CN105301093A - 一种超导线圈缺陷位置检测系统 - Google Patents

一种超导线圈缺陷位置检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN105301093A
CN105301093A CN201510689099.5A CN201510689099A CN105301093A CN 105301093 A CN105301093 A CN 105301093A CN 201510689099 A CN201510689099 A CN 201510689099A CN 105301093 A CN105301093 A CN 105301093A
Authority
CN
China
Prior art keywords
superconducting coil
measured
magnetic circuit
coil
pick
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510689099.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105301093B (zh
Inventor
高琦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Yuan Lichen Superconductor Tech
Original Assignee
Beijing Yuan Lichen Superconductor Tech
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Yuan Lichen Superconductor Tech filed Critical Beijing Yuan Lichen Superconductor Tech
Priority to CN201510689099.5A priority Critical patent/CN105301093B/zh
Publication of CN105301093A publication Critical patent/CN105301093A/zh
Priority to PCT/CN2016/102898 priority patent/WO2017067511A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105301093B publication Critical patent/CN105301093B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

本发明公开一种超导线圈缺陷位置检测系统,包括:磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈缠绕在所述磁路上,磁路固定在所述多自由度移动平台上,检测装置设置在待测超导线圈的一个表面上;磁路窗口,用于沿着所述待测超导线圈的绕组径向励磁;多自由度移动平台,用于调节磁路窗口与所述待测超导线圈之间的位置;检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置,实现了超导线圈缺陷位置的检测。

Description

一种超导线圈缺陷位置检测系统
技术领域
本发明涉及超导电工领域,具体涉及一种超导线圈缺陷位置检测系统。
背景技术
超导材料因其无阻可携带大电流的特性可广泛应用于大型电力装置,随着绿色环保产业的不断兴起,随着超导带材产量与稳定性的不断提高,可以预期大规模使用高温超导材料的年代即将到来。在大部分电力装备应用当中,高温超导导线都是以线圈的形式存在的,这其中线圈是电工器件的基本单元,线圈的质量也直接决定了电工器件的质量,由于高温超导材料是一种陶瓷材料,带材本身很容易在生产和使用过程中引入缺陷,很有必要对线圈生产的全部流程进行质量监控,但带材绕制成线圈的过程,仍存在诸多不确定因素,很可能在线圈制备过程中引入各种缺陷,目前检测线圈质量的唯一方法是整体测量线圈伏安特性,但这种方法无法对线圈局部缺陷的位置和程度形成有效检测,而高温超导线圈的局部缺陷往往是引起高温超导器件严重故障,甚至烧毁的重要因素,因此十分有必要设计一种检测高温超导线圈局部缺陷和热稳定性的设备。
发明内容
本发明提供了一种超导线圈缺陷位置检测系统,实现了超导线圈缺陷位置的检测。
第一方面,本发明提出一种超导线圈缺陷位置检测系统,包括:
磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,所述磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,所述电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈缠绕在所述磁路上,所述磁路固定在所述多自由度移动平台上,所述检测装置设置在所述待测超导线圈的一个表面上;
所述磁路窗口,用于沿着所述待测超导线圈的绕组径向励磁;
所述多自由度移动平台,用于调节所述磁路窗口与所述待测超导线圈之间的位置;
所述检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置。
可选的,所述检测装置包括红外成像装置,所述红外成像装置的探头设置在所述待测超导线圈表面的预设距离处。
可选的,所述检测装置包括测温矩阵,所述测温矩阵覆盖在所述待测超导线圈的表面上,且与所述待测超导线圈接触。
可选的,所述测温矩阵与所述待测超导线圈之间填充有导热硅脂。
可选的,所述检测装置包括磁场测量矩阵或磁场扫描平台,所述磁场测量矩阵或磁场扫描平台设置在所述待测超导线圈的部分表面上,所述部分表面为未设置在所述磁路窗口的部分表面。
可选的,所述检测装置还包括:设置在所述待测超导线圈的表面上的磁热薄膜,所述磁热薄膜覆盖在所述待测超导线圈的表面上。
可选的,所述检测装置包括磁光薄膜和磁光观测装置,所述磁光薄膜覆盖在所述待测超导线圈的表面上,所述磁光观测装置设置在所述磁光薄膜的预设距离处。
可选的,所述磁路的形状为C型、E型或D型。
可选的,所述系统还包括接触制冷冷头,所述接触制冷冷头设置于所述待测超导线圈中未设置检测装置的一个表面上。
可选的,所述系统还包括信号采集装置和终端,所述信号采集装置一端与所述检测装置相连,另一端与所述终端相连。
本发明提供了一种超导线圈缺陷位置检测系统,包括:磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,所述磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,所述电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈与所述磁路相连,所述磁路固定在所述多自由度移动平台上,所述检测装置设置在所述待测超导线圈的一个表面上;所述检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置,实现了超导线圈缺陷位置的检测。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的超导线圈缺陷位置检测系统的结构示意图;
图2为本发明另一实施例提供的超导线圈缺陷位置检测系统的结构示意图;
图3为本发明另一实施例提供的超导线圈缺陷位置检测系统的结构示意图;
图4为本发明另一实施例提供的超导线圈缺陷位置检测系统的平面示意图;
图5为本发明另一实施例提供的超导线圈缺陷位置检测系统的结构示意图;
图6为本发明另一实施例提供的超导线圈缺陷位置检测系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明一实施例提供的一种超导线圈缺陷位置检测系统,该系统包括:
磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,所述磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,所述电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈缠绕在所述磁路上,所述磁路固定在所述多自由度移动平台上,所述检测装置设置在所述待测超导线圈的一个表面上;
所述磁路窗口,用于沿着所述待测超导线圈的绕组径向励磁;
所述多自由度移动平台,用于调节所述磁路窗口与所述待测超导线圈之间的位置;
所述检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置。
本发明提供了一种超导线圈缺陷位置检测系统,能够对高温超导线圈局部缺陷,热稳定性进行检测,它利用磁场和温度探头观测线圈在通流和施加外磁场下绕组因绕组内部缺陷引起的磁场和温度时空变化检测缺陷位置和缺陷程度,同时作为超导检测系统配备低温制冷装置和多自由度调整平台共同组成线圈质量监控系统。
该统包含一个磁路,磁路开有窗口用以对超导线圈沿着绕组径向励磁。磁路固定在多自由度移动平台之上用以调节与超导线圈之间的相互位置和程度,实现对线圈绕组的连续扫描。绕组表面放置磁场温度探头观测线圈绕组在通流或者励磁之后的磁场或者温度分布用以判断绕组缺陷的具体位置和程度。这些磁场和温度探头包含,用于探测磁场的探头矩阵或者探头扫描平台;用于探测磁场的磁光薄膜以及相应的磁光检测设备;用于探测绕组表面温度的红外热成像探头;用于探测绕组温度的测温矩阵;用于反映温度变化的磁热薄膜。除了以上核心部件,系统还包括线圈制冷及维持系统,与探头配合的信号采集系统和相应的采集电脑。
下面通过具体的实施例对上述系统进行详细说明。
实施例1
本发明提供一种系统,可无损连续检测检测高温超导线圈缺陷及稳定性。上述检测装置包括红外成像装置,所述红外成像装置的探头设置在所述待测超导线圈表面的预设距离处。如图1所示,包括待测多匝高温超导线圈1;待测线圈电流引线2;制冷线圈的冷头3通过接触制冷冷却线圈;磁路4用以对线圈绕组励磁,实施例一中选用C型磁路;励磁线圈5及其配套电源;C型磁路窗口6,窗口间距根据绕组厚度可调;多自由度平台7为调整C型磁路与线圈的相对位置;红外成像装置8。实施例1种,待测线圈为50匝YBCO高温超导饼状线圈,该线圈内半径为0.03m,外半径为0.035m,总计用线量10.2米。检测时候,冷头3冷却线圈1至70K,此时通过电流引线2为线圈1励磁,利用C型磁场路对绕组励磁,同时利用红外成像仪观测线圈通以不同电流,施加不同磁场情况下绕组表面发热状况,如果线圈内部存在缺陷则会发热,会被红外成像设备探测到,根据温度升高情况可定量判定线圈在不同通流情况和不同外磁场下的热稳定性和缺陷位置及程度。驱动多自由度平台7,可对全部绕组实现连续测量。
实施例2
上述系统中的检测装置包括测温矩阵,所述测温矩阵覆盖在所述待测超导线圈的表面上,且与所述待测超导线圈接触。在所述测温矩阵与所述待测超导线圈之间填充有导热硅脂。主要部件与上述图1相同,不同的是在线圈1绕组表面添加了测温矩阵9,如图2所示,通过与绕组接触的方式进一步观测绕组在工况下的温度分布。该测温矩阵可由光纤测温探头组成,还可以由热电偶,铂电阻,氧化钌电阻或者硅二极管测温探头构成。实施例二中,采用铂电阻温度计构成测温矩阵。测温矩阵与线圈绕组紧密接触,通常可在测温矩阵与线圈绕组之间涂膜一些导热硅脂增加热导。检测时候,制冷探头3工作带动线圈冷却至70K,此时通过电流引线2为线圈励磁,利用C型磁路对绕组施加磁场,利用测温矩阵9观测线圈通以不同电流,施加不同磁场情况下的表面发热状况,如果线圈内部存在缺陷会产生发热,会被测温矩阵探头探测到,根据温度升高情况可定量判定线圈在不同工作条件下的热稳定性和缺陷位置及程度。
实施例3
所述检测装置包括磁场测量矩阵或磁场扫描平台,所述磁场测量矩阵或磁场扫描平台设置在所述待测超导线圈的部分表面上,所述部分表面为未设置在所述磁路窗口的部分表面。主要部件与实施例一中相同,不同的是增加了磁场测量矩阵或者磁场扫描平台10放置在窗口6之外沿绕组绕制方向,如图3和图4所示,测量矩阵可以是Hall元器件构成的,也可以是巨磁阻,磁通门磁强计,Squids等原理的磁场测量元件构成的。使用时C型磁路首先对窗口6处的绕组施加一个2倍穿透磁场,2倍穿透磁场可按照2*N*Jc*T估算,其中N为线圈匝数,Jc是绕制线圈的高温超导带材的临界电流密度,T是高温超导带材厚度,施加磁场后,驱动多自由度平台7,将已经励磁绕组缓慢移出窗口。在窗口外的磁场测量矩阵或者扫描平台10探测绕组表面的磁场,实施例3中采用磁场扫描平台对移出窗口的绕组表面磁场实施扫描,如果绕组中存在缺陷,通过扫描表面磁场,并反算产生磁场的电流,就可以得到缺陷的具体位置和程度。
实施例4
所述检测装置还包括:设置在所述待测超导线圈的表面上的磁热薄膜,所述磁热薄膜覆盖在所述待测超导线圈的表面上。主要部件与实施例三中基本相同,不同的是在磁体绕组表面增加了磁热薄膜11,如图5所示,这种磁性薄膜距离温度居里温度比较低,当线圈通流励磁的时候,如果有局部发热点导致升温,就会破坏上方磁热薄膜的磁性。使用时,线圈通流,利用磁场测量矩阵10沿着磁热薄膜表面扫描就可以得到响应缺陷点的位置和程度。
实施例5
所述检测装置包括磁光薄膜和磁光观测装置,所述磁光薄膜覆盖在所述待测超导线圈的表面上,所述磁光观测装置设置在所述磁光薄膜的预设距离处。主要部件与实施例1中相同,不同的是在磁体绕组表面增加了磁光薄膜12,并配备相应的磁光观测装置13,如图6所示,这种磁光薄膜在磁场下会引起光的偏振面发生旋转,利用磁光观测装置13就可以观测到磁光薄膜下方线圈绕组的磁场分布情况。具体使用时C型磁路首先对窗口6沿着绕组叠放方向施加一个足够大的磁场,具体施加磁场可按照2*N*Jc*T估算,其中N为线圈匝数,Jc是绕制线圈高温超导带材的临界电流密度,T是高温超导带材厚度,施加磁场后,驱动多自由度平台7,将已经励磁过后的绕组缓慢移出窗口。在窗口外的磁光探测装置13观测移出窗口绕组上方磁场磁光薄膜12的光线反射情况,如果绕组中存在缺陷,会引起磁场畸变,而磁场又会作用到磁光薄膜,通过磁光观测设备,就可以得到缺陷的具体位置和缺陷具体的程度。
以上实施例仅列举一种基于C型磁路对线圈绕组施加磁场的结构,实际的磁路形式还可以是E型D型等其它形式,或者磁路磁场由相应的永磁体磁路提供,但只要是利用磁路窗口对磁体绕组径向施加磁场,同时通过磁场、测温探头测量绕组的磁、热效应的方式检测缺陷位置和程度的方法均应包含在本发明要求的保护的范围内。
以上实施例中多自由度平台与C型磁路相连,实现磁路与线圈绕组之间的相互位置的调节,实际实现过程中多自由度平台也可以与线圈绕组相连,实现与磁路之间的相互位置调整。这种利用机械传动装置调整线圈与磁路之间的相互位置,实现对线圈的连续全面扫描的方式都应包含在本发明所要求的保护的范围内。
上系统还包括接触制冷冷头,所述接触制冷冷头设置于所述待测超导线圈中未设置检测装置的一个表面上。但实际使用时候,特别实施例3中利用磁场矩阵测量线圈绕组表面磁场的应用场合,也可以采用液氮,冷氮气,液氦,冷氦气等冷媒制冷,这都属于冷却超导磁体的常用方法,不在实施例中赘述,但都应包含在本发明所要求保护的范围内。
所述系统还包括信号采集装置和终端,所述信号采集装置一端与所述检测装置相连,另一端与所述终端相连。用户可以通过终端直接对待测超导线圈的温度数据进行观测并确定缺陷的位置。
此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。
虽然结合附图描述了本发明的实施方式,但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型,这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。

Claims (10)

1.一种超导线圈缺陷位置检测系统,其特征在于,包括:
磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,所述磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,所述电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈缠绕在所述磁路上,所述磁路固定在所述多自由度移动平台上,所述检测装置设置在所述待测超导线圈的一个表面上;
所述磁路窗口,用于沿着所述待测超导线圈的绕组径向励磁;
所述多自由度移动平台,用于调节所述磁路窗口与所述待测超导线圈之间的位置;
所述检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测装置包括红外成像装置,所述红外成像装置的探头设置在所述待测超导线圈表面的预设距离处。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测装置包括测温矩阵,所述测温矩阵覆盖在所述待测超导线圈的表面上,且与所述待测超导线圈接触。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述测温矩阵与所述待测超导线圈之间的填充有导热硅脂。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测装置包括磁场测量矩阵或磁场扫描平台,所述磁场测量矩阵或磁场扫描平台设置在所述待测超导线圈的部分表面上,所述部分表面为未设置在所述磁路窗口的部分表面。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述检测装置还包括:设置在所述待测超导线圈的表面上的磁热薄膜,所述磁热薄膜覆盖在所述待测超导线圈的表面上。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测装置包括磁光薄膜和磁光观测装置,所述磁光薄膜覆盖在所述待测超导线圈的表面上,所述磁光观测装置设置在所述磁光薄膜的预设距离处。
8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述磁路的形状为C型、E型或D型。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的系统,其特征在于,所述系统还包括接触制冷冷头,所述接触制冷冷头设置于所述待测超导线圈中未设置检测装置的一个表面上。
10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述系统还包括信号采集装置和终端,所述信号采集装置一端与所述检测装置相连,另一端与所述终端相连。
CN201510689099.5A 2015-10-21 2015-10-21 一种超导线圈缺陷位置检测系统 Active CN105301093B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510689099.5A CN105301093B (zh) 2015-10-21 2015-10-21 一种超导线圈缺陷位置检测系统
PCT/CN2016/102898 WO2017067511A1 (zh) 2015-10-21 2016-10-21 一种超导线圈缺陷位置检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510689099.5A CN105301093B (zh) 2015-10-21 2015-10-21 一种超导线圈缺陷位置检测系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105301093A true CN105301093A (zh) 2016-02-03
CN105301093B CN105301093B (zh) 2019-01-22

Family

ID=55198601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510689099.5A Active CN105301093B (zh) 2015-10-21 2015-10-21 一种超导线圈缺陷位置检测系统

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN105301093B (zh)
WO (1) WO2017067511A1 (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017067511A1 (zh) * 2015-10-21 2017-04-27 北京原力辰超导技术有限公司 一种超导线圈缺陷位置检测系统
CN109324085A (zh) * 2018-11-20 2019-02-12 四川沐迪圣科技有限公司 基于新型高效开口磁轭线圈结构的感应热像无损检测系统
CN109786062A (zh) * 2019-03-21 2019-05-21 北京原力辰超导技术有限公司 一种新型可自检高温超导线圈
CN110567598A (zh) * 2019-07-17 2019-12-13 北京交通大学 高温超导线圈温度传感结构及高温超导线圈温度监测方法
CN110579680A (zh) * 2019-08-07 2019-12-17 湖北工业大学 一种超导电缆的无损检测装置及检测方法
CN113670447A (zh) * 2021-08-13 2021-11-19 立讯电子科技(昆山)有限公司 一种定位无线充电线圈缺陷位置的方法及系统

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111044572B (zh) * 2019-11-27 2022-12-09 武汉船用电力推进装置研究所(中国船舶重工集团公司第七一二研究所) 一种高温超导线圈无损探伤装置及探伤方法
CN111487312B (zh) * 2020-05-14 2024-09-10 华中科技大学 一种高温超导带材裂纹检测装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1580757A (zh) * 2003-08-05 2005-02-16 北京有色金属研究总院 高温超导带材非接触无损磁测量方法及装置
JP2006125937A (ja) * 2004-10-27 2006-05-18 Nitto Denko Corp 金属異物検出方法
CN1967281A (zh) * 2006-11-08 2007-05-23 中国科学院电工研究所 一种测量实用长度ybco高温超导带材临界电流均匀性的方法和装置
US20080067455A1 (en) * 2006-06-15 2008-03-20 Siemens Power Generation, Inc. Hand held magnetic induction thermography system
CN101833027A (zh) * 2010-04-29 2010-09-15 清华大学 一种非接触式超导带材载流能力测量装置
CN104820141A (zh) * 2015-03-10 2015-08-05 北京原力辰超导技术有限公司 一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101788594B (zh) * 2010-01-08 2011-11-09 清华大学 非接触式超导带材临界电流测量装置
CN102954968A (zh) * 2012-11-05 2013-03-06 西安交通大学 热障涂层部件电磁涡流热成像无损检测系统及检测方法
CN103940852B (zh) * 2014-04-17 2016-07-06 江苏理工学院 能导磁的导体缺陷磁封闭电磁热激励检测装置及检测方法
CN105301093B (zh) * 2015-10-21 2019-01-22 北京原力辰超导技术有限公司 一种超导线圈缺陷位置检测系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1580757A (zh) * 2003-08-05 2005-02-16 北京有色金属研究总院 高温超导带材非接触无损磁测量方法及装置
JP2006125937A (ja) * 2004-10-27 2006-05-18 Nitto Denko Corp 金属異物検出方法
US20080067455A1 (en) * 2006-06-15 2008-03-20 Siemens Power Generation, Inc. Hand held magnetic induction thermography system
CN1967281A (zh) * 2006-11-08 2007-05-23 中国科学院电工研究所 一种测量实用长度ybco高温超导带材临界电流均匀性的方法和装置
CN101833027A (zh) * 2010-04-29 2010-09-15 清华大学 一种非接触式超导带材载流能力测量装置
CN104820141A (zh) * 2015-03-10 2015-08-05 北京原力辰超导技术有限公司 一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
方静 等: "磁谐振成像系统中高温超导螺旋线圈的温度特性", 《西安交通大学学报》 *

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017067511A1 (zh) * 2015-10-21 2017-04-27 北京原力辰超导技术有限公司 一种超导线圈缺陷位置检测系统
CN109324085A (zh) * 2018-11-20 2019-02-12 四川沐迪圣科技有限公司 基于新型高效开口磁轭线圈结构的感应热像无损检测系统
CN109324085B (zh) * 2018-11-20 2021-08-17 四川沐迪圣科技有限公司 基于新型高效开口磁轭线圈结构的感应热像无损检测系统
CN109786062A (zh) * 2019-03-21 2019-05-21 北京原力辰超导技术有限公司 一种新型可自检高温超导线圈
CN110567598A (zh) * 2019-07-17 2019-12-13 北京交通大学 高温超导线圈温度传感结构及高温超导线圈温度监测方法
CN110579680A (zh) * 2019-08-07 2019-12-17 湖北工业大学 一种超导电缆的无损检测装置及检测方法
CN110579680B (zh) * 2019-08-07 2021-04-23 湖北工业大学 一种超导电缆的无损检测装置及检测方法
CN113670447A (zh) * 2021-08-13 2021-11-19 立讯电子科技(昆山)有限公司 一种定位无线充电线圈缺陷位置的方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN105301093B (zh) 2019-01-22
WO2017067511A1 (zh) 2017-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105301093A (zh) 一种超导线圈缺陷位置检测系统
US5854492A (en) Superconducting quantum interference device fluxmeter and nondestructive inspection apparatus
US10401393B2 (en) Method for determining persistent critical current of superconducting materials
CN109490798B (zh) 基于光纤磁场传感技术的高温超导线圈磁场测量方法
CN110426661B (zh) 超导材料的临界电流测量方法、系统及介质
CN104914331A (zh) 高温超导带材临界电流与n值指数的测量装置及测量方法
Shiroyanagi et al. The construction and testing of YBCO pancake coils for a high field solenoid
Zhou et al. Quench Detection Criteria for YBa2Cu3O7‐δ Coils Monitored via a Distributed Temperature Sensor for 77 K Cases
JP4579107B2 (ja) 連続型磁束観察装置および方法
Marchevsky et al. Advancing superconducting magnet diagnostics for future colliders
CA2183174A1 (en) Nondestructive inspection equipment
CN101833027B (zh) 一种非接触式超导带材载流能力测量装置
JP2007078500A (ja) 超電導膜の臨界電流密度測定方法及び装置
CN1963477A (zh) 一种非接触连续测量超导线/带材n指数均匀性的方法和装置
Geršak et al. Thermometers in low magnetic fields
Wang et al. Detecting and describing the inhomogeneity of critical current in practical long HTS tapes using contact-free method
Wang et al. Review of research and measurement for application properties of HTS tapes
Chen et al. A critical current measurement method for strip hard superconductors utilizing pulsed current
See et al. Innovative calorimetric AC loss measurement of HTSC for power applications
Wang et al. An applicable calorimetric method for measuring AC losses of 2G HTS wire using optical FBG
JP2020126039A (ja) Hts超伝導体の電気特性を評価する方法
Kawagoe et al. Diagnosis of winding conditions in high temperature superconducting coils by applying Poynting's vector method
Tsukamoto Comparison of electric and calorimetric measurements of AC losses in HTS wires and bulks
Hu et al. Design and fabrication of a conduction-cooled superconducting magnet for hall sensor calibration
Ogawa et al. Influence of high frequency AC magnetic field on trapped magnetic field

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant