺纹连接组成所需长度的整段杆体,所述连接件2呈圆台状,圆台的上底面设有与球体3的螺柱配合螺纹孔,圆台的下底面设有与杆体1两端螺纹孔配合的螺柱,所述杆体1为碳纤维杆体,所述球体3为陶瓷球体,所述球体的直径为30mm,杆体的直径小于球体直径。
选用两个标准球杆,短球杆长度L1=(50%~70%)R,长球杆长度L2=(120%~150%)R,R为被测关节臂测量半径,或者3D扫描仪最大测量半径。
标准球杆的摆放姿态为水平、垂直及45°倾斜;摆放位置以平面为界分高位和低位;摆放距离是指从标准球杆中心到仪器中心的距离,以50%R为界分远近。摆放方向是指球杆与球的关系。
每次长度测量时,采集每个球至少5个点,计算球杆中心长度。

Claims (3)

1.一种3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆,其特征在于:包括若干杆体(1)、连接件(2)和以及连接在杆体(1)两端的球体(3),所述杆体(1)的两端设有螺纹孔,球体(3)的一端设有螺柱,所述若干杆体(1)之间通过螺钉螺纹连接组成所需长度的整段杆体,所述连接件(2)呈圆台状,圆台的上底面设有与球体(3)的螺柱配合螺纹孔,圆台的下底面设有与杆体(1)两端螺纹孔配合的螺柱。
2.根据权利要求1所述的3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆,其特征在于:所述杆体(1)为碳纤维杆体,所述球体(3)为陶瓷球体,所述球体的直径为30mm,杆体的直径小于球体直径。
3.根据权利要求1所述的3D扫描仪及关节臂式坐标测量机精准度检测球杆,其特征在于:所述球杆的一端配置基座,便于球杆使用中的水平、垂直及45°角摆放。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
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