CN105021413B - 摄像模块性能测试方法 - Google Patents

Abstract

一种摄像模块性能测试方法，包括以下步骤：提供一摄像模块，测量摄像模块的尺寸参数；将摄像模块与直流稳压电源电连接，常温下测量摄像模块的电参数；将摄像模块置于温箱内，对摄像模块进行温度测试；将摄像模块从温箱中取出，并恢复至常温；提供一灯具，将摄像模块与灯具装配，开启摄像模块进行放电测试；对装配好的灯具组件进行电磁干扰测试；对装配好的灯具组件进行按键疲劳测试；对摄像模块上的各发热器件进行温度测试；将摄像模块置于温箱内，开启录像功能，对摄像模块进行耐久性测试。本发明实施例提供的摄像模块性能测试方法，能及时发现摄像模块的缺陷，有效达到检测摄像模块由于设计、制作工艺或装配使用环境原因造成异常的目的。

Description

摄像模块性能测试方法

技术领域

本发明涉及一种摄像模块性能测试方法。

背景技术

摄像手电筒不仅具有移动照明功能，还具有录像功能、照相功能以及录音功能，在使用时各种功能互相独立，操作简单，因此被广泛使用于保安、巡逻、执勤及矿工等行业。

现有的摄像手电筒的外壳一般采用环保合金材质，不仅耐磨耐用，且防水、防震及耐腐蚀性好，因而可在高低温及其他恶劣环境中使用。当在使用过程中，摄像手电筒内部的摄像模块会因为自身的生产材料、装配组件的质量以及使用的环境而影响使用的性能，导致局部出现异常或故障，因而给使用者的工作带来了极大的不便。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够测试摄像模块自身性能及在不同使用环境中的使用性能测试方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种摄像模块性能测试方法，该方法包括以下步骤：

提供一摄像模块；

检查所述摄像模块上的接口及引线是否牢靠；

将所述摄像模块与一直流稳压电源电连接，常温下测量所述摄像模块的电参数；

将所述摄像模块置于一温箱内，对所述摄像模块进行温度测试；

将所述摄像模块从所述温箱中取出，并恢复至常温；

提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，开启所述摄像模块，对所述摄像模块进行放电测试；

对上述装配好的灯具组件模拟周围电磁干扰环境，进行电磁干扰测试；

对上述装配好的灯具组件上的各功能键进行按键疲劳测试；

对所述摄像模块上的各发热器件进行温度测试；

将所述摄像模块与所述灯具分离，将所述摄像模块置于一温箱内，开启所述摄像模块的录像功能，对所述摄像模块进行耐久性测试；

将所述摄像模块从所述温箱中取出，并恢复至常温，测量所述摄像模块的电参数，并与之前常温下测试的电参数进行对比。

其中，在将摄像模块与一直流稳压电源电连接，常温下测量所述摄像模块的电参数的步骤中，还包括以下步骤：

在所述直流稳压电源上分别输入第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压，测量并记录在相应的电压下所述摄像模块的电参数；

检查所述摄像模块的开机及待机状态；

在直流稳压电源上分别切换所述第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压，观察在切换各所述电压时所述摄像模块的拍照及录像功能；

测量所述摄像模块的低压保护电压及漏电流。

其中，所述第一预设电压为3.3V，所述第二预设电压为3.7V，所述第三预设电压为4.2V。

其中，在将所述摄像模块置于一温箱内，对所述摄像模块进行温度测试的步骤中还包括以下步骤：

将所述摄像模块以第一预设温度保温一第一预设时间，所述第一预设温度低于常温；

在所述直流稳压电源上输入额定电压，启动所述摄像模块的录像功能，并连续录像一第二预设时间，观察所述摄像模块的工作情况；

改变所述温箱温度，将所述摄像模块一第二预设温度保温所述第一预设时间，所述第二预设温度高于常温；

在所述直流稳压电源上输入额定电压，启动所述摄像模块的录像功能，并连续录像一第二预设时间，观察所述摄像模块的工作情况。

其中，所述第一预设温度为-25℃，所述第一预设时间为2小时，所述第二预设温度为45℃，所述第二预设时间为1小时。

其中，在提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，开启所述摄像模块，对所述摄像模块进行放电测试的步骤中还包括以下步骤：

检查所述摄像模块与所述灯具的部件是否干涉；

将所述摄像模块分别以不开灯状态及开灯状态连续录像，观察录像过程，并记录所述摄像模块显示屏出现低压警示保护的时间及灯灭的时间。

其中，在对上述装配好的灯具组件上的各功能键进行按键疲劳测试的步骤中还包括以下步骤：

常温下检查所述灯具组件各功能键的按键是否正常；

提供一拉力计；

用所述拉力计测量所述灯具组件各功能键的导通力度，并记录数据。

将所述灯具组件设于所述按键疲劳机上，对所述摄像模块的各功能键进行的开关疲劳测试；

使用所述拉力计测量所述灯具组件的导通力度，记录下数据并与之前记录的数据对比。

其中，在对所述摄像模块上的各发热器件进行温度测试的步骤中还包括以下步骤：

将所述摄像模块从上述灯具组件上拆卸；

提供多个热电偶，在常温下将各所述热电偶设于所述摄像模块的各个发热器件上；

再次将所述摄像模块与所述灯具装配，将上述灯具组件置于常温无风环境下，开启所述灯具光源并开启连续录像功能，测量所述摄像模块各发热器件的温度直至所述摄像模块自动关机。

其中，在将所述摄像模块与灯具分离，将所述摄像模块置于一温箱内，开启所述摄像模块的录像功能，对所述摄像模块进行耐久性测试的步骤中还包括以下步骤：

将所述摄像模块置于一温箱内，以一第三预设温度保温一第三预设时间；

开启所述摄像模块的摄像功能，并连续摄像一第四预设时间之后，暂停一第五预设时间，以此进行一预设周期的测试。

其中，所述第三预设温度为50℃，所述第三预设时间为2小时，所述第四预设时间为23小时，所述第五预设时间为1小时，所述预设周期为7。

本发明实施例提供的摄像模块性能测试方法，通过常温电参数测试、温度测试、放电测试、电磁测试、按键疲劳测试及耐久性测试的综合测试，能及时发现摄像模块的缺陷，有效达到检测摄像模块由于设计、制作工艺或装配使用环境原因造成异常的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明提供的摄像模块性能测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参阅图1，本发明实施方式提供的一种摄像模块性能测试方法。该方法包括以下步骤：

步骤S1：提供一摄像模块。

步骤S2：检查所述摄像模块上的接口及引线是否牢靠。即检查所述摄像模块上的接口、引线、及各电子器件的焊接的异常情况，以避免摄像模块出厂即存在的不良情况，防止在测试中途对结果的误判，保证测试的准确可靠。本步骤可在光线明亮的环境下通过目测检查。此外，还可通过游标卡尺进行测量所述摄像模块的尺寸，以避免因尺寸不合格对测试结果造成影响。

步骤S3：将所述摄像模块与一直流稳压电源电连接，常温下测量所述摄像模块的电参数。本步骤的目的是用直流稳压电源代替传统电池，从而便于调节电压，提高测试效率。

测量时，在所述直流稳压电源上分别输入第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压，测量并记录在相应的电压下所述摄像模块的电参数，然后检查所述摄像模块的开机及待机状态，再次在所述直流稳压电源上分别切换所述第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压，观察在切换各所述电压时所述摄像模块的拍照及录像功能，然后根据录像情况测量所述摄像模块的低压保护电压及漏电流。

所述第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压均根据配套灯具的使用电压确定。具体地，所述第一预设电压为3.3V，所述第二预设电压为3.7V，所述第三预设电压为4.2V。通过在直流稳压电源上切换不同的电压，测量所述摄像模块的工作情况，从而便于测试所述摄像模块在低压、常压及高压环境下的使用参数变化，确保在不同电压下的使用可靠性。

步骤S4：将所述摄像模块置于一温箱内，对所述摄像模块进行温度测试。温度测试包括低温测试和高温测试，从而便于确定所述摄像模块在不同温度下的工作安全性。

测试时，将所述摄像模块以第一预设温度保温一第一预设时间，所述第一预设温度低于常温；在所述直流稳压电源上输入额定电压，启动所述摄像模块的录像功能，并连续录像一第二预设时间，观察所述摄像模块的工作情况。

改变所述温箱温度，将所述摄像模块一第二预设温度保温所述第一预设时间，所述第二预设温度高于常温；在所述直流稳压电源上输入额定电压，启动所述摄像模块的录像功能，并连续录像一第二预设时间，观察所述摄像模块的工作情况。

所述第一预设温度、第二预设温度、所述第一预设时间及第二预设时间均根据实际使用情况确定。具体地，所述第一预设温度为-25℃，所述第一预设时间为2小时，所述第二预设温度为45℃，所述第二预设时间为1小时。通过模拟低温及高温的环境，从而便于确定所述摄像模块在实际使用中的低温性能及高温性能。

步骤S5：将所述摄像模块从所述温箱中取出，并恢复至常温。本步骤用于将所述摄像模块恢复至常温，以便于后续测试的进行。

步骤S6：提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，开启所述摄像模块，对所述摄像模块进行放电测试。本步骤的目的用于测试所述摄像模块在灯具中的放电是否正常。

测试时，检查所述摄像模块与所述灯具的部件是否干涉；然后将所述摄像模块分别以不开灯状态及开灯状态连续录像，观察录像过程，并记录所述摄像模块显示屏出现低压警示保护的时间及灯灭的时间。通过检查摄像模块与灯具是否存在干涉，以便于确定所述摄像模块的装配匹配性。通过连续录像快速确定所述摄像模块的放电情况是否符合技术要求。

步骤S7：对上述装配好的灯具组件模拟周围电磁干扰环境，进行电磁干扰测试。本步骤的主要目的是为了测试在不同的电磁干扰环境中摄像模块的工作情况，是否出现异常或死机，以便于确定摄像模块的适用环境。本实施例中，使用的电磁干扰为对讲机通话，观察在对讲机通话状态下摄像模块的各个功能的使用情况。当然，在其他实施例中，也可使用其他干扰源对所述摄像模块进行测试，电力网络或电气设备等。

步骤S8：对上述装配好的灯具组件上的各功能键进行按键疲劳测试。本步骤用于测试所述灯具及摄像模块的各功能键的耐疲劳强度，以便于确保使用质量。

具体地：首先在常温下检查所述灯具组件各功能键的按键是否正常；然后提供一拉力计，用所述拉力计测量所述灯具组件各功能键的导通力度，并记录数据；然后将所述灯具组件设于所述按键疲劳机上，对所述摄像模块的各功能键进行的开关疲劳测试，再使用所述拉力计测量所述灯具组件的导通力度，记录下数据并与之前记录的数据对比。本实施例中，可设置开关速度为30000/s的速度进行按键测试，以加快测试的速度。

步骤S9：对所述摄像模块上的各发热器件进行温度测试。具体地，将所述摄像模块从上述灯具组件上拆卸；提供多个热电偶，在常温下将各所述热电偶设于所述摄像模块的各个发热器件上；再次将所述摄像模块与所述灯具装配，将上述灯具组件置于常温无风环境下，开启所述灯具光源并开启连续录像功能，测量所述摄像模块各发热器件的温度直至所述摄像模块自动关机。使用热电偶可快速测试出所述摄像模块的各电子元器件的温度，从而便于确定在灯具中各所述发热器件的工作温度，确保所述摄像模块的使用安全性。

步骤S10：将摄像模块与灯具分离，将所述摄像模块置于一温箱内，开启所述摄像模块的录像功能，对所述摄像模块进行耐久性测试。

测量时：将所述摄像模块置于一温箱内，以一第三预设温度保温一第三预设时间；开启所述摄像模块的摄像功能，并连续摄像一第四预设时间之后，暂停一第五预设时间，以此进行一预设周期的测试。

具体地，所述第三预设温度为50℃，所述第三预设时间为2小时，所述第四预设时间为23小时，所述第五预设时间为1小时，所述预设周期为7。通过温箱模拟高温环境，从而便于确定在高温条件下所述摄像模块的工作情况，以确保所述摄像模块在长期连续工作的使用可靠性。

步骤S11：将所述摄像模块从所述温箱中取出，并恢复至常温，测量所述摄像模块的电参数，并与之前常温下测试的电参数进行对比。该步骤用于测试在长期连续工作之后，摄像模块的工作参数与未进行长期连续工作的参数对比，以确定摄像模块在经过长期工作之后是否依然保持良好的质量。

本发明实施例提供的摄像模块性能测试方法，通过常温电参数测试、温度测试、放电测试、电磁测试、按键疲劳测试及耐久性测试的综合测试，能及时发现摄像模块的缺陷，有效达到检测摄像模块由于设计、制作工艺或装配使用环境原因造成异常的目的。

本发明实施例提供的摄像模块性能测试方法，能检测出摄像模块由于设计、制作工艺或装配使用环境不符合产生的异常，提前发现此类摄像模块存在的缺陷，避免其经过一段时间使用后出现异常导致整个灯具出现故障。本测试方法可以对摄像模块进行检测，为产品提供高品质的摄像模块及提高产品的总体可靠性。

本检测方法为新产品开发选用优质的样品提供了依据，为摄像模块检验提供了一种检验方法，使产品能在经过长期使用后，仍具有较高的品质水准，满足客户长期使用的需求，同时也有益于提高产品的可靠度，使产品具有更高的市场竞争力。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种摄像模块性能测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

提供一摄像模块；

检查所述摄像模块上的接口及引线是否牢靠；

将所述摄像模块与一直流稳压电源电连接，常温下测量所述摄像模块的电参数；

将所述摄像模块置于一温箱内，对所述摄像模块进行温度测试；

将所述摄像模块从所述温箱中取出，并恢复至常温；

提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，开启所述摄像模块，对所述摄像模块进行放电测试；

对上述装配好的灯具组件模拟周围电磁干扰环境，进行电磁干扰测试；

对上述装配好的灯具组件上的各功能键进行按键疲劳测试；

对所述摄像模块上的各发热器件进行温度测试；

将所述摄像模块与所述灯具分离，将所述摄像模块置于一温箱内，开启所述摄像模块的录像功能，对所述摄像模块进行耐久性测试；

将所述摄像模块从所述温箱中取出，并恢复至常温，测量所述摄像模块的电参数，并与之前常温下测试的电参数进行对比。

2.根据权利要求1所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，在将摄像模块与一直流稳压电源电连接，常温下测量所述摄像模块的电参数的步骤中，还包括以下步骤：

在所述直流稳压电源上分别输入第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压，测量并记录在相应的电压下所述摄像模块的电参数；

检查所述摄像模块的开机及待机状态；

在直流稳压电源上分别切换所述第一预设电压、第二预设电压及第三预设电压，观察在切换各所述电压时所述摄像模块的拍照及录像功能；

测量所述摄像模块的低压保护电压及漏电流。

3.根据权利要求2所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，所述第一预设电压为3.3V，所述第二预设电压为3.7V，所述第三预设电压为4.2V。

4.根据权利要求1所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，在将所述摄像模块置于一温箱内，对所述摄像模块进行温度测试的步骤中还包括以下步骤：

将所述摄像模块以第一预设温度保温一第一预设时间，所述第一预设温度低于常温；

在所述直流稳压电源上输入额定电压，启动所述摄像模块的录像功能，并连续录像一第二预设时间，观察所述摄像模块的工作情况；

改变所述温箱温度，将所述摄像模块以第二预设温度保温所述第一预设时间，所述第二预设温度高于常温；

在所述直流稳压电源上输入额定电压，启动所述摄像模块的录像功能，并连续录像一第二预设时间，观察所述摄像模块的工作情况。

5.根据权利要求4所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，所述第一预设温度为－25℃，所述第一预设时间为2小时，所述第二预设温度为45℃，所述第二预设时间为1小时。

6.根据权利要求1所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，在提供一灯具，将所述摄像模块与灯具装配，开启所述摄像模块，对所述摄像模块进行放电测试的步骤中还包括以下步骤：

检查所述摄像模块与所述灯具的部件是否干涉；

将所述摄像模块分别以不开灯状态及开灯状态连续录像，观察录像过程，并记录所述摄像模块显示屏出现低压警示保护的时间及灯灭的时间。

7.根据权利要求1所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，在对上述装配好的灯具组件上的各功能键进行按键疲劳测试的步骤中还包括以下步骤：

常温下检查所述灯具组件各功能键的按键是否正常；

提供一拉力计；

用所述拉力计测量所述灯具组件各功能键的导通力度，并记录数据；

将所述灯具组件设于所述按键疲劳机上，对所述摄像模块的各功能键进行开关疲劳测试；

使用所述拉力计测量所述灯具组件的导通力度，记录下数据并与之前记录的数据对比。

8.根据权利要求1所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，在对所述摄像模块上的各发热器件进行温度测试的步骤中还包括以下步骤：

将所述摄像模块从上述灯具组件上拆卸；

提供多个热电偶，在常温下将各所述热电偶设于所述摄像模块的各个发热器件上；

再次将所述摄像模块与所述灯具装配，将上述灯具组件置于常温无风环境下，开启所述灯具光源并开启连续录像功能，测量所述摄像模块各发热器件的温度直至所述摄像模块自动关机。

9.根据权利要求1所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，在将所述摄像模块与所述灯具分离，将所述摄像模块置于一温箱内，开启所述摄像模块的录像功能，对所述摄像模块进行耐久性测试的步骤中还包括以下步骤：

将所述摄像模块置于一温箱内，以一第三预设温度保温一第三预设时间；

开启所述摄像模块的摄像功能，并连续摄像一第四预设时间之后，暂停一第五预设时间，以此进行一预设周期的测试。

10.根据权利要求9所述的摄像模块性能测试方法，其特征在于，所述第三预设温度为50℃，所述第三预设时间为2小时，所述第四预设时间为23小时，所述第五预设时间为1小时，所述预设周期为7。