CN105161135A - 一种电子产品测试信息的存储方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子产品测试信息的存储方法，包括：按测试顺序，依次对测试信息进行编号排序；按编号排序，监视输入速率大于预设阈值的测试信息并进行标记；按编号排序和标记，将输入速率低于或等于预设阈值的测试信息存储在第一存储器，将输入速度大于预设阈值的测试信息存储在第二存储器；在第一存储器和第二存储器之间设置选择器，用于用户根据测试信息的输入速率快速地从第一存储器或第二存储器调取所需测试信息。本发明所述电子产品测试信息的存储方法，可以克服现有技术中可靠性低、安全性差和信息加密难度大等缺陷，以实现可靠性高、安全性好和信息加密难度小的优点。
Description
技术领域
本发明涉及电子产品技术领域，具体地，涉及一种电子产品测试信息的存储方法。
背景技术
电子技术是十九世纪末、二十世纪初开始发展起来的新兴技术，二十世纪发展最迅速，应用最广泛，成为近代科学技术发展的一个重要标志。
第一代电子产品以电子管为核心。四十年代末世界上诞生了第一只半导体三极管，它以小巧、轻便、省电、寿命长等特点，很快地被各国应用起来，在很大范围内取代了电子管。五十年代末期，世界上出现了第一块集成电路，它把许多晶体管等电子元件集成在一块硅芯片上，使电子产品向更小型化发展。集成电路从小规模集成电路迅速发展到大规模集成电路和超大规模集成电路，从而使电子产品向着高效能低消耗、高精度、高稳定、智能化的方向发展。
电子产品给人们的生活和工作带来了极大的方便，但电子产品的安全性缺成为人们生活和工作信息泄露与否的最重要因素。
在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在可靠性低、安全性差和信息加密难度大等缺陷。
发明内容
本发明的目的在于，针对上述问题，提出一种电子产品测试信息的存储方法，以实现可靠性高、安全性好和信息加密难度小的优点。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种电子产品测试信息的存储方法，包括：
按测试顺序，依次对测试信息进行编号排序；
按编号排序，监视输入速率大于预设阈值的测试信息并进行标记；
按编号排序和标记，将输入速率低于或等于预设阈值的测试信息存储在第一存储器，将输入速度大于预设阈值的测试信息存储在第二存储器；
在第一存储器和第二存储器之间设置选择器，用于用户根据测试信息的输入速率快速地从第一存储器或第二存储器调取所需测试信息。
本发明各实施例的电子产品测试信息的存储方法，由于包括：按测试顺序，依次对测试信息进行编号排序；按编号排序，监视输入速率大于预设阈值的测试信息并进行标记；按编号排序和标记，将输入速率低于或等于预设阈值的测试信息存储在第一存储器，将输入速度大于预设阈值的测试信息存储在第二存储器；在第一存储器和第二存储器之间设置选择器，用于用户根据测试信息的输入速率快速地从第一存储器或第二存储器调取所需测试信息；从而可以克服现有技术中可靠性低、安全性差和信息加密难度大的缺陷，以实现可靠性高、安全性好和信息加密难度小的优点。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。
下面通过实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
具体实施方式
以下对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
根据本发明实施例，提供了一种电子产品测试信息的存储方法，包括：
按测试顺序，依次对测试信息进行编号排序；
按编号排序，监视输入速率大于预设阈值的测试信息并进行标记；
按编号排序和标记，将输入速率低于或等于预设阈值的测试信息存储在第一存储器，将输入速度大于预设阈值的测试信息存储在第二存储器；
在第一存储器和第二存储器之间设置选择器，用于用户根据测试信息的输入速率快速地从第一存储器或第二存储器调取所需测试信息。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (1)
1.一种电子产品测试信息的存储方法，其特征在于，包括：
按测试顺序，依次对测试信息进行编号排序；
按编号排序，监视输入速率大于预设阈值的测试信息并进行标记；
按编号排序和标记，将输入速率低于或等于预设阈值的测试信息存储在第一存储器，将输入速度大于预设阈值的测试信息存储在第二存储器；
在第一存储器和第二存储器之间设置选择器，用于用户根据测试信息的输入速率快速地从第一存储器或第二存储器调取所需测试信息。
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