CN104914341B - 一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路,面板通过插座与主板连接,主板上设置有MCU,面板上设置有编码电位器,编码电位器通过两条检测信号线连接MCU的输入输出口,检测电路包括设置在面板上的检测信号输出电路和设置在主板上的检测信号输入电路,两条检测信号线上连接的上拉电阻调整为分别连接在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,当两条检测信号线中的一条信号线连接有上拉电阻,则另一条信号线连接下拉电阻。本发明通过在两条检测信号线增加下拉电阻,并调整上拉电阻和下拉电阻的位置,使面板在翻开闭合时只有某一根检测信号线产生电平变化,解决编码电位器的误动作的问题。
Description
技术领域
本发明涉及编码电位器检测技术领域,尤其涉及一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路。
背景技术
编码电位器广泛使用在汽车音响产品中,用于处理音量调节、功能选择等。编码电位器有两种状态位置,即,A端和B端与C端闭合,或者A端和B端与C端断开,编码电位器在旋转过程中,A端和B端与C端有一个闭合断开的时序,如图1所示,软件通过对该时序的变化判断编码电位器顺时针转动或逆时针转动。
如图2、3所示,传统的编码电位器检测电路有如下两种方式:
方式一:MCU通过判断EN_A和EN_B脚信号高低电平变化的顺序来确定编码电位器转动方向,如图4所示。电路中C1、C2用于滤除编码电位器旋转过程中产生的毛刺;R1、R2用于限制电容对编码电位器放电电流防止编码电位器损坏;R11、R12用于EN_A和EN_B信号上拉高电平。
方式二:通过电阻R1,R2,R13的分压作用,将编码电位器旋转过程中两根信号高低电平变化转换为一个电压值的变化,软件上通过采样EN_AD信号上电压值的变化过程确定编码电位器转动方向,如图5所示,电路中R1,R2,R13用于使EN_AD产生不同的电压值,C1用于滤除编码电位器旋转过程中产生的毛刺,该方式电路中MCU必须使用ADC端口检测。
在翻转面板的机型中,编码电位器放置在面板,MCU放置在主板。面板和主板连接插座可翻开和闭合,图6所示为一种连接实例。
在面板反复翻开闭合的过程中易产生干扰时序,该时序与编码器正常动作时波形类似,软件上不能屏蔽该干扰,造成编码电位器误动作。采用方式二检测电路中必须使用MCU的ADC端口检测。
发明内容
本发明提供一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路,从硬件上改进避免面板翻开闭合时产生的动作干扰信号,解决编码电位器产生误动作的问题。
为达到上述目的,本发明所采取的技术方案为:
一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路,所述面板通过插座与主板连接,主板上设置有MCU,面板上设置有连接在检测电路中的编码电位器,编码电位器通过两条检测信号线连接MCU的输入输出口;
所述检测电路包括设置在面板上的检测信号输出电路和设置在主板上的检测信号输入电路,所述两条检测信号线上连接的上拉电阻调整为分别连接在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,当所述两条检测信号线中的一条信号线连接有上拉电阻,则另一条信号线连接下拉电阻。
进一步地,在所述检测信号输出电路中,编码电位器的A端连接第一电阻的一端,第一电阻的另一端连接第一电容的一端,第一电容的另一端接地,第一电容的一端为第一输出端;编码电位器的B端连接第二电阻的一端,第二电阻的另一端连接第二电容的一端,第二电容的另一端接地,第二电容的一端为第二输出端;编码电位器的C端接地;
所述检测信号输入电路设有与所述第一输出端、第二输出端连接的第一输入端、第二输入端,所述第一输入端、第二输入端分别串接第三电阻、第四电阻后连接MCU的输入输出口;
编码电位器的A端的第一上拉电阻的连接位置调整为与所述检测信号输入电路的第一输入端连接,编码电位器的A端连接第一下拉电阻;编码电位器的B端连接第二上拉电阻,所述检测信号输入电路的第二输入端连接第二下拉电阻;或者,
编码电位器的B端的第二上拉电阻的连接位置调整为与所述检测信号输入电路的第二输入端连接,编码电位器的B端连接第二下拉电阻;编码电位器的A端连接第一上拉电阻,所述检测信号输入电路的第一输入端连接第一下拉电阻。
本发明的有益效果在于:本发明通过在两条检测信号线增加下拉电阻,并调整上拉电阻和下拉电阻的位置,使面板在翻开闭合时只有某一根检测信号线产生电平变化,解决编码电位器的误动作的问题,本发明只需要在现有的电路结构中增加几个贴片电阻即可实现,在成本方面具有很大优势。
附图说明
图1是现有的编码电位器的闭合断开的时序图;
图2是现有的第一种编码电位器检测电路的结构示意图;
图3是现有的第二种编码电位器检测电路的结构示意图;
图4是图2中现有的第一种编码电位器检测电路的检测波形图;
图5是图3中现有的第二种编码电位器检测电路的检测波形图;
图6是面板和主板通过插座连接的示意图;
图7是本发明用于翻转面板的编码电位器的检测电路的实施例一的结构示意图;
图8是本发明用于翻转面板的编码电位器的检测电路的实施例二的结构示意图;
图9示出了编码电位器的A端和B端与C端闭合时,面板断开和闭合时第一输入端和第二输入端的信号波形图;
图10示出了编码电位器的A端和B端与C端断开时,面板断开和闭合时第一输入端和第二输入端的信号波形图。
具体实施方式
下面结合附图具体阐明本发明的实施方式,附图仅供参考和说明使用,不构成对本发明专利保护范围的限制。
实施例1:
本发明的实施例提供一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路,如图6所示,所述面板P1通过插座S与主板P2连接,主板上设置有MCU,面板上设置有连接在检测电路中的编码电位器,编码电位器通过两条检测信号线连接MCU的输入输出口;
所述检测电路包括设置在面板上的检测信号输出电路Co和设置在主板上的检测信号输入电路Ci,所述两条检测信号线上连接的上拉电阻调整为分别连接在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,当所述两条检测信号线中的一条信号线连接有上拉电阻,则另一条信号线连接下拉电阻。
如图7所示,左边虚线框内电路为设置在面板上的检测信号输出电路Co,右边虚线框内电路为设置在主板上的检测信号输入电路Ci,面板和主板通过可翻开闭合的插座连接。本发明的实施例中,在所述检测信号输出电路Co中,编码电位器EN1的A端连接第一电阻R1的一端,第一电阻R1的另一端连接第一电容C1的一端,第一电容C1的另一端接地,第一电容C1的一端为第一输出端EN_A;编码电位器EN1的B端连接第二电阻R2的一端,第二电阻R2的另一端连接第二电容C2的一端,第二电容C2的另一端接地,第二电容C2的一端为第二输出端EN_B;编码电位器EN1的C端接地;
所述检测信号输入电路Ci设有与所述第一输出端EN_A、第二输出端EN_B连接的第一输入端EN_A1、第二输入端EN_B1,所述第一输入端EN_A1、第二输入端EN_B1分别串接第三电阻R3、第四电阻R4后连接MCU的输入输出口MCU_IO1、MCU_IO2;
编码电位器EN1的A端的第一上拉电阻R11的连接位置调整为与所述检测信号输入电路的第一输入端EN_A1连接,编码电位器EN1的A端连接第一下拉电阻R21;编码电位器EN1的B端连接第二上拉电阻R12,所述检测信号输入电路的第二输入端EN_B1连接第二下拉电阻R22。
实施例2:
图8示出了本发明的另一个实施例的电路图,左边虚线框内电路为设置在面板上的检测信号输出电路Co,右边虚线框内电路为设置在主板上的检测信号输入电路Ci,面板和主板通过可翻开闭合的插座连接。
本实施例与实施例1的不同之处在于:
编码电位器EN1的B端的第二上拉电阻R12的连接位置调整为与所述检测信号输入电路的第二输入端EN_B1连接,编码电位器EN1的B端连接第二下拉电阻R22;编码电位器EN1的A端连接第一上拉电阻R11,所述检测信号输入电路的第一输入端EN_A1连接第一下拉电阻R21。
图7和图8示出的本发明的检测电路确保编码电位器处在任何状态时翻开闭合面板,EN_A/EN_B只有一根信号有电平变化,如图9-10所示,从而不会产生编码电位器动作时序,解决编码电位器误动作问题。图9示出了编码电位器EN1的A端和B端与C端闭合时,面板打开和闭合时第一输入端EN_A1和第二输入端EN_B1的信号波形图;图10示出了编码电位器EN1的A端和B端与C端断开时,面板断开和闭合时第一输出端EN_A1和第二输出端EN_B1的信号波形图。
本发明的核心是在检测信号线上分别增加上拉和下拉电阻,并错开放置在不同的部件(面板与主板)上,当某一部件的一根信号线上装配上拉电阻,则另一信号线必须放置下拉电阻。对于其他检测多根信号线变化时序的部件,且该部件应用在可翻开闭合装置中的案例,也可采用此方法解决该部件产生误动作的问题。
以上所揭露的仅为本发明的较佳实施例,不能以此来限定本发明的权利保护范围,因此依本发明申请专利范围所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。
Claims (2)
1.一种用于翻转面板的编码电位器的检测电路,所述面板通过插座与主板连接,主板上设置有MCU,面板上设置有连接在检测电路中的编码电位器,编码电位器通过两条检测信号线连接MCU的输入输出口,其特征在于:
所述检测电路包括设置在面板上的检测信号输出电路和设置在主板上的检测信号输入电路,所述两条检测信号线上连接的上拉电阻调整为分别连接在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,在检测信号输出电路和检测信号输入电路中,当所述两条检测信号线中的一条信号线连接有上拉电阻,则另一条信号线连接下拉电阻。
2.根据权利要求1所述的用于翻转面板的编码电位器的检测电路,其特征在于:在所述检测信号输出电路中,编码电位器的A端连接第一电阻的一端,第一电阻的另一端连接第一电容的一端,第一电容的另一端接地,第一电容与所述第一电阻连接的一端为第一输出端;编码电位器的B端连接第二电阻的一端,第二电阻的另一端连接第二电容的一端,第二电容的另一端接地,第二电容与所述第二电阻连接的一端为第二输出端;编码电位器的C端接地;
所述检测信号输入电路设有与所述第一输出端、第二输出端连接的第一输入端、第二输入端,所述第一输入端、第二输入端分别串接第三电阻、第四电阻后连接MCU的输入输出口;
编码电位器的A端的第一上拉电阻的连接位置调整为与所述检测信号输入电路的第一输入端连接,编码电位器的A端连接第一下拉电阻;编码电位器的B端连接第二上拉电阻,所述检测信号输入电路的第二输入端连接第二下拉电阻;或者,
编码电位器的B端的第二上拉电阻的连接位置调整为与所述检测信号输入电路的第二输入端连接,编码电位器的B端连接第二下拉电阻;编码电位器的A端连接第一上拉电阻,所述检测信号输入电路的第一输入端连接第一下拉电阻。
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