CN105157840A - 一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪 - Google Patents

一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪 Download PDF

Info

Publication number
CN105157840A
CN105157840A CN201510289760.3A CN201510289760A CN105157840A CN 105157840 A CN105157840 A CN 105157840A CN 201510289760 A CN201510289760 A CN 201510289760A CN 105157840 A CN105157840 A CN 105157840A
Authority
CN
China
Prior art keywords
beam splitter
grating
light
imaging lens
slit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510289760.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105157840B (zh
Inventor
杜述松
相里斌
才啟胜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Academy of Opto Electronics of CAS
Original Assignee
Academy of Opto Electronics of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Academy of Opto Electronics of CAS filed Critical Academy of Opto Electronics of CAS
Priority to CN201510289760.3A priority Critical patent/CN105157840B/zh
Publication of CN105157840A publication Critical patent/CN105157840A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105157840B publication Critical patent/CN105157840B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本发明公开了一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪，包括：平行放置的前置光学系统、狭缝与准直镜，前置光学系统将目标成像在一次像面上，一次像面上放置有狭缝，通过狭缝的光经由准直镜准直后射入分束器；分束器与入射光轴呈一定夹角放置，将一部分光反射至反射镜，另一部分透射至光栅；反射镜与光栅均分别与入射光轴呈一定夹角放置，反射光经由反射镜反射至分束器后透射至成像镜；透射光经由光栅衍射至分束器后反射至成像镜；成像镜与出射光轴垂直放置，由探测器对射入成像镜的光进行探测。本发明公开的光谱成像仪，解决了传统空间外差干涉光谱成像技术中光谱范围窄以及复原光谱的非线性问题，同时，还降低了仪器的装调难度。

Description

一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪
技术领域
本发明涉及光谱成像技术领域，尤其涉及一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪。
背景技术
干涉光谱成像技术从调制方式上来分可分为时间调制、空间调制和时空联合调制三种方式。其中：时间调制干涉光谱成像技术具有运动部件，相比较于空间调制干涉光谱技术稳定性较差。时空联合调制干涉光谱成像技术结合时间调制、空间调制的特点，在某一时刻可以获取某一物点特定光程下的干涉信息，其特点是系统中无狭缝，而且是点到点的成像关系，所有能量全部集中到一个点上，其信噪比高于空间调制干涉光谱仪，通过飞行平台的推扫来获取同一物点不同光程差下的干涉图，对不同推扫时刻的干涉图进行抽取组合后再进行傅里叶变换便可获取光谱信息，其典型代表是大孔径静态干涉光谱成像仪(LASIS)。空间调制干涉光谱成像技术没有运动部件，因而具有很好的稳定性，空间调制干涉光谱成像技术的典型例子是Sagnac干涉光谱仪，Sagnac干涉光谱仪一次成像可以获取一个物点的所有干涉图，通过傅里叶变换便可以获取该物点的光谱信息，横向剪切仪是该类干涉光谱仪的核心元件；另一种特殊的空间调制干涉光谱成像技术是空间外差干涉光谱成像技术，空间外差干涉光谱成像技术采用外差的原理，使得干涉图进行采样时其起始波数不需从0波数开始，而可以从设定的最小波数σmin开始，这样可以大幅减少采样点数，通过较少采样点数情而实现高光谱分辨率，降低了数据的冗余性。
传统的空间外差干涉光谱仪(空间外差式干涉光谱仪)是在迈克尔逊干涉仪中采用一对参数相同的光栅取代反射镜，并使光栅与光轴之间存在一定的夹角，其原理如图1所示；光栅与光轴的夹角满足对于设定的波数σ0的光线经过光栅后其衍射光将原路返回，此时入射光与衍射光之间的光栅方程满足式中θ为入射角也是光栅1与水平方向及光栅2与垂直方向的夹角，被称为利特罗角，m是衍射级次，一般取m＝1，d是光栅密度常数，当入射波数变为σ，光栅方程变为2γ是光线经过光栅1和光栅2后出射波面的夹角。但是，空间外差干涉光谱仪空间外差式干涉光谱仪适合窄谱段范围应用，这是因为只有在窄波数范围情况下其空间频率表达式才可写成当波数范围扩大，线性关系不再满足，该类光谱仪数据反演变得复杂，并且，由于系统中存在两块光栅其装调非常困难。
发明内容
本发明的目的是提供一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪，解决了传统空间外差干涉光谱成像技术中光谱范围窄以及复原光谱的非线性问题，同时，还降低了仪器的装调难度。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：
一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪，包括：前置光学系统、狭缝、准直镜、分束器、光栅、反射镜、成像镜以及探测器；
所述前置光学系统、狭缝与准直镜平行放置，前置光学系统将目标成像在一次像面上，一次像面上放置有狭缝，通过狭缝的光经由准直镜准直后射入分束器；
所述分束器与入射光轴呈一定夹角放置，将一部分光反射至反射镜，另一部分透射至光栅；
所述反射镜与光栅均分别与入射光轴呈一定夹角放置，反射光经由反射镜反射至分束器，再经分束镜透射至成像镜；透射光经由光栅衍射至分束器，再经分束镜反射至成像镜；
所述成像镜与出射光轴垂直放置，由探测器对射入成像镜的光进行探测。
进一步的，所述分束器与入射光轴呈45°角放置，所述反射镜与入射光轴呈θ/2角度放置，光栅与入射光轴呈90°-θ角度放置，入射光轴与出射光轴夹角为90°-θ。
由上述本发明提供的技术方案可以看出，该空间外差干涉光谱成像仪解决了传统的干涉光谱成像仪在通过傅里叶变换时获取光谱信息时，其采样点数需要满足奈奎斯特定理而导致采样点数巨大的问题，当所需探测的目标波数范围为σmin～σmax，需要实现的波数分辨率为Δσ，本发明所述成像仪的结构，使得采样点数只需要满足即可，从而可通过较少的采样点数而现高波数分辨率光谱信息的获取；一方面，解决了传统空间外差干涉光谱成像技术中光谱范围窄以及复原光谱的非线性问题，另一方面，由于只需要一块光栅即可以实现空间外差，降低了仪器的设计难度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。
图1为本发明背景技术提供的传统空间外差干涉光谱仪的示意图；
图2为本发明实施例提供的一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪的示意图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。
实施例
图2为本发明实施例提供的一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪的示意图。如图2所示，其主要包括：前置光学系统L0、狭缝、准直镜L1、分束器BS、光栅G、反射镜M、成像镜L2以及探测器；
所述前置光学系统L0、狭缝与准直镜L1平行放置，前置光学系统L0将目标成像在一次像面上，一次像面上放置有狭缝，通过狭缝的光经由准直镜L1准直后射入分束器；
所述分束器BS与入射光轴呈一定夹角放置，将一部分光反射至反射镜M，另一部分透射至光栅G；
所述反射镜M与光栅G均分别与入射光轴呈一定夹角放置，反射光经由反射镜M反射至分束器BS，再经分束镜BS透射至成像镜L2；透射光经由光栅G衍射至分束器BS，再经分束镜BS反射至成像镜L2；
所述成像镜L2与出射光轴垂直放置，由探测器对射入成像镜L2的光进行探测。
优选的，所述分束器BS与入射光轴呈45°角放置，所述反射镜M与入射光轴呈θ/2角度放置，光栅G与入射光轴呈90°-θ角度放置，入射光轴与出射光轴夹角为90°-θ。
本发明上述宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪，解决了传统的干涉光谱成像仪在通过傅里叶变换时获取光谱信息时，其采样点数需要满足奈奎斯特定理而导致采样点数巨大的问题。当所需探测的目标波数范围为σmin～σmax，需要实现的波数分辨率为Δσ，本发明通过合理的系统设计，使得采样点数只需要满足即可，从而可以通过较少的采样点数而现高波数分辨率光谱信息的获取，同时，还解决了传统空间外差干涉光谱成像技术中光谱范围窄以及复原光谱的非线性问题，并且本发明只需要一块光栅既可以实现空间外差，降低了仪器的装调难度；另外，本发明的特点特别适合高光谱分辨率的探测，例如大气中的CO2、O3等具有特征波长的气体探测，也可以对宽波段范围的目标实现高光谱分辨率的探测。
以上为本发明所提供的宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪的组成结构，下面针对其原理进行说明。
前置光学系统L0将目标成像在一次像面上，一次像面上放置有狭缝，通过狭缝的光经由准直镜L1准直后射入分束器BS；分束器BS具有半透半反的性质，其将一部分光反射至反射镜M，另一部分透射至光栅G；反射光经由反射镜M反射至分束器BS，再经分束镜BS透射至成像镜L2，对于反射光所有波数的光其波前传输方向相同；透射光经由光栅G衍射至分束器BS，再经分束镜BS反射至成像镜L2。
前述光栅G的衍射光与入射光满足光栅方程衍射光的波前方向与波数相关，不同波数光的衍射光波前将不同，对于某一种特定波数的光，当入射角为θ，通过光栅常数d的合理设计，使其衍射光垂直于光栅方向出射，也即衍射角α0＝0°，此时光栅方程为此时的波数被称为基准波数σ0，由于透射光与反射光波前夹角为0，透射光与反射光不产生干涉；当入射光波数为σ≠σ0，此时透射光的衍射光被分束器BS反射后与反射光被反射镜M反射后波前的夹角为衍射角α，且满足光栅方程由于波前方向不同，反射光与透射光将会产生干涉，干涉条纹的空间频率为将代入，因此fx＝σsinα＝(σ-σ0)sinθ，进而干涉条纹强度表达式为对干涉图进行傅里叶变换便可以得到干涉图的频率σ-σ0，由于基准波数已知，进而可得到入射光的光谱。与传统空间外差干涉光谱仪相同，该光谱仪的光谱分辨率由最大光程差决定，其最大光程差为因此波数分辨率为其中D为光栅的口径，θ可根据不同的要求进行设计。
本发明实施例所提供的宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪，其优点为：产生的干涉图是具有外差特性的干涉图，并且适合任意波段范围探测，与传统的空间外差式干涉光谱仪相比较，扩大了波数范围，而且是完全的等波数间隔采样，不存在非线性问题，另外，系统中只有一块光栅，系统的结构也更加的简单；同时，两路光均是一次反射一次透射通过分束器，能量分配更加合理。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。

Claims (2)

1.一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪，其特征在于，包括：前置光学系统、狭缝、准直镜、分束器、光栅、反射镜、成像镜以及探测器；
所述前置光学系统、狭缝与准直镜平行放置，前置光学系统将目标成像在一次像面上，一次像面上放置有狭缝，通过狭缝的光经由准直镜准直后射入分束器；
所述分束器与入射光轴呈一定夹角放置，将一部分光反射至反射镜，另一部分透射至光栅；
所述反射镜与光栅均分别与入射光轴呈一定夹角放置，反射光经由反射镜反射至分束器，再经分束镜透射至成像镜；透射光经由光栅衍射至分束器，再经分束镜反射至成像镜；
所述成像镜与出射光轴垂直放置，由探测器对射入成像镜的光进行探测。
2.根据权利要求1所述的光谱成像仪，其特征在于，所述分束器与入射光轴呈45°角放置，所述反射镜与入射光轴呈θ/2角度放置，光栅与入射光轴呈90°-θ角度放置，入射光轴与出射光轴夹角为90°-θ。
CN201510289760.3A 2015-05-29 2015-05-29 一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪 Active CN105157840B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510289760.3A CN105157840B (zh) 2015-05-29 2015-05-29 一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510289760.3A CN105157840B (zh) 2015-05-29 2015-05-29 一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105157840A true CN105157840A (zh) 2015-12-16
CN105157840B CN105157840B (zh) 2018-03-02

Family

ID=54798779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510289760.3A Active CN105157840B (zh) 2015-05-29 2015-05-29 一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105157840B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105628200A (zh) * 2015-12-24 2016-06-01 南京理工大学 计算光谱成像装置
CN106526690A (zh) * 2016-11-30 2017-03-22 上海卫星工程研究所 视向速度测量的系外行星天基高精度探测系统及方法
CN109656007A (zh) * 2018-12-29 2019-04-19 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 变焦光学系统及成像设备
CN113447125A (zh) * 2021-07-05 2021-09-28 中国科学院空天信息创新研究院 一种多分辨率模式干涉光谱系统
CN113866998A (zh) * 2016-12-08 2021-12-31 未来（北京）黑科技有限公司 用于在空中成像的系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102052968A (zh) * 2010-11-29 2011-05-11 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种宽谱段空间外差光谱仪
CN102937411A (zh) * 2012-11-09 2013-02-20 清华大学 一种双频光栅干涉仪位移测量系统
US20130188181A1 (en) * 2011-10-18 2013-07-25 Stanley Michael Angel Systems and Methods for Spatial Heterodyne Raman Spectroscopy

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102052968A (zh) * 2010-11-29 2011-05-11 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种宽谱段空间外差光谱仪
US20130188181A1 (en) * 2011-10-18 2013-07-25 Stanley Michael Angel Systems and Methods for Spatial Heterodyne Raman Spectroscopy
CN102937411A (zh) * 2012-11-09 2013-02-20 清华大学 一种双频光栅干涉仪位移测量系统

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105628200A (zh) * 2015-12-24 2016-06-01 南京理工大学 计算光谱成像装置
CN105628200B (zh) * 2015-12-24 2017-08-04 南京理工大学 计算光谱成像装置
CN106526690A (zh) * 2016-11-30 2017-03-22 上海卫星工程研究所 视向速度测量的系外行星天基高精度探测系统及方法
CN113866998A (zh) * 2016-12-08 2021-12-31 未来（北京）黑科技有限公司 用于在空中成像的系统
CN109656007A (zh) * 2018-12-29 2019-04-19 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 变焦光学系统及成像设备
CN113447125A (zh) * 2021-07-05 2021-09-28 中国科学院空天信息创新研究院 一种多分辨率模式干涉光谱系统
CN113447125B (zh) * 2021-07-05 2023-02-28 中国科学院空天信息创新研究院 一种多分辨率模式干涉光谱系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN105157840B (zh) 2018-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105157840A (zh) 一种宽谱段范围空间外差干涉光谱成像仪
CN103868596B (zh) 一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪
JP2010230653A (ja) 光波干渉計測装置
CN110806680B (zh) 激光干涉光刻系统
CN103954361B (zh) 一种大孔径多通道空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪
CN208270077U (zh) 高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置
CN104236713B (zh) 一种Fabry‑Perot干涉光谱成像仪
US11248956B2 (en) Optical arrangement for the compensation of incorrect alignments of a reflector in relation to a light source
CN102906535A (zh) 光谱仪
CN105181141A (zh) 一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪
CN105929197A (zh) 一种非对称空间外差干涉测量风速的方法
CN104931124A (zh) 基于双声光调制和偏振分光的迈克尔逊外差激光测振仪
CN104568151B (zh) 一种基于对称楔形干涉腔的高光谱全偏振成像装置及方法
CN108362381B (zh) 一种宽视场大孔径空间外差干涉成像光谱仪
CN108613742B (zh) 一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪
US10641599B2 (en) Extending the range of spectrally controlled interferometry by superposition of multiple spectral modulations
Coe An Investigation of Frequency Scanning Interferometry for the alignment of the ATLAS semiconductor tracker
EP3521784B1 (en) Scanning interferometer with helicoidal prism
US7095504B1 (en) Apodization of beams in an optical interferometer
CN104990619A (zh) 基于双声光调制和消偏振分光的抗偏振混叠迈克尔逊外差激光测振仪
US11385044B2 (en) Extending the range of spectrally controlled interferometry by superposition of multiple spectral modulations
CN111562002B (zh) 高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法
CN104729713A (zh) 一种空间外差干涉光谱成像仪
US6922249B1 (en) Beam masking to reduce cyclic error in beam launcher of interferometer
CN103822716B (zh) 一种高调制度傅立叶变换光谱获取方法及光谱仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant