CN105162714A - 射频终端的性能检测方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种射频终端的性能检测方法及系统，所述射频终端的性能检测方法包括：引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能。本发明可以脱离射频芯片，直接将射频终端看作二端口网络进行检测和调试，能兼容更多的有源和无源测试方法，可分模块化分析和解决射频匹配类问题，提高射频输出整体性能。
Description
技术领域
本发明属于测试技术领域，涉及一种射频性能测试方法，特别是涉及一种射频终端的性能检测方法及系统。
背景技术
常规无线路由器的射频调试检测方法一般是利用射频信号测试设备连接无线路由器射频天线焊点来检测其射频输入/输出性能。在常规测试方法的测试结构连接中，射频芯片与射频输出终端相连，射频输出终端与天线焊点，射频信号测试设备通过射频测试线与天线焊点相连。该常规测试方法只能测试射频输出末端的射频信号，同时依赖于主芯片(即射频芯片)发射测试信号，属于有源测试，测试结果受主芯片发射的信号质量和整个射频匹配终端等多重因素影响，较难定位具体问题的原因，且不易调试。
本发明的目的是脱离主芯片发射测试信号依赖，直接调试和检测射频终端性能，以此来精确定位问题和扩展调试方法。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种射频终端的性能检测方法及系统，用于解决现有射频性能测试技术中难以精确定位问题原因且不易调试的问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种射频终端的性能检测方法，所述射频终端的性能检测方法包括：引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能。
可选地，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：利用所述测试设备发射射频测试信号至所述第一测试端口；利用所述测试设备接收所述第二测试端口输出的射频测试结果信号；利用所述测试设备根据所述射频测试信号和所述射频测试结果信号确定所述二端口网络的射频信号传输性能。
可选地，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：利用所述测试设备按预设发射功率发射预定频率和预定波形的射频信号至所述第一测试端口；利用所述测试设备获取所述第二测试端口输出的所述预定频率和预定波形的信号的功率，确定所述射频终端的功率增益倍数。
可选地，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：利用所述测试设备按预设发射功率发射预定频率和预定波形的射频信号至所述第一测试端口；利用所述测试设备打开需要的测试结果类型窗口读取所述预定频率和预定波形的射频信号在测试带宽测试速率下的射频信号的性能指标。
可选地，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：利用与所述第一测试端口相连的网络分析仪测试所述射频终端的S参数。
本发明还提供一种射频终端的性能检测系统，所述射频终端的性能检测系统包括：引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；测试设备，与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接，测试所述二端口网络的对应射频性能。
可选地，所述测试设备包括射频信号测试设备；所述射频信号测试设备的VSG端口与所述第一测试端口相连，所述射频信号测试设备的VSA端口与所述第二测试端口相连。
可选地，所述测试设备包括网络分析仪；所述网络分析仪与所述第一测试端口和所述第二测试端口分别相连。
可选地，所述测试设备包括阻抗分析仪；所述阻抗分析仪与所述第一测试端口和所述第二测试端口分别相连。
可选地，所述测试设备包括信号发生器和频谱仪；所述信号发生器与所述第一测试端口相连；所述频谱仪与所述第二测试端口相连。
如上所述，本发明的射频终端的性能检测方法及系统，具有以下有益效果：
本发明可以脱离射频芯片(即主芯片)，直接将射频终端看作二端口网络进行检测和调试，能兼容更多的有源和无源测试方法，可分模块化分析和解决射频匹配类问题，提高射频输出整体性能。
附图说明
图1显示为本发明实施例所述的射频终端的性能检测方法的一种实现流程示意图。
图2显示为本发明实施例所述的射频终端的性能检测方法的一种测试流程示意图。
图3显示为本发明实施例所述的射频终端的性能检测方法的另一种测试流程示意图。
图4显示为本发明实施例所述的射频终端的性能检测方法的第三种测试流程示意图。
图5显示为本发明实施例所述的射频终端的性能检测方法的另第四种测试流程示意图。
图6显示为本发明实施例所述的射频终端的性能检测系统的一种实现结构示意图。
元件标号说明
600射频终端的性能检测系统
610第一测试端口
620第二测试端口
630测试设备
S101～S103步骤
S201～S203步骤
S301～S302步骤
S401～S402步骤
S501步骤
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
请参阅图1，本发明提供一种射频终端的性能检测方法，所述射频终端的性能检测方法包括：
S101，引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口。
S102，引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络。从射频芯片的输出管脚至天线焊点传输信号是射频终端的射频发送(TX)模式。从天线焊点至射频芯片的输出管脚传输信号是射频终端的射频接收(RX)模式。
S103，利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能。
本发明从射频芯片输入/输出管脚引出第一测试端口，直接将整个射频终端(RFfrontend)作为二端口网络进行测试，可兼顾无源和有源测试，并且可极大扩展利用多种测试设备，如阻抗分析仪、网络分析仪、频谱仪和IQxel等测试该射频终端的对应性能，可有效定位问题存在于射频芯片输出信号不良还是后端射频终端不良，便于后续硬件调试工作。即从射频芯片输入/输出管脚处至天线焊点为止整个射频终端(RFfrontend)等效为二端口网络，利用测试设备通过射频测试线与相应测试设备相连，可以检测射频终端的各种性能参数指标。
参见图2所示，步骤S103所述的利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
S201，利用所述测试设备发射射频测试信号至所述第一测试端口。
S202，利用所述测试设备接收所述第二测试端口输出的射频测试结果信号。
S203，利用所述测试设备根据所述射频测试信号和所述射频测试结果信号确定所述二端口网络的射频信号传输性能。其中，所述测试设备可以选用IQxel，此时射频电路输入端(即射频芯片的输出管脚Pin：RF_5G_TX)可以用50Ω射频测试线与IQxel信号发射端口VSG相连；射频电路输出端(即天线焊盘：RF_5G_TX0)用50Ω射频测试线与IQxel信号接收端口VSA相连，如此IQxel就可以测试出所述射频终端的射频信号传输性能。
参见图3所示，步骤S103所述的利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
S301，利用所述测试设备按预设发射功率发射预定频率和预定波形的射频信号至所述第一测试端口。
S302，利用所述测试设备获取所述第二测试端口输出的所述预定频率和预定波形的信号的功率，确定所述射频终端的功率增益倍数。其中，所述测试设备可以选用IQxel，此时在IQxel信号发射端口VSG设置测试频率(如5745MHz)、发射功率(如-5dBm)、波形选择(如CW波)；在IQxel信号接收端口VSA点击运行测试按钮即可读到对应频率的CW波最终功率大小，以此来确定该射频终端中的功率增益倍数，即测试此射频终端的功率放大倍数。
参见图4所示，步骤S103所述的利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
S401，利用所述测试设备按预设发射功率发射预定频率和预定波形的射频信号至所述第一测试端口。
S402，利用所述测试设备打开需要的测试结果类型窗口读取所述预定频率和预定波形的射频信号在测试带宽测试速率下的射频信号的性能指标(功率、EVM、mask和线性离散度)。其中，所述测试设备可以选用IQxel，此时在IQxel信号发射端口VSG设置测试频率(如5745MHz)、发射功率(如-5dBm)、波形选择(如11ac_VHT80_S1_MCS9)，在IQxel信号接收端口VSA点击运行测试按钮并打开需要的测试结果类型窗口即可读取到11ac模式下80MHz带宽MCS9速率下射频信号的POWER、EVM、mask和线性离散度等性能指标，实现对射频终端实际射频信号质量的测试。
参见图5所示，步骤S103所述的利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
S501，利用与所述第一测试端口相连的网络分析仪测试所述射频终端的S参数。其中，所述测试设备可以选用网络分析仪，将射频电路输入\输出端与网络分析仪的输入\输出端相连，设置所需测试频段、功率大小后即可读出测试结果(如S11’、S22’和S21等性能参数)，实现射频终端的S参数测试。
本发明所述的射频终端的性能检测方法的保护范围不限于本实施例列举的步骤执行顺序，凡是根据本发明的原理所做的现有技术的步骤增减、步骤替换所实现的方案都包括在本发明的保护范围内。
本发明还提供一种射频终端的性能检测系统，所述射频终端的性能检测系统可以实现本发明所述的射频终端的性能检测方法，但本发明所述的射频终端的性能检测方法的实现装置包括但不限于本实施例列举的射频终端的性能检测系统的结构，凡是根据本发明的原理所做的现有技术的结构变形和替换，都包括在本发明的保护范围内。
参见图6所示，所述射频终端的性能检测系统600包括：第一测试端口610，第二测试端口620，测试设备630。
引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口610。
引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口620；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；
所述测试设备630与所述第一测试端口610和第二测试端口620分别连接，测试所述二端口网络的对应射频性能。
所述测试设备630包括射频信号测试设备；所述射频信号测试设备的VSG端口与所述第一测试端口相连，所述射频信号测试设备的VSA端口与所述第二测试端口相连。
当所述测试设备为网络分析仪时，所述网络分析仪与所述第一测试端口和所述第二测试端口分别相连，将射频电路输入\输出端与网络分析仪的输入\输出端相连，设置所需测试频段、功率大小后即可读出测试结果(如S11’、S22’和S21等性能参数)，可以实现射频终端的S参数测试。
当所述测试设备为阻抗分析仪时，所述阻抗分析仪与所述第一测试端口和所述第二测试端口分别相连，可以实现所述射频终端的阻抗测试。
当所述测试设备为信号发生器和频谱仪时，所述信号发生器与所述第一测试端口相连；所述频谱仪与所述第二测试端口相连，可以实现所述射频终端对射频信号的频谱响应测试。
本发明可运应用于带外置PA(功率放大器)、LNA(低噪声放大器)或FEM(频域电磁测量模块)的射频终端，兼容2.4G和5G无线路由器的调试和检测方法。
本发明可以脱离射频芯片(即主芯片)，直接将射频终端看作二端口网络进行检测和调试，能兼容更多的有源和无源测试方法，可分模块化分析和解决射频匹配类问题，提高射频输出整体性能。
本发明的测试准备工作包括校准射频测试线线损、移除射频芯片并保留输出PIN，上述举例的射频终端中包括PA模块，故保留PA电源Vref、VCCB、VCC1、VCC2和VCC3使射频终端处于正常工作状态。
综上所述，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (10)
1.一种射频终端的性能检测方法，其特征在于，所述射频终端的性能检测方法包括：
引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；
引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；
利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能。
2.根据权利要求1所述的射频终端的性能检测方法，其特征在于，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
利用所述测试设备发射射频测试信号至所述第一测试端口；
利用所述测试设备接收所述第二测试端口输出的射频测试结果信号；
利用所述测试设备根据所述射频测试信号和所述射频测试结果信号确定所述二端口网络的射频信号传输性能。
3.根据权利要求1所述的射频终端的性能检测方法，其特征在于，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
利用所述测试设备按预设发射功率发射预定频率和预定波形的射频信号至所述第一测试端口；
利用所述测试设备获取所述第二测试端口输出的所述预定频率和预定波形的信号的功率，确定所述射频终端的功率增益倍数。
4.根据权利要求1所述的射频终端的性能检测方法，其特征在于，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
利用所述测试设备按预设发射功率发射预定频率和预定波形的射频信号至所述第一测试端口；
利用所述测试设备打开需要的测试结果类型窗口读取所述预定频率和预定波形的射频信号在测试带宽测试速率下的射频信号的性能指标。
5.根据权利要求1所述的射频终端的性能检测方法，其特征在于，所述利用与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接的测试设备测试所述二端口网络的对应射频性能包括：
利用与所述第一测试端口相连的网络分析仪测试所述射频终端的S参数。
6.一种射频终端的性能检测系统，其特征在于，所述射频终端的性能检测系统包括：
引出与所述射频终端相连的射频芯片的输出管脚作为第一测试端口；
引出与所述射频终端相连的天线焊点作为第二测试端口；所述第一测试端口、所述射频芯片、所述射频终端、所述天线焊点构成二端口网络；
测试设备，与所述第一测试端口和第二测试端口分别连接，测试所述二端口网络的对应射频性能。
7.根据权利要求6所述的射频终端的性能检测系统，其特征在于：所述测试设备包括射频信号测试设备；所述射频信号测试设备的VSG端口与所述第一测试端口相连，所述射频信号测试设备的VSA端口与所述第二测试端口相连。
8.根据权利要求6所述的射频终端的性能检测系统，其特征在于：所述测试设备包括网络分析仪；所述网络分析仪与所述第一测试端口和所述第二测试端口分别相连。
9.根据权利要求6所述的射频终端的性能检测系统，其特征在于：所述测试设备包括阻抗分析仪；所述阻抗分析仪与所述第一测试端口和所述第二测试端口分别相连。
10.根据权利要求6所述的射频终端的性能检测系统，其特征在于：所述测试设备包括信号发生器和频谱仪；所述信号发生器与所述第一测试端口相连；所述频谱仪与所述第二测试端口相连。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20201123 Address after: Room 10242, No. 260, Jiangshu Road, Xixing street, Binjiang District, Hangzhou City, Zhejiang Province Patentee after: Hangzhou Jiji Intellectual Property Operation Co., Ltd Address before: 201616 Shanghai city Songjiang District Sixian Road No. 3666 Patentee before: Phicomm (Shanghai) Co.,Ltd. |
|
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20201222 Address after: 8319 Yanshan Road, Bengbu City, Anhui Province Patentee after: Bengbu Lichao Information Technology Co.,Ltd. Address before: Room 10242, No. 260, Jiangshu Road, Xixing street, Binjiang District, Hangzhou City, Zhejiang Province Patentee before: Hangzhou Jiji Intellectual Property Operation Co., Ltd |
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| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20210312 Address after: 313000 room 1019, Xintiandi commercial office, Yishan street, Wuxing District, Huzhou, Zhejiang, China Patentee after: Huzhou YingLie Intellectual Property Operation Co.,Ltd. Address before: 8319 Yanshan Road, Bengbu City, Anhui Province Patentee before: Bengbu Lichao Information Technology Co.,Ltd. |