CN105403795B - 一种ic卡静电测试装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种IC卡静电测试装置及测试方法，该方法包括：DA转换电路、正高压电源、负高压电源、电源切换开关、充放电开关、充电电容、第一电阻、第二电阻；DA转换电路的正电压输出端与用于产生正向高压电源的正高压电源的输入端相连，负电压输出端与用于产生负向高压电源的负高压电源的输入端相连，正高压电源的输出端与电源切换开关的第一输入端相连，负高压电源的输出端与电源切换开关的第二输入端相连；电源切换开关的输出端通过第一电阻与充放电开关的常闭输入端相连，充放电开关的输出端通过充电电容后接地；充放电开关的常开输入端通过第二电阻与高压探针相连。该装置采用两个高压电源的设计，提高了输出稳定性，且提高了输出的精。
Description
技术领域
本发明涉及IC卡测试技术领域，具体地，涉及一种IC卡静电测试装置及测试方法。
背景技术
静电放电(ESD)是指带电体周围的场强超过周围介质的绝缘击穿场强时，因介质电离而使带电体上的静电荷部分或全部消失的现象，静电放电是高电位，强电场和瞬时大电流的过程。
对于人体静电放电，通过实验得知最小放电能量也可以达到3.12×10-4焦耳。瞬间的放电电流峰值可以达到几个安培以上。
电力行业使用的IC卡便是一种对静电放电较为敏感的电子线路，由于半导体器件的规模变大，工作电压更低，导致了半导体器件对外界电磁骚扰敏感程度也大大提高。静电放电对于电路引起的干扰，对元器件、CMOS电路及各种接口电路造成的破坏等问题越来越引起人们的重视。
在这些芯片装置或电子线路跟其他物体接触时，依据电荷中和的原则，存在着电荷流动，传送足够的电量以抵消电压。当人们穿着化纤衣物时，人体运动的充电电流为10-7～10-6A，总的充电电荷为(0.1～5)×10-6库伦，人体对地的电容为150～250pF，若以电荷3×10-6库伦计，则充电电压可达5～25kV。
大多数半导体器件都很容易受静电放电而损坏，特别是大规模集成电路更为脆弱。通常以半导体器件中引脚与绝缘层被静电放电击穿的静电电压值来表示半导体器件的易损性。常见的半导体器件对静电放电的易损值为100～3000V。
作为模拟静电放电对IC卡芯片的影响，主要通过传导的方式实施。若电路的某个部分构成了放电路径，即静电放电电流直接侵入设备内的电路，如人手直接触摸IC卡的电路引脚，静电放电电流流过集成片的输入端，造成干扰，甚至永久的物理损伤。
目前市场上用于静电放电发生器测试的装置，普遍采用测试人员手持放电枪进行试验操作的工作方式。这种设备如图1所示。对于受试设备外形较为复杂且静电放电点测试空间较为宽裕情况下，传统的静电放电设备可以满足要求。而对于电力计量领域使用的IC卡而言，它们具有外形平整，静电放电测试点的金属引脚面积极小，相互紧邻，对于传统市场上的手持式静电放电发生器而言人员的操作难度极大，极易引起放电点之间的串扰，复现性也很差，很难满足标准要求。
传统的静电放电发生器最初的设计思路来源于一般民用产品的试验条件和环境，操作人员在执行测试过程中，由于采用手动操作，不可控因素较多，在放电端的快速接近、枪头与被测面的角度、时间间隔等量化的指标上，国际标准和国家标准往往给出的要求较为宽松，实际检测活动也证明了依赖人员的操作，往往会因为量化指标的不完全执行而导致测试结果有出现较大偏离，试验结果的不确定度指标陡然上升。
发明内容
本发明是为了克服现有技术中静电放电发生器输出精度不高的缺陷，根据本发明的一个方面，提出一种IC卡静电测试装置。
本发明实施例提供的一种IC卡静电测试装置，包括：DA转换电路、正高压电源、负高压电源、电源切换开关、充放电开关、充电电容、第一电阻、第二电阻；
DA转换电路的输入端用于接收PLC产生的控制电压信号；DA转换电路的正电压输出端与用于产生正向高压电源的正高压电源的输入端相连，负电压输出端与用于产生负向高压电源的负高压电源的输入端相连，正高压电源的输出端与电源切换开关的第一输入端相连，负高压电源的输出端与电源切换开关的第二输入端相连；
电源切换开关的输出端通过第一电阻与充放电开关的常闭输入端相连，充放电开关的输出端通过充电电容后接地；充放电开关的常开输入端通过第二电阻与高压探针相连。
在上述技术方案中，还包括：高压采样回路、AD转换电路和PLC；
高压采样回路的输出端通过AD转换电路后与PLC相连；高压采样回路用于采集高压探针产生的电压，并将该电压反馈至PLC；
PLC根据高压采样回路反馈的电压实时调整输出的控制电压信号。
在上述技术方案中，还包括：与电源切换开关相关联的第一线圈、与充放电开关相关联的第二线圈；
第一线圈用于根据PLC的控制信号控制输出正高压或负高压；第二线圈用于根据PLC的控制信号控制充放电回路。
在上述技术方案中，DA转换电路包括：DA转换芯片、放大电路、CMOS模拟开关和控制开关；
DA转换芯片与放大电路的输入端相连，放大电路的输出端通过CMOS模拟开关与控制开关的输入端相连；DA转换芯片用于将数字电压信号转换为模拟电压信号，并将模拟电压信号发送至放大电路；
控制开关设有第一输出端和第二输出端，且控制开关的第一输出端为DA转换电路的正电压输出端，控制开关的第二输出端为DA转换电路的负电压输出端。
在上述技术方案中，DA转换电路还包括：与控制开关相关联的第三线圈；
第三线圈用于根据PLC的控制信号控制DA转换电路的输出电压的极性。
在上述技术方案中，DA转换电路还包括：电压跟随电路；
放大电路的输出端通过电压跟随电路与CMOS模拟开关相连。
在上述技术方案中，还包括：电气隔离电路；
电气隔离电路用于接收线圈控制信号，并将线圈控制信号进行电气隔离后发送至控制线圈的控制端，控制线圈包括第一线圈、第二线圈、第三线圈中的一项或多项。
在上述技术方案中，电气隔离电路包括：锁存器、光耦合器和放大器；
锁存器的输入端用于接收线圈控制信号，输出端依次通过光耦合器和放大器后与相应的控制线圈相连；且光耦合器与放大器一一对应。
在上述技术方案中，PLC分段设置电压线性函数。
在上述技术方案中，分段设置的电压线性函数包括：将输出电压为1kV～3kV的曲线设定为y＝k1×x+b1；3kV～8kV为y＝k2×x+b2，8kV以上设定为y＝k3×x+b3；其中，y表示控制电压信号的电压值，x表示输出电压的电压值，k1、k2、k3、b1、b2、b3均为预设参数。
在上述技术方案中，还包括：运动单元，运动单元包括XYZ三轴伺服电机；运动单元用于根据PLC下发的运动控制信号控制高压探针或被测IC卡在预设运动轨道上移动。
在上述技术方案中，还包括：红外感应防护装置；红外感应防护装置在感应到生物体信号时，断开IC卡静电测试装置的电源。
基于同样的发明构思，本发明实施例还提供一种IC卡静电测试方法，该方法基于如上述的IC卡静电测试装置，包括：
根据输入电压和输出电压之间的线性关系，分段设置电压线性函数；
根据需要输出的输出电压和电压线性函数，确定控制电压信号，并将控制电压信号发送至DA转换电路；
DA转换电路将控制电压信号换为模拟电压信号，并根据模拟电压信号控制高压程控开关的输出电压，高压程控开关包括正高压电源和/或负高压电源；
根据输出电压为充放电回路充电，并在需要放电测试时进行高压探针放电，进行IC卡静电测试。
在上述技术方案中，还包括：
采集高压探针产生的电压，并反馈电压；
根据反馈的电压实时调整输出电压。
本发明实施例提供的一种IC卡静电测试装置及测试方法，采用两个高压电源的设计，提高了输出稳定性，且提高了输出的精。SPS+和SPS-两个高压电源为高压程控电源，采用了双高压电源，可以实现更高的输出稳定性以及更高的电压输出精度。采用分级式补偿实现静电高压输出，很好的解决了因高压电源线性度不高以及电压跨度较大而产生的高压输出精度不高问题。通过增加电气隔离电路，提高了装置的稳定性。通过红外感应装置，从而可以有效确保机械和高电压不会对操作人员造成危害。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为现有技术中的静电放电发生器的结构示意图；
图2为本发明实施例中IC卡静电测试装置的第一结构图；
图3为本发明实施例中输出波形示意图；
图4为本发明实施例中IC卡静电测试装置的第二结构图；
图5为本发明实施例中DA转换电路的电路图；
图6为本发明实施例中电气隔离电路的电路图；
图7为本发明实施例中IC卡静电测试方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。
根据本发明实施例，提供了一种IC卡静电测试装置，图2为该装置的结构图，具体包括：DA转换电路10、正高压电源20、负高压电源30、电源切换开关SW1、充放电开关SW2、充电电容C1、第一电阻R1、第二电阻R2。
参见图2所示，DA转换电路10的输入端DIN用于接收PLC产生的控制电压信号，该控制电压信号为PLC根据高压测试时高压探针实际输出的电压值而定，此控制电压信号为数字信号。DA转换电路10将该控制电压信号转换为模拟电压信号(0-5V的模拟量)，并将该模拟电压信号传送至两个高压电源。具体的，DA转换电路10的正电压输出端ADJ+与用于产生正向高压电源的正高压电源20的输入端相连，负电压输出端ADJ-与用于产生负向高压电源的负高压电源30的输入端相连。
由于采用一个双极性电源可能不能兼顾正负都能实现较高精度的输出要求，本发明实施例中，采用两个高压电源的设计首先是提高了输出稳定性，且提高了输出的精。SPS+和SPS-两个高压电源为高压程控电源，采用了双高压电源，可以实现更高的输出稳定性以及更高的电压输出精度。
参见图2所示，该装置还包括：与电源切换开关SW1相关联的第一线圈、与充放电开关SW2相关联的第二线圈；第一线圈用于根据PLC的控制信号控制输出正高压或负高压；第二线圈用于根据PLC的控制信号控制充放电回路。其中，电源切换开关SW1用于切换输出正电压或负电压，其中，正高压电源20的输出端与电源切换开关SW1的第一输入端相连，负高压电源30的输出端与电源切换开关SW1的第二输入端相连。充放电开关SW2用于控制充放电回路，具体的，参见图2所示，电源切换开关SW1的输出端通过第一电阻R1与充放电开关SW2的常闭输入端相连，充放电开关SW2的输出端通过充电电容C1后接地；充放电开关SW2的常开输入端通过第二电阻R2与高压探针相连。图2中，A点为高压探针，B点接地，A、B组成了高压输出。
充放电开关SW2的工作流程具体如下：在不需要为高压探针提供高压时，SW2常闭，即充放电开关SW2的常闭输入端通过充电电容C1后接地，此时为充电电容C1充电，第一电阻R1为限流电阻；在需要为高压探针提供高压时(图2中的第二线圈U2得电)，则充放电开关SW2的常开输入端与输出端相连，此时充电电容C1、第二电阻R2和高压探针串联，充电电容C1放电，从而高压探针产生瞬间的高压，此时第二电阻R2的作为也为限流电阻。
由于充放电开关SW2的切换电压高、频率高、切换时间极快(电流前沿10ns以内)，并且输出波形不容许太大机械震荡，因此开关SW2的要求极高，本发明实施例中选用了切换速率较高、触点分布电容极小并且不容许有回跳的真空高压继电器，第二电阻为放电电阻，阻值为R2＝1.5KΩ。充电电容电容C1以及第二电阻R2的大小则决定了输出波形，输出短路电流波形具体参见图3所示。
图3中：tr(上升时间)：小于10ns；td(延迟时间)：150ns±20ns。
由于回路中分布电感的存在，所以在电流波形的顶部往往会出现震荡波形，电容、分布电感以及电阻形成RLC振铃波形叠加到输出波形，标准要求震荡的幅度需要小于峰值电流的15％。由于在高频回路中，导线的长短都有可能对主回路影响很大，因此本发明实施例中在设计高压回路时不仅需要考虑元器件的量值大小，同时充分优化高压回路布局，走线方式，导线长短等等，以充分减小回路产生的分布电感给输出带来的影响。
本发明实施例提供的一种IC卡静电测试装置，采用两个高压电源的设计，提高了输出稳定性，且提高了输出的精。SPS+和SPS-两个高压电源为高压程控电源，采用了双高压电源，可以实现更高的输出稳定性以及更高的电压输出精度。
优选的，参见图4所示，该装置还包括：高压采样回路40、AD转换电路50和PLC。其中，高压采样回路40的输出端通过AD转换电路后50与PLC相连；高压采样回路40用于采集高压探针产生的电压，并将该电压反馈至PLC；PLC根据高压采样回路反馈的电压实时调整输出的控制电压信号。
由于输出电压高并且宽度较大，尤其是要达到3％以内的高精度输出，而且高压电源会有自身的误差，高压和低压的线性度不一致，本发明实施例中，采用分级式补偿实现静电高压输出。具体的，PLC分段设置电压线性函数。首先PLC将设定电压区间范围分成若干部分，PLC会将若干部分绘制成对应的线性函数曲线进行数模转换。例如，将1kV～3kV的曲线设定为,y＝k1×x+b1，3kV～8kV为y＝k2×x+b2，8kV以上设定为y＝k3×x+b3(其中，y表示实际转换电压输出即需要输入到DA转换电路的控制电压信号的电压值；x表示显示的电压值，即高压探针输出的电压；k1、k2、k3、b1、b2、b3均为预设参数)。具体的，1kv～3kv为y＝0.000502×x+0.001，3kV～8kV为y＝0.0005×x+0.0015，8kV以上设定为y＝0.000497×x+0.001。通过分级的处理以及高压补偿，很好的解决了因高压电源线性度不高以及电压跨度较大而产生的高压输出精度不高问题。
高压补偿参见图4所示，本装置产生高压后经过反馈回到PLC形成的一个闭环系统。在高压输出之后，会对实际产生的高压进行高压采样，按照一定比例采样后，经过模数转换将对应的模拟量以数字形式发送到PLC，PLC内部会将采样的量与给出的量进行比较，然后进行微量调整输出。
优选的，本发明实施例中的DA转换电路10具体包括：DA转换芯片、放大电路、CMOS模拟开关和控制开关；DA转换芯片与放大电路的输入端相连，放大电路的输出端通过CMOS模拟开关与控制开关的输入端相连；DA转换芯片用于将数字电压信号(即控制电压信号)转换为模拟电压信号，并将模拟电压信号发送至放大电路；控制开关设有第一输出端和第二输出端，且控制开关的第一输出端为DA转换电路10的正电压输出端，控制开关的第二输出端为DA转换电路10的负电压输出端。
具体的，参见图5所示，本发明实施例中，DA转换芯片采用MAX531。PLC将转换好的数据通过DIN端口发送到DA转换芯片MAX531中(需配合时钟信号SCLK、片选信号SCS、以及清零端口CLR发送数据)，MAX531是12位串行数据接口数模转换器，采用“反向”R－2R的梯形电阻网络结构。内置单电源CMOS运算放大器，其最大工作电流仅为260μA，具有很好的电压偏移，增益和线性度。内部运算放大器根据需要可配置成+1或+2的增益，也可作四象限乘法器。转换后形成0.5-5V的模拟电压，经过放大器IC113运算放大器进行放大。
其中，参见图5所示，根据虚短：V3＝V2；根据虚断：(V2-0)/R109＝(V6-V2)/Rw109；根据以上两式可求得:V6＝((Rw109+R109)/R109)×V3＝(1+Rw109/R109)×V3。
上式中，V6即为放大后的模拟电压，V3为DA转换后的模拟电压，因此实现了对模拟电压的放大，运放IC114构成了一个电压跟随电路，用于增大输入阻抗，防止负载对模拟信号的影响。CMOS模拟开关IC115采用MAX319，控制开关J101是一个单刀双掷的开关，G5V-1就是开关J101的线圈，即第三线圈，用于解决有两个高压电源，而DA转换电路就一块的问题。
本发明实施例中，形成高压后利用高压真空继电器SW1进行正负极性切换，由于高压电源输出电流Io为2mA,因此限流电阻R1选用了10MΩ。
R1>＝Umax/Io＝10000/2KΩ＝5MΩ。通过R1经过SW2常闭端对主电容C1进行充电，C1大小为1000pf。
在本发明实施例中，使用真空高压继电器对正负高压电源、充电放电等进行切换，而控制信号是由控制系统PLC发出，然而高压高频的回路极易通过空间耦合方式对包括继电器控制端等一些控制端口造成干扰，因此在本发明实施例中，控制系统与高压系统之间的控制部分增加了电气隔离电路，从而提高系统的稳定性。该电气隔离电路用于接收线圈控制信号，并将线圈控制信号进行电气隔离后发送至控制线圈的控制端，控制线圈包括第一线圈、第二线圈、第三线圈中的一项或多项。
具体的，参见图6所示，该电气隔离电路包括：锁存器74HC573、光耦合器和放大器。其中，锁存器的输入端用于接收线圈控制信号，输出端依次通过光耦合器和放大器后与相应的控制线圈相连。同时，光耦合器与放大器一一对应，即一个光耦合器与一个放大器相串联，每个光耦合器控制一个线圈。其中，数据通过74HC573锁存器后，将通往高压电源的信号通过过O101～O104光耦合器进行隔离，然后通过T101、T102、T104、T105进行放大后驱动高压继电器线圈，从而遏制了高压窜扰到低压控制系统中。图6中以控制四个线圈为例，分别为第一线圈U1、第二线圈U2、第三线圈G5V-1，以及正负高压电源供电DC24V的线圈(图中未示出)。
优选的，本发明实施例提供的IC卡静电测试装置还包括：运动单元，该运动单元包括XYZ三轴伺服电机；运动单元用于根据PLC下发的运动控制信号控制高压探针或被测IC卡在预设运动轨道上移动，实现了被测IC卡能够在整个测试空间内全自动移动和驻留。考虑到IC卡的芯片引脚面积很小，间距非常近，可以选用精度达到0.01mm的移动滑轨，在PLC的控制下实现精确移动，能够将静电电荷有效释放到每一个引脚上。
同时，本发明实施例提供的IC卡静电测试装置还设置了红外感应防护装置；该红外感应防护装置在感应到生物体信号时(例如人手靠近等)，断开IC卡静电测试装置的电源。在IC卡的取放过程中需要经过设备的操作窗，除了正常的取放卡片动作之外，如果设备在运行过程中遇到人手意外伸入装置，将会启动程序中断模式，确保机械和高电压不会对操作人员造成危害。
基于同样的发明构思，本发明实施例还提供一种IC卡静电测试方法，该方法基于如上述的IC卡静电测试装置，参见图7所示，该方法包括步骤701-704：
步骤701：根据输入电压和输出电压之间的线性关系，分段设置电压线性函数；
步骤702：根据需要输出的输出电压和电压线性函数，确定控制电压信号，并将控制电压信号发送至DA转换电路；
步骤703：DA转换电路将控制电压信号换为模拟电压信号，并根据模拟电压信号控制高压程控开关的输出电压，高压程控开关包括正高压电源和/或负高压电源；
步骤704：根据输出电压为充放电回路充电，并在需要放电测试时进行高压探针放电，进行IC卡静电测试。
优选的，该方法还包括步骤A1-A2：
步骤A1、采集高压探针产生的电压，并反馈电压；
步骤A2、根据反馈的电压实时调整输出电压。
其中，在步骤A2中，调整输出电压实际为根据电压线性函数和反馈的电压调整控制电压信号。
本发明实施例提供的一种IC卡静电测试装置及测试方法，采用两个高压电源的设计，提高了输出稳定性，且提高了输出的精。SPS+和SPS-两个高压电源为高压程控电源，采用了双高压电源，可以实现更高的输出稳定性以及更高的电压输出精度。采用分级式补偿实现静电高压输出，很好的解决了因高压电源线性度不高以及电压跨度较大而产生的高压输出精度不高问题。通过增加电气隔离电路，提高了装置的稳定性。通过红外感应装置，从而可以有效确保机械和高电压不会对操作人员造成危害。
本发明能有多种不同形式的具体实施方式，上面以图2-图7为例结合附图对本发明的技术方案作举例说明，这并不意味着本发明所应用的具体实例只能局限在特定的流程或实施例结构中，本领域的普通技术人员应当了解，上文所提供的具体实施方案只是多种优选用法中的一些示例，任何体现本发明权利要求的实施方式均应在本发明技术方案所要求保护的范围之内。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种IC卡静电测试装置，其特征在于，包括：DA转换电路、正高压电源、负高压电源、电源切换开关、充放电开关、充电电容、第一电阻、第二电阻；
所述DA转换电路的输入端用于接收PLC产生的控制电压信号；所述DA转换电路的正电压输出端与用于产生正向高压电源的所述正高压电源的输入端相连，负电压输出端与用于产生负向高压电源的所述负高压电源的输入端相连，所述正高压电源的输出端与所述电源切换开关的第一输入端相连，所述负高压电源的输出端与所述电源切换开关的第二输入端相连；
所述电源切换开关的输出端通过所述第一电阻与所述充放电开关的常闭输入端相连，所述充放电开关的输出端通过所述充电电容后接地；所述充放电开关的常开输入端通过所述第二电阻与高压探针相连；
还包括：高压采样回路、AD转换电路和PLC；
所述高压采样回路的输出端通过所述AD转换电路后与所述PLC相连；所述高压采样回路用于采集高压探针产生的电压，并将该电压反馈至所述PLC；
所述PLC根据所述高压采样回路反馈的电压实时调整输出的控制电压信号；
所述PLC分段设置电压线性函数，所述电压线性函数用于确定控制电压信号与输出电压之间的关系，所述输出电压为高压探针产生的电压；
分段设置的所述电压线性函数包括：
将输出电压为1kV～3kV的曲线设定为y＝k1×x+b1；3kV～8kV为y＝k2×x+b2，8kV以上设定为y＝k3×x+b3；其中，y表示控制电压信号的电压值，x表示输出电压的电压值，k1、k2、k3、b1、b2、b3均为预设参数。
2.根据权利要求1所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，还包括：与所述电源切换开关相关联的第一线圈、与所述充放电开关相关联的第二线圈；
所述第一线圈用于根据PLC的控制信号控制输出正高压或负高压；所述第二线圈用于根据PLC的控制信号控制充放电回路。
3.根据权利要求1所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，所述DA转换电路包括：DA转换芯片、放大电路、CMOS模拟开关和控制开关；
所述DA转换芯片与所述放大电路的输入端相连，所述放大电路的输出端通过所述CMOS模拟开关与所述控制开关的输入端相连；所述DA转换芯片用于将数字电压信号转换为模拟电压信号，并将所述模拟电压信号发送至所述放大电路；
所述控制开关设有第一输出端和第二输出端，且所述控制开关的第一输出端为所述DA转换电路的正电压输出端，所述控制开关的第二输出端为所述DA转换电路的负电压输出端。
4.根据权利要求3所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，所述DA转换电路还包括：与所述控制开关相关联的第三线圈；
所述第三线圈用于根据PLC的控制信号控制所述DA转换电路的输出电压的极性。
5.根据权利要求3或4所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，DA转换电路还包括：电压跟随电路；
所述放大电路的输出端通过所述电压跟随电路与所述CMOS模拟开关相连。
6.根据权利要求2-4任一所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，还包括：电气隔离电路；
所述电气隔离电路用于接收线圈控制信号，并将所述线圈控制信号进行电气隔离后发送至控制线圈的控制端，所述控制线圈包括第一线圈、第二线圈、第三线圈中的一项或多项。
7.根据权利要求6所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，所述电气隔离电路包括：锁存器、光耦合器和放大器；
所述锁存器的输入端用于接收线圈控制信号，输出端依次通过所述光耦合器和所述放大器后与相应的控制线圈相连；且所述光耦合器与所述放大器一一对应。
8.根据权利要求1-3任一所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，还包括：运动单元，所述运动单元包括XYZ三轴伺服电机；所述运动单元用于根据PLC下发的运动控制信号控制高压探针或被测IC卡在预设运动轨道上移动。
9.根据权利要求1-3任一所述的IC卡静电测试装置，其特征在于，
还包括：红外感应防护装置；所述红外感应防护装置在感应到生物体信号时，断开所述IC卡静电测试装置的电源。
10.一种IC卡静电测试方法，所述方法基于如上述权利要求1-8任一所述的IC卡静电测试装置，包括：
根据输入电压和输出电压之间的线性关系，分段设置电压线性函数；
根据需要输出的输出电压和所述电压线性函数，确定控制电压信号，并将所述控制电压信号发送至DA转换电路；
所述DA转换电路将所述控制电压信号换为模拟电压信号，并根据所述模拟电压信号控制高压程控开关的输出电压，所述高压程控开关包括正高压电源和/或负高压电源；
根据所述输出电压为充放电回路充电，并在需要放电测试时进行高压探针放电，进行IC卡静电测试。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，还包括：
采集高压探针产生的电压，并反馈所述电压；
根据反馈的所述电压实时调整输出电压。
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