CN104991867A - 一种eMMC使用寿命管理方法及系统 - Google Patents

一种eMMC使用寿命管理方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN104991867A
CN104991867A CN201510492810.8A CN201510492810A CN104991867A CN 104991867 A CN104991867 A CN 104991867A CN 201510492810 A CN201510492810 A CN 201510492810A CN 104991867 A CN104991867 A CN 104991867A
Authority
CN
China
Prior art keywords
life
algorithm
emmc
scheme
storage unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510492810.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104991867B (zh
Inventor
刘国华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHENZHEN CHIPSBANK TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
SHENZHEN CHIPSBANK TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHENZHEN CHIPSBANK TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical SHENZHEN CHIPSBANK TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201510492810.8A priority Critical patent/CN104991867B/zh
Publication of CN104991867A publication Critical patent/CN104991867A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104991867B publication Critical patent/CN104991867B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

本申请公开了一种eMMC使用寿命管理方法及系统,该方法包括:自动检测每一个Nand Flash存储单元的使用状态,并对该状态进行分析得到每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命;当任一存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;根据该指令,调取相应的寿命延长算法,利用该算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长eMMC的使用寿命。本申请中,当监控结果发现任一存储单元的寿命即将到达临界值时,将会调取相应的算法对存储单元管理方式进行重新的调整,从而降低了存储单元不稳定的品质特性对eMMC使用寿命的不良影响,延长了eMMC的使用寿命。

Description

一种eMMC使用寿命管理方法及系统
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种eMMC使用寿命管理方法及系统。
背景技术
目前,eMMC(eMMC,即Embedded Multi Media Card,内嵌式多媒体卡)是电子设备中较为常用的存储模块,其内部包括多个Nand Flash存储单元,可实现对数据的快速读写。
然而,在实际的生产应用中,由于Nand Flash存储单元的品质良莠不齐,eMMC在使用一段时间后,大多会存在寿命提前到期的问题。如果碰到品质不太好的Nand Flash存储模块,eMMC的产品生命周期会大大缩短。因为eMMC均是嵌入到电子设备中的存储模块,其寿命到期后甚至会导致电子设备直接报废。
综上所述可以看出,如何降低Nand Flash存储单元不稳定的品质特性对eMMC使用寿命的不良影响是目前亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种eMMC使用寿命管理方法及系统,降低了Nand Flash存储单元不稳定的品质特性对eMMC使用寿命的不良影响,延长了eMMC的使用寿命。其具体方案包括:
一种eMMC使用寿命管理方法,应用于以eMMC作为存储模块的电子设备,所述eMMC包括多个Nand Flash存储单元,所述方法包括:
自动检测每一个所述Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命;
当任一所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;
根据所述算法调取指令,调取相应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对所述eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长所述eMMC的使用寿命。
优选的,所述生成相应的算法调取指令的过程包括:通过用户显示界面显示可供用户选取的包括多个寿命延长方案的方案列表,根据用户从所述方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成所述算法调取指令,其中,所述目标寿命延长方案为所述多个寿命延长方案中的任一方案。
优选的,所述根据所述算法调取指令,调取相应的寿命延长算法的过程包括:根据所述算法调取指令,调取与所述目标寿命延长方案对应的寿命延长算法。
优选的,所述多个寿命延长方案包括第一寿命延长方案和第二寿命延长方案;其中,
与所述第一寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法;
与所述第二寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法。
优选的,所述生成相应的算法调取指令的过程之前还包括:
生成用于提示所述当前使用寿命小于或等于所述预设使用寿命临界值的报警信息。
本发明还公开了一种eMMC使用寿命管理系统,应用于以eMMC作为存储模块的电子设备,所述eMMC包括多个Nand Flash存储单元,所述系统包括:
寿命分析模块,用于自动检测每一个所述Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命;
主机系统,用于当任一所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;
寿命延长模块,用于根据所述算法调取指令,调取相应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对所述eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长所述eMMC的使用寿命。
优选的,所述主机系统包括方案列表存储模块和指令生成模块;
所述方案列表存储模块,用于存储多个寿命延长方案,当任一所述NandFlash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,通过用户显示界面显示包括所述多个寿命延长方案的方案列表,以供用户选取;
所述指令生成模块,用于根据用户从所述方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成所述算法调取指令,其中,所述目标寿命延长方案为所述多个寿命延长方案中的任一方案。
优选的,所述寿命延长模块包括算法调取单元和管理方式调整单元;
所述算法调取单元,用于根据所述算法调取指令,调取与所述目标寿命延长方案对应的寿命延长算法;
所述管理方式调整单元,用于利用与所述目标寿命延长方案对应的寿命延长算法对所述eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长所述eMMC的使用寿命。
优选的,所述方案列表存储模块包括第一存储单元和第二存储单元;
所述第一存储单元,用于存储第一寿命延长方案;
所述第二存储单元,用于存储第二寿命延长方案;
其中,与所述第一寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法;与所述第二寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法。
优选的,所述系统还包括报警模块;
所述报警模块,用于当任一所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的报警信息,并将所述报警信息发送到所述主机系统;
所述主机系统,用于当接收到所述报警信息后,生成所述算法调取指令。
本发明可对电子设备中eMMC的每一个Nand Flash存储单元的使用状态进行自动检测,进而分析出每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命;当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,便会生成相应的算法调取指令,根据该指令调取相应的寿命延长算法,并利用该算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,从而延长了eMMC的使用寿命。由上可见,本发明通过实时地对eMMC中的Nand Flash进行状态监控,当监控结果发现任一Nand Flash的寿命即将到达临界值时,将会调取相应的算法,对Nand Flash存储单元管理方式进行重新的调整,以避免寿命即将到期的Nand Flash存储单元对eMMC的整体使用寿命产生不良影响,也即,降低了Nand Flash存储单元不稳定的品质特性对eMMC使用寿命的不良影响,延长了eMMC的使用寿命。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例公开的一种eMMC使用寿命管理方法流程图;
图2为本发明实施例公开的一种具体的eMMC使用寿命管理方法流程图;
图3为本发明实施例公开的一种eMMC使用寿命管理系统结构示意图;
图4为本发明实施例公开的一种具体的eMMC使用寿命管理系统结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例公开了一种eMMC使用寿命管理方法,应用于以eMMC作为存储模块的电子设备,eMMC包括多个Nand Flash存储单元,参见图1所示,该方法包括:
步骤S11:自动检测每一个Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命;
步骤S12:当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;
步骤S13:根据算法调取指令,调取相应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长eMMC的使用寿命。
本发明实施例可对电子设备中eMMC的每一个Nand Flash存储单元的使用状态进行自动检测,进而分析出每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命;当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,便会生成相应的算法调取指令,根据该指令调取相应的寿命延长算法,并利用该算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,从而延长了eMMC的使用寿命。由上可见,本发明实施例通过实时地对eMMC中的Nand Flash进行状态监控,当监控结果发现任一Nand Flash的寿命即将到达临界值时,将会调取相应的算法,对Nand Flash存储单元管理方式进行重新的调整,以避免寿命即将到期的Nand Flash存储单元对eMMC的整体使用寿命产生不良影响,也即,降低了Nand Flash存储单元不稳定的品质特性对eMMC使用寿命的不良影响,延长了eMMC的使用寿命。
本发明实施例公开了一种具体的eMMC使用寿命管理方法,参见图2所示,该方法包括:
步骤S21:自动检测每一个Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命。
步骤S22:当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,通过用户显示界面显示可供用户选取的包括多个寿命延长方案的方案列表,根据用户从方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成算法调取指令,其中,目标寿命延长方案为多个寿命延长方案中的任一方案。
需要说明的是,上述多个寿命延长方案具体可以包括第一寿命延长方案和第二寿命延长方案;其中,与第一寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法;与第二寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法。上述两种寿命延长方案是分别基于不同的原则进行确定的,它们的首要目的均是为了延长eMMC的使用寿命。用户可以根据自身的需要,决定选择第一寿命延长方案或第二寿命延长方案,这意味着,用户可以根据自身的实际需要,决定是选择基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法还是选择基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法,来对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整。
步骤S23:根据算法调取指令,调取与目标寿命延长方案对应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长eMMC的使用寿命。
进一步的,本实施例中在生成相应的算法调取指令的过程之前还可以包括:生成用于提示当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值的报警信息,从而便于用户及时了解eMMC内部存储单元使用寿命的情况。
本发明实施例中,当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,通过用户显示界面显示可供用户选取的包括多个寿命延长方案的方案列表,根据用户从方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成算法调取指令,然后根据该算法调取指令,调取与目标寿命延长方案对应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长eMMC的使用寿命。可见,当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,本实施例可允许用户自行选择寿命延长方案,也即意味着本实施例允许用户根据实际需要,自行选择寿命延长算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,相应地延长eMMC的使用寿命,以达到用户实际所要的效果。
本发明实施例还公开了一种eMMC使用寿命管理系统,应用于以eMMC作为存储模块的电子设备,eMMC包括多个Nand Flash存储单元,参见图3所示,该系统包括:
寿命分析模块31,用于自动检测每一个Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命。
主机系统32,用于当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;其中,上述主机系统32具体为电子设备的操作系统。
寿命延长模块33,用于根据算法调取指令,调取相应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长eMMC的使用寿命。
需要进一步说明的是,参见图4所示,上述主机系统32具体可以包括方案列表存储模块321和指令生成模块322;其中,
方案列表存储模块321,用于存储多个寿命延长方案,当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,通过用户显示界面显示包括多个寿命延长方案的方案列表,以供用户选取;
指令生成模块322,用于根据用户从方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成算法调取指令,其中,目标寿命延长方案为多个寿命延长方案中的任一方案。
方案列表存储模块321具体可以包括第一存储单元和第二存储单元;其中,
第一存储单元,用于存储第一寿命延长方案;
第二存储单元,用于存储第二寿命延长方案;
其中,与第一寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法;与第二寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法。
另外,参见图4所示,上述寿命延长模块33具体可以包括算法调取单元331和管理方式调整单元332;
算法调取单元331,用于根据算法调取指令,调取与目标寿命延长方案对应的寿命延长算法;
管理方式调整单元332,用于利用与目标寿命延长方案对应的寿命延长算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长eMMC的使用寿命。
更进一步的,本实施例中的系统还可以包括报警模块;
其中,报警模块可用于当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的报警信息,并将报警信息发送到主机系统32;此时主机系统32可用于当接收到报警信息后,生成算法调取指令。
本发明实施例中,寿命分析模块可对电子设备中eMMC的每一个NandFlash存储单元的使用状态进行自动检测,进而分析出每一个Nand Flash存储单元的当前使用寿命;当任一Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,主机系统便会生成相应的算法调取指令;寿命延长模块便可以根据该指令调取相应的寿命延长算法,并利用该算法对eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,从而延长了eMMC的使用寿命。由上可见,本发明实施例通过寿命分析模块,实时地对eMMC中的Nand Flash进行状态监控,当监控结果发现任一Nand Flash的寿命即将到达临界值时,寿命延长模块将会调取相应的算法,对Nand Flash存储单元管理方式进行重新的调整,以避免寿命即将到期的Nand Flash存储单元对eMMC的整体使用寿命产生不良影响,也即,降低了Nand Flash存储单元不稳定的品质特性对eMMC使用寿命的不良影响,延长了eMMC的使用寿命。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种eMMC使用寿命管理方法及系统进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种eMMC使用寿命管理方法,其特征在于,应用于以eMMC作为存储模块的电子设备,所述eMMC包括多个Nand Flash存储单元,所述方法包括:
自动检测每一个所述Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命;
当任一所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;
根据所述算法调取指令,调取相应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对所述eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长所述eMMC的使用寿命。
2.根据权利要求1所述的eMMC使用寿命管理方法,其特征在于,所述生成相应的算法调取指令的过程包括:
通过用户显示界面显示可供用户选取的包括多个寿命延长方案的方案列表,根据用户从所述方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成所述算法调取指令,其中,所述目标寿命延长方案为所述多个寿命延长方案中的任一方案。
3.根据权利要求2所述的eMMC使用寿命管理方法,其特征在于,所述根据所述算法调取指令,调取相应的寿命延长算法的过程包括:
根据所述算法调取指令,调取与所述目标寿命延长方案对应的寿命延长算法。
4.根据权利要求3所述的eMMC使用寿命管理方法,其特征在于,所述多个寿命延长方案包括第一寿命延长方案和第二寿命延长方案;其中,
与所述第一寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法;
与所述第二寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法。
5.根据权利要求1至4任一项所述的eMMC使用寿命管理方法,其特征在于,所述生成相应的算法调取指令的过程之前还包括:
生成用于提示所述当前使用寿命小于或等于所述预设使用寿命临界值的报警信息。
6.一种eMMC使用寿命管理系统,其特征在于,应用于以eMMC作为存储模块的电子设备,所述eMMC包括多个Nand Flash存储单元,所述系统包括:
寿命分析模块,用于自动检测每一个所述Nand Flash存储单元的使用状态,并对该使用状态进行分析,得到每一个所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命;
主机系统,用于当任一所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的算法调取指令;
寿命延长模块,用于根据所述算法调取指令,调取相应的寿命延长算法,利用该寿命延长算法对所述eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长所述eMMC的使用寿命。
7.根据权利要求6所述的eMMC使用寿命管理系统,其特征在于,所述主机系统包括方案列表存储模块和指令生成模块;
所述方案列表存储模块,用于存储多个寿命延长方案,当任一所述NandFlash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,通过用户显示界面显示包括所述多个寿命延长方案的方案列表,以供用户选取;
所述指令生成模块,用于根据用户从所述方案列表中选中的目标寿命延长方案,相应地生成所述算法调取指令,其中,所述目标寿命延长方案为所述多个寿命延长方案中的任一方案。
8.根据权利要求7所述的eMMC使用寿命管理系统,其特征在于,所述寿命延长模块包括算法调取单元和管理方式调整单元;
所述算法调取单元,用于根据所述算法调取指令,调取与所述目标寿命延长方案对应的寿命延长算法;
所述管理方式调整单元,用于利用与所述目标寿命延长方案对应的寿命延长算法对所述eMMC的存储单元管理方式进行更新调整,以延长所述eMMC的使用寿命。
9.根据权利要求8所述的eMMC使用寿命管理系统,其特征在于,所述方案列表存储模块包括第一存储单元和第二存储单元;
所述第一存储单元,用于存储第一寿命延长方案;
所述第二存储单元,用于存储第二寿命延长方案;
其中,与所述第一寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于性能优先降低容量的原则开发的寿命延长算法;与所述第二寿命延长方案对应的寿命延长算法为基于容量优先降低性能的原则开发的寿命延长算法。
10.根据权利要求6至9任一项所述的eMMC使用寿命管理系统,其特征在于,还包括报警模块;
所述报警模块,用于当任一所述Nand Flash存储单元的当前使用寿命小于或等于预设使用寿命临界值时,生成相应的报警信息,并将所述报警信息发送到所述主机系统;
所述主机系统,用于当接收到所述报警信息后,生成所述算法调取指令。
CN201510492810.8A 2015-08-12 2015-08-12 一种eMMC使用寿命管理方法及系统 Active CN104991867B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510492810.8A CN104991867B (zh) 2015-08-12 2015-08-12 一种eMMC使用寿命管理方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510492810.8A CN104991867B (zh) 2015-08-12 2015-08-12 一种eMMC使用寿命管理方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104991867A true CN104991867A (zh) 2015-10-21
CN104991867B CN104991867B (zh) 2018-08-31

Family

ID=54303683

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510492810.8A Active CN104991867B (zh) 2015-08-12 2015-08-12 一种eMMC使用寿命管理方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104991867B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106205737A (zh) * 2016-07-06 2016-12-07 深圳佰维存储科技股份有限公司 一种测试Nand flash生命周期的方法
CN116405726A (zh) * 2023-06-05 2023-07-07 深圳市华曦达科技股份有限公司 基于emmc磨损度的数据存储控制方法、系统和可读存储介质

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102043689A (zh) * 2010-12-28 2011-05-04 武汉固捷联讯科技有限公司 一种用于固态存储设备的容错设计方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102043689A (zh) * 2010-12-28 2011-05-04 武汉固捷联讯科技有限公司 一种用于固态存储设备的容错设计方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106205737A (zh) * 2016-07-06 2016-12-07 深圳佰维存储科技股份有限公司 一种测试Nand flash生命周期的方法
CN106205737B (zh) * 2016-07-06 2019-04-26 深圳佰维存储科技股份有限公司 一种测试Nand flash生命周期的方法
CN116405726A (zh) * 2023-06-05 2023-07-07 深圳市华曦达科技股份有限公司 基于emmc磨损度的数据存储控制方法、系统和可读存储介质
CN116405726B (zh) * 2023-06-05 2023-10-20 深圳市华曦达科技股份有限公司 基于emmc磨损度的数据存储控制方法、系统和可读存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN104991867B (zh) 2018-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10031671B2 (en) Method, apparatus, and system for calculating identification threshold to distinguish cold data and hot data
CN103339613B (zh) 操作管理装置、操作管理方法和程序
US9015726B2 (en) Scheduling jobs of a multi-node computer system based on environmental impact
CN103514958B (zh) 一种emmc芯片寿命检测方法
CN105808407A (zh) 管理设备的方法、设备和设备管理控制器
KR101728205B1 (ko) 분산 에너지 자원을 기반으로 하는 능동적 가상발전 에너지 관리 시스템 및 방법
CN104850500B (zh) 用于数据存储的数据处理方法和装置
CN105637432A (zh) 识别被监控实体的异常行为
CN101719095A (zh) 一种回归测试的管理方法及装置
EP3850380A1 (en) Electrical power cable monitoring device using low side electrode and earth ground separation
CN106772091A (zh) 电池容量值的更新方法、装置及终端
EP3850381A2 (en) Electrical power cable monitoring device including partial discharge sensor
CN105277886A (zh) 一种蓄电池的剩余寿命的检测方法和装置
US11385828B2 (en) Method and apparatus for calculating storage system available capacity
US20130268251A1 (en) Measuring process model performance and enforcing process performance policy
CN107636623A (zh) 基于电力状态的巡查刷洗时段
CN105723347A (zh) 通过写扼制的廉价固态存储
CN112767074B (zh) 模块机选型方法、装置、计算机设备和存储介质
CN108108455A (zh) 目的地的推送方法、装置、存储介质及电子设备
CN109075397A (zh) 用于寿命优化地使用电化学蓄能器的方法和设备
CN104991867A (zh) 一种eMMC使用寿命管理方法及系统
KR20170072284A (ko) 유틸리티 그리드에서 규범적 동작 제한을 식별 및 고수하기 위한 시스템 및 방법
CN117271100B (zh) 算法芯片集群调度方法、装置、计算机设备和存储介质
CN103682486A (zh) 一种用于电池的多模块级联均衡方法
CN105677233A (zh) 即时数据的储存方法及储存装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant