CN105258654A - 一种非接触式高精密晶片面型测量仪器及其测量计算方法 - Google Patents
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Application publication date: 20160120 Assignee: Zhejiang Zhaojing New Material Technology Co.,Ltd. Assignor: JIANGSU JESHINE NEW MATERIAL Co.,Ltd. Contract record no.: X2022980008188 Denomination of invention: A non-contact high-precision wafer surface measurement instrument and its measurement and calculation method Granted publication date: 20180420 License type: Common License Record date: 20220627 |
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