CN105373884A - 一种电子设备效能的环境影响评估方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电子设备技术领域，特别是一种电子设备效能的环境影响评估方法，包括以下步骤，引入实际应用环境因素：对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析，结合原有电子设备的能力指标集，得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系；实际应用环境影响模型计算：采用实际应用环境模型，得到实际应用环境对设备能力指标的影响值；综合评估：根据新的设备能力指标体系，利用综合评估模型，计算设备实际能力指标集，得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。采用上述方法后，本发明给出了电子设备实际应用环境因素的评估模型,体现各实际应用环境因素对电子设备效能的影响作用，使电子设备效能评估结果更为准确和可信。

Description

一种电子设备效能的环境影响评估方法
技术领域
本发明涉及电子设备技术领域，特别是一种电子设备效能的环境影响评估方法。
背景技术
目前社会正向着智能化、自动化的方向发展，生产和生活中使用的各种设备都拥有自己的电子信息系统，特别是电子通信设备。这些电子设备在使用过程中容易受到地形、地貌、气象、电磁等环境的影响。由于受到外界的干扰，会影响到电子设备效能的发挥。
中国发明专利申请CN102867104A公开了一种电子设备的电磁环境影响因素的定量分析方法，采用将影响因素数据接口装置、电子设备数据接口装置采集的信号源数据通过数据采集装置将上述传输至影响因素主次关系定量分析装置，进行电子设备的影响因素主次关系的定量分析。此发明虽然能够实现对n各影响因素的综合分析并对其主次关系进行搜索、判断和排序，预测或确定影响电子设备的相关电磁环境的主要因素，以便排除或减小电磁环境影响的主因素对电子设备性能进行的干扰。但是，此发明涉及的电磁环境影响因素，并没有涉及地形、地貌、气象等因素；另外，此发明只是涉及这些影响因素的定量分析，并没有涉及受这些因素影响后电子设备效能的评估定量分析。
发明内容
本发明需要解决的技术问题提供一种电子设备效能的环境影响评估方法。
为解决上述的技术问题，本发明的一种电子设备效能的环境影响评估方法，包括以下步骤，
引入实际应用环境因素：对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析，结合原有电子设备的能力指标集，得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系；
实际应用环境影响模型计算：采用实际应用环境模型，得到实际应用环境对设备能力指标的影响值；
综合评估：根据新的设备能力指标体系，利用综合评估模型，计算设备实际能力指标集，得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。
进一步的，所述步骤引入实际应用环境因素中，电子设备实际应用环境分为地理环境、气象环境和电磁环境。
更进一步的，定义引入的实际应用环境因素E＝<S，A，R，T>，其中：S为地理环境因素，A为气象环境因素，R为电磁环境因素，T为时间。
更进一步的，所述步骤实际应用环境影响模型计算中定义实际应用环境影响模型Q＝考虑实际应用环境因素的电子设备效能/未考虑实际应用环境因素的电子设备效能，具体包括以下步骤：
(1)建立效用函数，a决定效用函数开始影响的初始；b决定影响曲线斜率变化情况，选取能较好反映影响变化的效用函数 f 1 ( x ) = e - 8 + 15 x 1 + e - 8 + 15 x , f 2 ( x ) = e - 7 + 15 x 1 + e - 7 + 15 x , f 3 ( x ) = e - 7 + 14 x 1 + e - 7 + 14 x ;
(2)建立实际应用环境影响模型，实际应用环境影响模型和效用函数的关系为：Qr(X)＝1-f1(X)、Qs(X)＝1-f2(X)、Qa(X)＝1-f3(X)；
得到
实际应用电磁环境影响模型
实际应用地理环境影响模型
实际应用气象环境影响模型
其中：x是自然环境的优劣程度，取值区间定为[0,1]或[0,100]；
(3)电子设备效能评估，定义P实＝Q·P平，
其中：Q是通过实际应用环境影响模型的计算得到的效用值，即实际应用环境对电子设备能力指标的影响值；P平是未考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值；P实是考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值。
进一步的，所述步骤综合评估中所述的综合评估模型采用AHP模型、DEA模型、TOPSIS模型、ADC模型、SEA模型、M-C模型、EA模型、灰色综合评估模型、指数计算模型等评估模型中的一种。
采用上述方法后，本发明给出了电子设备实际应用环境因素的评估模型。据此，评估人员可以通过定义电子设备实际应用环境影响模型,体现各实际应用环境因素对电子设备效能的影响作用，使电子设备效能评估结果更为准确和可信。
附图说明
下面将结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1为本发明一种电子设备效能的环境影响评估方法的示意图。
图2a为本发明b＝0.15时的效用函数形状图。
图2b为本发明a＝-7时的效用函数形状图。
图3a为本发明b＝0.15时的实际应用环境影响模型形状图。
图3b为本发明a＝-7时的实际应用环境影响模型形状图。
具体实施方式
如图1所示，本发明的一种电子设备效能的环境影响评估方法，包括以下步骤，
引入实际应用环境因素：对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析，结合原有电子设备的能力指标集，得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系。本实施方式中，电子设备实际应用环境分为地理环境、气象环境和电磁环境。定义引入的实际应用环境因素E＝<S，A，R，T>，其中：S为地理环境因素，A为气象环境因素，R为电磁环境因素，T为时间。
实际应用环境影响模型计算：采用实际应用环境模型，得到实际应用环境对设备能力指标的影响值，具体包括以下步骤：
(1)建立效用函数，a决定效用函数开始影响的初始；b决定影响曲线斜率变化情况，如图2a和图2b所示，对于a＝-7,b＝0.15时，效用函数能够较好的反映f(x)变化。从图中选取能较好反映影响变化的效用函数 f 2 ( x ) = e - 7 + 15 x 1 + e - 7 + 15 x , f 3 ( x ) = e - 7 + 14 x 1 + e - 7 + 14 x ;
(2)建立实际应用环境影响模型，如图3a和图3b所示，实际应用环境影响模型和效用函数的关系为：Qr(X)＝1-f1(X)、Qs(X)＝1-f2(X)、Qa(X)＝1-f3(X)；
得到
实际应用电磁环境影响模型
实际应用地理环境影响模型
实际应用气象环境影响模型
其中：x是自然环境的优劣程度，取值区间定为[0,1]或[0,100]；
(3)电子设备效能评估，定义P实＝Q·P平，
其中：Q是通过实际应用环境影响模型的计算得到的效用值，即实际应用环境对电子设备能力指标的影响值；P平是未考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值；P实是考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值。
综合评估：根据新的设备能力指标体系，计算设备实际能力指标集，利用综合评估模型，得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。本实施方式中采用的综合评估模型为AHP模型，当然也可以DEA模型、TOPSIS模型、ADC模型、SEA模型、M-C模型、EA模型、灰色综合评估模型、指数计算模型等评估模型中的一种，这样的变换均落在本发明的保护范围之内。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域熟练技术人员应当理解，这些仅是举例说明，可以对本实施方式作出多种变更或修改，而不背离发明的原理和实质，本发明的保护范围仅由所附权利要求书限定。

Claims (5)

1.一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于，包括以下步骤，
引入实际应用环境因素：对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析，结合原有电子设备的能力指标集，得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系；
实际应用环境影响模型计算：采用实际应用环境模型，得到实际应用环境对设备能力指标的影响值；
综合评估：根据新的设备能力指标体系，利用综合评估模型，计算设备实际能力指标集，得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。
2.按照权利要求1所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于，所述步骤引入实际应用环境因素中，电子设备实际应用环境分为地理环境、气象环境和电磁环境。
3.按照权利要求2所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于：定义引入的实际应用环境因素E＝<S，A，R，T>，其中：S为地理环境因素，A为气象环境因素，R为电磁环境因素，T为时间。
4.按照权利要求3所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于，所述步骤实际应用环境影响模型计算中定义实际应用环境影响模型Q＝考虑实际应用环境因素的电子设备效能/未考虑实际应用环境因素的电子设备效能，具体包括以下步骤：
(1)建立效用函数，a决定效用函数开始影响的初始；b决定影响曲线斜率变化情况，选取能较好反映影响变化的效用函数 f 1 ( x ) = e - 8 + 15 x 1 + e - 8 + 15 x , f 2 ( x ) = e - 7 + 15 x 1 + e - 7 + 15 x , f 3 ( x ) = e - 7 + 14 x 1 + e - 7 + 14 x ;
(2)建立实际应用环境影响模型，实际应用环境影响模型和效用函数的关系为：Qr(X)＝1-f1(X)、Qs(X)＝1-f2(X)、Qa(X)＝1-f3(X)；
得到
实际应用电磁环境影响模型
实际应用地理环境影响模型
实际应用气象环境影响模型
其中：x是自然环境的优劣程度，取值区间定为[0,1]或[0,100]；(3)电子设备效能评估，定义P实＝Q·P平，
其中：Q是通过实际应用环境影响模型的计算得到的效用值，即实际应用环境对电子设备能力指标的影响值；P平是未考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值；P实是考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值。
5.按照权利要求1所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于：所述步骤综合评估中所述的综合评估模型采用AHP模型、DEA模型、TOPSIS模型、ADC模型、SEA模型、M-C模型、EA模型、灰色综合评估模型、指数计算模型等评估模型中的一种。
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