CN105008942B

CN105008942B - 使用无线测试信号测试射频无线信号收发器的系统和方法

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Publication number: CN105008942B
Application number: CN201480007329.9A
Authority: CN
Inventors: 明-乔·忽恩; 迪克·J·M·瓦尔维斯; 李英辉
Original assignee: Litepoint Corp
Current assignee: Litepoint Corp
Priority date: 2013-03-15
Filing date: 2014-03-03
Publication date: 2018-08-07
Anticipated expiration: 2034-03-03
Also published as: WO2014149610A1; TW201436493A; KR20150132121A; TWI606703B; US9671445B2; CN105008942A; US20140266929A1; JP2016517206A; JP2019097207A

Abstract

本发明涉及一种便于无线测试射频(RF)多输入多输出(MIMO)信号收发器受测装置(DUT)的系统和方法。所述DUT在受控的电磁环境中操作时，所述测试器将多个测试信号无线发射至所述DUT。根据来自所述DUT的反馈信号数据控制由所述测试器发射的所述相应测试信号的信号相位。还可根据此类反馈信号数据控制所述相应测试信号的幅度，从而使得能够对无线通信信道条件数k(H)进行动态优化。

Description

使用无线测试信号测试射频无线信号收发器的系统和方法

背景技术

本发明涉及测试射频(RF)无线信号收发器，尤其是涉及在无需用于传输RF测试信号的RF信号缆线的情况下测试此类装置。

许多现今的电子装置将无线技术用于连接和通信这两种目的。因为无线装置发射和接收电磁能量，并因为两个或更多个无线装置可能因其信号频率和功率谱密度而干扰彼此的操作，所以这些装置及其无线技术必须遵循各种无线技术标准规范。

当设计此类装置时，工程师需要特别小心以确保此类装置将符合或超过其所含的基于无线技术规定的标准的规范中的每一项。此外，当随后大量制造这些装置时，对它们进行测试以确保制造缺陷不会导致操作不当，包括其遵循所含的基于无线技术标准的规范。

为了在这些装置的制造和组装后对其进行测试，目前的无线装置测试系统(“测试器”)采用用于分析从每个装置接收到的信号的子系统。此类子系统通常至少包括向量信号发生器(VSG)和向量信号分析器(VSA)，VSG用于提供待发射至装置的源信号，VSA用于分析由装置产生的信号。由VSG产生测试信号以及由VSA执行的信号分析通常为可编程的，以便使得每一者可用于测试多种装置是否遵循具有不同频率范围、带宽和信号调制特性的多种无线技术标准。

受测装置(DUT)的校准和性能确认测试通常使用导电信号路径诸如RF缆线来进行，而不是使用DUT与测试器借以经由电磁辐射而通信的无线信号路径。因此，在测试器与DUT之间的信号经由导电信号路径传输，而非通过环境空间辐射。使用此类导电信号路径有助于确保测量的可重复性和一致性，并消除作为信号传输(发射和接收)中的因素的DUT的定位和取向。

就多输入多输出(MIMO)DUT而言，必须以某种形式为DUT的每个输入/输出连接提供信号路径。例如，对于旨在使用三个天线操作的MIMO装置，必须为测试提供三条导电信号路径，例如，缆线和连接。

然而，由于需要物理连接和断开DUT与测试器之间的缆线，所以使用导电信号路径的步骤显著地影响测试每个DUT所需的时间。而且，就MIMO DUT而言，在开始测试和终止测试时均必须执行多次这样的连接和断开动作。而且，由于在测试期间传输的信号不像在通常预期用途中的那样经由环境空间辐射，并且在此类测试期间未使用DUT的天线组件，所以此类测试并未模拟真实世界的操作，并且测试结果并未反映任何可归因于天线的任何性能特性。

作为替代方案，可使用经由电磁辐射而非经由缆线的电传导所传输的测试信号进行测试。这将具有不需要连接和断开测试缆线的有益效果，从而缩短与此类连接和断开有关的测试时间。然而，由于源自其他地方和散布于环境空间的其他电磁信号，所以辐射信号和接收器天线存在的“信道”(即，借以辐射和接收测试信号的环境空间)固有地易于发生信号干扰和错误。此类信号将由DUT天线接收并可因信号反射而包括来自每个干扰信号源的多路径信号。因此，与使用用于每个天线连接的各个导电信号路径(例如，缆线)相比，“信道”的“条件”将通常不佳。

一种防止或至少显著地减小来自此类外来信号的干扰的方法是使用屏蔽外壳来隔离DUT和测试器的辐射信号接口。然而，此类外壳通常未能产生与之相当的测量准确性和可重复性。这对于比最小消声室更小的外壳而言尤其如此。此外，此类外壳往往对DUT的定位和取向敏感，以及对此类外壳内所产生的多路径信号的相长和相消干扰敏感。

因此，期望具有用于测试无线信号收发器特别是无线MIMO信号收发器的系统和方法，其中可使用辐射的电磁测试信号，从而模拟真实世界系统操作以及避免连接和断开测试缆线原本所需的测试时间，同时通过避免由于外部产生的信号和多路径信号效应所致的干扰信号而维持测试可重复性和准确性。

发明内容

根据受权利要求书保护的本发明，提供了一种便于无线测试射频(RF)多输入多输出(MIMO)信号收发器受测装置(DUT)的系统和方法。DUT在受控的电磁环境中操作时，测试器将多个测试信号无线发射至DUT。根据来自DUT的反馈信号数据控制由测试器发射的相应测试信号的信号相位。还可根据此类反馈信号数据控制相应测试信号的幅度，从而使得能够对无线通信信道条件数k(H)进行动态优化。

根据受权利要求书保护的本发明的一个实施例，便于无线测试射频(RF)多输入多输出(MIMO)信号收发器受测装置(DUT)的系统包括结构、导电信号路径、多个天线阵列和RF信号控制电路。结构限定内部区域和外部区域并被构造成允许将DUT放置在内部区域内且与源自外部区域的电磁辐射基本上隔离。导电信号路径将耦合到DUT并在内部区域与外部区域之间传输一个或多个电信号。多个天线阵列(其中的每一个包括多个天线元件)至少部分地设置在内部区域内以辐射相应多个相位受控的RF测试信号。RF信号控制电路耦合到导电信号路径和多个天线阵列，并通过以下方式响应于来自DUT的多个信号数据，该信号数据与相应多个相位受控的RF测试信号有关且经由一个或多个电信号传输，以及响应于多个RF测试信号：复制多个RF测试信号中的每一个以提供相应多个复制的RF测试信号；以及根据多个信号数据控制相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供相应多个相位受控的RF测试信号。

根据受权利要求书保护的本发明的另一个实施例，便于无线测试射频(RF)多输入多输出(MIMO)信号收发器受测装置(DUT)的方法包括提供结构、导电信号路径和多个天线阵列。结构限定内部区域和外部区域并被构造成允许将DUT放置在内部区域内且与源自外部区域的电磁辐射基本上隔离。导电信号路径将耦合到DUT并在内部区域与外部区域之间传输一个或多个电信号。多个天线阵列(其中的每一个包括多个天线元件)至少部分地设置在内部区域内以辐射相应多个相位受控的RF测试信号。还包括通过以下方式响应于来自DUT的多个信号数据，该信号数据与相应多个相位受控的RF测试信号有关且经由一个或多个电信号传输，以及响应于多个RF测试信号：复制多个RF测试信号中的每一个以提供相应多个复制的RF测试信号；以及根据多个信号数据控制相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供相应多个相位受控的RF测试信号。

附图说明

图1示出无线信号收发器的典型操作和可能的测试环境。

图2示出使用导电测试信号路径的无线信号收发器的测试环境。

图3示出使用导电信号路径的MIMO无线信号收发器的测试环境和此类测试环境的信道模型。

图4示出使用辐射电磁信号的MIMO无线信号收发器的测试环境和此类测试环境的信道模型。

图5示出根据示例性实施例的测试环境，其中可使用辐射电磁测试信号测试MIMODUT。

图6示出测试环境，其中在屏蔽外壳内使用辐射电磁测试信号测试DUT。

图7和图8示出测试环境的示例性实施例，其中在具有减弱的多路径信号效应的屏蔽外壳中使用辐射电磁测试信号测试无线DUT。

图9示出在图7和图8的测试环境中使用的根据示例性实施例的屏蔽外壳的物理表示。

具体实施方式

以下详细描述是结合附图的受权利要求书保护的本发明的示例性实施例。相对于本发明的范围，此类描述旨在进行示例而非加以限制。对此类实施例加以足够详尽的描述，使得本领域的普通技术人员能够实施该主题发明，并且应当理解，在不脱离本主题发明的精神或范围之前提下，可以实施具有一些变化的其他实施例。

在本发明全文中，在没有明确指示与上下文相反的情况下，应当理解，所述单独的电路元件可以是单数或复数。例如，术语“电路”可以包括单个部件或多个部件，所述部件为有源和/或无源，并且连接或换句话讲耦合到一起(如成为一个或多个集成电路芯片)以提供所述功能。另外，术语“信号”可指一个或多个电流、一个或多个电压、或数据信号。在图中，相似或有关的元件将具有相似或有关的字母、数字或数字字母混合的指示。此外，虽然在具体实施的上下文中已讨论了本发明使用分立的电子电路(优选地为一个或多个集成电路芯片形式)，但作为另一种选择，根据待处理的信号频率或数据速率，此类电路的任何部分的功能可使用一个或多个适当编程的处理器来实现。此外，就示出各种实施例的功能区块的示意图的图示来说，所述功能区块未必表征硬件电路之间的分区。

参见图1，无线信号收发器的典型操作环境和理想测试环境(至少就模拟真实世界操作来说)将具有无线通信的测试器100和DUT200。典型地，还将使用某种形式的测试控制器10(例如，个人计算机)以经由与测试器100和DUT 200的有线信号接口11a、11b来交换测试命令和数据。测试器100和DUT 200各自具有一个(或对于MIMO装置而言，多个)相应的天线102、202，其通过导电信号连接器104、204(例如，同轴缆线连接，其许多类型在本领域中是熟知的)连接。测试信号(源和响应)在测试器100与DUT 200之间经由天线102、202无线传输。例如，在DUT 200的发射(TX)测试期间，电磁信号203从DUT天线202辐射。取决于天线射出模式的方向性，该信号203将在许多方向辐射，从而产生由测试器天线102接收的入射信号分量203i和反射信号分量203r。如上所讨论，这些反射信号分量203r(通常为多路径信号效应以及源自其他地方的其他电磁信号(未示出)的产物)导致相长和相消信号干扰，从而妨碍可靠的且可重复的信号接收和测试结果。

参见图2，为了避免此类不可靠的测试结果，使用导电信号路径储如RF同轴缆线106来连接测试器100和DUT 200的天线连接器104、204，以在测试器100与DUT 200之间提供一致的、可靠的且可重复的导电信号路径来传输测试信号。然而，如上所讨论，由于在测试之前和之后连接和断开缆线106所需的时间，这延长整体测试时间。

参见图3，当测试MIMO DUT 200a时，用于连接和断开测试缆线的额外测试时间变得甚至更长。在此类情况下，需要多条测试缆线106来连接对应的测试器104和DUT204连接器，以使得能够传输来自测试器100a内的RF信号源110(例如，VSG)的RF测试信号，以由DUT200a内的RF信号接收器210接收。例如，在典型的测试环境中，用于测试MIMO装置的测试器将具有一个或多个VSG 110a、110b、…、110n，其提供对应的一个或多个RF测试信号111a、111b、…、111n(例如，具有可变信号功率、包内容和数据率的包数据信号)。经由相应测试器104a、104b、…、104n和DUT 204a、204b、…、204n连接器连接的该对应的测试缆线106a、106b、…、106n传输这些信号，以将接收到的RF测试信号211a、211b、…、211n提供给在DUT200a内的对应的RF信号接收器210a、210b、…、210n。因此，连接和断开这些测试缆线106所需的额外测试时间可增加n倍，其对应于测试缆线106的数量。

如上所讨论，使用连接测试器100a和DUT 200a的测试缆线确实具有提供一致的、可靠的且可重复的测试连接的优点。如本领域中熟知的是，这些测试连接107可被模型化为特征在于对角线矩阵20的信道H，其中对角线矩阵元素22对应于相应信道特性(例如，相应测试缆线106的信号路径传导性或损失)的系数h₁₁、h₂₂、…、h_nn。

参见图4，根据一个或多个示例性实施例，由对应于测试器100a与DUT 200a之间的无线信号接口106a的无线信道107a代替导电或有线信道107(图3)。如上所讨论，测试器100a和DUT 200a经由天线102、202的相应阵列传达测试信号111、211。在这种类型的测试环境中，不再通过对角线矩阵20来表示信道107a，而是通过矩阵20a来表示信道107a，矩阵20a具有对角线22之外的一个或多个非零系数24a、24b。如本领域的技术人员将容易理解的是，这是由于信道107a中有多个可用的无线信号路径。例如，不同于缆线信号环境，在缆线信号环境中，理想的是，每个DUT连接器204仅接收来自其对应的测试器连接器104的信号。在该无线信道107a中，第一DUT天线202a接收由所有测试器天线102a、102b、…、102n辐射的测试信号，例如，对应于信道H矩阵系数h₁₁、h₁₂、…和h_1n。

根据熟知的原理，信道矩阵H的系数h对应于信道107a影响RF测试信号的发射和接收的特性。这些系数h总体限定信道条件数k(H)，其为H矩阵的范数与H的反矩阵的范数的乘积，如以下方程式所示：

k(H)＝││H││*││H^-1││

影响这些系数的因素会以可产生测量误差的方式改变信道条件数。例如，在条件不佳的信道中，小误差可在测试结果中造成大误差。在信道数低的情况下，信道中的小误差可在接收(RX)天线处产生小测量误差。然而，在信道数高的情况下，信道中的小误差可在接收天线处产生大测量误差。该信道条件数k(H)还对DUT在其测试环境(例如，屏蔽外壳)内的物理定位和取向及其各种天线204的取向敏感。因此，即使没有源自其他地方的或经由反射而到达并射在接收天线204上的外来干扰信号，可重复精确测试结果的可能性也将较低。

参见图5，根据一个或多个示例性实施例，测试器100a与DUT 200a之间的测试信号接口可以为无线的。DUT 200a置于屏蔽外壳300的内部301内。此类屏蔽外壳300可实现为金属外壳，例如，在构造或至少在效应方面类似于法拉第笼。这将DUT 200a与源自外壳300的外部区域302的辐射信号隔离。根据示例性实施例，外壳300的几何形状为使得其用作封闭式波导。

在别处，例如，在外壳300内或外壳300的相对内表面302上设置多个(n)天线阵列102a、102b、…、102n，其中的每一个辐射源自测试器100a内的测试信号源110a、110b、…、110n的多个相位受控的RF测试信号103a、103b、…、103n(在下文中更详细地讨论)。每个天线阵列包括多个(M)天线元件。例如，第一天线阵列102a包括m个天线元件102aa、102ab、…102am。这些天线元件102aa、102ab、…、102am中的每一个由相应RF信号控制电路130a提供的相应相位受控的RF测试信号131aa、131ab、…、131am驱动。

如在第一RF信号控制电路130a的例子中所示出，来自第一RF测试信号源110a的RF测试信号111a的幅度通过信号幅度控制电路132增加(例如，放大)或减小(例如，衰减)。所得的幅度受控的测试信号133由信号复制电路134(例如，信号分割器)复制。所得的幅度受控的、复制的RF测试信号135a、135b…135m的相应信号相位通过相应的相位控制电路136a、136b、…、136m进行控制(例如，移位)，以产生幅度和相位受控的信号131aa、131ab、…、131am来驱动天线阵列102a的天线元件102aa、102ab、…、102am。

其余的天线阵列102b、…、102n及其相应的天线元件通过对应的RF信号控制电路130b、…、130m以类似的方式驱动。这产生对应数量的复合辐射信号103a、103b、…、103n，以根据信道H矩阵传输到DUT 200a的天线202a、202b、…、202n并由其接收，如上所讨论。DUT200a处理其对应的接收到的测试信号211a、211b、…、211m并提供表征这些接收到的信号的特性(例如，幅度、相对相位等)的一个或多个反馈信号201a。这些反馈信号201a被提供给RF信号控制电路130内的控制电路138。该控制电路138为幅度控制电路132和相位控制电路136提供控制信号137、139a、139b、…、139m。因此，提供了闭环控制路径，从而使得能够对来自测试器100a的各个辐射信号进行增益和相位控制以由DUT 200a接收。(或者，可包括该控制电路130作为测试器100a的一部分)。

根据熟知的信道优化技术，控制电路138使用来自DUT 200a的该反馈数据201a通过以最大程度减小信道条件数k(H)的方式改变辐射信号的幅度和相位而实现最佳的信道条件，并产生具有大致相等的幅度的接收信号，如在每个DUT天线202处所测得。这将产生通信信道，通过该通信信道，辐射信号产生基本上与使用导电信号路径(例如，RF信号缆线)产生的那些测试结果相当的测试结果。

在相继的发射和信道条件反馈事件后，通过RF信号控制电路130的控制电路138的该操作将改变每个天线阵列102a、102b、…、102n的信号幅度和相位，以迭代实现优化的信道条件数k(H)。一旦已实现此类优化的信道条件数k(H)后，就可保留对应的幅度和相位设置，然后测试器100a和DUT 200a可继续进行测试序列，正如在缆线测试环境中进行的一样。

在实践中，可将参考DUT置于屏蔽外壳300内的测试夹具中，以用于通过上文所讨论的迭代过程优化信道条件。然后，可相继地测试同一设计的另外的DUT，而无需在每种情况中都执行信道优化，这是因为在外壳300的受控信道环境中遇到的路径损失的差异应当正好在正常的测试容限内。

仍参见图5，例如，将初始发射模型化，以产生13.8db的信道条件数，并且h₁₁和h₂₂系数的幅度分别为-28db和-28.5db。信道H的幅度矩阵将表示如下：

在如上所讨论迭代调整幅度和相位后，信道条件数k(H)减小至2.27db，并且h₁₁和h₂₂系数的幅度分别为-0.12db和-0.18db，从而产生如下的信道幅度矩阵：

这些结果与缆线测试环境的那些结果相当，从而表明此类无线测试环境可提供与之相当的准确性的测试结果。通过消除用于连接和断开缆线信号路径的时间，并将增益和相位调整的缩短时间考虑进来，整体接收信号测试时间显著地缩短。

参见图6，可以更好地理解多路径信号效应对信道条件的影响。如上所讨论，一旦将DUT 200a设置在外壳300的内部301内，DUT 200a在发射测试期间就从每个天线202a辐射电磁信号203a。该信号203a包括向外且远离测试器100a的天线102a辐射的分量203b、203c。然而，这些信号分量203b、203c被反射离开外壳300的内表面304、306并作为反射信号分量203br、203cr到达，以根据多路径信号条件而与主入射信号分量203ai进行相长或相消组合。如上所讨论，根据干扰的相长和相消本质，对于用在正确的校准和性能验证中，测试结果将通常趋于不可靠且不准确。

参见图7，根据示例性实施例，RF吸收材料320a、320b设置在反射表面304、306处。因此，反射信号分量203br、203cr显著衰减，从而对主入射信号分量203ai产生较少的相长或相消干扰。

可包括额外的RF信号控制电路150以在天线阵列102a与测试器100a之间使用，天线阵列102a安装在外壳300a的内部301内或内表面302上。(或者，可包括该额外的控制电路150作为测试器100a的一部分)。射在天线元件102aa、102ab、…、102am上的辐射信号产生接收信号103aa、103ab、…、103am，其中相应的信号相位由相位控制电路152控制(例如，移位)，相位控制电路152具有根据控制系统156所提供的一个或多个相位控制信号157a、157b、…、157m控制的相位控制元件152a、152b、…、152m。在信号组合器154中将所得的相位受控信号153加以组合，以将接收到的信号155a提供给测试器100a且将反馈信号155b提供给控制系统156。控制系统156处理该反馈信号155b作为闭环控制网络的一部分，以根据需要调整复合接收信号103aa、103ab、…、103am的相应相位，以最大程度降低与外壳300a的内部区域301有关的表观信号路径损失。在DUT 200a的定位或取向在外壳300a内变化的情况下，该闭环控制网络还允许系统重新构造由这些天线102a和相位控制电路152启用的相位阵列。结果，在使用该反馈回路最大程度降低路径损失后，可实现在外壳300a内使用辐射信号环境将DUT信号203a准确且可重复地传输至测试器100a。

参见图8，对于DUT接收信号测试，可实现产生准确且可重复的测试结果的类似的控制和改进。在这种情况下，通过信号组合器/分配器154复制由测试器100a提供的测试信号111a，并在必要时，在由天线元件102aa、102ab、…、102am辐射之前，由相位控制电路152调整复制的测试信号153的相应相位。与先前的情况一样，反射信号分量103br、103cr显著衰减，并导致对主入射信号分量103ai减少的相长和相消干扰。来自DUT 200a的一个或多个反馈信号203a为控制系统156提供用于控制复制的测试信号153的相位所需的信息，以最大程度降低与外壳300a的内部301有关的表观信号路径损失，从而建立一致且可重复的信号路径损失条件。

参见图9，根据一个或多个示例性实施例，屏蔽外壳300b可基本上如图所示而实现。如上所讨论，DUT可定位在外壳300b的内部301的一个末端301d处，其与内部区域301b相对，内部区域301b包括或面向测试器天线阵列102a、102b、…、102n位于其上的内表面302(图5)。位于其间的是内部区域301a，其形成被RF吸收材料320围绕的波导腔体。

在不脱离本发明的范围和精神的前提下，本发明的结构和操作方法的各种其他修改形式和替代形式对本领域的技术人员将是显而易见的。虽然本发明结合具体的优选实施例加以描述，但应当理解，受权利要求书保护的本发明不应不当地限于此类具体实施例。其意图是，以下权利要求限定本发明的范围，并且由此应当涵盖这些权利要求范围内的结构和方法及其等同物。

Claims

1.一种包括便于无线测试射频(RF)多输入多输出(MIMO)信号收发器受测装置(DUT)的系统的设备，包括：

结构，所述结构限定内部区域和外部区域并被构造成允许将DUT放置在所述内部区域内且与源自所述外部区域的电磁辐射基本上隔离；

导电信号路径，所述导电信号路径提供到所述DUT的有线连接并在所述内部区域与所述外部区域之间传输一个或多个电数据信号；

多个天线阵列，所述多个天线阵列中的每一个包括多个天线元件，至少部分地设置在所述内部区域内以辐射相应多个相位受控的RF测试信号以由所述DUT无线地接收；以及

RF信号控制电路，所述RF信号控制电路耦合到所述导电信号路径和所述多个天线阵列，并通过以下方式响应于来自所述DUT的多个信号数据，所述信号数据与由所述DUT无线地接收的所述相应多个相位受控的RF测试信号有关且经由所述一个或多个电数据信号传输，以及响应于多个RF测试信号：

复制所述多个RF测试信号中的每一个以提供相应多个复制的RF测试信号，以及

根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位，以提供所述相应多个相位受控的RF测试信号；

其中，RF信号控制电路经由多个导电信号路径直接从所述多个RF测试信号的源接收所述多个RF测试信号，并且所述内部区域包含在所述DUT和所述多个RF测试信号的所述源之间的唯一空中信号环境。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供所述多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：迭代地控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位。

3.根据权利要求1所述的设备，其中：

所述内部区域的至少一部分和所述多个天线阵列一起限定无线通信信道的至少一部分，所述无线通信信道的特性在于含有多个无线通信信道系数的无线通信信道矩阵H；并且

来自所述DUT的所述多个信号数据还与所述多个无线通信信道系数有关。

4.根据权利要求3所述的设备，其中：

所述无线通信信道矩阵H的函数包括无线通信信道条件数k(H)；并且

所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供所述多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：迭代地控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位，以减小所述无线通信信道条件数k(H)。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述RF信号控制电路还通过以下方式响应于来自所述DUT的所述多个信号数据：根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应幅度。

6.根据权利要求5所述的设备，其中所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位和幅度以提供所述多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：迭代地控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位和幅度。

7.根据权利要求5所述的设备，其中：

来自所述DUT的所述多个信号数据与所述多个无线通信信道系数有关。

8.根据权利要求7所述的设备，其中：

所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供所述多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：迭代地控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位和幅度，以减小所述无线通信信道条件数k(H)。

9.根据权利要求1所述的设备，其中所述RF信号控制电路包括RF信号相位控制电路，所述RF信号相位控制电路通过控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位而响应于与所述多个信号数据有关的一个或多个第一控制信号。

10.根据权利要求9所述的设备，其中所述RF信号控制电路还包括RF信号放大器电路，所述RF信号放大器电路通过控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应幅度而响应于与所述多个信号数据有关的一个或多个第二控制信号。

11.一种便于无线测试射频(RF)多输入多输出(MIMO)信号收发器受测装置(DUT)的方法，包括：

提供结构，所述结构限定内部区域和外部区域并被构造成允许将DUT放置在所述内部区域内且与源自所述外部区域的电磁辐射基本上隔离；

提供导电信号路径，所述导电信号路径提供到所述DUT的有线连接并在所述内部区域与外部区域之间传输一个或多个电数据信号；

提供多个天线阵列，所述多个天线阵列中的每一个包括多个天线元件，至少部分地设置在所述内部区域内以辐射相应多个相位受控的RF测试信号以由所述DUT无线地接收；

经由多个导电信号路径直接从所述多个RF测试信号的源接收多个RF测试信号，其中所述内部区域包含在所述DUT和所述多个RF测试信号的所述源之间的唯一空中信号环境；以及

通过以下方式响应于来自所述DUT的多个信号数据，所述信号数据与由所述DUT无线地接收的所述相应多个相位受控的RF测试信号有关且经由所述一个或多个电数据信号传输，以及响应于所述多个RF测试信号：

根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位，以提供所述相应多个相位受控的RF测试信号。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供所述多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：迭代地控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位。

13.根据权利要求11所述的方法，其中：

14.根据权利要求13所述的方法，其中：

15.根据权利要求11所述的方法，还包括通过以下方式响应于来自所述DUT的所述多个信号数据：根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应幅度。

16.根据权利要求15所述的方法，其中所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位和幅度以提供所述多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：迭代地控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位和幅度。

17.根据权利要求15所述的方法，其中：

18.根据权利要求17所述的方法，其中：

19.根据权利要求11所述的方法，其中所述根据所述多个信号数据控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的相应相位以提供所述相应多个相位受控的RF测试信号的步骤包括：通过控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应相位而响应于与所述多个信号数据有关的一个或多个第一控制信号。

20.根据权利要求19所述的方法，还包括通过以下方式响应于与所述多个信号数据有关的一个或多个第二控制信号：控制所述相应多个复制的RF测试信号中的每一个的至少一部分的所述相应幅度。