CN105009484A - 一种光信噪比的测量方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种光信噪比的测量方法及装置,所述方法包括:获得待测光信号的第一光信噪比;获得参考信号的功率变化参数;其中,所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤;依据所述参考信号的功率变化参数,获得修正量;依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整,以获得所述待测光信号的第二光信噪比。本发明实施例提供的技术方案,用以实现测量到更加准确的光信噪比。
Description
,
一 万 技术领域
本发明涉及光纤通信技术, 尤其涉及一种光信噪比的测量方法及装 置。
背景技术
光纤通信系统中, 如密集型光波复用 ( Dense Wavelength Division Multiplexing , DWDM )系统,光信噪比(Optical Signal to Noise Ratio, OSNR ) 能够比较准确地反映光纤中所传输的光信号的光学质量, 光信 噪比的具体数值可以为后端设备的通信质量提供重要的判断依据,因此, 光信噪比成为传输层中衡量光信号质量时最常用的指标。
现有技术中, 光信噪比的测量方法为: 开启激光器, 光谱分析仪直 接获得光信号与噪声的功率的和; 然后关闭激光器, 光谱分析仪获得噪 声功率和光信号的中心频率内 0.1 nm内的积分噪声功率; 依据光信号与 噪声功率和、 噪声功率和积分噪声功率, 计算获得光信号的光信噪比。
然而, 利用上述方法测量光信噪比时, 由于会出现光放大器的增益 竟争和烧孔效应, 在关闭激光器后, 测量到的噪声功率与实际的噪声功 率存在较大误差, 因此, 利用噪声功率得到的光信噪比也不准确。
发明内容
本发明实施例提供了一种光信噪比的测量方法及装置, 以实现测量 到更加准确的光信噪比。
第一方面, 本发明实施例提供了一种光信噪比的测量装置, 包括: 第一测量单元, 用于获得待测光信号的第一光信噪比;
第一处理单元, 用于获得参考信号的功率变化参数; 其中, 所述参 考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤;
第二处理单元, 用于依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正 量;
第二测量单元,用于依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光信号的第二光信噪比。
在第一方面的第一种可能的实现方式中, 所述参考信号包括所述光 纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述第一处理单元具体用 于:
获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率; 所述第 一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率, 所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的 功率;
依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值, 获得每 个所述信号的功率变化参数。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式, 在第一方面的 第二种可能的实现方式中, 所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光 信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 或者, 所述至少 两个信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号 相邻的至少两个信号; 所述第二处理单元具体用于:
依据每个所述信号的功率变化参数, 对至少两个所述信号的功率变 化参数进行线性拟合, 以获得第一功率变化拟合量;
依据所述第一功率变化拟合量, 获得所述修正量。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式, 在第一方面的 第三种可能的实现方式中, 所述参考信号包括在所述待测光信号的第一 侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧 与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述第二处理单元具体用于: 依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第二功率变化拟合量;
依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第三功率变化拟合量;
依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量, 获得所 述修正量。
结合第一方面, 在第一方面的第四种可能的实现方式中, 所述第二 测量单元具体用于: 依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值, 获得 所述待测光信号的第二光信噪比。
第二方面, 本发明实施例提供了一种光信噪比的测量方法, 包括: 获得待测光信号的第一光信噪比;
获得参考信号的功率变化参数; 其中, 所述参考信号所在通道与所 述待测光信号所在通道位于同一光纤;
依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正量;
依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光 信号的第二光信噪比。
在第二方面的第一种可能的实现方式中, 所述参考信号包括所述光
纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述获得参考信号的功率 变化参数, 包括:
获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率; 所述第 一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率, 所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的 功率;
依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值, 获得每 个所述信号的功率变化参数。
结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式, 在第二方面的 第二种可能的实现方式中, 所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光 信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 或者, 所述至少 两个信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号 相邻的至少两个信号; 所述依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修 正量, 包括:
依据每个所述信号的功率变化参数, 对至少两个所述信号的功率变 化参数进行线性拟合, 以获得第一功率变化拟合量;
依据所述第一功率变化拟合量, 获得所述修正量。
结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式, 在第二方面的 第三种可能的实现方式中, 所述参考信号包括在所述待测光信号的第一 侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧 与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述依据所述参考信号的功率 变化参数, 获得修正量, 包括:
依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个
信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第二功率变化拟合量;
依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第三功率变化拟合量;
依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量, 获得所 述修正量。
结合第二方面, 在第二方面的第四种可能的实现方式中, 所述依据 所述修正量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光信号的第 二光信噪比, 包括:
依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值, 获得所述待测光信号 的第二光信噪比。
通过上述技术方案, 依据获得的修正量, 对利用现有技术获得的光 信噪比进行调整, 以减小测量得到的信噪比与实际的光信噪比之间的误 差, 从而提高光信噪比的测量精度, 获得更加准确的光信噪比, 能够解 决现有技术中由于开启或关闭激光器所带来的光信噪比的误差较大的问 题.
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案, 下面将对实施例中所 需要使用的附图作筒单地介绍, 显而易见地, 下面描述中的附图仅仅是 本发明的一些实施例, 对于本领域普通技术人员来讲, 在不付出创造性 劳动性的前提下, 还可以根据这些附图获得其它的附图。
图 1是本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的功能方块图;
图 2是本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的结构示意图; 图 3是本发明实施例所提供的光信噪比的测量方法的流程示意图; 图 4 ( a )是本发明实施例所提供的在待测光信号对应的激光器处于 开启状态下所述信号的功率示意图;
图 4 ( b )是本发明实施例所提供的在待测光信号对应的激光器处于 关闭状态下所述信号的功率示意图;
图 5是本发明实施例所提供的信号的功率变化参数的示意图。
具体实施方式
为了更好的理解本发明的技术方案, 下面结合附图对本发明实施例 进行详细描述。
应当明确, 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例, 而不是全 部的实施例。 基于本发明中的实施例, 本领域普通技术人员在没有作出 创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例给出一种光信噪比的测量装置, 请参考图 1 , 其为本 发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的功能方块图; 如图 1所示, 该装置包括:
第一测量单元 1 0 , 用于获得待测光信号的第一光信噪比;
第一处理单元 1 1 , 用于获得参考信号的功率变化参数; 其中, 所述 参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤;
第二处理单元 12 , 用于依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修 正量;
第二测量单元 13 , 用于依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调 整, 以获得所述待测光信号的第二光信噪比。
其中, 所述参考信号包括所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少 两个信号, 所述第一处理单元 1 1具体用于:
获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率; 所述第 一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率, 所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的 功率;
依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值, 获得每 个所述信号的功率变化参数。
其中, 所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与 所述待测光信号相邻的至少两个信号, 或者, 所述至少两个信号包括所 述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号; 所述第二处理单元 12具体用于:
依据每个所述信号的功率变化参数, 对至少两个所述信号的功率变 化参数进行线性拟合, 以获得第一功率变化拟合量;
依据所述第一功率变化拟合量, 获得所述修正量。
其中, 所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光 信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信 号相邻的至少两个信号, 所述第二处理单元 1 2具体用于:
依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第二功率变化拟合量;
依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化
参数进行线性拟合, 以获得第三功率变化拟合量;
依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量, 获得所 述修正量。
其中, 所述第二测量单元 13具体用于:依据所述修正量与所述第一 光信噪比的和值, 获得所述待测光信号的第二光信噪比。
请参考图 2 , 其为本发明实施例所提供的光信噪比的测量装置的结 构示意图; 如图 2所示, 该装置包括:
存储器 20 , 用于存储包括程序例程的信息;
处理器 21 , 与存储器 20耦合, 用于控制所述程序例程的执行, 具 体包括: 获得待测光信号的第一光信噪比; 获得参考信号的功率变化参 数; 其中, 所述参考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一 光纤; 依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正量; 依据所述修正 量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光信号的第二光信噪 比。
处理器 21对应于图 1所示装置中的第一测量单元 1 0、 第一处理单 元 1 1、 第二处理单元 1 2和第二测量单元 13。
本发明实施例进一步给出实现上述装置实施例中各单元的方法实施 例。
本发明实施例给出一种光信噪比的测量方法, 请参考图 3 , 其为本 发明实施例所提供的光信噪比的测量方法的流程示意图; 如图 3所示, 该方法包括以下步骤:
步骤 301 , 获得待测光信号的第一光信噪比。
具体的, 首先, 开启激光器, 激光器发出的待测光信号在光纤中的
一个通道内传输, 将待测光信号的中心频率置于光谱分析仪(Optical Spectrum Analyser, 〇SA ) 的正中间, 然后设置一个合适的积分带宽; 例如, 如果光纤中通道间的间隔为 1 00GHz, 则积分带宽为 0.8nm , 如 果光纤中通道间的间隔为 50GHz, 则积分带宽为 0.4nm; 测量该积分带 宽内的待测光信号的光功率与噪声信号的噪声功率的和值 + N;。
然后, 关闭激光器, 设置一个合适的积分带宽, 测量该积分带宽内 噪声信号的噪声功率 N;。
噪声参考带宽一般为 0.1 nm , 获得信号中心频率内 0.1 nm带宽内的 带宽功率《。
最后, 利用如下公式, 计算获得第一光信噪比 O R1 :
OSNR, = 10 x lg
步骤 302, 获得参考信号的功率变化参数; 其中, 所述参考信号所 在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤。
具体的, 首先, 需要确定待测光信号的参考信号, 方法如下: 同一 光纤内有多个通道, 且该多个通道的排布呈成一条直线, 待测光信号位 于其中的一个通道内, 所述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信 号可以作为参考信号; 其中, 如果待测光信号所在通道的第一侧 (如左 侧)有至少两个相邻的通道, 且通道内有光信号, 和 /或, 或者, 第二侧 (如右侧)有至少两个相邻的通道, 且通道内有光信号, 或者, 如果待 测光信号所在通道的第一侧有至少两个相邻的通道,且通道内有光信号, 以及待测光信号所在通道的第二侧有至少两个相邻的通道, 且通道内有 光信号, 则将这些光信号作为参考信号; 如果待测光信号所在通道的第 一侧和 /或第二侧没有光信号, 则在待测光信号第一侧或第二侧打开通道
交叉, 或者, 第一侧和第二侧都打开通道交叉, 打开通道交叉后, 依据 待测光信号的波长设置通道的衰减值, 这样就可以使得待测光信号的相 邻通道内产生信号, 该信号为噪声信号。
需要说明的是, 待测光信号所在通道相邻的通道内, 可以只有光信 号, 也可以没有光信号; 在没有光信号时, 打开通道交叉并设置通道的 衰减值后, 可以得到噪声信号; 因此, 可以利用光信号作为参考信号, 也可以利用噪声信号作为参考信号。
因此, 本发明实施例中, 待测光信号的参考信号可以包括: 所述光 纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号。 所述至少两个信号包括: 所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两 个信号; 其中, 至少两个信号都为光信号, 或者都为噪声信号, 或者一 个信号为光信号, 一个信号为噪声信号。 或者, 待测光信号的参考信号 可以包括: 所述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相 邻的至少两个信号; 其中, 至少两个信号都为光信号, 或者都为噪声信 号, 或者一个信号为光信号, 一个信号为噪声信号。 或者, 在所述待测 光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光 信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号; 其中, 对于第一 侧相邻的至少两个信号或第二侧相邻的至少两个信号中, 至少两个信号 都为光信号, 或者都为噪声信号, 或者一个信号为光信号, 一个信号为 噪声信号。
其中, 待测光信号的参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的 第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号时, 表示参考信号只包括 第一侧与待测光信号相邻的至少两个信号, 不包括第二侧与待测光信号
相邻的至少两个信号, 这是因为待测光信号位于呈直线排布的通道中的 最右端的两个通道中的一个通道内, 在该通道的右侧没有通道或者没有 至少两个通道, 因此, 只能利用该通道的左侧相邻的至少两个通道内的 光信号或噪声信号作为参考信号。 例如, 光纤中有 80个通道, 如果待 测光信号位于第 79通道(CH79 ) 内, 则参考信号包括第 77通道内和 第 78通道内的光信号或噪声信号; 如果待测光信号位于第 80通道 ( CH80 ) 内, 则参考信号包括第 78通道内和第 79通道内的光信号或 噪声信号。
其中, 待测光信号的参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的 第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号时, 表示参考信号只包括 第二侧与待测光信号相邻的至少两个信号, 不包括第一侧与待测光信号 相邻的至少两个信号, 因为待测光信号位于呈直线排布的通道中的最左 端的两个通道中的一个通道内, 在该通道的左侧没有通道或者没有至少 两个通道, 因此, 只能利用该通道的右侧相邻的至少两个通道内的光信 号或噪声信号。 例如, 光纤中有 80个通道, 如果待测光信号位于第 1 通道(CH1 ) 内, 则参考信号包括第 2通道内和第 3通道内的光信号或 噪声信号; 如果待测光信号位于第 2通道(CH2 ) 内, 则参考信号包括 第 3通道内和第 4通道内的光信号或噪声信号。
其中, 待测光信号的参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的 第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号以及所述光纤内在所述待 测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号时, 表示参考 信号包括第一侧和第二侧各与待测光信号相邻的至少两个信号, 因为待 测光信号不位于呈直线排布的通道中的最左端的两个通道和最右端的两
个通道, 在该通道的左侧和右侧都有至少两个通道, 因此, 可以利用该 通道的左侧和右侧各相邻的至少两个通道内的光信号或噪声信号。
然后, 在确定待测光信号的参考信号后, 需要获得参考信号的功率 变化参数, 方法如下:
首先, 获得参考信号中每个信号的第一功率和第二功率; 其中, 所 述第一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功 率, 请参考图 4 ( a ) , 其为本发明实施例所提供的在待测光信号对应的 激光器处于开启状态下所述信号的功率示意图, 如图所示, 例如, 左边 起第三个波对应待测光信号, 则第一个波和第二个波对应的信号为该待 测光信号的参考信号, 第一个波对应的信号的第一功率为第一个波中波 峰对应的功率值, 同理, 第二个波对应的信号的第一功率为第二个波中 波峰对应的功率值。 所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关 闭状态下所述信号的功率, 请参考图 4 ( b ) , 其为本发明实施例所提供 的在待测光信号对应的激光器处于关闭状态下所述信号的功率示意图, 例如, 在关闭激光器后, 待测光信号的波变成直线, 第一个波对应的信 号的第二功率为图 4 ( b ) 中第一个波的波峰对应的功率值, 同理, 第二 个波对应的信号的第二功率为图 4( b )中第二个波的波峰对应的功率值。 如果参考信号所包括的信号为光信号,第一功率和第二功率都是光功率; 如果参考信号所包括的信号为噪声信号, 第一功率和第二功率都是噪声 功率。
然后, 依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值, 获得每个信号的功率变化参数, 即用第二功率减去第一功率, 得到的结
例如, 请参考图 5, 其为本发明实施例所提供的信号的功率变化参 数的示意图; 如图 4 ( a ) 和 4 ( b ) 所示, 左边起第三个波对应待测光 信号, 左边起第一个波对应的信号和第二个波对应的信号为待测光信号 的参考信号, 待测光信号对应的激光器由开启状态变为关闭状态后, 第 一个波对应的信号的功率变化参数和第二个波对应的信号的功率变化参 数为图 5中的两个黑点。
其中, 可以利用光谱分析仪来获得信号的功率变化参数, 光谱分析 也将功率变化参数输出给计算机, 由计算机依据功率变化参数, 获得第 二光信噪比。
步骤 303, 依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正量。
具体的, 若所述参考信号包括所述光纤内在所述待测光信号的第一 侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述至少两个信号可以都为 光信号, 也可以都为噪声信号, 也可以其中一个信号为光信号, 另一个 信号为噪声信号; 或者, 若所述参考信号包括所述至少两个信号包括所 述光纤内在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号, 所述至少两个信号可以都为光信号, 也可以都为噪声信号, 也可 以其中一个信号为光信号, 另一个信号为噪声信号, 则依据每个所述信 号的功率变化参数,对至少两个所述信号的功率变化参数进行线性拟合 , 以获得第一功率变化拟合量; 依据所述第一功率变化拟合量, 获得所述 修正量。
或者, 若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测 光信号相邻的至少两个信号和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光 信号相邻的至少两个信号, 依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测
光信号相邻的至少两个信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至 少两个信号的功率变化参数进行线性拟合,以获得第二功率变化拟合量; 依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号 中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化参数 进行线性拟合, 以获得第三功率变化拟合量; 依据所述第二功率变化拟 合量和所述第三功率变化拟合量, 获得所述修正量。
例如, 若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测 光信号相邻的两个光信号, 对这两个光信号的功率变化参数进行线性拟 合, 获得对应的功率变化拟合量 AGfe/i , 依据该功率变化拟合量 AGfe/i与 2 的商获得修正量 AG , 即 AG = AGfe/i /2。
这里, 以所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测 光信号相邻的两个光信号为例, 对两个光信号的功率变化参数进行线性 拟合的方法进行说明: 如图 5所示, 图 5中两个黑色的原点的纵坐标为 这两个光信号的功率变化参数, 依据两点确定一直线的数学原理, 在图 5中可以获得这两点唯一确定的直线 (如图 5中所示虚线) , 然后, 依 据待测光信号的波峰的横坐标,在该直线上获得该横坐标对应的纵坐标, 获得的纵坐标就是两个光信号的功率变化拟合量 Δ Gleft ; 对两个噪声信号 的功率变化参数进行线性拟合的方法与上述方法相同。
若所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号 相邻的两个光信号, 对这两个光信号的功率变化参数进行线性拟合, 获 得对应的功率变化拟合量 依据该功率变化拟合量 ^^¾与 2的商 获得修正量 AG , 即 AG = AG„sto /2。
若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号
相邻的两个光信号和所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所 述待测光信号相邻的两个光信号, 对在所述待测光信号的第一侧与所述 待测光信号相邻的两个光信号的功率变化参数进行线性拟合, 获得对应 的功率变化拟合量 AGfc/i , 然后对在所述待测光信号的第二侧与所述待测 光信号相邻的两个光信号的功率变化参数进行线性拟合, 获得对应的功 率变化拟合量 Δ ¾ ; 利用功率变化拟合量 AGfe/i与 2的商加上功率变化拟 合量 AG^ ^与 2的商, 再利用获得的和值与 2的商, 获得修正量 AG , 即 AG = (AGleft /2 + AGnght /2)/2 = (AGleft + AGnght ψ。
若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号 相邻的两个噪声信号,对这两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合, 获得对应的功率变化拟合量 AGfe/i , 依据该功率变化拟合量 AGfe/i获得修正 量 AG , 即 AG = A 。
若所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号 相邻的两个噪声信号,对这两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合, 获得对应的功率变化拟合量 , 依据该功率变化拟合量 AG^获得修 正量 AG , 即 AG = AG„sto。
若所述参考信号包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号 相邻的两个噪声信号和所述参考信号包括在所述待测光信号的第二侧与 所述待测光信号相邻的两个噪声信号, 对在所述待测光信号的第一侧与 所述待测光信号相邻的两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合, 获 得对应的功率变化拟合量 Gleft , 然后对在所述待测光信号的第二侧与所 述待测光信号相邻的两个噪声信号的功率变化参数进行线性拟合, 获得 对应的功率变化拟合量 M nght; 利用功率变化拟合量 Μ}ιφ加上功率变化拟
合量 再利用获得的和值与 2的商, 获得修正量 AG , 即 需要说明的是, 如果在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号 相邻的两个信号中, 或者, 在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信 号相邻的两个信号中, 包括一个噪声信号和一个光信号, 则可以先依据 该光信号的功率变化参数除以 2, 获得该光信号所在通道内噪声信号的 功率变化参数, 然后对噪声信号的功率变化参数和该光信号所在通道内 噪声信号的功率变化参数,进行线性拟合,获得对应的功率变化拟合量。 这里, 由于光信号经过每个放大器都产生相应的增益变化, 而噪声信号 是分布式加入的, 因此, 噪声信号的功率变化参数约等于光信号的功率 变化参数的一半, 因此, 可以利用光信号的功率变化参数与 2的商, 计 算获得同一通道内噪声信号的功率变化参数。
步骤 304, 依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得 所述待测光信号的第二光信噪比。
具体的, 依据步骤 303中获得的修正量 对所述第一光信噪比
OSNR,进行调整, 以获得所述待测光信号的第二光信噪比 OSNR2。
例如, 依据所述修正量 AG与所述第一光信噪比 OWR 々和值, 获得 所述待测光信号的第二光信噪比 OSNI^ , 即: OSNR2 = OSNR, + AG。
本发明实施例提供的技术方案中, 依据获得的修正量, 对利用现有 技术获得的光信噪比进行调整, 以减 d、测量得到的信噪比与实际的光信 噪比之间的误差, 从而提高光信噪比的测量精度, 获得更加准确的光信 噪比, 例如, 获得宽谱光源过滤波类单板后准确的光信噪比, 能够解决 现有技术中由于开启或关闭激光器所带来的光信噪比的误差较大的问题,
解决因为光信噪比测量不能准确导致现网验收不通过的实际困难。 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已, 并不用以限制本发明, 凡 在本发明的精神和原则之内, 所做的任何修改、 等同替换、 改进等, 均 应包含在本发明保护的范围之内。
Claims (10)
- WO 2015/077924 权 利 要 求 书 PCT/CN2013/0878721、 一种光信噪比的测量装置, 其特征在于, 所述装置包括: 第一测量单元, 用于获得待测光信号的第一光信噪比;第一处理单元, 用于获得参考信号的功率变化参数; 其中, 所述参 考信号所在通道与所述待测光信号所在通道位于同一光纤;第二处理单元, 用于依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正 量;第二测量单元,用于依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光信号的第二光信噪比。
- 2、 根据权利要求 1所述的装置, 其特征在于, 所述参考信号包括所 述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述第一处理单元具 体用于:获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率; 所述第 一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率, 所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的 功率;依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值, 获得每 个所述信号的功率变化参数。
- 3、 根据权利要求 1或 2所述的装置, 其特征在于, 所述参考信号 包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至 少两个信号, 或者, 所述至少两个信号包括所述光纤内在所述待测光信 号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号; 所述第二处理单元 具体用于: 依据每个所述信号的功率变化参数, 对至少两个所述信号的功率变 化参数进行线性拟合, 以获得第一功率变化拟合量;依据所述第一功率变化拟合量, 获得所述修正量。
- 4、 根据权利要求 1或 2所述的装置, 其特征在于, 所述参考信号 包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号 和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述第二处理单元具体用于:依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第二功率变化拟合量;依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第三功率变化拟合量;依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量, 获得所 述修正量。
- 5、 根据权利要求 1所述的装置, 其特征在于, 所述第二测量单元具 体用于: 依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值, 获得所述待测光 信号的第二光信噪比。
- 6、 一种光信噪比的测量方法, 其特征在于, 所述方法包括: 获得待测光信号的第一光信噪比;获得参考信号的功率变化参数; 其中, 所述参考信号所在通道与所 述待测光信号所在通道位于同一光纤;依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正量; 依据所述修正量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光 信号的第二光信噪比。
- 7、 根据权利要求 6所述的方法, 其特征在于, 所述参考信号包括所 述光纤内与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述获得参考信号的 功率变化参数, 包括:获得所述参考信号中每个所述信号的第一功率和第二功率; 所述第 一功率为所述待测光信号对应的激光器在开启状态下所述信号的功率, 所述第二功率为所述待测光信号对应的激光器在关闭状态下所述信号的 功率;依据每个所述信号的所述第二功率与所述第一功率的差值, 获得每 个所述信号的功率变化参数。
- 8、 根据权利要求 6或 7所述的方法, 其特征在于, 所述参考信号 包括所述光纤内在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至 少两个信号, 或者, 所述至少两个信号包括所述光纤内在所述待测光信 号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号; 所述依据所述参考 信号的功率变化参数, 获得修正量, 包括:依据每个所述信号的功率变化参数, 对至少两个所述信号的功率变 化参数进行线性拟合, 以获得第一功率变化拟合量;依据所述第一功率变化拟合量, 获得所述修正量。
- 9、 根据权利要求 6或 7所述的方法, 其特征在于, 所述参考信号 包括在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号 和在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个信号, 所述依据所述参考信号的功率变化参数, 获得修正量, 包括: 依据在所述待测光信号的第一侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第二功率变化拟合量;依据在所述待测光信号的第二侧与所述待测光信号相邻的至少两个 信号中每个所述信号的功率变化参数, 对所述至少两个信号的功率变化 参数进行线性拟合, 以获得第三功率变化拟合量;依据所述第二功率变化拟合量和所述第三功率变化拟合量, 获得所 述修正量。
- 1 0、 根据权利要求 6所述的方法, 其特征在于, 所述依据所述修正 量对所述第一光信噪比进行调整, 以获得所述待测光信号的第二光信噪 比, 包括:依据所述修正量与所述第一光信噪比的和值, 获得所述待测光信号 的第二光信噪比。
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- 2013-11-26 CN CN201380002958.8A patent/CN105009484B/zh active Active
- 2013-11-26 WO PCT/CN2013/087872 patent/WO2015077924A1/zh active Application Filing
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