CN105321446A - 显示装置 - Google Patents
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Abstract
一种显示装置包括显示面板,所述显示面板具有数据线、栅极线和多个子像素。多个子像素的每个均通过数据线和栅极线限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路。多个数字集成电路(DIC),其中多个DIC的每个内设置数字模拟转换器(DAC)。多个DIC的每个内设置模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的ADC包括多个感应通道。所述显示装置包括像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的特性;以及ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的所述ADC的特性。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求2014年7月3日提交的韩国专利申请10-2014-0082927的优先权,在此援引其全文内容作为参考。
技术领域
本发明涉及一种显示装置。
背景技术
随着信息社会的发展,对于用以显示图像的各类显示装置的需求也在不断增加。目前使用的各类显示装置诸如:液晶显示装置(LCD)、等离子显示面板(PDP)以及有机发光二极管(OLED)显示装置。
这些显示装置包括显示面板,显示面板上具有彼此交叉的数据线和栅极线,以及限定在数据线和栅极线交叉点处的子像素。显示装置还包括向数据线提供数据信号的数据驱动器,以及向栅极线提供栅极信号的栅极驱动器。
在显示面板所限定的每个子像素中设置了晶体管。每个子像素内的晶体管特性可以按照运行时间变化或者可以与其它子像素内的晶体管特性不同。此外,当显示装置为OLED显示装置时,子像素中的OLED可能以不同的速率劣化。这一现象可能导致子像素中的亮度不均匀进而降低图像质量。
因此,为了解决子像素中的亮度不均匀问题,目前已经提出了一种用于补偿电路内器件(例如晶体管或OLED)特性变化或差异的像素补偿技术。
该像素补偿技术是这样一种技术,其意在通过感应子像素内的电路特定节点并基于感应结果改变提供给每个子像素的数据,而防止或减少子像素间亮度方面不均匀的发生率。
然而,尽管提供了该像素补偿功能,但是仍然存在每个子像素的亮度并未得到补偿或者子像素间亮度等级的差异并未得到补偿的现象。
发明内容
本发明的各个方面意在克服的问题为,尽管提供了像素补偿功能,但是每个子像素的亮度并未得到补偿或者子像素间亮度等级的差异并未得到补偿。
按照如上所述的本发明,可以克服的问题为,尽管提供了像素补偿功能,但是每个子像素的亮度并未得到补偿或者子像素间亮度等级的差异并未得到补偿。
此外,按照本发明,虽然每个子像素内感应节点处的感应结果并不准确,但是对感应结果进行补偿,从而使得利用该感应结果的像素补偿准确。因此这能够防止或减少亮度不均匀,从而改善显示装置的图像质量。
而且,按照本发明,提供一种能够补偿ADC特性变化的ADC补偿技术。当相应感应单元的ADC特性已经发生变化时,像素补偿使用ADC感应结果。
此外,按照本发明,当ADC特性已经发生变化时,ADC补偿功能按照数据驱动器集成电路(DIC)而高效地补偿ADC特性的变化。
而且,按照本发明,当ADC特性已经发生变化时,ADC补偿功能按照感应通道而准确地补偿ADC特性的变化。
一方面,一种显示装置包括:显示面板,所述显示面板具有数据线、栅极线和多个子像素,其中多个子像素的每个均通过数据线和栅极线而限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路;多个数字集成电路(DIC);置于多个DIC的每个内的数字模拟转换器(DAC);置于多个DIC的每个内的模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的所述ADC包括多个感应通道;存储器,所述存储器具有查找表(LUT);时序控制器,其中所述时序控制器按照LUT改变提供给子像素的数据;像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的晶体管的特性;以及ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的ADC的特性。
另一方面,一种驱动显示装置的方法,所述显示装置具有显示面板,所述显示面板具有数据线、栅极线和多个子像素,其中多个子像素的每个均通过数据线和栅极线而限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路;多个数字集成电路(DIC);置于多个DIC的每个内的数字模拟转换器(DAC);置于多个DIC的每个内的模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的所述ADC包括多个感应通道;存储器,所述存储器具有查找表(LUT);时序控制器,其中所述时序控制器按照LUT改变提供给子像素的数据;像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的晶体管的特性;以及ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的ADC的特性,所述方法包括:按照多个感应通道的每个而更新LUT以包括ADC特性信息,其中所述ADC特性信息包括偏移和增益;更新所述LUT以包括参考数据均值(ReferenceDataAverage),其中通过按照多个感应通道的每个感应ADC参考数据以及平均所感应到的ADC参考数据来计算所述参考数据均值;实时补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的迁移率;补偿多个DIC的每个内所设置的每个ADC的特性;补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
另一方面,一种驱动显示装置的方法,所述显示装置具有显示面板,所述显示面板具有数据线、栅极线和多个子像素,其中多个子像素的每个均通过数据线和栅极线而限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路;多个数字集成电路(DIC);置于多个DIC的每个内的数字模拟转换器(DAC);置于多个DIC的每个内的模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的所述ADC包括多个感应通道;存储器,所述存储器具有查找表(LUT);时序控制器,其中所述时序控制器按照LUT改变提供给子像素的数据;像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的特性;以及ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的ADC的特性,所述方法包括:感应多个DIC的每个内所设置的每个ADC的多个感应通道中的每个感应通道的ADC参考数据;实时补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的迁移率;补偿多个DIC的每个内所设置的每个ADC感应通道的特性;补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
可以理解的是,本发明实施例的前述一般性描述以及后续详细性说明均是典型性的和解释性的,并旨在提供所要求保护的本发明进一步解释。
附图说明
结合附图,将从如下详细描述中更为清晰地理解本发明的上述以及其它目的、特征和优点,其中:
图1是按照本发明典型实施例的显示装置系统结构的示意图;
图2是按照本发明典型实施例的显示装置中数据驱动器的DIC中的一个的示意图;
图3和图4是按照典型实施例的显示装置中像素补偿的概念性示意图;
图5是按照典型实施例的显示装置中ADC感应和转换功能的概念性示意图;
图6是按照典型实施例的显示装置100中ADC的输入电压范围和输出数据范围的示意图;
图7是按照典型实施例的显示装置100中ADC的输入-输出关系和特性信息的图表;
图8是按照典型实施例的显示装置中包括3个DIC的数据驱动器的示意图;
图9是按照典型实施例的显示装置中ADC特性变化的示意图;
图10是按照典型实施例的用于补偿显示装置中ADC特性变化的结构的示意图;
图11是按照典型实施例的显示装置中应用了ADC补偿的像素补偿的概念示意图;
图12A和12B是按照典型实施例的显示装置中的两种ADC补偿方法的示意图;
图13是按照典型实施例的显示装置中使用第一ADC补偿方法的若干感应和补偿步骤的流程图;
图14、图15A和15B是按照典型实施例的显示装置中的第一ADC补偿方法的示意图;
图16和17图示了按照典型实施例的显示装置中第一ADC方法的特征;
图18是按照典型实施例的显示装置中使用第二ADC补偿方法的若干感应和补偿步骤的流程图;
图19和20是按照典型实施例的显示装置中实时执行ADC补偿和像素补偿的时间段的时序图;
图21A和21B是按照典型实施例的显示装置中执行的第二ADC补偿方法的示意图;
图22图示了按照典型实施例的显示装置中第二ADC补偿方法的特征;
图23A到23C图示了按照典型实施例的显示装置中考虑子像素颜色的ADC补偿感应和像素补偿感应的顺序;以及.
图24是当按照典型实施例的显示装置为OLED显示装置时的子像素结构、ADC以及感应线的示意图。
具体实施方式
现在将详细参考本发明,在附图中示出本发明实施例。在全部文献中,对附图使用参考标记,其中在所有不同附图中可以使用相同的参考数字或标记以指示相同或类似的部件。在本发明如下描述中,在本发明的主要内容可能会被混淆的情况下,将省略对并入本文的已知功能和部件的详细描述。
还应当理解的是,尽管本文中可以使用术语诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(a)”和“(b)”描述各种元件,但是这些术语仅仅用于元件之间的彼此区分。这些术语并不限制这些元件之间的实质、次序、顺序或者序号。还应当理解的是,当提及一元件“连接”或“耦接”另一元件时,并不仅是其“直接连接”或“耦接”另一元件,还可以是通过“中间”元件而“间接连接或耦接”到其它元件。同样情况下,可以理解,当提及一元件形成在另一元件“之上”或“之下”时,并不仅是其直接形成在另一元件之上或之下,而是还可以通过中间元件而间接形成在另一元件之上或之下。
图1是按照本发明典型实施例的显示装置系统结构的示意图。
参考图1,按照典型实施例的显示装置100包括显示面板110、数据驱动器120、栅极驱动器130以及时序控制器140。
在显示面板110上形成数据线DL1,DL2,…和DLm以及栅极线GL1,GL2,…和GLn,在数据线DL1,DL2,…和DLm和栅极线GL1,GL2,…和GLn的交叉点上形成子像素(SP)。
数据驱动器120提供数据电压给数据线。
数据驱动器120包括两个或多个数字驱动器集成电路(DIC)(200,参见图2)。
栅极驱动器130顺序地提供扫描信号给栅极线。
时序控制器140控制数据驱动器120和栅极驱动器130。
此外,显示面板100上所形成的每个子像素都具有包括至少一个晶体管的电路。
除至少一个晶体管之外,每个子像素内的电路还可进一步包括其它器件,诸如至少一个电容以及至少一个有机发光二极管(OLED),这取决于电路设计或者显示装置的类型。
按照典型实施例的显示装置100可以提供“像素补偿功能”,用以补偿子像素间的亮度差异,所述亮度差异是由于子像素内晶体管间的特性(例如,阈值电压或迁移率)变化或差异而引起的。
此外,当即便提供像素补偿功能后像素补偿的感应结果仍不准确时,按照典型实施例的显示装置100还提供“感应单元补偿功能”,用于补偿感应结果以实现准确的像素补偿。
下文中,首先描述像素补偿功能,随后将参考附图详细描述感应单元补偿功能的必要性以及其操作。
首先,将描述像素补偿功能。
按照典型实施例的显示装置100需要一种用于感应子像素内电路的晶体管特性的结构,以提供像素补偿功能。
据此,显示面板110可以具有与子像素内电路相连接的“感应线(SL)”。单个感应线可被提供给一行或多行子像素。
感应线可以与数据线平行设置。
此外,单个感应线可以提供给一个子像素行或两个或多个子像素行。
例如,当应用其中单个感应线被提供给两个或多个子像素行的共享式结构时,所述单个感应线可以被提供给三个子像素行(红子像素行、绿子像素行以及蓝子像素行)。
当单个像素由三个子像素(红子像素(R)、绿子像素(G)以及蓝子像素(B))组成时,可以视作对每一像素行提供一条感应线。
在另一实例中,可以为4个子像素行(红子像素行、白子像素行、绿子像素行以及蓝子像素行)提供单个感应线。即,当单个像素由4个子像素(红子像素行(R)、白子像素行(W)、绿子像素行(G)以及蓝子像素行(B))组成时,可以视作对每一像素行提供一条感应线。
此外,按照典型实施例的显示装置100除“感应线”之外还能包括“感应单元”和“像素补偿单元”以提供像素补偿功能。感应单元将通过感应线SL测量所得的感应电压Vsen转换为数字感应电压Dsen。基于感应单元所感应和输出的感应数据,像素补偿单元转换将要提供给子像素的数据以用于像素补偿。
下文中,上述感应单元也被称为模拟数字转换器,或者简称为“ADC”。
虽然可以将ADC设置在显示装置100内的任意位置处,但是在说明书以及附图中,通过举例的方式,将ADC分别描述和图示为设置在数据驱动器集成电路(DIC)内。
此外,虽然可以将上述像素补偿单元设置在显示装置100内的任意位置处,但是在说明书以及附图中,通过举例的方式,将像素补偿单元描述和图示为设置在时序控制器140内。
图2是按照本发明典型实施例的显示装置100中数据驱动器120的DIC200中的一个的示意图。
参照图2,每个DIC200均包括将数据电压Vdata提供给多个子像素的驱动部和用于DIC200所控制的多个子像素的感应部。
参照图2,所述驱动部包括数字模拟转换器(下文中称为“DAC”)210,其将时序控制器140输入的数据转换为模拟数据Vdata。
参照图2,所述感应部可包括ADC220。ADC220通过二条或多条感应线,感应其所控制的多个子像素内的电路感应节点处的电压Vsen,将所感应的电压Vsen转换为数字感应数据Dsen,并随后输出数字感应数据Dsen。这里,感应线在概念上可等同于感应通道。
如图2所示,一个DIC200包括一个ADC220。因此,当显示装置100具有二个或多个DIC200时,显示装置100也具有二个或多个ADC220。
一个DIC200的一个ADC220连接到两条或多条感应线SL,并且通过感应线感应电压Vsen。
这里,一条感应线SL将ADC220连接到一个或多个子像素。特别地,连接到一个ADC220的两条或多条感应线中的每条感应线可以是感应一个子像素内的电路感应节点的电压的线;或者是同时或顺序地感应共享结构下两个或多个子像素内的电路感应节点的电压的线。
一个DIC200的ADC220输出由感应电压Vsen转换得到的数字感应数据Dsen,所述感应电压Vsen通过与两条或多条感应线相对应的感应通道测量而得。
图3是按照典型实施例的显示装置100中像素补偿的概念性示意图。
参照图3,DIC200内的所述ADC220通过与子像素SP内电路相连接的感应线SL,感应子像素SP内电路上感应节点(例如,晶体管的源极或漏极节点)处的电压Vsen,将所感应的电压转换为数字感应数据,并且随后输出所述数字感应数据。
时序控制器140利用感应数据Dsen把将要施加给子像素SP的数据Data转换为经变化的数据Data’,并且随后输出经变化的数据Data’,从而补偿子像素SP内晶体管TR的特性(例如,阈值电压Vth或迁移率μ)。
因此,DIC200内的DAC210将经变化的数据Data’转换为数据电压Vdata’,并随后输出数据电压Vdata’。
据此,通过数据线DL将数据电压Vdata’(通过该数据电压Vdata’能够补偿晶体管TR的特性)提供给子像素SP,因此能够防止或减少子像素SP的亮度不均匀性。
将参照图4和图5,对参照图3已简要描述的像素补偿作更详细描述。
图4是按照典型实施例的显示装置100中像素补偿的示意图,图5是按照典型实施例的显示装置100中ADC220感应和转换功能的概念性示意图。
如图4所示,一个ADC220具有三个感应通道CH1、CH2和CH3。
三个感应通道CH1、CH2和CH3以一一对应的方式分别连接到三条感应线SL1、SL2和SL3。
三个感应通道CH1、CH2和CH3的每个均连接到4个子像素SP。
特别的,感应通道CH1和对应的感应线SL1连接到子像素SP1、SP2、SP3和SP4,并由子像素SP1、SP2、SP3和SP4共享。感应通道CH2和对应的感应线SL2连接到子像素SP5、SP6、SP7和SP8,并由子像素SP5、SP6、SP7和SP8共享。感应通道CH3和对应的感应线SL3连接到子像素SP9、SP10、SP11和SP12,并由子像素SP9、SP10、SP11和SP12共享。
四个子像素SP组成单个像素P。
在一实例中,四个子像素SP可以包括红子像素(R)、白子像素(W)、绿子像素(G)以及蓝子像素(B)。例如,子像素SP1、SP5和SP9可以为红子像素(R);子像素SP2、SP6和SP10可以为白子像素(W);子像素SP3、SP7和SP11可以为绿子像素(G);子像素SP4、SP8和SP12可以为蓝子像素(B)。
参照图4,ADC220可以在一时间点通过三条感应线SL1、SL2和SL3,感应每个子像素SP内感应节点处的电压Vsen。
例如,在第一时间点,ADC220可以通过感应线SL1,感应与感应线SL1相连接的四个子像素SP1、SP2、SP3和SP4当中的一个子像素,例如子像素SP1内电路中的感应节点处的电压Vsen1。
此外,ADC220可以通过感应线SL2,感应与感应线SL2相连接的四个子像素SP5、SP6、SP7和SP8当中的一个子像素,例如子像素SP5内电路中的感应节点处的电压Vsen2。
而且,ADC220可以通过感应线SL3,感应与感应线SL3相连接的四个子像素SP9、SP10、SP11和SP12当中的一个子像素,例如子像素SP9内电路中的感应节点处的电压Vsen3。
在第一时间点后的第二时间点,ADC220可以通过感应线SL1,感应与感应线SL1相连接的四个子像素SP1、SP2、SP3和SP4当中的另一子像素,例如子像素SP2内电路中的感应节点处的电压Vsen1。
此外,ADC220可以通过感应线SL2,感应与感应线SL2相连接的四个子像素SP5、SP6、SP7和SP8当中的另一子像素,例如子像素SP6内电路中的感应节点处的电压Vsen2。
而且,ADC220可以通过感应线SL3,感应与感应线SL3相连接的四个子像素SP9、SP10、SP11和SP12当中的另一子像素,例如子像素SP10内电路中的感应节点处的电压Vsen3。
换句话说,在第一时间点,ADC220可以通过感应线SL1、SL2和SL3,同时感应对应于红色子像素(R)的子像素SP1、SP5和SP9的电路内的感应节点处的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3。
在第二时间点,ADC220可以通过感应线SL1、SL2和SL3,同时感应对应于白色子像素(W)的子像素SP2、SP6和SP10的电路内的感应节点处的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3。
此外,在第三时间点,ADC220可以通过感应线SL1、SL2和SL3,同时感应对应于绿色子像素(G)的子像素SP3、SP7和SP11的电路内的感应节点处的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3。
而且,在第四时间点,ADC220可以通过感应线SL1、SL2和SL3,同时感应对应于蓝色子像素(B)的子像素SP4、SP8和SP12的电路内的感应节点处的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3。
参照图4和图5,锁存器L1、L2和L3分别连接三条感应线SL1、SL2和SL3。对应子像素内感应节点处所感应的电压Vsen存储在锁存器L1、L2和L3中。
特别的,将从与感应线SL1相连接的四个子像素SP1、SP2、SP3和SP4当中被感应的子像素内的感应节点处所感应到的电压Vsen1,存储在与感应线SL1相连接的锁存器L1中。将从与感应线SL2相连接的四个子像素SP5、SP6、SP7和SP8当中被感应的子像素内的感应节点处所感应到的感应电压Vsen2,存储在与感应线SL2相连接的锁存器L2中。将从与感应线SL3相连接的四个子像素SP9、SP10、SP11和SP12当中被感应的子像素内的感应节点处所感应到的电压Vsen3,存储在与感应线SL3相连接的锁存器L3中。
如图4所示,上述每个锁存器L1、L2和L3均可采用电容实现。
参照图4和图5,通过读取存储在三个锁存器L1、L2和L3中的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3,ADC220可以同时通过三个感应通道CH1、CH2和CH3测量感应电压Vsen1、Vsen2和Vsen3。
参照图4和图5,ADC220把通过感应通道CH1、CH2和CH3所感应到的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3转换为数字感应电压,输出经转换的感应数据Dsen1、Dsen2和Dsen3,并随后将数据Dsen1、Dsen2和Dsen3存储在存储器400中。
参照图4,时序控制器140通过读取已经由ADC220感应并且存储在存储器400中的感应数据Dsen1、Dsen2和Dsen3的全部部分,而把将要提供给子像素的数据Data改变为数据Data’,并随后将改变的数据Data’输出到DIC200。
随后,DIC200接收改变的数据Data’,将所述改变的数据Data’转换为模拟数据电压Vdata’,随后通过输出缓存器(未示出)将模拟数据电压Vdata’提供给对应子像素。
图6是按照典型实施例的显示装置100中ADC220的输入电压Vsen范围和输出数据范围的示意图。
参照图6,例如,ADC220的输入电压范围可为0到3V,相对应于10位(bits)的ADC220的输出数据范围可为0到1023。
即,ADC220将0到3V输入电压范围内的电压Vsen转换为能以10位形式表示的0到1023输出数据范围内的数字数据Dsen。
如图7所示,可以采用图表形式(X轴:输入电压;Y轴:输出电压)表示ADC220的输入-输出关系。
图7是按照典型实施例的显示装置100中ADC220的输入-输出关系和特性信息的图表。
参照图7,ADC220的输入-输出关系可以理想地沿着直线700而限定,所述直线700连接在点(0,0)和点(3,1023)之间,其中在点(0,0)处输入电压为0V且输出数据为0,而在点(3,1023)处输入电压为3V且输出数据为1023。
该理想ADC220可以具有理想的线性ADC特性,其中与斜率相对应的增益是k(=1023/3V)并且与X轴截距对应的偏移是0。
此外,虽然ADC220具有线性ADC特性,但是ADC220的线性ADC特性可以不同于直线700的理想线性特性。实践中,可以通过与斜率相对应的增益大于k的直线710来表示ADC220的线性ADC特性。
实践中,可以通过与斜率相对应的增益小于k的直线来表示ADC220的线性ADC特性。
此外,实践中,替代具有理想线性特性的直线700,ADC220所具有的线性ADC特性可以通过与X轴截距相对应的偏移大于0的直线720表示。
实践中,可以通过与X轴截距相对应的偏移小于0的直线(未示出)来表示ADC220的线性ADC特性。
实践中,ADC220可以具有由图7所示曲线730所表示的非线性ADC特性,而不是具有对应于上述直线700、710和720所限定的输入-输出关系的趋势的线性ADC特性。
如上所述,关于ADC220的ADC特性,增益不同于理想增益(=k)、偏移不同于理想偏移(=0)、或者线为非线性的现象,都属于无任何外部因素情况下发生的实际现象或者由外部因素所引起的现象。
ADC220的ADC特性可以由于外部因素而改变,例如,ADC220或DIC200或包括ADC220的显示装置100长时间运行,ADC220或DIC200或包括ADC220的显示装置100的温度上升,或者ADC220或DIC200或包括ADC220的显示装置100经受高压。
如上所述,当ADC220的ADC特性存在变化时,每个ADC220的ADC特性可以按照感应通道而不同,或者ADC220的ADC特性可以区别于其它ADC220的ADC特性。
即,ADC特性的变化可以包括:ADC220之间的特性差异或者每个ADC220的感应通道之间的特性差异中的至少一个。
将参照图8和图9再次描述ADC特性的变化。
图8是按照典型实施例的显示装置中包括三个DIC200a、200b和200c的数据驱动器120的示意图。图9是按照典型实施例的显示装置中ADC特性变化的示意图。
为了研究ADC特性的变化,如图8所示,将通过举例的方式,描述包括三个DIC200a、200b和200c的数据驱动器120。
三个DIC200a、200b和200c的每个均包括一个ADC220(ADCa、ADCb、ADCc)。特别地,第一DIC200a(DICa)包括ADC220a(ADCa),第二DIC200b(DICb)包括ADC220b(ADCb),第三DIC200c(DICc)包括ADC220c(ADCc)
参照图8,在一实例中,ADC220a(ADCa)具有对应三条感应线的三个感应通道CH1、CH2和CH3,ADC220b(ADCb)具有对应三条感应线的三个感应通道CH4、CH5和CH6,ADC220c(ADCc)具有对应三条感应线的三个感应通道CH7、CH8和CH9。
参照图9,将相同的电压V1输入到ADC220a(ADCa)的三个感应通道CH1、CH2和CH3中,并且响应所述相同电压V1,从三个感应通道CH1、CH2和CH3中提取输出数据Dsen。
同样地,将相同的电压V1输入到三个感应通道CH4、CH5和CH6中,并且响应所述相同电压V1,从三个感应通道CH4、CH5和CH6中提取输出数据Dsen。
同样地,将相同的电压V1输入到三个感应通道CH7、CH8和CH9,并且响应所述相同电压V1,从三个感应通道CH7、CH8和CH9中提取输出数据Dsen。
如图9所示,当如上所述地从九个感应通道CH1到CH9中提取出输出数据数据Dsen时,显然地,来自九个感应通道CH1到CH9的输出数据Dsen彼此不同。
换句话说,每个ADC220的感应通道输出不同数据,多个ADC220也输出不同数据。
图9中,当输入电压为V1时,具有输出数据D1的直线表示具有理想线性ADC特性的输出数据。
如上所述,当由于任意原因而存在ADC特性改变时,出现为了像素补偿而感应的电压Vsen无法转换为正确感应数据Dsen的问题。因此,无法准确地执行像素补偿,因此无法克服子像素间的亮度不均匀。
因此,本实施例提供一种ADC特性变化的补偿功能(下文中称作“ADC补偿功能”),通过该功能,无论ADC特性如何变化,都可以获取正确感应数据。
下面将对无论ADC特性如何变化,都可获取正确感应数据的ADC补偿功能进行详细描述。
图10是按照典型实施例的用于补偿显示装置100中ADC特性变化的结构的示意图,图11是按照典型实施例的显示装置100中应用了ADC补偿的像素补偿的概念示意图。
参照图10,按照典型实施例的显示装置100包括ADC补偿电路1000和像素补偿电路1010。ADC补偿电路1000和像素补偿电路1010可以为时序控制器140的部件。
参照图10,当ADC特性存在变化时,ADC补偿电路1000通过更新查找表(LUT)1020执行ADC补偿,所述查找表LUT包括按照感应通道的ADC特性信息,使得ADC特性的变化得到补偿,所述ADC特性的变化包括ADC220之间的特性差异以及每个ADC220内感应通道之间的特性差异中的至少一个。
参照图10和图11,按照ADC补偿电路1000所更新的查找表1020,基于感应数据Dsen的经变化感应数据Dsen’,时序控制器140的像素补偿电路1010执行像素补偿,从而补偿每个子像素内的晶体管特性(例如,阈值电压Vth或迁移率μ)。
据此,时序控制器140基于按照ADC补偿电路1000所更新的查找表1020的经变化感应数据Dsen’,把将要提供给子像素SP的数据Data变化为Data’,并输出经变化的数据Data’。
随后,DIC200内的DAC210将经变化的数据Data’转换为数据电压Vdata’,并随后输出数据电压Vdata’。
将经转换的数据电压Vdata’提供给对应子像素SP。
参照图10和图11,即使由于ADC特性变化导致ADC220所输出的感应数据Dsen不准确,但是对感应数据Dsen进行补偿,并且使用已补偿过的经变化感应数据Dsen’来进行像素补偿。因此可以消除由于ADC特性变化所引起的感应数据和像素补偿不准确。
如下将更详细地描述上述ADC补偿电路1000。
如果两个或多个ADC220所获取的感应数据Dsen与预先存储在存储器中的参考数据不同,那么上述ADC补偿电路1000感应到ADC特性的变化(ADC特性信息的变化)。该情况下,ADC补偿电路1000通过进一步考虑从传感器(未示出)接收的温度变化信息和压力变化信息中的至少一项,能够增强所感应的ADC特性变化的准确度。
在感应到ADC特性变化之后,通过从查找表1020内所包含的按照感应通道的ADC特性信息(例如,偏移或增益)中改变至少一部分信息(例如,偏移),ADC补偿电路1000可以执行ADC补偿以更新查找表1020,从而补偿ADC特性的变化。
可以响应显示装置100关机的指示信号而执行该ADC补偿,或者可以在显示装置100开机时实时执行该ADC补偿。
本文中,“ADC补偿”被称为通过数据驱动器IC感应(下文称作“RTDS”)而实时执行的补偿,或者简称为“RTDS”。
替代地,可以实时执行像素补偿以补偿子像素内的晶体管迁移率μ。
本文中,当显示装置100开机时试图实时补偿迁移率的像素补偿被称作实时补偿(下文称为“RT补偿”)。此外,“RT补偿”感应称为“RT感应”。
对于上述RT补偿,时序控制器140可以控制像素补偿(RT补偿)以在垂直同步信号Vsync的空白期间补偿每个子像素的晶体管的迁移率。
此外,时序控制器140可以响应显示装置100关机的指示信号而控制ADC补偿(即,RTDS),之后控制像素补偿以补偿每个像素内晶体管的阈值电压。
响应显示装置100关机的指示信号而补偿每个子像素内晶体管阈值电压的像素补偿,称为“关机实时感应”(下文称作“OFFRS”)。
尽管可以如上所述的响应显示装置100关机的指示信号而执行ADC补偿(即,RTDS),但是也可以在显示装置100开机时执行ADC补偿。
这样,在显示装置100开机时实时执行ADC补偿的情况下,需要控制对应于显示装置100开机时实时执行的像素补偿的RT补偿的时序、和对应于ADC补偿的RTDS的时序。
因此,时序控制器140可以控制时序,使得可以在显示装置100关机的指示信号产生之前,即显示装置100处于开启状态时,执行像素补偿(RT补偿)和ADC补偿(RTDS)。
例如,时序控制器140在显示装置100关机的指示信号产生前的一帧内的垂直同步信号Vsync的若干空白期间中的至少一空白期间内控制将要执行的ADC补偿,而在剩余的空白期间内控制将要执行的像素补偿。
如此,当已在显示装置100处于开机状态下实时执行ADC补偿(RTDS)时,时序控制器140可以控制将要执行的像素补偿,使得在关机信号产生时补偿每个子像素内的晶体管阈值电压(OFFRS)而不执行ADC补偿(即,RTDS)。
此外,上述查找表1020可以包括两个或多个ADC220中的每个的按照感应通道的偏移和增益,所述偏移和增益包含在限定输入-输出关系的ADC特性信息中。
当ADC补偿电路1000更新查找表1020时,可以改变ADC特性信息中的偏移和增益的至少一项(例如,偏移)。
阈值电压感应期间ADC220处所感应的电压Vsen要高于迁移率感应期间ADC220处所感应的电压Vsen。阈值电压感应期间ADC220的输入电压Vsen要高于迁移率感应期间ADC220的输入电压Vsen。因此,涉及阈值电压感应的查找表1020必然与涉及迁移率感应的查找表1020不同。
据此,存储在存储器400中的查找表1020可以包括用于阈值电压感应模式的第一查找表和用于迁移率感应模式的第二查找表,第二查找表不同于第一查找表。
如上所述,ADC特性的变化可以是ADC220间的特性变化,或者是每个ADC220内感应通道间的特性变化。
本文中,公开了两种补偿方法作为ADC方法,通过这些方法补偿ADC特性的变化。一种方法按照DIC补偿ADC特性变化(下文称作“特定DICADC补偿”或“第一ADC补偿”)。另一种方法按照感应通道补偿ADC特性变化(下文称作“特定CH补偿”或“第二补偿”)。
如下将参照图12到图23详细描述两种ADC方法。
图12A和12B是按照典型实施例的显示装置100中的两种ADC补偿方法的示意图。
图12A概念性地示出了按照DIC200对ADC特性变化补偿的第一ADC补偿。
参照图12A,即便按照一个DIC的感应通道的感应数据彼此不同,但仍然基于通过对按照感应通道的感应数据求平均值而获得的一个平均感应数据Dsen_avg和预设参考数据Dref之间的差值△,对一个DIC200内的所有感应通道以相同的补偿量来改变感应数据Dsen。
参照图12A,将对第一数据DIC200a(DICa)中,即ADC220a(ADCa)中的ADC补偿进行描述。在作为第一DIC200a(DICa)部件的ADC220a(ADCa)中,当将相同电压输入到三个感应通道CH1、CH2和CH3时,ADC220a(ADCa)输出三组不同的感应数据Dch1、Dch2和Dch3,并将三组不同的感应数据Dch1、Dch2和Dch3存储在存储器400内。
ADC补偿电路1000通过对三组不同的感应数据Dch1、Dch2和Dch3求平均值而获取平均感应数据Dsen_avg_a,并且计算平均感应数据Dsen_avg_a和预先存储在存储器400中的参考数据Dref之间的差值。
通过对查找表1020内所存储的ADC220a(ADCa)三个感应通道CH1、CH2和CH3的每个的ADC特性信息增加或减去相同的补偿量△a,所述ADC补偿电路1000更新查找表1020。
可以发现,即使三组感应数据Dch1、Dch2和Dch3彼此不同,但是仍然采用相同的补偿量△a对ADC220a(ADCa)的三个感应通道CH1、CH2和CH3的三组感应数据Dch1、Dch2和Dch3进行补偿。这无法反映出感应通道之间的特性差异,这是有问题的。将参考图16和图17详细描述该问题。
参照图12A,与作为第一DIC200a(DICa)部件的ADC220a(ADCa)中的ADC补偿一样,在作为第二DIC200b(DICb)部件的ADC220b(ADCb)中,即使三组感应数据Dch4、Dch5和Dch6彼此不同,但是仍然采用相同的补偿量△a对ADC220b(ADCb)的三个感应通道CH4、CH5和CH6的三组感应数据Dch4、Dch5和Dch6进行补偿。
此外,在作为第三DIC200c(DICc)部件的ADC220c(ADCc)中,即使三组感应数据Dch7、Dch8和Dch9彼此不同,但是仍然采用相同的补偿量△a对三个感应通道CH7、CH8和CH9的三组感应数据Dch7、Dch8和Dch9进行补偿。
在图12A中,假设所有感应通道CH1到CH9的所有参考数据Dref均相同。
如上所述,第一ADC补偿方法的缺点在于无法反映感应通道之间的特性差异。将参考图16和图17详细描述该缺点。
不考虑该缺点,第一ADC补偿方法的优点在于:由于对每个DIC而言仅需存储一部分参考数据因而减少了数据量,并且由于按照DIC来执行查找表更新所用的数据比较因而减少了计算量。即,第一ADC补偿方法导致了高效的ADC补偿。
参照图12B,下面将描述与第一ADC补偿方法不同的按照感应通道而执行ADC补偿的第二ADC补偿方法。
参照图12B,第二ADC补偿方法基于感应通道的感应数据Dsen和预设参考数据Dref之间的差值而确定每个感应通道的补偿量,从而分别改变感应数据Dsen,而不是按照感应通道对感应数据取平均值。
参照图12B,将对第一DIC200a(DICa)中,即ADC220a(ADCa)中的ADC补偿进行描述。作为第一DIC200a(DICa)部件的ADC220a(ADCa)接收用于三个感应通道CH1、CH2和CH3的相同电压时,输出三组不同的感应数据Dch1、Dch2和Dch3,并将三组不同的感应数据Dch1、Dch2和Dch3存储在存储器400内。
ADC补偿电路1000计算三组不同的感应数据Dch1、Dch2和Dch3与预先存储在存储器400中的参考数据Dref之间的差值△ch1,△ch2和△ch3。
通过对查找表1020内所存储的ADC220a(ADCa)的三个感应通道CH1、CH2和CH3的ADC特性信息(例如偏移)增加或减去相应补偿量△ch1,△ch2和△ch3,所述ADC补偿电路1000更新查找表1020。
应当意识到,通过各自的补偿量△ch1,△ch2和△ch3对三个感应通道CH1、CH2和CH3的三组感应数据Dch1、Dch2和Dch3进行补偿。
据此,不同于第一ADC补偿方法,第二ADC补偿方法通过反映感应通道之间的特性差异,能更为准确地补偿感应数据,从而更为精确地执行像素补偿。
将参照图13到17,对第一补偿方法和使用第一ADC补偿方法的显示装置100的若干感应步骤进行详细描述,随后将参照图18到23对第二ADC补偿方法和使用第二ADC补偿方法的显示装置100的若干感应步骤进行详细描述。
图13是按照典型实施例的显示装置100中使用第一ADC补偿方法的若干感应和补偿步骤的流程图,图14是按照典型实施例的显示装置100包括20个DIC200时的第一ADC补偿方法的示意图,图15A和15B是按照典型实施例的显示装置100中的第一ADC补偿方法的示意图。
参照图13,在显示装置100出厂前的制造过程期间,使用计算机等感应ADC220,并且产生用于ADC特性变化(差异)补偿的查找表1020(S1310)。该步骤称为“ADC变化补偿(AVC)”。
所产生的查找表1020包括使用源表(sourcemeter)在阈值电压感应的电压范围内所生成的查找表(即,阈值电压感应模式查找表)以及在迁移率感应的电压范围内所生成的查找表(即,迁移率感应查找表)。
此外,通过例如在阈值电压感应的电压范围内的特定电压(中间电压)处,若干次同时感应所有DIC的ADC220,从而获取若干个感应数据,并且通过对采用该方法获取的若干感应数据求平均值而产生按照DIC200的参考数据(也称为“DIC参考数据(DICRef.Data)”)(S1320)。
因此,当显示装置100出厂时,将包括按照感应通道的ADC特性信息(偏移和增益)的查找表1020和DIC参考数据(Dref_avg)存储在处于初始化状态的存储器400中。
在显示装置100出厂后,显示装置100开机(S1330)。随后,当显示装置100处于开机状态时,时序控制器140内的像素补偿电路1010可以执行实时像素补偿(RT补偿)使得实时补偿每个子像素内的晶体管迁移率(S1340)。
之后,当信号指示显示装置100关机时(S1350),ADC补偿电路1000执行ADC补偿(即,RTDS)(S1360)。
在ADC补偿步骤S1360后,时序控制器140内的像素补偿电路1010通过参照更新的查找表1020而执行像素补偿(即,OFFRS),从而补偿每个子像素内的晶体管阈值电压(S1370)。
下面将参照附图14详细描述上述步骤S1360。
参照图14,ADC补偿电路1000通过从存储器400中提取多个感应数据并对多个感应数据取平均值而获取按照DIC的平均感应数据(下文称作“RTDS数据”或“Dsen_avg”),其中按照每一个均是两个或多个DIC200中对应DIC的部件的ADC220来获取多个感应数据。
参照图14,基于相同电压下RTDS数据和DIC参考数据(Dref_avg)之间的差值(△=RTDS数据–DIC参考数据),ADC补偿电路1000通过更新查找表1020而执行ADC补偿(即,RTDS)。
这里,更新查找表1020时,只按照DIC(ADC)更新偏移。
所更新的查找表1020是阈值电压感应模式(S模式)的查找表,该查找表将在执行像素补偿(OFFRS)的步骤S1370中使用,从而补偿每个子像素内晶体管的阈值电压。
将参照图15A和15B以示例方式描述上述步骤S1360中所执行的ADC补偿(RTDS)。
将参照图15A描述DIC参考数据(Dref_avg)的产生。
参考图15A,通过ADC220的三个感应通道CH1、CH2和CH3输入相同电压(例如,1.5V),并且分别通过感应通道获得从ADC220输出的三组感应数据Dch1、Dch2和Dch3。
通过对如上所获取的三组感应数据Dch1、Dch2和Dch3求平均值,产生平均感应数据Dref_avg=513。
上述所获取的平均感应数据Dref_avg=513成为包含相应ADC220的DIC200的DIC参考数据,并存储在存储器400中。
在ADC补偿之前执行上述步骤。
参照图15B,将给出ADC补偿(RTDS)的描述。ADC补偿电路1000获取从ADC220输出的关于三个感应通道的三组感应数据Dsen1、Dsen2和Dsen3,其中相同电压(例如,1.5V)通过三个感应通道输入到ADC220中。
参照图15B,ADC补偿电路1000通过对三组感应数据Dsen1、Dsen2和Dsen3求平均值,而获取平均感应数据Dsen_avg=520。
上述所获取的平均感应数据Dsen_avg=520成为包含相应ADC220的DIC200的平均感应数据(RTDS数据)。
参照图15B,ADC补偿电路1000获取RTDS数据(=Dsen_avg=520)和DIC参考数据(=Dref_avg=513)之间的差值△=Dsen_avg-Dref_avg=7。
通过按照查找表1020的对应感应通道从ADC特性信息(偏移)中增加或减去所获取的差值△=Dsen_avg-Dref_avg=7,所述ADC补偿电路1000更新查找表1020。
因此,在ADC补偿后的OFFRS期间,假设三个感应通道CH1、CH2和CH3的感应电压Vsen经过转换后而从ADC220中输出的三组感应数据Dsen1、Dsen2和Dsen3为518、516和526,那么三组感应数据Dsen1、Dsen2和Dsen3则分别变化为511(=518-7)、509(=516-7)和519(=526-7)。
之后,在进行OFFRS(阈值电压补偿)的数据变化时,使用经变化的感应数据Dsen1’、Dsen2’和Dsen3’。因此,当数据Data变化为用于相应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’时可以反映出ADC特性的变化。
参照图15A和图15B,为产生DIC参考数据(Dref_avg)而获取的感应通道CH1的感应数据Dch1为508,为了产生RTDS数据(Dsen_avg)而获取的感应通道CH1的感应数据Dsen1为518,其中两个感应数据Dch1和Dsen1之间的差值为10。此外,RTDS数据(=Dsen_avg=520)和DIC参考数据(=Dref_avg=513)之间的差值为7。据此,两差值之间的差为3。
此外,参照图15A和图15B,为产生DIC参考数据(Dref_avg)而获取的感应通道CH2的感应数据Dch2为514,为了产生RTDS数据(Dsen_avg)而获取的感应通道CH2的感应数据Dsen2为516,其中两个感应数据Dch2和Dsen2之间的差值为2。此外,RTDS数据(=Dsen_avg=520)和DIC参考数据(=Dref_avg=513)之间的差值为7。据此,两差值之间的差为5。
此外,参照图15A和图15B,为产生DIC参考数据(Dref_avg)而获取的感应通道CH3的感应数据Dch3为517,为了产生RTDS数据(Dsen_avg)而获取的感应通道CH3的感应数据Dsen3为526,其中两个感应数据Dch3和Dsen3之间的差值为9。此外,RTDS数据(=Dsen_avg=520)和DIC参考数据(=Dref_avg=513)之间的差值为7。据此,两差值之间的差为2。
因此可以发现,感应通道CH2的平均值差值(7)和各自值差值(2)之间的差值(5)要大于感应通道CH1的平均值差值和各自值差值之间的差值以及感应通道CH3的平均值差值和各自值差值之间的差值。
由于按照DIC而不是按照感应通道来执行ADC补偿,因此用于将Data变化为对应子像素亮度补偿的补偿数据Data’的经变化的感应数据Dsen1’、Dsen2’和Dsen3’,在某些通道中(上述计算中的CH2)可能并不准确。
因此这会阻止数据Data转变为正确的用于子像素亮度补偿的补偿数据Data’,从而无法正确执行像素补偿(亮度补偿)。
图16和图17图示出按照典型实施例的显示装置100中第一ADC方法的特征,以展示上述第一ADC补偿方法的缺点。
图16是按照DIC的平均感应数据RTDS数据和参考数据DIC参考数据之间差值(RTDS数据-DIC参考数据)的图表。
参照图16可以发现,在DIC3的所获取差值(RTDS数据-DIC参考数据=4)和DIC4的所获取差值(RTDS数据-DIC参考数据=-10)之间存在明显差异。
可以发现,在DIC4和DIC5之间、DIC5和DIC6之间、DIC6和DIC7之间、DIC9和DIC10之间、DIC12和DIC13之间以及DIC18和DIC19之间也存在该现象。
该现象产生是由于按照DIC使用平均值执行ADC补偿,而忽视了按照感应通道的差异。
因此,在发生该现象的与被提供来自DIC200的数据电压的像素行对应的区域1700中,ADC特性或者亮度可能具有突变,或者最终亮度可能比期望亮度等级更亮或更暗(参照图17)。该问题称作“垂直偏移”。
下面将参照图18到图23C,描述不同于如上所述的第一ADC补偿方法的第二ADC补偿方法,所述第二ADC补偿方法通过反映按照感应通道的差异而执行按照感应通道的ADC补偿。
图18是按照典型实施例的显示装置100中使用第二ADC补偿方法的若干感应和补偿步骤的流程图。
参照图18,在显示装置100出厂前的制造期间,使用计算机等感应ADC220,并且产生用于ADC特性变化(差异)补偿的查找表1020(S1810)。该步骤称为“ADC变化补偿(AVC)”。
所产生的查找表1020包括使用源表在阈值电压感应的电压范围内所生成的查找表(即,阈值电压感应模式查找表)以及在迁移率感应的电压范围内所生成的查找表(即,迁移率感应查找表)。
查找表1020存储在存储器400中。
替代DIC参考数据,产生用于阈值电压感应模式和迁移率感应模式的按照感应通道的两部分的感应参考数据(下文中称为“CH参考数据(CHRef.Data)”)(S1820)。
在该情况下,通过在阈值电压感应模式和迁移率感应模式电压范围内的中间电压处,n次重复感应DIC200中的ADC220,而获取按照感应通道的感应数据平均值。该方法所获取的平均值是CH参考数据。
CH参考数据数据存储在存储器400中。
如上所述,当显示装置100出厂时,将包含按照感应通道的ADC特性信息(偏移和增益)的查找表1020和CH参考数据(也称作“Dref_avg”)存储在处于初始化状态的存储器400中。
在显示装置100出厂后,显示装置100开机(S1830)。随后,当显示装置100处于开机状态时,时序控制器140内的像素补偿电路1010可以执行实时像素补偿(RT补偿)使得实时补偿每个子像素内的晶体管迁移率(S1840)。
在步骤S1840,当显示装置100开机时,通过获取按照作为两个或多个DIC200的每个的部件的一个ADC220的感应通道的感应数据,随后基于相同电压下按照感应通道的感应数据(Dsen_ch)和CH参考数据(Dref_ch)之间的差值(Dsen_ch-Dref_ch)而更新查找表1020,ADC补偿电路1000可以执行ADC补偿(RTDS)。可以在像素补偿电路1010执行每个子像素内晶体管迁移率的实时补偿的像素补偿(RT补偿)之前或之后执行ADC补偿(RTDS)。
参照图18,在步骤S1840,在显示装置100开机时,可以同时执行实时迁移率补偿(RT补偿)和实时ADC补偿(RTDS)。
如上所述,通过在显示装置100开机时同时执行实时迁移率补偿(RT补偿)和实时ADC补偿,使用第二ADC补偿方法可以实时补偿ADC特性的变化。
图19和20是按照典型实施例的显示装置中实时执行ADC补偿(RTDS)和像素补偿(RT补偿)的时间段的时序图。
参照图19,在显示装置100开机时,时序控制器140可以控制DIC感应的像素补偿(RT补偿)和ADC补偿(RTDS)在垂直同步信号的每个空白期间交替进行。
如图20所示,时序控制器140控制像素补偿(RT补偿)和ADC补偿(RTDS)在垂直同步信号的每个空白期间交替执行。这里,在执行RT补偿的时段之间的每个空白期间执行ADC补偿(RTDS),在ADC补偿(RTDS)中,可以交替执行用于更新阈值电压感应模式查找表S-模式AVCLUT的一个感应模式(ADC补偿)和用于更新迁移率感应模式查找表FS-模式AVCLUT的另一感应模式(ADC补偿)。
参照图18,产生显示装置100关机的指示信号(S1850)。随后,通过参考已更新的查找表1020,像素补偿电路1010可以直接执行像素补偿(OFFRS),从而在显示装置100开机时补偿每个子像素内的晶体管阈值电压(S1860)。这里,不同于图13所示的第一ADC补偿方法,在没有ADC补偿(ADC)的情况下执行步骤S1860。
据此,可以减少响应显示装置100关机的指示信号而执行像素补偿(OFFRS)的时间。
参照图21A和图21B,将以示例方式描述上述步骤S1840中执行的ADC补偿(RTDS)。
图21A和21B是按照典型实施例的显示装置中执行的第二ADC补偿方法的示意图。
参照图21A,将描述CH参考数据(也称作“Dref_ch”)的产生。
参照图21A,通过ADC220的三个感应通道CH1、CH2和CH3输入相同的电压(例如,1.5V),以及分别通过感应通道获取从ADC220输出的三组感应数据Dch1、Dch2和Dch3。通过n次重复执行该步骤而获取按照感应通道的感应数据的平均值。
如上所获取到的按照感应通道的感应数据平均值Dch1、Dch2和Dch3称作CH参考数据。
出厂前,CH参考数据(Dch1、Dch2和Dch3)存储在存储器400中。
在ADC补偿前执行上述步骤。
将参照图21B描述ADC补偿(RTDS)。向ADC220施加相同电压(例如,1.5V),ADC补偿电路1000获取从ADC220输出的三组感应数据Dsen1_ch1、Dsen2_ch2和Dsen3_ch3。
参照图21B,ADC补偿电路1000获取三组感应数据Dsen1_ch1、Dsen2_ch2和Dsen3_ch3与按照感应通道的参考数据Dch1、Dch2和Dch3之间的差值△ch1(=Dsen1_ch1-Dch1=10)、△ch2(=Dsen2_ch2-Dch2=2)以及△ch3(=Dsen3_ch3-Dch3=9)。
按照查找表1020的相应感应通道,通过分别从ADC特性信息(偏移)中增加或减去所获取的差值△ch1,△ch2和△ch3,所述ADC补偿电路1000更新查找表1020。
随后,在ADC补偿后的OFFRS期间,假设三个感应通道CH1、CH2和CH3的感应电压Vsen经过转换后从ADC220中输出的三组感应数据为518、516和526,那么三组感应数据分别变化为508(=518-10)、514(=516-2)和517(=526-9)。
在该方法中,由于在改变OFFRS数据(阈值电压补偿)时利用了经变化的感应数据,因此在将数据Data变化为在相应子像素亮度补偿中所使用的补偿数据Data’时,可以更为准确地反映出ADC特性的变化。
如图22上半部分所示,第一ADC补偿方法的问题在于,在特定区域1700中发生垂直偏移。相反的,如图22下半部分所示,由于按照感应通道执行ADC补偿,因此第二ADC补偿方法可以防止或减少垂直偏移问题。
图23A-23C图示了按照典型实施例的显示装置中考虑子像素颜色的ADC补偿感应和像素补偿感应的顺序。
图23A是具有3840×2160个像素的显示装置100的示意图。这里,单个像素由4个子像素组成(R,W,G,B)。因此,显示装置100具有4×3840×2160个子像素。
图23B和图23C示出了当显示装置100开机时,按照第二ADC补偿方法而执行ADC补偿感应(RTDS)和迁移率补偿感应(RT感应)的过程的两个实例。在该情况下,应当考虑到因为ADC补偿感应(RTDS)和迁移率补偿感应(RT感应)都使用ADC220,所以ADC补偿感应(RTDS)和迁移率补偿感应(RT感应)无法同时在单个子像素上执行。
参照图23B,可以通过在第一行上感应所有子像素、在第二行上感应所有子像素、以及在第三行上感应所有子像素来执行该过程。
在该情况下,可以通过改变颜色而在每行中的一种颜色的子像素上执行RTDS。从而,在整个感应线中执行RTDS。
特别的,在第一行中,在R子像素R1上执行RTDS,随后在W子像素W1上执行RT,在G子像素G1上执行RT,最后在B子像素B1上执行RT。
之后,在第二行中,在R子像素R2上执行RT,随后在W子像素W2上执行RTDS,在G子像素G2上执行RT,最后在B子像素B2上执行RT。
之后,在第三行中,在R子像素R3上执行RT,随后在W子像素W3上执行RT,在G子像素G3上执行RTDS,最后在B子像素B3上执行RT。
最后,在第四行中,在R子像素R4上执行RT,随后在W子像素W4上执行RT,在G子像素G4上执行RT,最后在B子像素B4上执行RTDS。
参照图23C,可以通过感应一种颜色的一组子像素并随后感应另一种颜色的另一组子像素来执行该过程。
在该情况下,可以通过改变颜色而在每行中的一种颜色的子像素上执行RTDS。从而,在整个感应线中执行RTDS。
特别的,在第一行中的红色子像素R1上执行RTDS,随后在第二行中的红色子像素R2上执行RT,在第三行中的红色子像素R3上执行RT,在第四行中的红色子像素R4上执行RT,最后在第2160行的红色子像素R2160上执行RT。
之后,在第一行中的白色子像素W1上执行RT,随后在第二行中的白色子像素W2上执行RTDS,在第三行中的白色子像素W3上执行RT,在第四行中的白色子像素W4上执行RT,最后在第2160行的白色子像素W2160上执行RT。
之后,在第一行中的绿色子像素G1上执行RT,随后在第二行中的绿色子像素G2上执行RT,在第三行中的绿色子像素G3上执行RTDS,在第四行中的绿色子像素G4上执行RT,最后在第2160行的绿色子像素G2160上执行RT。
最后,在第一行中的蓝色子像素B1上执行RT,随后在第二行中的蓝色子像素B2上执行RT,在第三行中的蓝色子像素B3上执行RT,在第四行中的蓝色子像素B4上执行RTDS,最后在第2160行的蓝色子像素B2160上执行RT。
参照图23A和图23B,DIC200感应某些子像素,即,某些子像素受到RTDS补偿。由于这些子像素并未受到RT补偿,因此一直保持这些子像素的先前执行的RT补偿值,直至执行下次RT补偿。
对如上按照典型实施例的显示装置100的特征进行简要描述,显示装置100包括显示面板110、DIC200和时序控制器140,其中在显示面板110上形成数据线和栅极线。DIC200通过ADC220将子像素内感应节点处所感应的电压转换为数字感应数据,并输出感应数据。时序控制器140响应ADC特性变化改变所述感应数据,基于变化的感应数据改变图像数据,以及将改变的图像数据提供给DIC200。
按照典型实施例的显示装置100可以实现为选自如下的任一种,但并不限于,液晶显示器(LCD)、等离子显示面板(PDP)以及有机发光二极管(OLED)显示装置,只要这些显示装置包括ADC200即可。
图24是当按照典型实施例的显示装置100为OLED显示装置时的子像素结构、ADC以及感应线的示意图。
参照图24,当按照典型实施例的显示装置100为OLED显示装置时,每个子像素包括OLED、驱动晶体管DT、第一晶体管T1、第二晶体管T2以及电容Cst。驱动晶体管DT驱动OLED。通过经由第一栅极线GL1提供的第一扫描信号SENSE控制第一晶体管T1,并且该第一晶体管T1连接在作为参考电压线而提供参考电压的线SL或者感应线和驱动晶体管DT的N1节点(源极或漏极节点)之间。通过经由第二栅极线GL2提供的第二扫描信号SCAN控制第二晶体管T2,并且该第二晶体管T2连接在数据线DL和驱动晶体管DT的N2节点(栅极节点)之间。电容Cst连接在驱动晶体管DT的N1节点和N2节点之间。
参照图24,当第二晶体管T2导通时,第二晶体管T2将通过DIC200提供的数据电压Vdata施加到驱动晶体管DT的N2节点上(栅极节点)。
参照图24,当第一晶体管T1导通时,第一晶体管T1将通过线SL提供的参考电压Vref施加给驱动晶体管DT的N1节点(源极或漏极节点)。这里,线SL用作参考电压线。
此外,第一晶体管T1按照开关操作SW而导通,并且使得驱动晶体管DT的N1节点处的电压被施加给线SL,从而DIC200内的ADC220可以感应驱动晶体管DT的N1节点处的电压。这里,线SL用作感应线,驱动晶体管的N1节点用作感应节点。
如图24所示,4个子像素行(R、W、G和B)的每行都可被提供一条线SL。
按照如上所述的本发明,可以克服的问题是,尽管提供了像素补偿功能,但是每个子像素的亮度并未得到补偿或者子像素间亮度等级的差异并未得到补偿。
此外,按照本发明,虽然每个子像素内感应节点处的感应结果并不准确,但是对感应结果进行补偿,从而使得利用该感应结果的像素补偿准确。因此这能够防止或减少亮度不均匀,从而改善显示装置100的图像质量。
而且,按照本发明,提供一种能够补偿ADC特性变化的ADC补偿技术。当相应感应单元的ADC220的特性已经发生变化时,像素补偿使用ADC感应结果。
此外,按照本发明,当ADC特性已经发生变化时,ADC补偿功能按照DIC而高效地补偿ADC特性的变化。
而且,按照本发明,当ADC特性已经发生变化时,ADC补偿功能按照感应通道而准确地补偿ADC特性的变化。
已经公开前述说明书和附图以解释本发明的特定原理。本发明所涉及领域的技术人员可以在不脱离本发明原理的前提下,通过组合、分割、替代或改变要素的方式,进行许多修改和变化。本文所公开的前述实施例应被解释为仅是示例性的而不是对本发明原理和范围的限定。但是应当理解的是,本发明的范围应当由所附的权利要求来限定,并且其所有的等同物属于本发明的范围之内。
Claims (20)
1.一种显示装置,包括:
显示面板,具有数据线、栅极线和多个子像素,其中多个子像素的每个均通过数据线和栅极线限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路;
多个数字集成电路(DIC);
置于多个DIC的每个内的数字模拟转换器(DAC);
置于多个DIC的每个内的模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的所述ADC包括多个感应通道;
存储器,具有查找表(LUT);
时序控制器,其中所述时序控制器按照LUT改变提供给所述子像素的数据;
像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的特性;以及
ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的所述ADC的特性。
2.如权利要求1所述的显示装置,其中所述ADC的特性信息包括偏移。
3.如权利要求1所述的显示装置,其中所述ADC的特性信息包括增益。
4.如权利要求1所述的显示装置,其中所述晶体管的特性包括迁移率。
5.如权利要求1所述的显示装置,其中所述晶体管的特性包括阈值电压。
6.一种驱动显示装置的方法,所述显示装置具有显示面板,所述显示面板具有数据线、栅极线和多个子像素,其中多个子像素的每个均通过数据线和栅极线而限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路;多个数字集成电路(DIC);置于多个DIC的每个内的数字模拟转换器(DAC);置于多个DIC的每个内的模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的所述ADC包括多个感应通道;存储器,所述存储器具有查找表(LUT);时序控制器,其中所述时序控制器按照LUT改变提供给子像素的数据;像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的特性;以及ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的ADC的特性,所述方法包括:
按照多个感应通道的每个感应通道而更新LUT以包括ADC特性信息,其中所述ADC特性信息包括偏移和增益;
更新所述LUT以包括参考数据均值,其中通过按照多个感应通道的每个感应通道感应ADC参考数据以及平均所感应到的ADC参考数据来计算所述参考数据均值;
实时补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的迁移率;
补偿多个DIC的每个内所设置的每个ADC的特性;
补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
7.如权利要求6所述的驱动显示装置的方法,其中补偿每个ADC的特性包括:
按照多个DIC的每个内所设置的每个ADC的多个感应通道的每个感应通道,感应ADC数据以产生感应数据;
对所述感应数据取平均值以产生感应数据均值;
计算所述参考数据均值和感应数据均值之间的差值。
8.如权利要求7所述的驱动显示装置的方法,还包括:通过在所述ADC特性信息中增加或减去所述差值而更新所述LUT。
9.如权利要求7所述的驱动显示装置的方法,还包括:
从多个DIC的每个内所设置的每个ADC的多个感应通道的每个感应通道的所述感应数据中,减去所述参考数据均值和所述感应数据均值之间的差值,以产生每个ADC的多个感应通道的每个感应通道的变化的感应数据。
10.如权利要求9所述的驱动显示装置的方法,其中使用所述变化的感应数据以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
11.如权利要求6所述的驱动显示装置的方法,其中当所述显示装置开机时,实时补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的迁移率。
12.如权利要求6所述的驱动显示装置的方法,其中当所述显示装置关机时,补偿每个ADC的特性。
13.如权利要求6所述的驱动显示装置的方法,其中在ADC补偿步骤之后,补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
14.一种驱动显示装置的方法,所述显示装置具有显示面板,所述显示面板具有数据线、栅极线和多个子像素,其中多个子像素的每个均通过数据线和栅极线而限定,以及多个子像素的每个均包括具有晶体管的电路;多个数字集成电路(DIC);置于多个DIC的每个内的数字模拟转换器(DAC);置于多个DIC的每个内的模拟数字转换器(ADC),其中置于多个DIC的每个内的所述ADC包括多个感应通道;存储器,所述存储器具有查找表(LUT);时序控制器,其中所述时序控制器按照LUT改变提供给子像素的数据;像素补偿电路,用以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的特性;以及ADC补偿电路,用以补偿多个DIC的每个内的ADC的特性,所述方法包括:
感应多个DIC的每个内所设置的每个ADC的多个感应通道中的每个感应通道的ADC参考数据;
实时补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的迁移率;
补偿多个DIC的每个内所设置的每个ADC感应通道的特性;
补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
15.如权利要求14所述的驱动显示装置的方法,其中补偿每个ADC感应通道的特性包括:
按照多个DIC的每个内所设置的每个ADC的多个感应通道的每个感应通道,感应ADC数据以产生感应数据;
对于多个DIC的每个内所设置的每个ADC的多个感应通道的每个感应通道,计算所述感应数据和所感应的ADC参考数据之间的差值。
16.如权利要求15所述的驱动显示装置的方法,还包括:通过在多个感应通道的每个感应通道的ADC特性信息中增加或减去所述差值而更新所述LUT,其中所述ADC特性信息包括偏移或增益。
17.如权利要求16所述的驱动显示装置的方法,还包括:
从多个感应通道的每个感应通道的所述感应数据中,减去所述感应数据和所述ADC参考数据之间的差值,以产生多个感应通道的每个感应通道的变化的感应数据。
18.如权利要求17所述的驱动显示装置的方法,其中使用所述变化的感应数据以补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
19.如权利要求14所述的驱动显示装置的方法,还包括:
当所述显示装置开机时,同时补偿所述晶体管的迁移率和多个DIC的每个内所设置的每个ADC感应通道的特性。
20.如权利要求14所述的驱动显示装置的方法,还包括:
当所述显示装置关机时,补偿多个子像素的每个内的所述晶体管的阈值电压。
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