CN105423890A - 一种薄片测厚装置 - Google Patents

一种薄片测厚装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105423890A
CN105423890A CN201510737172.1A CN201510737172A CN105423890A CN 105423890 A CN105423890 A CN 105423890A CN 201510737172 A CN201510737172 A CN 201510737172A CN 105423890 A CN105423890 A CN 105423890A
Authority
CN
China
Prior art keywords
lever
thin slice
frame
measuring thickness
thickness device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510737172.1A
Other languages
English (en)
Inventor
毕虎杰
席宇星
刘海军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
EASYWAY (SUZHOU) ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
EASYWAY (SUZHOU) ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by EASYWAY (SUZHOU) ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical EASYWAY (SUZHOU) ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201510737172.1A priority Critical patent/CN105423890A/zh
Publication of CN105423890A publication Critical patent/CN105423890A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material

Abstract

本发明公开了一种薄片测厚装置，包括机架，所述机架的一侧设置有表面相接触的轴承和定轴，所述机架设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承的表面相接触，且靠近其另一端的机架上设置有检测装置。通过杠杆放大结构实现对薄片厚度的逐级放大，并在放大终端安装检测装置，通过检测装置的检测信号区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。

Description

一种薄片测厚装置
技术领域
本发明涉及了一种薄片测厚装置，属于薄片厚度检测技术领域。
背景技术
在一些自动化设备中，通常需要对薄片类产品的厚度进行检测，尤其是在自助售票机或者自动售货机上，在纸币进钞或者出钞的过程中都需要检测通过的薄片是一张或者两张以上，当通过一张时表明可正常通过，当通过两张以上时，则表明出现异常情况。
现有的检测薄片是否为一张或者多种通过的装置通常是通过检测通过薄片的厚度，从而确定薄片的数量。但是由于薄片的厚度很薄，现有的检测装置因检测精度不够，通常会出现检测错误的情况，导致装置运行不稳定。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种薄片测厚装置，通过多级放大的方式，将通过的薄片厚度进行放大，利用位移检测传感器检测放大后的薄片厚度，提高了检测的准确性。
为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：
一种薄片测厚装置，包括机架，所述机架的一侧设置有表面相接触的轴承和定轴，所述机架设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承的表面相接触，且靠近其另一端的机架上设置有检测装置。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述杠杆放大结构包括设置在机架上且可相对其转动的第一杠杆、第二杠杆和第三杠杆，所述第一杠杆的一端与所述轴承的表面相接触，另一端与所述第二杠杆的底部相接触，所述第二杠杆的一端与所述第三杠杆的一端底部相接触，所述检测装置设置在所述第三杠杆的另一端处。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述杠杆放大结构包括设置在机架上且可相对其转动的第一杠杆和第二杠杆，所述第一杠杆的一端与所述轴承的表面相接触，另一端与所述第二杠杆的底部相接触，所述检测装置设置在所述第二杠杆的末端处。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述检测装置为红外传感器，且通过传感器微调装置固定在所述机架。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述检测装置包括磁铁和霍尔元件，其中磁铁设置在所述第三杠杆的一端，所述霍尔元件设置在所述磁铁的正上方。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述检测装置包括磁铁和霍尔元件，其中磁铁设置在所述第二杠杆的一端，所述霍尔元件设置在所述磁铁的正上方。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述第三杠杆与所述第二杠杆接触的一端的上方设置有与其接触的压力弹簧。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述第二杠杆的上方设置有与其接触的压力弹簧。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述霍尔元件通过高度升降调节板设置在所述机架上，且所述机架上还设置有用于调节所述高度升降调节板高度的高度调节杆。
前述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述第一杠杆与所述轴承的接触的一端设置有组装定位孔。
本发明的有益效果是：通过杠杆放大结构实现对薄片厚度的逐级放大，并在放大终端安装检测装置，通过检测装置的检测信号区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。
附图说明
图1是本发明第一实施例的结构示意图；
图2是本发明第二实施例的结构示意图；
图3是本发明第三实施例的结构示意图；
图4是本发明第四实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合说明书附图，对本发明作进一步的说明。
实施例1
如图1所示，一种薄片测厚装置，包括机架1，所述机架1的一侧设置有表面相接触的轴承2和定轴3，所述机架1设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承2的表面相接触，且靠近其另一端的机架1上设置有红外传感器7，本实施例中，采用的是红外检测传感器，也可以采用其他具有位移检测功能的仪器或设备。当有薄片通过轴承2与定轴3之间时，通过杠杆放大结构将轴承2移动的距离放大，利用红外传感器7检测放大后的距离，从而判断薄片的厚度。
本实施例中，所述杠杆放大结构包括设置在机架1上且可相对其转动的第一杠杆4、第二杠杆5和第三杠杆6，所述第一杠杆4的一端与所述轴承2的表面相接触，另一端与所述第二杠杆5的底部相接触，所述第二杠杆5的一端与所述第三杠杆6的一端底部相接触，所述第三杠杆6的另一端延伸至所述红外传感器7处。
其中，第一杠杆4通过第一旋转轴9连接在所述机架1上，第二杠杆5通过第二旋转轴11连接在所述机架1上，所述第三杠杆6通过第三旋转轴10连接在所述机架1上。通过杠杆逐级放大，第一杠杆4放大一定的倍数后传送给第二杠杆5放大，第二杠杆5又传送给第三杠杆6进行放大，共计放大15倍左右；并在第三放大杠杆的末端放置一个红外传感器7；通过设定薄片厚度约1.5倍的位置时位移检测传感器导通，当一张薄片通过时不导通，两张或者两张以上薄片通过时位移检测传感器导通，从而区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。
本实施例中，采用的三级放大的结构，在实际使用过程中，也可根据需要选择放大倍数，可以是一级放大或者多级放大，从而调整放大倍数，便于检测薄片的厚度，放大倍数可在5-30倍之间调整。同时，本发明也不仅限于用于薄片的检测，也可用于票据等薄片的厚度检测。
所述第三杠杆6与所述第二杠杆5接触的一端的上方设置有与其接触的压力弹簧（图中未示出）。当薄片通过轴承2和定轴3之间后，利用弹簧的弹力使三根杠杆复位。
所述红外传感器7通过传感器微调装置8固定在所述机架1，可以根据需要通过传感器微调装置8调节红外传感器7的安装位置，从而提高检测精度。
所述第一杠杆4与所述轴承2的接触的一端设置有组装定位孔12。组装时组装定位孔12用于定位，组装后调节位移检测传感器微调机构确保其在设定位置。
实施例2
如图2所示，一种薄片测厚装置，包括机架1，所述机架1的一侧设置有表面相接触的轴承2和定轴3，所述机架1设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承2的表面相接触，且靠近其另一端的机架1上设置有传感器，本实施例中，所述杠杆放大结构包括设置在机架1上且可相对其转动的第一杠杆4、第二杠杆5，所述第一杠杆4的一端与所述轴承2的表面相接触，另一端与所述第二杠杆5的底部相接触，所述传感器包括磁铁51和霍尔元件52，其中磁铁51设置在所述第二杠杆5的一端，所述霍尔元件52设置在所述磁铁51的正上方。
当薄片通过轴承2和定轴3之间时，通过杠杆放大结构实现对薄片厚度的逐级放大，导致磁铁的空间位移，致使磁铁51与霍尔元件52之间的距离A发生变化，当一张薄片轴承2和定轴3之间时，变化量设定为B1，当两张或者两张以上时为B2,B3……，由于杠杆放大原理，B2约等于2倍B1（B3约为3倍B1）。当薄片通过时，磁铁与霍尔元件之间的距离就变为（A1=A+B1，A2=A+B2，……），未通过时霍尔输出电压为U（设置为基准电压），一张薄片通过检测值为U1，两张或者两张以上为U2，U3……。由于薄片未通过或通过轴承2和定轴3之间时，A，A1,……等几乎为线性变化，导致霍尔元件检测到磁场强度也呈线性变化，从而霍尔输出电压U,U1……也出现线性变化。通过对比U1-U,U2-U……之间的电压差对比即可实现区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。
所述第二杠杆5的上方设置有与其接触的压力弹簧，从而使薄片通过后机构能够恢复初始状态。
本实施例中，采用的二级放大的结构，在实际使用过程中，也可根据需要选择放大倍数，可以是一级放大或者多级放大，从而调整放大倍数，便于检测薄片的厚度，放大倍数可在5-30倍之间调整。同时，本发明也不仅限于用于薄片的检测，也可用于票据等薄片的厚度检测。
所述霍尔元件52通过高度升降调节板13设置在所述机架1上，且所述机架1上还设置有用于调节所述高度升降调节板13高度的高度调节杆14，
在组装时，通过高度调节杆14调节磁铁51与霍尔元件52之间的距离A，使初始电压U处于一个合理区间，保证U，U1,U2……呈线性变化；
所述第一杠杆4与所述轴承2的接触的一端设置有组装定位孔12。组装时组装定位孔12用于定位，组装后调节位移检测传感器微调机构确保其在设定位置。
实施例3
如图3所示，一种薄片测厚装置，包括机架1，所述机架1的一侧设置有表面相接触的轴承2和定轴3，所述机架1设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承2的表面相接触，且靠近其另一端的机架1上设置有传感器，本实施例中，所述杠杆放大结构包括设置在机架1上且可相对其转动的第一杠杆4、第二杠杆5、第三杠杆6，所述第一杠杆4的一端与所述轴承2的表面相接触，另一端与所述第二杠杆5的底部相接触，所述第二杠杆5的一端与所述第三杠杆6的一端底部相接触，所述传感器包括磁铁51和霍尔元件52，其中磁铁51设置在所述第三杠杆6的一端，所述霍尔元件52设置在所述磁铁51的正上方。
其中，传感器工作原理与实施例2中的原理相似，再次不在赘述。
实施例4
如图4所示，一种薄片测厚装置，包括机架1，所述机架1的一侧设置有表面相接触的轴承2和定轴3，所述机架1设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承2的表面相接触，且靠近其另一端的机架1上设置有传感器，本实施例中，所述杠杆放大结构包括设置在机架1上且可相对其转动的第一杠杆4和第二杠杆5，所述第一杠杆4的一端与所述轴承2的表面相接触，另一端与所述第二杠杆5的底部相接触，所述第二杠杆5的末端延伸至安装在机架1上的红外传感器7。
其中杠杆放大结构配合红外传感器7的进行测厚的原理与实施例1相似，再次不再赘述。
综上所述，本发明提供的一种薄片测厚装置，通过多级放大的方式，将通过的薄片厚度进行放大，利用位移检测传感器检测放大后的薄片厚度，提高了检测的准确性。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界。

Claims (10)

1.一种薄片测厚装置，包括机架（1），所述机架（1）的一侧设置有表面相接触的轴承（2）和定轴（3），其特征在于：所述机架（1）设置有杠杆放大结构，所述杠杆放大结构的一端与所述轴承（2）的表面相接触，且靠近其另一端的机架（1）上设置有检测装置。
2.根据权利要求1所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述杠杆放大结构包括设置在机架（1）上且可相对其转动的第一杠杆（4）、第二杠杆（5）和第三杠杆（6），所述第一杠杆（4）的一端与所述轴承（2）的表面相接触，另一端与所述第二杠杆（5）的底部相接触，所述第二杠杆（5）的一端与所述第三杠杆（6）的一端底部相接触，所述检测装置设置在所述第三杠杆（6）的另一端处。
3.根据权利要求1所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述杠杆放大结构包括设置在机架（1）上且可相对其转动的第一杠杆（4）和第二杠杆（5），所述第一杠杆（4）的一端与所述轴承（2）的表面相接触，另一端与所述第二杠杆（5）的底部相接触，所述检测装置设置在所述第二杠杆（5）的末端处。
4.根据权利要求2或3所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述检测装置为红外传感器（7），且通过传感器微调装置（8）固定在所述机架（1）。
5.根据权利要求2所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述检测装置包括磁铁（51）和霍尔元件（52），其中磁铁（51）设置在所述第三杠杆（6）的一端，所述霍尔元件（52）设置在所述磁铁（51）的正上方。
6.根据权利要求3所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述检测装置包括磁铁（51）和霍尔元件（52），其中磁铁（51）设置在所述第二杠杆（5）的一端，所述霍尔元件（52）设置在所述磁铁（51）的正上方。
7.根据权利要求2所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述第三杠杆（6）与所述第二杠杆（5）接触的一端的上方设置有与其接触的压力弹簧。
8.根据权利要求3所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述第二杠杆（5）的上方设置有与其接触的压力弹簧。
9.根据权利要求5或6所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述霍尔元件（52）通过高度升降调节板（13）设置在所述机架（1）上，且所述机架（1）上还设置有用于调节所述高度升降调节板（13）高度的高度调节杆（14）。
10.根据权利要求2或3所述的一种薄片测厚装置，其特征在于：所述第一杠杆（4）与所述轴承（2）的接触的一端设置有组装定位孔（12）。
CN201510737172.1A 2015-11-04 2015-11-04 一种薄片测厚装置 Pending CN105423890A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510737172.1A CN105423890A (zh) 2015-11-04 2015-11-04 一种薄片测厚装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510737172.1A CN105423890A (zh) 2015-11-04 2015-11-04 一种薄片测厚装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105423890A true CN105423890A (zh) 2016-03-23

Family

ID=55502271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510737172.1A Pending CN105423890A (zh) 2015-11-04 2015-11-04 一种薄片测厚装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105423890A (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2230439Y (zh) * 1995-05-29 1996-07-03 倪山 表示杆缺口位移放大检测器
JP3323993B2 (ja) * 1999-01-25 2002-09-09 長野日本無線株式会社 発券機の重入防止装置
CN2672618Y (zh) * 2004-01-16 2005-01-19 哈尔滨彼绍特科技开发有限公司 用于检测纸币粘贴的装置
CN101180513A (zh) * 2005-05-06 2008-05-14 Beb工业电子股份公司 检测厚度和厚度变化的设备
CN201757639U (zh) * 2010-05-24 2011-03-09 山东新北洋信息技术股份有限公司 薄片类介质的厚度检测装置
CN102842166A (zh) * 2012-09-21 2012-12-26 广州广电运通金融电子股份有限公司 一种薄片类介质厚度检测装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2230439Y (zh) * 1995-05-29 1996-07-03 倪山 表示杆缺口位移放大检测器
JP3323993B2 (ja) * 1999-01-25 2002-09-09 長野日本無線株式会社 発券機の重入防止装置
CN2672618Y (zh) * 2004-01-16 2005-01-19 哈尔滨彼绍特科技开发有限公司 用于检测纸币粘贴的装置
CN101180513A (zh) * 2005-05-06 2008-05-14 Beb工业电子股份公司 检测厚度和厚度变化的设备
CN201757639U (zh) * 2010-05-24 2011-03-09 山东新北洋信息技术股份有限公司 薄片类介质的厚度检测装置
CN102842166A (zh) * 2012-09-21 2012-12-26 广州广电运通金融电子股份有限公司 一种薄片类介质厚度检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN2672618Y (zh) 用于检测纸币粘贴的装置
CN103136842A (zh) 一种薄片类介质测厚装置
CA2640351A1 (en) High capacity and high resolution scale
CN101190447A (zh) 在线张力检测机构
CN202579459U (zh) 一种伺服阀测试系统
CN101435690B (zh) 应变式微纳米级微纳米位移传感器
CN105096443A (zh) 一种薄片介质的霍尔厚度检测装置
CN105261107A (zh) 一种纸张厚度检测及传输装置和方法
US20130043111A1 (en) Circuit breaker position sensing and health monitoring system
CN102680370A (zh) 煤粉浓度在线监测系统
KR102360304B1 (ko) 자동 캘리브레이션 장치 및 방법
KR101026150B1 (ko) 용지두께 검출장치 및 이를 이용한 용지두께 검출방법
CN105423890A (zh) 一种薄片测厚装置
US6224053B1 (en) Method and device for verifying the correct transport of sheet material employing a mechanical touch sensor
CN105303675A (zh) 一种利用光敏传感器检测纸张厚度的装置和方法
CN102323022A (zh) 一种测量结构挠度的应变式传感器
CN105115470A (zh) 一种快速检测钢板不平度的工具
CN204965576U (zh) 用于钞票厚度的霍尔式检测装置
CN106934917A (zh) 一种霍尔厚度检测机构
US7569779B2 (en) High capacity and high resolution scale
CN102853956A (zh) 直行程电动执行机构综合测试台
CN202793667U (zh) 直行程电动执行机构综合测试台
CN201600218U (zh) 柱式压差变送器
KR101196755B1 (ko) 다중 유량대를 구분설정하여 유량을 측정하는 유량계
CN204168268U (zh) 电子风压开关及燃气具

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20160323

RJ01 Rejection of invention patent application after publication