CN105118924A - 一种防短路的顶发射oled器件及其制备方法 - Google Patents

一种防短路的顶发射oled器件及其制备方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种防短路的顶发射OLED器件及其制备方法。具体而言,本发明的OLED器件包括衬底、防短路反射阳极、空穴注入层、空穴传输层、发光层、兼作间隔层的电子传输层、电子注入层和半透明阴极,其通过包括下列步骤的方法制备:1)衬底的预处理;2)阳极中的铝层的蒸镀;3)阳极中的银层的蒸镀;4)空穴注入层的蒸镀;5)空穴传输层的蒸镀;6)发光层的蒸镀;7)电子传输层的蒸镀;8)电子注入层的蒸镀;和9)阴极的蒸镀。该器件采用铝/银复合阳极,充分发挥了银的高反射率特性,兼顾了铝克服器件短路的优势,彻底解决了纯银阳极的短路问题;同时优化了阴极厚度,兼顾了良好的导电能力和较大的透光率。

Description

一种防短路的顶发射OLED器件及其制备方法
技术领域
本发明属于微电子技术领域,具体涉及一种防短路的顶发射OLED器件及其制备方法。
背景技术
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,OLED)是极具潜力的新一代发光器件,在平面显示技术、大面积发光照明等方面有着非常广阔的应用。它具有自发光、全固态、宽视角、快响应、抗低温、可实现低压驱动及柔性显示等特性,显示出极强的竞争力及发展潜力。
在显示应用方面,主动矩阵有机发光二极管(AMOLED)是主要的发展趋势,其驱动是由薄膜晶体管来控制的。如果采用传统的底发射的形式,则光从衬底出射时,必然被玻璃衬底上的电路金属导线和TFT所遮挡,从而影响其开口率。目前,无论是基于白色有机发光二极管(WOLED)配合彩色滤光片的OLED显示器,还是基于红绿蓝有机发光二极管(RGBOLED)的OLED显示器,大部分厂商都倾向于采用顶发射的OLED形式,使其开口率理论上可以达到100%,进而提高器件寿命和能源利用率。
顶发射有机电致发光器件通过透明的或者半透明的顶部阴极发光,阳极则采用高反射率的金属材料作为反射层,其可以制作在任意的衬底之上。当然还可以采用倒置的结构,从而与传统非晶硅薄膜晶体管(a-SiTFT)n型沟道CMOS工艺达到无缝集成。
在现有的工业化生产工艺中,底部阳极一般采用ITO/Ag/ITO结构。一方面,溅射透明铟锡氧化物(ITO)和光刻两道工艺步骤给整个制程带来了极大的复杂度;另一方面,溅射ITO所用的铟是比较稀缺和贵重的元素,导致生产成本增加。另外,顶部阴极假如也采用高能量的溅射ITO的话,还会对有机层带来损伤。因此,如何简化工艺流程,避免使用高能量的ITO溅射,是大家努力探索的方向。
在可见光波段,银的反射率比铝要强,其导电率是金属中最强的,并且相对于铝,其不易被氧化变性。作为OLED的阳极,其功函数比铝稍大,因此是比较理想的阳极材料。但是,由于银对玻璃衬底的浸润差,导致其作为阳极材料蒸发在玻璃衬底上时粗糙度太大。器件在工作时容易造成尖端放电,从而导致短路。在OLED器件制备中,一般溅射二氧化硅作为玻璃衬底上的缓冲层,这无疑增加了制程的复杂度。如何有效发挥银的长处并且同时简化制程,也是本领域亟待解决的问题。
发明内容
针对上述问题,本发明提供了一种防短路的顶发射OLED器件,其包括衬底以及在所述衬底上由底部至顶部依次蒸镀的阳极、空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层(兼作间隔层)、电子注入层和阴极,其特征在于:
所述阳极为具有双层结构的铝/银复合阳极,其中铝层介于所述衬底和银层之间,所述铝层的厚度为50~60nm并且以0.3~0.5nm/s的蒸发速率经蒸镀而得,所述银层的厚度为40~50nm并且以0.2~0.3nm/s的蒸发速率经蒸镀而得;
所述空穴注入层的厚度为5~15nm;
所述空穴传输层的厚度为35~45nm;
所述发光层的厚度为15~25nm;
所述电子传输层的厚度为10~15nm;
所述电子注入层的厚度为10~20nm;
所述阴极为半透明的纯银阴极,其厚度为15~25nm。
优选的,在上述技术方案中,所述衬底可以选用本领域常用的任何衬底材料,例如硅片、二氧化硅、玻璃等,优选硅片或玻璃,更优选玻璃。
优选的,在上述技术方案中,所述阳极中的铝层的厚度为56nm,银层的厚度为44nm。
优选的,在上述技术方案中,所述空穴注入层的材料为稀土金属氧化物或者有机材料;所述稀土金属氧化物选自氧化钼(MoO3)、氧化铼(ReO3)、氧化钨(WO3)中的任意一种,优选氧化钼;所述有机材料选自聚(3,4-亚乙二氧基噻吩)-聚(苯乙烯磺酸)(PEDOT:PSS)、4,4',4''-三(N-3-甲基苯基-N-苯基氨基)三苯基胺(m-MTDATA)、4,4',4''-三[N-(萘-2-基)-N-苯基氨基]三苯基胺(2-TNATA)中的任意一种,优选PEDOT:PSS(结构如下所示);所述空穴注入层的厚度为10nm。
优选的,在上述技术方案中,所述空穴传输层的材料选自N,N'-二苯基-N,N'-二(萘-1-基)-1,1'-联苯-4,4'-二胺(NPB)、N,N'-二苯基-N,N'-二(3-甲基苯基)-1,1'-联苯-4,4'-二胺(TPD)、4,4'-二(咔唑-9-基)联苯(CBP)中的任意一种,优选NPB(结构如下所示);所述空穴传输层的厚度为40nm。
优选的,在上述技术方案中,所述发光层的材料为三(8-羟基喹啉)铝(Alq3)或其与(E)-4-二氰基亚甲基-2-叔丁基-6-[2-(l,l,7,7-四甲基久洛尼定-9-基)乙烯基]-4H-吡喃(DCJTB)的掺合物(Alq3:DCJTB),优选Alq3(结构如下所示);所述发光层的厚度为20nm。
优选的,在上述技术方案中,所述电子传输层的材料选自4,7-二苯基-1,10-菲罗啉(BPhen)、1,3,5-三(1-苯基-1H-苯并咪唑-2-基)苯(TPBi)、双(2-甲基-8-羟基喹啉-N1,O8)-(1,1'-联苯-4-羟基)铝(BAlq)中的任意一种,优选BPhen(结构如下所示);所述间隔层的厚度为10nm。
优选的,在上述技术方案中,所述电子注入层的材料为所述电子传输层的材料与锂的掺合物,优选4,7-二苯基-1,10-菲罗啉与锂的掺合物(BPhen:Li),其中锂的质量浓度为2%~3%,优选2.5%;所述电子注入层的厚度为15nm。
优选的,在上述技术方案中,所述阴极的厚度为20nm。
另一方面,本发明还提供了一种用于制备上述防短路的顶发射OLED器件的方法,该方法包括下列步骤:
1)衬底的预处理:将衬底依次在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗并烘干;
2)阳极中的铝层的蒸镀:使用铝块在步骤1)中所述衬底上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.3~0.5nm/s,直至达到所需的厚度;
3)阳极中的银层的蒸镀:使用银颗粒在步骤2)中所述铝层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
4)空穴注入层的蒸镀:使用空穴注入层材料在步骤3)中所述银层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
5)空穴传输层的蒸镀:使用空穴传输层材料在步骤4)中所述空穴注入层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
6)发光层的蒸镀:使用发光层材料在步骤5)中所述空穴传输层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
7)电子传输层的蒸镀:使用电子传输层材料在步骤6)中所述发光层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
8)电子注入层的蒸镀:使用作为母体材料的电子传输层材料与掺杂材料掺杂的方式在步骤7)中所述电子传输层上进行共蒸,控制所述电子传输层材料的蒸发速率为0.2~0.3nm/s,同时根据所述掺杂材料的掺杂比率来调节其蒸发速率,直至达到所需的厚度,其中所述掺杂材料为氮化锂,其热分解后释放出的锂被掺入所述电子传输层材料;
9)阴极的蒸镀:使用银颗粒在步骤8)中所述电子注入层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度,即得防短路的顶发射OLED器件。
优选的,在上述技术方案中,步骤1)中所述超声清洗的时间为5~20分钟,优选10分钟,并且本领域技术人员有能力根据所选的衬底来调整具体的清洗时间。
优选的,在上述技术方案中,步骤1)中所述烘干的温度为110~150℃,优选120℃;时间为10~30分钟,优选20分钟。
优选的,在上述技术方案中,所述蒸镀通过常规的真空热蒸发仪来完成。
优选的,在上述技术方案中,用于所述蒸镀的各种材料如上所定义,并且其纯度均为99%以上;其中步骤2)中所述铝块的直径为2~3mm;步骤3)和步骤9)中所述银颗粒的直径为1mm。
优选的,在上述技术方案中,在获得所述防短路的顶发射OLED器件之后,将其封装,以便减少氧气和水蒸汽的破坏作用。
与现有技术相比,采用上述技术方案的本发明具有如下优点:
(1)本发明的OLED器件采用铝/银复合阳极,充分发挥了银的高反射率特性,同时兼顾了铝作为阳极时不会造成器件短路的优势,并且成功优化出复合阳极的最佳厚度(56nm的铝+44nm的银),彻底解决了纯银作为阳极时器件短路的问题;
(2)本发明所采用的铝/银复合阳极避免了溅射ITO的制备步骤,简化了制备过程;同时避免使用存量稀少、价格昂贵的铟材料,大大节省了原料成本;
(3)作为银的结晶引导层,铝首先沉积在普通衬底上,然后再层叠银而组成复合阳极,彻底解决了银与衬底的浸润度差的问题,从而有利于克服器件短路;
(4)本发明的OLED器件中的纯银阴极的厚度也得到了最优化:太薄则导电性较低,太厚则透光率较差;20nm左右的厚度使阴极兼顾了良好的导电能力和较大的透光率;此外,采用蒸镀银电极还避免了高能量溅射ITO对有机层带来的损伤;
(5)本发明的顶发射器件对衬底的选择比较宽松,适用于各种衬底材料,兼容性更好;
(6)以掺杂锂的Bphen作为电子注入层有利于降低电子注入势垒和提高导电能力;同时作为电子传输层的Bphen还兼做间隔层,有利于减小由于锂原子扩散到发光层中而引起的荧光猝灭作用。
附图说明
图1为纯铝阳极和铝/银复合阳极的反射率随着波长变化的曲线图。
图2为固定铝/银复合阳极总厚度而改变银层厚度的反射率曲线图。
图3为在AFM下观察到的不同金属膜的形貌特征图,其中(a)代表纯铝膜(100nm),(b)代表铝/银复合膜(56+44nm),(c)代表纯银膜(100nm)。
图4为具有不同阳极的两种顶发射OLED器件的层状结构示意图,其中(a)代表包含纯铝阳极(100nm)的器件,(b)代表包含铝/银复合阳极(56+44nm)的器件。
图5为具有不同阳极的两种顶发射OLED器件的发光强度随电流密度变化的曲线图,其中(a)代表包含纯铝阳极(100nm)的器件,(b)代表包含铝/银复合阳极(56+44nm)的器件。
图6是采用纯铝电极和铝/银复合电极作为阳极的OLED器件的电压-电流密度特性和亮度-电流密度的性能曲线图。
图7是采用纯铝电极和铝/银复合电极作为阳极的OLED器件的电流效率-电流密度和光功率效率-电流密度的性能曲线图。
具体实施方式
以下将结合附图和具体实施例对本发明做出详细说明,然而本领域技术人员应当理解的是,本发明的保护范围并不局限于此。
实施例1:防短路的顶发射OLED器件的制备。
关于实验材料与仪器的说明如下:
使用常规的真空热蒸发仪(本底真空度读数低于4×10-6Torr)进行蒸镀,整个器件在同一腔体中于不间断的真空条件下制备而得;将衬底放在齿轮电机驱动的匀速转动(约30RPM)的转盘的卡槽上以倒置(蒸发源在下,衬底在上)的方式依次沉积所蒸发的材料以形成最终器件;有机层和金属电极层分别通过更换掩膜板进行蒸镀;使用石英晶振仪(SI-TM606A)监控膜厚度;使用椭圆偏振光测量仪(Alpha-SESpectroscopicEllipsometer)校准实际的蒸镀膜厚度。
具体操作步骤如下:
(1)衬底的预处理:将作为衬底的普通光学玻璃(有效面积为0.09cm2,即0.3cm×0.3cm)依次在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗10分钟,120℃烘干20分钟;
(2)阳极中的铝层的蒸镀:将高纯小铝块(直径约为5~6mm,购自alfa,纯度为99.999%)切割成大约2~3mm见方的小块,放入氮化硼坩埚中,用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.3~0.5nm/s,直至在玻璃衬底上蒸镀的铝层达到56nm;
(3)阳极中的银层的蒸镀:使用高纯银颗粒(直径约为1mm,购自alfa,纯度为99.99%),用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在铝层上蒸镀的银层达到44nm;
(4)空穴注入层的蒸镀:使用高纯MoO3(淡蓝色粉末,购自alfa,纯度为99.998%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在银层上蒸镀的空穴注入层达到10nm;
(5)空穴传输层的蒸镀:使用高纯NPB(淡黄色粉末,购自alfa,纯度为98%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在空穴注入层上蒸镀的空穴传输层达到40nm;
(6)发光层的蒸镀:使用高纯Alq3(黄色粉末,购自alfa,99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在空穴传输层上蒸镀的发光层达到20nm;
(7)电子传输层的蒸镀:使用高纯BPhen(白色粉末,购自alfa,纯度为99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在发光层上蒸镀的电子传输层达到10nm;
(8)电子注入层的蒸镀:使用高纯BPhen(白色粉末,购自alfa,纯度为99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,同时根据掺杂比率来调节掺杂材料氮化锂(Li3N)(棕色粉末,购自alfa,纯度为99.4%,热分解后释放出的锂能够共蒸掺入BPhen)的蒸发速率,直至在电子传输层上蒸镀的电子注入层达到15nm;
(9)阴极的蒸镀:使用高纯银颗粒(直径约为1mm,购自alfa,纯度为99.99%),用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在电子注入层上蒸镀的阴极达到20nm,即得防短路的顶发射OLED器件。
当蒸镀完所有材料制成器件后,为了减少氧气和水蒸汽对器件的破坏,可以将器件粘接玻璃盖板进行简单封装。
实施例2:防短路的顶发射OLED器件的制备。
具体操作步骤如下:
(1)衬底的预处理:将作为衬底的普通光学玻璃(有效面积为0.09cm2,即0.3cm×0.3cm)依次在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗5分钟,110℃烘干30分钟;
(2)阳极中的铝层的蒸镀:将高纯小铝块(直径约为5~6mm,购自alfa,纯度为99.999%)切割成大约2~3mm见方的小块,放入氮化硼坩埚中,用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.3~0.5nm/s,直至在玻璃衬底上蒸镀的铝层达到60nm;
(3)阳极中的银层的蒸镀:使用高纯银颗粒(直径约为1mm,购自alfa,纯度为99.99%),用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在铝层上蒸镀的银层达到50nm;
(4)空穴注入层的蒸镀:使用高纯MoO3(淡蓝色粉末,购自alfa,纯度为99.998%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在银层上蒸镀的空穴注入层达到15nm;
(5)空穴传输层的蒸镀:使用高纯NPB(淡黄色粉末,购自alfa,纯度为98%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在空穴注入层上蒸镀的空穴传输层达到45nm;
(6)发光层的蒸镀:使用高纯Alq3(黄色粉末,购自alfa,99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在空穴传输层上蒸镀的发光层达到25nm;
(7)电子传输层的蒸镀:使用高纯BPhen(白色粉末,购自alfa,纯度为99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在发光层上蒸镀的电子传输层达到15nm;
(8)电子注入层的蒸镀:使用高纯BPhen(白色粉末,购自alfa,纯度为99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,同时根据掺杂比率来调节掺杂材料氮化锂(Li3N)(棕色粉末,购自alfa,纯度为99.4%,热分解后释放出的锂能够共蒸掺入BPhen)的蒸发速率,直至在电子传输层上蒸镀的电子注入层达到20nm;
(9)阴极的蒸镀:使用高纯银颗粒(直径约为1mm,购自alfa,纯度为99.99%),用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在电子注入层上蒸镀的阴极达到25nm,即得防短路的顶发射OLED器件。
当蒸镀完所有材料制成器件后,为了减少氧气和水蒸汽对器件的破坏,可以将器件粘接玻璃盖板进行简单封装。
实施例3:防短路的顶发射OLED器件的制备。
具体操作步骤如下:
(1)衬底的预处理:将作为衬底的普通光学玻璃(有效面积为0.09cm2,即0.3cm×0.3cm)依次在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗20分钟,150℃烘干10分钟;
(2)阳极中的铝层的蒸镀:将高纯小铝块(直径约为5~6mm,购自alfa,纯度为99.999%)切割成大约2~3mm见方的小块,放入氮化硼坩埚中,用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.3~0.5nm/s,直至在玻璃衬底上蒸镀的铝层达到50nm;
(3)阳极中的银层的蒸镀:使用高纯银颗粒(直径约为1mm,购自alfa,纯度为99.99%),用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在铝层上蒸镀的银层达到40nm;
(4)空穴注入层的蒸镀:使用高纯MoO3(淡蓝色粉末,购自alfa,纯度为99.998%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在银层上蒸镀的空穴注入层达到5nm;
(5)空穴传输层的蒸镀:使用高纯NPB(淡黄色粉末,购自alfa,纯度为98%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在空穴注入层上蒸镀的空穴传输层达到35nm;
(6)发光层的蒸镀:使用高纯Alq3(黄色粉末,购自alfa,99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在空穴传输层上蒸镀的发光层达到15nm;
(7)电子传输层的蒸镀:使用高纯BPhen(白色粉末,购自alfa,纯度为99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在发光层上蒸镀的电子传输层达到10nm;
(8)电子注入层的蒸镀:使用高纯BPhen(白色粉末,购自alfa,纯度为99%),用石英舟在钽皮上蒸发,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,同时根据掺杂比率来调节掺杂材料氮化锂(Li3N)(棕色粉末,购自alfa,纯度为99.4%,热分解后释放出的锂能够共蒸掺入BPhen)的蒸发速率,直至在电子传输层上蒸镀的电子注入层达到10nm;
(9)阴极的蒸镀:使用高纯银颗粒(直径约为1mm,购自alfa,纯度为99.99%),用钽皮蒸发,调整电流加热功率,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至在电子注入层上蒸镀的阴极达到15nm,即得防短路的顶发射OLED器件。
当蒸镀完所有材料制成器件后,为了减少氧气和水蒸汽对器件的破坏,可以将器件粘接玻璃盖板进行简单封装。
实施例4:阳极反射率的计算。
采用铝(50nm)+银(50nm)作为阳极反射层,制备了相应的Alq3绿光OLED。经检测发现,该器件无短路现象。在此基础上,采用光学薄膜设计的方法进行厚度优化设计。编写MATLAB仿真程序,固定总厚度为100nm,经计算得到56nm的铝+44nm的银为最佳厚度。此时,复合阳极的银面的反射率在波长为528nm(底发射的Alq3OLED器件的出射光波长)的条件下为93%,比纯银阳极的反射率(92.5%)还稍大,并且远大于纯铝阳极的反射率(87%),其结果如图1~2所示。
实施例5:薄膜的粗糙度测试。
为了进一步验证实验设计,本发明制备了不同的金属膜,并用原子力显微镜(AFM)进行形貌观察验证,其结果如图3所示。可以发现,纯铝膜的成膜非常平坦,结晶状态良好,均方根粗糙度为1.32nm;但纯银膜的粗糙度非常大,均方根粗糙度为11.9nm;铝/银复合膜的粗糙度大为改善,均方根粗糙度为3.57nm,因而能够克服器件短路的问题。
实施例6:分别采用铝/银复合膜和纯铝膜作为阳极的OLED器件(无短路现象)的性能对比测试。
为了与实施例1中采用铝/银复合阳极的OLED器件(对应图4中的(b))进行对比,制备了采用纯铝膜作为阳极的OLED器件(对应图4中的(a)),其中MoO3用作空穴注入层材料,NPB用作空穴传输层材料,Alq3用作发光层材料,Bphen用作电子传输和电子注入层材料,掺杂锂的Bphen用作间隔层材料,半透明的纯银膜用作阴极材料。由于空穴传输层材料NPB的导电能力远大于电子传输和电子注入层材料Bphen,因此采用改变空穴传输层厚度的方法来调节光程。经过反复测试,得到了优化后的器件厚度参数,如图4所示,各层材料的折射率也一并示出。
在自建EL光电测试系统中进行测试,系统由恒流电源(Keithley2400)、光度计(PR655)和控制软件组成。经EL光电测试得到的OLED器件的各项试验数据如图5~7所示。
从图5中可以发现,采用铝/银复合阳极的器件的发光强度明显高于采用纯铝阳极的器件。
从图6和图7中可以发现,与采用纯铝阳极的OLED器件相比,采用铝/银复合阳极的OLED器件的电流效率增加了15%,光功率效率增加了25%。在40mA/cm2的驱动电流密度下,驱动电压从5.2V下降到4.6V。在相同的驱动电流密度下,采用铝/银复合阳极的器件的发光亮度高于采用纯铝阳极的器件。上述结果均证实,本发明中的防短路的顶发射OLED器件具有优良的光电性能,克服了现有技术中的问题,极具深度研究和开发的前景。

Claims (10)

1.一种防短路的顶发射OLED器件,其包括衬底以及在所述衬底上由底部至顶部依次蒸镀的阳极、空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层、电子注入层和阴极,其特征在于:
所述阳极为具有双层结构的铝/银复合阳极,其中铝层介于所述衬底和银层之间,所述铝层的厚度为50~60nm并且以0.3~0.5nm/s的蒸发速率经蒸镀而得,所述银层的厚度为40~50nm并且以0.2~0.3nm/s的蒸发速率经蒸镀而得;
所述空穴注入层的厚度为5~15nm;
所述空穴传输层的厚度为35~45nm;
所述发光层的厚度为15~25nm;
所述电子传输层的厚度为10~15nm;
所述电子注入层的厚度为10~20nm;
所述阴极为半透明的纯银阴极,其厚度为15~25nm。
2.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述阳极中的铝层的厚度为56nm,银层的厚度为44nm;
所述空穴注入层的厚度为10nm;
所述空穴传输层的厚度为40nm;
所述发光层的厚度为20nm;
所述电子传输层的厚度为10nm;
所述电子注入层的厚度为15nm;
所述阴极的厚度为20nm。
3.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述衬底选自硅片、二氧化硅、玻璃中的任意一种,优选硅片或玻璃,更优选玻璃。
4.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述空穴注入层的材料为稀土金属氧化物或者有机材料;所述稀土金属氧化物选自氧化钼、氧化铼、氧化钨中的任意一种,优选氧化钼;所述有机材料选自聚(3,4-亚乙二氧基噻吩)-聚(苯乙烯磺酸)、4,4',4''-三(N-3-甲基苯基-N-苯基氨基)三苯基胺、4,4',4''-三[N-(萘-2-基)-N-苯基氨基]三苯基胺中的任意一种,优选聚(3,4-亚乙二氧基噻吩)-聚(苯乙烯磺酸)。
5.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述空穴传输层的材料选自N,N'-二苯基-N,N'-二(萘-1-基)-1,1'-联苯-4,4'-二胺、N,N'-二苯基-N,N'-二(3-甲基苯基)-1,1'-联苯-4,4'-二胺、4,4'-二(咔唑-9-基)联苯中的任意一种,优选N,N'-二苯基-N,N'-二(萘-1-基)-1,1'-联苯-4,4'-二胺。
6.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述发光层的材料为三(8-羟基喹啉)铝或其与(E)-4-二氰基亚甲基-2-叔丁基-6-[2-(l,l,7,7-四甲基久洛尼定-9-基)乙烯基]-4H-吡喃的掺合物,优选三(8-羟基喹啉)铝。
7.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述电子传输层的材料选自4,7-二苯基-1,10-菲罗啉、1,3,5-三(1-苯基-1H-苯并咪唑-2-基)苯、双(2-甲基-8-羟基喹啉-N1,O8)-(1,1'-联苯-4-羟基)铝中的任意一种,优选4,7-二苯基-1,10-菲罗啉。
8.根据权利要求1所述的防短路的顶发射OLED器件,其特征在于:
所述电子注入层的材料为所述电子传输层的材料与锂的掺合物,优选4,7-二苯基-1,10-菲罗啉与锂的掺合物,其中锂的质量浓度为2%~3%,优选2.5%。
9.一种用于制备根据权利要求1至8中任一项所述的防短路的顶发射OLED器件的方法,其包括下列步骤:
1)衬底的预处理:将衬底依次在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗并烘干;
2)阳极中的铝层的蒸镀:使用铝块在步骤1)中所述衬底上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.3~0.5nm/s,直至达到所需的厚度;
3)阳极中的银层的蒸镀:使用银颗粒在步骤2)中所述铝层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
4)空穴注入层的蒸镀:使用空穴注入层材料在步骤3)中所述银层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
5)空穴传输层的蒸镀:使用空穴传输层材料在步骤4)中所述空穴注入层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
6)发光层的蒸镀:使用发光层材料在步骤5)中所述空穴传输层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
7)电子传输层的蒸镀:使用电子传输层材料在步骤6)中所述发光层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度;
8)电子注入层的蒸镀:使用作为母体材料的电子传输层材料与掺杂材料掺杂的方式在步骤7)中所述电子传输层上进行共蒸,控制所述电子传输层材料的蒸发速率为0.2~0.3nm/s,同时根据所述掺杂材料的掺杂比率来调节其蒸发速率,直至达到所需的厚度,其中所述掺杂材料为氮化锂,其热分解后释放出的锂被掺入所述电子传输层材料;
9)阴极的蒸镀:使用银颗粒在步骤8)中所述电子注入层上进行蒸镀,控制其蒸发速率为0.2~0.3nm/s,直至达到所需的厚度,即得防短路的顶发射OLED器件。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于:
所述超声清洗的时间为5~20分钟,优选10分钟;
所述烘干的温度为110~150℃,优选120℃;时间为10~30分钟,优选20分钟;
所述蒸镀通过真空热蒸发仪来完成;
用于所述蒸镀的各种材料的纯度均为99%以上,其中所述铝块的直径为2~3mm,所述银颗粒的直径为1mm。
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