CN105323018A - 用于在实时示波器上执行联合抖动和振幅噪声分析的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于在实时示波器上执行联合抖动和振幅噪声分析的方法。一种用于确定输入信号的抖动和噪声的方法。所述方法包括通过测试和测量仪器的获取单元获取一个或多个非相关波形记录,从(一个或多个)所获取的波形确定相关波形,将相关波形划分成单位间隔,将非相关波形划分成单位间隔,针对每一个单位间隔测量相关波形与非相关波形之间的定时位移(t1)以形成表观抖动阵列([t1]),针对每一个单位间隔测量相关波形与非相关波形之间的电压位移(V1)以形成表观噪声阵列([V1]),针对每一个单位间隔计算相关波形与非相关波形之间的水平偏移(ts)以形成经补偿的边缘时间阵列([ts]),以及针对每一个单位间隔计算相关波形与非相关波形之间的垂直偏移(Vs)以形成经补偿的振幅电压阵列([Vs])。
Description
优先权
本申请要求享有2014年7月30日提交的美国临时申请No. 62/031,069的权益,该申请以其全部内容通过引用并入本文中。
技术领域
本公开涉及执行联合抖动和振幅噪声分析以生成二维概率密度函数和比特误码率眼图。
背景技术
在高速串行数据通信的领域中,定时抖动的分析已经是所感兴趣的。利用用于抖动和信号质量规范的光纤信道方法学的公开物形式化了许多概念(技术报告TR-35-2004,华盛顿特区:ANSI/INCITS,2004)。在用于抖动和信号质量规范的光纤信道方法学中描述的方法允许特定参考电压处的定时抖动分析。参考电压对应于在给定水平处通过眼图的水平分层(slice)。然而,所述方法没有试图分析电压噪声。
以其全部内容通过引用并入本文的题为“METHOD OF PRODUCING A
TWO-DIMENSIONAL PROBABILITY DENSITY FUNCTION (PDF) EYE DIAGRAM AND BIT ERROR
RATE EYE ARRAYS”的美国专利No. 7,522,661描述了首先在平坦的(即具有零转换速率(slew rate))并且因此在理论上不受定时抖动影响的波形位置上执行电压分析的方法。然后,在其中在算术上移除噪声影响的高转换速率区域上执行抖动分析。与美国专利No. 7,522,661中描述的附加步骤一起,可以在垂直和水平上确定所有点处眼的统计描述。
采样示波器是众所周知的。当用于测量重复高频电学波形时,这样的设备按照惯例对相继波形的小顺次部分进行采样。因此,该采样技术的累积结果提供了代表主题波形的复合波形读出。在美国专利No. 7,522,661中描述的方法良好地适配于采样示波器的强度,该采样示波器可以被配置成反复采样和存储重复波形中的特定位置而不在波形的其余部分上浪费存储器或其他资源。美国专利No. 7,522,661的方法通过使用每个图案重复的仅两个采样位置来收集信息以将抖动从噪声分离。
相比之下,实时数字化示波器获取和存储足够紧密间隔的样本使得波形的特征可以直接由顺次样本来表示。美国专利No. 7,522,661的方法导致实时示波器上的低效率,因为大多数所获取的样本在没有被使用的情况下被扔掉。这种效率的缺乏在图案长度增加时变得更加明显。为了积累关于如美国专利No. 7,522,661中描述的那样所选择的采样位置的充足统计量,实时示波器必须获取和处理许多实时波形。此外,实时示波器处理关于目标分析点的邻域中的波形的动态特性的有价值的信息,诸如前边缘的斜率,但是美国专利No. 7,522,661的方法未能利用该信息。
本发明的实施例解决现有技术中的这些和其他限制。
发明内容
根据本文所说明的方面,提供了一种用于确定输入信号的抖动和噪声的方法。方法包括通过测试和测量仪器的获取单元获取一个或多个非相关波形记录,从(一个或多个)所获取的波形确定相关波形,将相关波形划分成单位间隔,将至少一个非相关波形划分成单位间隔,针对每一个单位间隔测量相关波形与非相关波形之间的定时位移(t1)以形成表观抖动(apparent-jitter)阵列([t1]),针对每一个单位间隔测量相关波形与非相关波形之间的电压位移(V1)以形成表观噪声(apparent-noise)阵列([V1]),针对每一个单位间隔计算相关波形与非相关波形之间的水平偏移(ts)以形成经补偿的边缘时间阵列([ts]),以及针对每一个单位间隔计算相关波形与非相关波形之间的垂直偏移(Vs)以形成经补偿的振幅电压阵列([Vs])。
根据本文所说明的其他方面,提供了一种测试和测量仪器。该测试和测量仪器包括:被配置成接收一个或多个非相关波形记录的获取装置,和处理装置。该处理装置确定相关波形,将相关波形划分成单位间隔,将至少一个非相关波形划分成单位间隔,针对每一个单位间隔测量相关波形与非相关波形之间的定时位移(t1)以形成表观抖动阵列([t1]),针对每一个单位间隔测量相关波形与非相关波形之间的电压位移(V1)以形成表观噪声阵列([V1]),针对每一个单位间隔计算相关波形与非相关波形之间的水平偏移(ts)以形成经补偿的边缘时间阵列([ts]),以及针对每一个单位间隔计算相关波形与非相关波形之间的垂直偏移(Vs)以形成经补偿的振幅电压阵列([Vs])。
附图说明
图1图示了用于实现用于执行联合抖动和噪声分析的方法的测试和测量仪器的框图。
图2图示了理想化的串行数据波形。
图3图示了具有缺陷的波形并且限定了单位间隔。
图4-6图示了相关波形和非相关波形的叠加单位间隔。
图7和8图示了具有更复杂的图案和缺陷的波形。
具体实施方式
在未必按照比例的附图中,所公开的系统和方法的相同或对应的要素由相同的附图标记来标注。
所公开的技术使用来自处于每一比特的中心的垂直位移和每一边缘上的水平位移的信息来给出与实时示波器的特性良好匹配的非常高的处理效率。也就是说,所公开的技术的方法使用图案中的所有单位间隔并且不仅仅依赖于具有零转换速率的测量位置。
现在参考图1,示出了根据本发明的某个实施例的用于实现执行联合抖动和噪声分析的方法的实时示波器的代表性框图。尽管示出并且在下文中讨论了实时示波器,但是可以使用能够获取时域波形的合适表示的任何类型的测试和测量仪器。
示波器100可以具有耦合到附件接口104的单独的信号信道102,其中的两个在图1中表示。每一个信号信道102可以具有单独的获取单元106,该单独的获取单元106可以包括例如已知的电子电路和/或用于至少从被测设备或信道接收模拟波形输入信号并且将所接收的信号转换成数字化样本的设备。耦合到信号信道102的每一个模拟波形输入信号还可以耦合到触发电路108。获取单元106和触发电路108可以经由系统总线112耦合到可编程处理装置110。系统总线112还可以耦合到存储器装置114,该存储器装置114可以例如采取RAM、ROM和/或高速缓存存储器的形式。RAM存储器可操作成存储易失性数据,诸如由获取单元106生成的模拟波形输入信号的数字化样本。系统总线112还可以耦合到显示电路116以用于控制显示段(未示出)、一个或多个大容量存储单元118(诸如硬盘驱动器、CD ROM驱动器、磁带驱动器、软盘驱动器等,其从适当的大容量存储介质进行读取和/或对适当的大容量存储介质进行写入)、以及前面板控制装置120。应当理解的是,任何数目的信号信道102可以被包括在示波器100中,其中每一个信道具有单独的获取装置106。
可以存储和从存储器装置114(更特别地,例如从ROM)访问用于实现根据所公开的技术的实施例的方法并且用于以其他方式控制示波器100的可执行指令。可替换地,可以存储和从大容量存储单元118的大容量存储介质访问可执行指令,所述大容量存储单元118在一些实施例中可以被包括在存储器装置114内。处理装置110可以被实现为例如一个或多个可编程微处理器,诸如由英特尔公司设计和开发的那些可编程微处理器。处理装置110还可以通过使用多个可编程控制器和/或一个或多个可编程数字信号处理器来实现。在又一实施例中,当使用多个控制器实现处理装置110时,一个控制器可以用于控制模拟波形输入信号的获取和处理而第二个控制器可以控制示波器100的其他操作。示波器100可以通过使用操作系统来控制,操作系统诸如是由微软公司设计和开发的Windows®7,其在一个或多个处理器或控制器110和相关联的存储装置100内被存储和访问。
显示电路116可以包括显示控制器(未示出)以用于从处理装置110接收用于控制显示段的指令并且也可以从数字信号处理器接收数据,数字信号处理器例如是处理装置110的一部分以用于由显示段进行的显示。总线控制器(未示出)也可以被包括在处理装置110内或者单独包括在示波器100内以用于监视接口104和探针122。总线控制器还可以控制探针122与处理装置110之间经由通信总线124的通信。总线124可以包括I2C总线、IEEE 1494总线、USB总线等,其提供双向通信。
电源126可以从处理装置110接收控制信号以用于控制经由电压线128和附件接口104到探针122的电力。
图2描绘了表示交替比特图案‘1 0 1 0 1 0’的理想化串行数据波形200。然而,真实波形不具有带有无限转换速率的边缘,并且很少具有完美的平坦顶部和底部。因此在图3中示出使用用于每一个边缘和平点的简化的分段线性模型的更加实际的波形300。
图3中的区域A示出波形的一个单位间隔(UI)。所公开的技术确定该非相关波形图案的每一个重复中的实际值如何从相关波形偏离,这是波形的确定性分量。相关波形是输入信号中的实际数据图案并且非相关波形是输入信号和示波器100中的水平抖动和垂直噪声。也就是说,非相关波形是实时示波器自然获取的波形。一个或多个非相关波形由示波器100的获取单元106获取。
然后基于由实时示波器通过使用任何已知方法获取的一个或多个非相关波形,经由处理装置110来确定相关波形。这可以例如通过获取多个非相关波形、使用基于图案的触发并且将它们一起取平均来完成。此外,相关波形可以通过使用单个长非相关波形记录来确定,例如通过在各个副本的合适时间对准之后对波形的重复部分的相继副本一起取平均来确定。所获取的非相关波形可以具有重复图案。例如,非相关波形可以包含具有9比特长度的重复图案。相关波形可以针对重复图案被确定,并且然后被端到端重复以创建将与整个非相关波形记录相比较的整个相关波形。
图4示出使用如以上讨论的相同分段线性模型的相关波形400和非相关波形402的一个单位间隔。相关波形400与非相关波形402之间的水平和垂直位移是非相关抖动和噪声的度量。向右的时间位移可以被指定为正时间偏移并且向上电压偏移可以被指定为正电压偏移,尽管可以使用其他惯例,只要它们被一致地应用即可。
在图4中,波形402不经受任何定时抖动,并且向上位移了恒定的电压噪声,其被示为Vs。在实际中,噪声跨UI不是恒定的,但是相对于比特率的足够低的频率的噪声可以被视为以合理近似而恒定。SRv指定标称垂直部分上的波形402的转换速率。SRH指定标称水平部分上的转换速率。
尽管在图4中不存在定时抖动,但是存在表观抖动,因为上升沿与参考电压(Vref)交叉的点已经被改变。表观定时位移可以被看成是-t1。在标称定时点(示为tref,其通常在比特的中心处)处确定表观电压位移。表观电压位移在图4中被示为V1。可以基于图4的观察写出以下等式:
等式(2)中的负号是由于导致表观定时偏移向左的向上电压偏移。
图5示出相关波形500和非相关波形502的单位间隔。在图5中,位移由纯水平偏移ts导致,并且对应等式可以写为如下。
等式(3)中的负号示出右上定时偏移导致向下的表观电压偏移,如果SRH为正的话。
图6示出相关波形600和非相关波形602的单位间隔。在图6中,非相关波形602已经针对该单位间隔既水平又垂直地位移。通过叠加,等式(1)和(3)可以被组合以获得以下等式(5),并且等式(2)和(4)可以被组合以获得以下等式(6)。这在每一个等式中留下两个未知量ts和Vs。
等式(5)和(6)按照真实垂直和水平偏移来表达表观或直接可测量的波形位移。等式(5)和(6)可以被代数操纵以导致以下等式,其允许从所测量的位移计算真实偏移:
等式(7)和(8)可以被应用于波形记录中的每一个单位间隔,使得直接可测量的t1和V1被联合转换成针对该间隔的ts和Vs。对于包括N个单位间隔或比特的波形,这导致两个数字阵列:经补偿的边缘时间阵列ts = [ts1,
ts2, ts3, …tsN]和经补偿的振幅阵列Vs = [Vs1,
Vs2, Vs3, … VsN]。这些阵列可以按各种方式被处理,以便得出关于抖动和电压噪声行为的另外的信息,并且允许形成统计眼图,如以下更详细地讨论的那样。
为了将等式(7)和(8)应用于实际信号而不是针对其发展而假定的分段线性模型,必须针对每一个单位间隔确定参数t1、 V1、SRV和SRH。通过计算t1矢量的两端处的点并且执行减法来确定t1是直接的。所减去的端点可以通过任何公知的插值方法(诸如线性或sin(x)/x),使用来自相关或非相关波形的附近实际波形样本来确定。确定SRV的最简单的方式是定位最紧密地在相关波形与Vref交叉的点之前的相关波形的样本,并且将该样本与随后样本之间的转换速率计算为电压差除以时间差。类似地,可以从tref之前和之后的相关波形的两个样本计算SRH。可以容易地设想到其他转换速率估计手段(例如通过使用多于仅两个最靠近的样本)以提供表示波形的较宽段的SRV和SRH值。
以上等式(1)-(8)对于交替比特图案的小信号分析相当良好地执行。然而,可以修改这些等式以使等式的有用性更加通用。
在许多情况中,如图7中所见,要分析的波形可以承载比交替的1和0更复杂的图案。图7示出九比特图案的一个重复。在图7中,对应于每一个间隔的逻辑值(1或0)在间隔的中心被示出,并且唯一标识图案中的每一个比特的比特数字被示为带下标的‘B’。九比特图案被理解成无限重复,并且图7中的波形表示用于波形的单个重复的相关波形。
相比于图3中所示的波形,可以看到图7中的一些比特(诸如B1)可以通过将线性化的SRV用于电压转变并且将SRH用于比特间隔的中心来以类似的方式被建模。可以针对比特B3、B4、B5、B8和B9确定类似的值。这些比特被称为转变比特。但是对于非转变比特,也就是跟随相同逻辑值的另一比特的那些比特,诸如B2、B6和B7,不存在比特的开端处的垂直转变并且因此没有对应的SRV。
可以针对每一个单位间隔测量从相关波形的电压偏离(V1),但是定时偏离(t1)可以仅在存在边缘时被测量。因此,以上讨论的等式(7)和(8)不能被直接应用于确定经补偿的边缘时间阵列或经补偿的振幅阵列。
为了解决这一点,可以仅针对转变比特使用等式(7)来计算ts。重复图案中的遗失ts值可以使用若干可能插值方法之一来填充。最简单的方法是利用零来填充经补偿的边缘时间阵列中的遗失ts值。另一简单方案是使用线性或样条插值,使用来自实际转变的附近的之前和随后的ts值来填充遗失ts值。然后,等式(8)可以被应用于得到经补偿的电压值Vs的阵列。
存在可能未被图7中所示的利用用于每一个高或低比特的恒定转换速率的简单线性化模型所良好表示的许多串行数据波形。然而,以上公开的方法可以被扩展成允许每个比特多个转换速率,如图8中所示。
图8示出表示逻辑比特序列[1 0]的两个单位间隔。不同于图4,其中每一个比特由单个边缘转换速率和单个水平转换速率来建模,图7中的每一个比特由边缘转换速率加上三个水平转换速率来建模。例如,这可以通过将每一个单位间隔划分成相等宽度的四个区段来完成,其中第一区段在标称边缘时间上居中并且第三区段在tref处居中。对于第一区段,如以上讨论的那样确定参数t1和SRV。对于三个水平区段中的每一个,对应V1和SRH参数可以通过使用最靠近该区段的中心的实际样本来确定,如以上针对最简单的波形模型描述的那样。
从这显而易见的是,以上讨论的方案可以适于图8的更复杂的模型。最直接的方案是推测性地应用等式(7)三次,每一次使用t1和V1的测量值以及平均转换速率SRH1-SRH3中的一个。每一个结果得到的ts值(其可以被称为ts1、ts2和ts3)表示在以下假设之下的真实水平波形位移的估计:真实水平位移导致对应转换速率段(由SRH1、SRH2和SRH3表示)瞬间偏移到实际电压测量点tref。估计ts2典型地是最为可能的,因为tref落在第二水平区段的中心,因此其对应于零抖动。如果估计ts2小于该区段宽度的一半,SRH2为要使用的正确转换速率的假设是有吸引力的。仅在ts1表示的瞬间抖动近似为UI到右侧的1/4(在时间上稍后,或者根据所提出的惯例的正值)时,估计ts1应当是要使用的适合估计,使得转换速率SRH1将落在V1被测量的点处。如果ts1被计算为接近UI的1/4,则该假设变得有吸引力。最后,如果ts3接近UI的-1/4,则ts3为正确的假设是有吸引力的,因为该波形偏移的量将导致SRH3落在电压测量点处。因此每一个假设与其结果得到的抖动估计一致的程度可以被用作选择准则。
导致以上讨论的等式(7)和(8)的发展的基本假设是每一个数据边缘的中间处的时间和电压位移与随后的UI中心处的时间和电压位移是相同的。这对于发生在低频处的定时抖动和电压噪声是合理的假设。当抖动和噪声的频率逼近数据速率的显著百分比时,以1/2的单位间隔分离的两个点之间的相关程度下降。
为了计及这一点,可以在等式(7)和(8)的应用之前进行附加处理。在测量t1和V1之后,可以在它们被用于计算不满足假定的区域中的ts和Vs之前对二者应用低通滤波。回想到如以上讨论的,针对每一个UI计算t1和V1,因此t1和V1中的每一个实际上是值的阵列而不是单个值。例如,如果在波形中存在N个单位间隔,则t1实际上是[t11, t12,
t13, …t1N],并且其可以表示为[t1],以提醒其为在时间上均等间隔的值的阵列。使用数字滤波来对该阵列应用低通滤波是直接的,例如使用卷积或基于FFT的方法。阵列[t1]和[V1]可以均被低通滤波以产生新的阵列[t1LP]和[V1LP]。当应用等式(7)和(8)时,来自新的经滤波的阵列的各个值可以替代来自未经滤波的阵列的对应值。
到目前为止,在更精确地将抖动效果从噪声解耦的目标的情况下,已经直接测量了一个表观抖动阵列[t1]和一个表观噪声阵列[V1],并且已经使用等式(7)和(8)或其变型计算了一个真实抖动阵列[ts]和一个真实噪声阵列[Vs]。
通过使用这些阵列,非相关噪声的二维概率密度函数(PDF)可以被生成并且通过使用以下步骤如以上讨论的美国专利No. 7,522,661中描述的那样被使用:
第一,通过对阵列[ts]执行傅里叶变换来生成定时抖动的频谱。该频谱的幅度是定时抖动的经修改的周期图功率谱。通过标识具有比局部周围频率谱明显更高的幅度的频率分量来将这分离成确定性频率分量和随机频率分量。随机分量被滤出幅度谱以形成非相关确定性抖动的功率谱。
第二,基于在以上的第一步骤中确定的确定性频率,对从[ts]生成的复频谱滤波以移除随机频率分量,并且其余确定性频率分量被逆傅里叶变换以创建非相关确定性抖动的时域记录。非相关确定性抖动的峰到峰值、均方根(rms)值和其他有用值可以直接从该记录确定。
第三,来自步骤二的非相关确定性抖动的时域记录被转换成柱状图的形式,其可以被解释为非相关确定性抖动的概率密度函数(PDF)。
第四,使用电压噪声阵列[Vs]重复步骤一到三以产生非相关确定性噪声的PDF以及峰到峰值和rms值。
第五,通过对阵列[t1]执行傅里叶变换来生成定时抖动的复频谱。通过使用在步骤一中确定的确定性抖动频率,对该频谱滤波以掩蔽那些频率并且仅留下随机定时抖动。该频谱被逆傅里叶变换以提供非相关随机抖动的时间记录。
第六,将来自步骤五的非相关随机抖动的时间记录转换成抖动振幅相对发生频率的柱状图的形式。该柱状图(其可以跨多个单独捕获的波形来积累)在Q-量表(Q-scale)上标绘,并且对Q-量表图线的左侧和右侧的线性渐进拟合被用于估计高斯随机抖动的rms振幅和非高斯随机抖动的双狄拉克振幅。
第七,来自步骤六的高斯随机抖动的rms振幅被用于形成高斯PDF,该高斯PDF可以沿水平轴向左和向右扩展(到高斯尾部中)到比所测量的数据中存在的更低的群体水平。
第八,非高斯随机抖动的双狄拉克振幅被用于形成双狄拉克PDF,该双狄拉克PDF包括每一个都具有可忽略的宽度但是具有1/2的概率密度的通过所计算的振幅值所分离的两个尖峰(spike)。
第九,使用电压噪声阵列[V1]来重复步骤五到八以产生高斯随机电压噪声的估计和非高斯随机电压噪声的双狄拉克振幅以及这些中的每一个的PDF。
第十,将来自步骤三的非相关确定性抖动的PDF与来自步骤七的高斯抖动的PDF和来自步骤八的非高斯随机抖动的PDF进行卷积以产生所有非相关抖动的PDF。
第十一,类似地,将非相关确定性噪声、高斯噪声和非高斯噪声的PDF进行卷积以产生所有非相关噪声的PDF。
第十二,来自步骤十和十一的一维PDF被用于产生非相关抖动和噪声的二维PDF。将该二维PDF用于产生BER眼轮廓(eye contour)是如在美国专利No. 7,522,661中描述的那样。
已经在所公开技术的优选实施例中描述和图示了所公开的技术的原理,应当显而易见的是,所公开的技术可以在布置和细节方面进行修改而不脱离于这样的原理。我们要求保护来自以下权利要求的精神和范围内的所有修改和变型。
Claims (14)
1.一种用于确定输入信号的抖动和噪声的方法,
包括:
通过测试和测量仪器的获取单元获取至少一个非相关波形记录;
基于所述至少一个非相关波形确定相关波形;
将所述相关波形划分成单位间隔;
将所述至少一个非相关波形划分成单位间隔;
针对每一个单位间隔测量所述相关波形与所述非相关波形之间的定时位移(t1)以形成表观抖动阵列([t1]);
针对每一个单位间隔测量所述相关波形与所述非相关波形之间的电压位移(V1)以形成表观噪声阵列([V1]);
针对每一个单位间隔计算所述相关波形与所述非相关波形之间的水平偏移(ts)以形成经补偿的边缘时间阵列([ts]);以及
针对每一个单位间隔计算所述相关波形与所述非相关波形之间的垂直偏移(Vs)以形成经补偿的振幅电压阵列([Vs])。
2.权利要求1的方法,其中使用以下等式来针对每一个单位间隔计算水平偏移和垂直偏移:
以及
,
其中SRV表示非相关波形的垂直部分上的非相关波形的转换速率,并且SRH表示非相关波形的水平位置上的非相关波形的转换速率。
3.权利要求2的方法,其中针对每一个转变比特单位间隔计算水平偏移并且针对每一个非转变比特单位间隔将水平偏移设置成0。
4.权利要求2的方法,其中使用用于ts的等式来针对每一个转变比特单位间隔计算水平偏移并且通过插值使用附近的之前和随后的单位间隔水平偏移来针对每一个非转变比特单位间隔计算水平偏移。
5.权利要求1的方法,还包括在计算水平偏移和垂直偏移之前使用低通滤波器来对定时位移和电压位移进行滤波。
6.权利要求2的方法,其中使用多个转换速率来多次计算用于ts的等式,并且所述方法还包括基于结果得到的抖动估计选择针对每一个单位间隔的多个所计算的ts值中的一个。
7.权利要求1的方法,还包括使用表观抖动阵列、表观噪声阵列、经补偿的边缘时间阵列和经补偿的振幅电压阵列来生成非相关噪声的二维概率密度函数。
8.权利要求7的方法,还包括基于所生成的二维概率密度函数生成比特误码率图。
9.权利要求1的方法,还包括基于表观抖动阵列、表观噪声阵列、经补偿的边缘时间阵列和经补偿的振幅电压阵列生成比特误码率图。
10.权利要求1的方法,其中测试和测量仪器是实时示波器。
11.一种测试和测量仪器,包括:
获取装置,被配置成接收至少一个非相关波形记录;以及
处理装置,用于:
基于所述至少一个非相关波形确定相关波形;
将所述相关波形划分成单位间隔;
将所述非相关波形划分成单位间隔;
针对每一个单位间隔测量所述相关波形与所述非相关波形之间的定时位移(t1)以形成表观抖动阵列([t1]);
针对每一个单位间隔测量所述相关波形与所述非相关波形之间的电压位移(V1)以形成表观噪声阵列([V1]);
针对每一个单位间隔计算所述相关波形与所述非相关波形之间的水平偏移(ts)以形成经补偿的边缘时间阵列([ts]);以及
针对每一个单位间隔计算所述相关波形与所述非相关波形之间的垂直偏移(Vs)以形成经补偿的振幅电压阵列([Vs])。
12.权利要求11的测试和测量仪器,其中处理装置还被配置成使用表观抖动阵列、表观噪声阵列、经补偿的边缘时间阵列和经补偿的振幅电压阵列来生成非相关噪声的二维概率密度函数。
13.权利要求12的测试和测量仪器,其中处理装置还被配置成基于所生成的二维概率密度函数生成比特误码率图。
14.权利要求11的测试和测量仪器,其中处理装置被配置成基于表观抖动阵列、表观噪声阵列、经补偿的边缘时间阵列和经补偿的振幅电压阵列生成比特误码率图。
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