CN105243970A - 一种led均匀性评估方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种LED均匀性评估方法及装置，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。本发明实施例LED均匀性评估方法包括：在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积；将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。

Description

一种LED均匀性评估方法及装置

技术领域

本发明涉及LED显示技术领域，尤其涉及一种LED均匀性评估方法及装置。

背景技术

目前LED在选择晶元等原材料存在离散性，当晶元封装成LED灯珠后在一定的电流条件下发光亮度以及波长都存在一定区域范围,不同范围的灯珠被分成不同的产品批次,为了避免不在同一范围的灯珠尽可能的被消耗,在LED显示屏厂存在同一订单使用2-3个BIN的灯珠在灯板上混装情况。

其次，由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高。如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，从而导致了LED拼接显示的效果低的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法及装置，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。

本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法，包括：

在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积；

将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。

可选地，在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定具体包括：

记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例；

在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

可选地，根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积具体包括：

根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的所述中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长；

根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积。

可选地，根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积之后还包括：

对其余批次的所述灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个所述批次对应的批次灯珠面积。

可选地，将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值具体包括：

将所述批次灯珠面积与记录每个所述批次的所述灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算；

将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求第一差值；

对所述批次面积占比之和与所述差值计算第二差值。

本发明实施例提供的一种LED均匀性评估装置，包括：

确定单元，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

第一计算单元，用于根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积；

第二计算单元，用于将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。

可选地，所述确定单元具体包括：

记录子单元，用于记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例；

第一确定子单元，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

可选地，第一计算单元具体包括：

第二确定子单元，用于根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的所述中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长；

第一计算子单元，用于根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积。

可选地，第一计算单元还包括：

第二计算子单元，用于对其余批次的所述灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个所述批次对应的批次灯珠面积。

可选地，第二计算单元具体包括：

第三计算子单元，用于将所述批次灯珠面积与记录每个所述批次的所述灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算；

第四计算子单元，用于将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求第一差值；

第五计算子单元，用于对所述批次面积占比之和与所述差值计算第二差值。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法及装置，其中，LED均匀性评估方法包括：在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积；将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。本实施例中，通过在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定，然后根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积，最后将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值，便可以是判断灯板总面积与批次灯珠面积的差值越趋于零，则说明批次灯珠面积越接近灯板总面积，得到了对应批次的在灯板的均匀性高的评估，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法的一个实施例的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法的另一个实施例的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的一种LED均匀性评估装置的一个实施例的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种LED均匀性评估装置的另一个实施例的结构示意图；

图5为图2实施例的应用例示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法及装置，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法的一个实施例包括：

101、在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

本实施例中，当需要衡量评估多批次LED灯珠贴片在灯板上的均匀性时，首先需要在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

102、根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积；

当在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定之后，需要根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积。

103、将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。

当根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积之后，需要将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。

本实施例中，通过在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定，然后根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积，最后将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值，便可以是判断灯板总面积与批次灯珠面积的差值越趋于零，则说明批次灯珠面积越接近灯板总面积，得到了对应批次的在灯板的均匀性高的评估，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。

上面是对LED均匀性评估方法的过程进行详细的描述，下面将对各步骤的具体过程进行详细的描述，请参阅图2，本发明实施例提供的一种LED均匀性评估方法的另一个实施例包括：

201、记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例；

本实施例中，当需要衡量评估多批次LED灯珠贴片在灯板上的均匀性时，首先需要记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例。

202、在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

当记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例之后，需要在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

203、根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长；

当在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定之后，需要根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长。

204、根据边长按照正方形面积计算公式计算正方形的批次灯珠面积；

当根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长之后，需要根据边长按照正方形面积计算公式计算正方形的批次灯珠面积。

205、对其余批次的灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个批次对应的批次灯珠面积；

当根据边长按照正方形面积计算公式计算正方形的批次灯珠面积之后，需要对其余批次的灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个批次对应的批次灯珠面积。

需要说明的是，对其余批次的灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个批次对应的批次灯珠面积可以是重复步骤202至204。

206、将批次灯珠面积与记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算；

当对其余批次的灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个批次对应的批次灯珠面积之后，需要将批次灯珠面积与记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算。

207、将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求第一差值；

当将批次灯珠面积与记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算之后，需要将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求第一差值。

208、对批次面积占比之和与差值计算第二差值。

当将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求第一差值之后，需要对批次面积占比之和与差值计算第二差值。

可以理解的是，步骤201至208具体如下：

通过计算每个批次各个像素点所覆盖的面积作为衡量的标准，当计算出的面积越接近灯板的总面积，则说明该批次的灯珠均匀性越高。具体实现步骤如下：

1、记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例，例如批次1的占比是P1，批次2的占比是P2以此类推，等到所有批次灯珠的占比。

2、与相邻最近像素点之间的距离的一半作为正方形的边长A，计算该正方形面积S，则算出该正方形面积为S＝A^2；

3、再把和该像素点同一批次的其它像素点按照该方法计算该类像素点所对应的面积S’＝∑S；

4、重复步骤2，计算其它所有的批次的每个像素点面积之和如为S2’、S3’等等。

5、计算每个批次面积占比之和S#＝S’×P1+S2’×P2+S3’×P3……；

6、计算每个批次面积和灯板总面积之差D1，D2，D3……；

7、计算S#和灯板总面积之差D#，越接近零值，证明灯珠的均匀性越高；

8、通过D1，D2，D3，D4……D#值是否接近零值衡量该灯板贴片的均匀性。

如图5所示，下面以一应用例进行为计算标记为红色批次的灯珠的面积的描述：

第一，使用均匀贴片算法模拟多批次灯珠贴片，把每个像素点所放置的批次记录，例如图5中标记序号的部分为同一个批次的灯珠。

第二，设定每个LED像素点与像素点之间的距离为1。即如图5中，序号1中心点与序号2中心点距离的一半为1.5，序号1中心点与红色框3中心点距离的一半为；

第三，根据第二步得到计算序号1像素点的面积边长依据为序号1中心点与红色框3中心点距离的一半，即为由此计算到的面积为 $S1=\left(\frac{\sqrt{2}}{2}\right)$ $^2=0.5;$

第四，循环第二步，第三步，计算到序号3像素点面积为S3＝0.5；序号2像素点面积为S2＝1.25；序号4像素点面积为S4＝1.25；序号5像素点面积为S5＝2；

第五，把S1、S2、S3、S4、S5相加，结果为5.5；

第六，计算灯板的总面积为S#＝3*3＝9；

第七，计算第五、第六步两者的面积之差为3.5；

重复第二步到第七步，计算剩余批次灯珠的面积；

按照以上步骤得到的面积差，衡量是否满足均匀性的要求。

本实施例中，通过在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定，然后根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积，最后将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值，便可以是判断灯板总面积与批次灯珠面积的差值越趋于零，则说明批次灯珠面积越接近灯板总面积，得到了对应批次的在灯板的均匀性高的评估，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题，可以有效衡量评估多批次LED灯珠贴片的效果，为LED厂商在批量生产之前提供数据支持，能有效提升LED贴片的质量以及产品良品率。同时能帮助改善多批次混和贴片LED拼接显示墙的显示效果。

请参阅图3，本发明实施例中提供的一种LED均匀性评估装置的一个实施例包括：

确定单元301，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

第一计算单元302，用于根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积；

第二计算单元303，用于将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。

本实施例中，通过确定单元301在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定，然后第一计算单元302根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积，最后第二计算单元303将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值，便可以是判断灯板总面积与批次灯珠面积的差值越趋于零，则说明批次灯珠面积越接近灯板总面积，得到了对应批次的在灯板的均匀性高的评估，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。

上面是对LED均匀性评估装置的各单元进行详细的描述，下面将对子单元进行详细的描述，请参阅图4，本发明实施例中提供的一种LED均匀性评估装置的另一个实施例包括：

确定单元401，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

确定单元401具体包括：

记录子单元4011，用于记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例；

第一确定子单元4012，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

第一计算单元402，用于根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积；

第一计算单元402具体包括：

第二确定子单元4021，用于根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长；

第一计算子单元4022，用于根据边长按照正方形面积计算公式计算正方形的批次灯珠面积。

第二计算子单元4023，用于对其余批次的灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个批次对应的批次灯珠面积。

第二计算单元403，用于将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。

第二计算单元403具体包括：

第三计算子单元4031，用于将批次灯珠面积与记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算；

第四计算子单元4032，用于将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求第一差值；

第五计算子单元4033，用于对批次面积占比之和与差值计算第二差值。

本实施例中，通过确定单元401在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定，然后第一计算单元402根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积，最后第二计算单元403将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值，便可以是判断灯板总面积与批次灯珠面积的差值越趋于零，则说明批次灯珠面积越接近灯板总面积，得到了对应批次的在灯板的均匀性高的评估，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题，可以有效衡量评估多批次LED灯珠贴片的效果，为LED厂商在批量生产之前提供数据支持，能有效提升LED贴片的质量以及产品良品率。同时能帮助改善多批次混和贴片LED拼接显示墙的显示效果。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种LED均匀性评估方法，其特征在于，包括：

在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积；

将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。

2.根据权利要求1所述的LED均匀性评估方法，其特征在于，在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定具体包括：

记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例；

在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

3.根据权利要求2所述的LED均匀性评估方法，其特征在于，根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积具体包括：

根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的所述中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长；

根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积。

4.根据权利要求3所述的LED均匀性评估方法，其特征在于，根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积之后还包括：

对其余批次的所述灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个所述批次对应的批次灯珠面积。

5.根据权利要求4所述的LED均匀性评估方法，其特征在于，将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值具体包括：

将所述批次灯珠面积与记录每个所述批次的所述灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算；

将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求第一差值；

对所述批次面积占比之和与所述差值计算第二差值。

6.一种LED均匀性评估装置，其特征在于，包括：

确定单元，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；

第一计算单元，用于根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积；

第二计算单元，用于将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。

7.根据权利要求6所述的LED均匀性评估装置，其特征在于，所述确定单元具体包括：

记录子单元，用于记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例；

第一确定子单元，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。

8.根据权利要求7所述的LED均匀性评估装置，其特征在于，第一计算单元具体包括：

第二确定子单元，用于根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的所述中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长；

第一计算子单元，用于根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积。

9.根据权利要求8所述的LED均匀性评估装置，其特征在于，第一计算单元还包括：

第二计算子单元，用于对其余批次的所述灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个所述批次对应的批次灯珠面积。

10.根据权利要求9所述的LED均匀性评估装置，其特征在于，第二计算单元具体包括：

第三计算子单元，用于将所述批次灯珠面积与记录每个所述批次的所述灯珠占灯珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算；

第四计算子单元，用于将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求第一差值；

第五计算子单元，用于对所述批次面积占比之和与所述差值计算第二差值。